專利名稱：被測試信號(hào)分析裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及被測試信號(hào)分析裝置，特別涉及對(duì)被測試信號(hào)進(jìn)行分析的被 測試信號(hào)分析裝置。
背景技術(shù)：
作為以往的被測試信號(hào)分析裝置，有通過設(shè)置模式(pattern)位置檢測 單元和差錯(cuò)計(jì)數(shù)器(error counter )，從而在被測試信號(hào)中測定測試模式的任意 區(qū)域的比特差錯(cuò)率的裝置(例如，參照專利文獻(xiàn)l),所述模式位置檢測單元 從存儲(chǔ)了用于對(duì)照被測試信號(hào)的測試模式的測試模式發(fā)生器接受同步信號(hào)， 檢測測試模式的任意區(qū)域，從而輸出該區(qū)域的計(jì)數(shù)/使能(count/enable )信號(hào)， 所述差錯(cuò)計(jì)數(shù)器接受該計(jì)數(shù)/使能信號(hào)，開始或停止來自對(duì)照器的比特差錯(cuò)檢 測信號(hào)的計(jì)數(shù)。
專利文獻(xiàn)l:特開平07-225263號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題
但是，以往的被測試信號(hào)分析裝置雖然可以測定被測試信號(hào)的測試模式 的任意區(qū)域的比特差錯(cuò)率，但存在對(duì)于用戶而言難以確定差錯(cuò)率高的測試模 式或成為比特差錯(cuò)的主要原因的測試模式的問題。
本發(fā)明用于解決以往的問題而完成，其目的在于提供一種能夠比以往的 裝置容易確定差錯(cuò)率高的測試模式或成為比特差錯(cuò)的主要原因的測試模式的 被測試信號(hào)分析裝置。
解決課題的方案
本發(fā)明的被測試信號(hào)分析裝置分析被測試信號(hào)，并將分析結(jié)果顯示在顯 示裝置上，所述被測試信號(hào)分析裝置構(gòu)成為，包括分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元，對(duì) 所述被測試信號(hào)設(shè)定的分析區(qū)間進(jìn)行分割而成的每個(gè)分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)所迷分析 結(jié)果；以及顯示控制單元，將所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的統(tǒng)計(jì)結(jié)果按每個(gè)所述分割區(qū)間顯示在所述顯示裝置上，在所述分割區(qū)間作為新的分析區(qū)間而被指 定時(shí)，所迷分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元對(duì)將該新的分析區(qū)間進(jìn)行分割而得的每個(gè)新的 分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)所述被測試信號(hào)的分析結(jié)果，所述顯示控制單元按每個(gè)所述新 的分割區(qū)間將所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的統(tǒng)計(jì)結(jié)果顯示在所述顯示裝置上。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，本發(fā)明的被測試信號(hào)分析裝置從對(duì)被測試信號(hào)的分析區(qū)間 進(jìn)行了分割而得的分割區(qū)間中指定新的分析區(qū)間，所以能夠比以往的裝置容 易確定差錯(cuò)率高的測試模式或成為比特差錯(cuò)的主要原因的測試模式。
另外，在多個(gè)所述分割區(qū)間作為所述新的分析區(qū)間而被指定時(shí)，也可以 是所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元對(duì)將所述新的分析區(qū)間分割而成的每個(gè)新的分割區(qū) 間統(tǒng)計(jì)所述被測試信號(hào)的分析結(jié)果，所述顯示控制單元按每個(gè)所述新的分割 區(qū)間將所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的統(tǒng)計(jì)結(jié)果顯示在所述顯示裝置上。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，本發(fā)明的被測試信號(hào)分析裝置可以分層地指定分析區(qū)間， 所以能夠比以往的裝置容易確定差錯(cuò)率高的測試模式或成為比特差錯(cuò)的主要 原因的測試模式。
此外，也可以由所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元統(tǒng)計(jì)所述被測試信號(hào)的比特差錯(cuò)。
此外，所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元也可以包括多個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器，統(tǒng)計(jì)所述 分析結(jié)果；分配決定單元，確定所述分析結(jié)果是哪一個(gè)所述分割區(qū)間的結(jié)果， 并決定與確定的所述分割區(qū)間對(duì)應(yīng)的所述差錯(cuò)計(jì)數(shù)器作為所述分析結(jié)果的分 配目的地；以及分配單元，將所述分析結(jié)果分配到由所述分配決定單元決定 的所述差錯(cuò)計(jì)數(shù)器。
此外，本發(fā)明的設(shè)備測試系統(tǒng)具有以下結(jié)構(gòu)，即包括測試信號(hào)發(fā)生裝 置，產(chǎn)生測試信號(hào)；以及所述被測試信號(hào)分析裝置，分析由接收到所述測試 信號(hào)的測定對(duì)象物所發(fā)送的被測試信號(hào)，并將分析結(jié)果顯示在顯示裝置上。
根據(jù)該結(jié)構(gòu)，本發(fā)明的設(shè)備測試系統(tǒng)從對(duì)被測試信號(hào)的分析區(qū)間進(jìn)行了 分割而得的分割區(qū)間中指定新的分析區(qū)間，所以能夠比以往的裝置容易確定 差錯(cuò)率高的測試模式或成為比特差錯(cuò)的主要原因的測試模式。
此外，本發(fā)明的被測試信號(hào)分析方法具有以下步驟對(duì)接收到的被測試 信號(hào)所設(shè)定的分析區(qū)間進(jìn)行分割而成的每個(gè)分割區(qū)間，分析所述被測試信號(hào) 的步驟；按每個(gè)所述分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)分析了所述被測試信號(hào)的結(jié)果的步驟；基 于統(tǒng)計(jì)后的結(jié)果的顯示，選擇一個(gè)或者連續(xù)的多個(gè)所述分割區(qū)間的步驟；將 選擇的所述一個(gè)或者連續(xù)的多個(gè)分割區(qū)間設(shè)定為新的分析區(qū)間的步驟；以及對(duì)設(shè)定的所述新的分析區(qū)間進(jìn)行分割而成的每個(gè)新的分割區(qū)間，分析新接收 到的被測試信號(hào)的步驟。 發(fā)明效果
本發(fā)明可提供能夠比以往的裝置容易確定差錯(cuò)率高的測試模式或成為比 特差錯(cuò)的主要原因的測試模式的被測試信號(hào)分析裝置。


圖1是本發(fā)明一實(shí)施方式中的設(shè)備測試系統(tǒng)的方框圖。
圖2是構(gòu)成本發(fā)明一實(shí)施方式中的被測試信號(hào)分析裝置的分析結(jié)果統(tǒng)計(jì) 單元的方框圖。
圖3是用于說明構(gòu)成本發(fā)明一實(shí)施方式中的被測試信號(hào)分析裝置的分析 結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的第1定時(shí)圖。
圖4是用于說明構(gòu)成本發(fā)明一實(shí)施方式中的被測試信號(hào)分析裝置的分析 結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的第2定時(shí)圖。
圖5是構(gòu)成本發(fā)明一實(shí)施方式中的被測試信號(hào)分析裝置的顯示裝置所顯 示的操作畫面的第1圖像(image )。
圖6是構(gòu)成本發(fā)明一實(shí)施方式中的被測試信號(hào)分析裝置的顯示裝置所顯 示的操作畫面的第2圖像。
標(biāo)號(hào)說明
1設(shè)備測試系統(tǒng)
2測定對(duì)象物
3測試信號(hào)發(fā)生裝置
4被測試信號(hào)分析裝置
10模式存儲(chǔ)單元
11測試信號(hào)發(fā)生單元
20輸入裝置
21顯示裝置
22 CPU
23顯示控制單元
30參照模式存儲(chǔ)單元
31 SP變換單元32同步模式檢測單元
33比特差錯(cuò)分析單元 34分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元 40差錯(cuò)計(jì)數(shù)器 41分配決定單元 42分配單元
具體實(shí)施例方式
下面，參照

本發(fā)明的實(shí)施方式。
圖1表示本發(fā)明一實(shí)施方式的設(shè)備測試系統(tǒng)。
設(shè)備測試系統(tǒng)l包括產(chǎn)生用于對(duì)測定對(duì)象物2進(jìn)行測試的測試信號(hào)的 測試信號(hào)發(fā)生裝置3;對(duì)由接收到測試信號(hào)的測定對(duì)象物2所發(fā)送的被測試 信號(hào)進(jìn)行分析的被測試信號(hào)分析裝置4。
另外，在本實(shí)施方式中，說明作為測定對(duì)象物2應(yīng)用了如中繼裝置或傳 輸電纜等那樣，將接收到的測試信號(hào)作為被測試信號(hào)原樣發(fā)送的例子。
測試信號(hào)發(fā)生裝置3包括存儲(chǔ)測試信號(hào)的模式的模式存儲(chǔ)單元10;以 及產(chǎn)生具有模式存儲(chǔ)單元10中所存儲(chǔ)的模式的測試信號(hào)的測試信號(hào)發(fā)生單 元11。
另夕卜，在本實(shí)施方式中，模式存儲(chǔ)單元10由RAM (Random Access Memory )等的存儲(chǔ)介質(zhì)構(gòu)成，測試信號(hào)發(fā)生單元11由被程序化的FPGA( Field Programmable Gate Array ) —體構(gòu)成。
此外，在本實(shí)施方式中，說明測試信號(hào)發(fā)生單元11基于模式存儲(chǔ)單元 IO所存儲(chǔ)的模式來產(chǎn)生包含幀同步信號(hào)的測試信號(hào)的情況的例子。這里，各 個(gè)幀表示模式存儲(chǔ)單元10中所存儲(chǔ)的統(tǒng)一模式。
被測試信號(hào)分析裝置4包括由鍵盤或指示(pointing)設(shè)備等構(gòu)成的輸 入裝置20;顯示裝置21;執(zhí)行用于控制設(shè)備測試系統(tǒng)1的程序的CPU( Central Processing Unit) 22;存儲(chǔ)與模式存儲(chǔ)單元10所存儲(chǔ)的模式對(duì)應(yīng)的參照模式 的參照模式存儲(chǔ)單元30;對(duì)被測試信號(hào)進(jìn)行串行-并行(serial-parallel)(以下， 僅記載為"SP")變換的SP變換單元31;從被測試信號(hào)檢測同步模式的同步 模式檢測單元32;對(duì)SP變換后的被測試信號(hào)所構(gòu)成的模式和參照模式進(jìn)行 比較從而分析比特差錯(cuò)的比特差錯(cuò)分析單元33;統(tǒng)計(jì)由比特差錯(cuò)分析單元33所分析的比特差錯(cuò)的分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元34。
另夕卜，在本實(shí)施方式中，參照模式存儲(chǔ)單元30由RAM等存儲(chǔ)介質(zhì)構(gòu)成， SP變換單元31、同步模式檢測單元32、比特差錯(cuò)分析單元33以及分析結(jié)果 統(tǒng)計(jì)單元34由被程序化的FPGA —體構(gòu)成。此外，CPU22包括進(jìn)行顯示裝 置21的顯示控制的顯示控制單元23。
此外，輸入裝置20、顯示裝置21以及CPU22也可以通過外置于設(shè)備測 試系統(tǒng)1的計(jì)算機(jī)裝置構(gòu)成。
在本實(shí)施方式中，SP變換單元31將被測試信號(hào)變換為64條的并行信號(hào)。 在以下的說明中，將被測試信號(hào)通過SP變換單元31進(jìn)行了 SP變換后的并 行信號(hào)的條數(shù)簡稱為"并行信號(hào)數(shù)"。
同步模式檢測單元32基于檢測出的同步模式的位置，生成表示各個(gè)幀的 開頭位置的幀信號(hào)(圖中記載為"frame")。
比特差錯(cuò)分析單元33基于由同步模式檢測單元32生成的幀信號(hào)，從參 照模式存儲(chǔ)單元30中取得參照模式，并計(jì)算取得的參照模式和SP變換后的 被測試信號(hào)所構(gòu)成的模式的"異或"。
如圖2所示，分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元34具有對(duì)比特差錯(cuò)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)的多個(gè) 差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40;決定將通過比特差錯(cuò)分析單元33的比特差錯(cuò)的各個(gè)分析結(jié) 果分配給哪一個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的分配決定單元41;基于分配決定單元41的 決定結(jié)果，將通過比特差錯(cuò)分析單元33的比特差錯(cuò)的各個(gè)分析結(jié)果分配給其 中 一個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的分配單元42。
另外，在本實(shí)施方式中，將差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的數(shù)量設(shè)為64，但并非是限 制構(gòu)成分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元34的差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的數(shù)量。
分配決定單元41中被輸入由同步模式?jīng)_全測單元32所生成的幀信號(hào)，和 表示從CPU22發(fā)送的統(tǒng)計(jì)開始位置、統(tǒng)計(jì)單位以及統(tǒng)計(jì)數(shù)的信號(hào)。
如圖3所示，統(tǒng)計(jì)開始位置(圖中記載為"offset"),用分析結(jié)果的比特 數(shù)單位來表示從幀信號(hào)表示的幀的開頭位置到開始比特差錯(cuò)的統(tǒng)計(jì)為止的長 度。 .
此外，統(tǒng)計(jì)單位(圖中記載為"unit")表示從統(tǒng)計(jì)開始位置開始將統(tǒng)計(jì) 結(jié)果每次幾比特地分配給各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40。例如，在統(tǒng)計(jì)單位為1比特時(shí)， 表示將各個(gè)分析結(jié)果每次i比特地分配給各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40，在統(tǒng)計(jì)單位為 64比特時(shí)，表示將各個(gè)分析結(jié)果每次64比特地分配給各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40。此外，統(tǒng)計(jì)數(shù)(圖中記載為"division")表示使其對(duì)比特差錯(cuò)數(shù)進(jìn)行計(jì) 數(shù)的差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的數(shù)量。另外，統(tǒng)計(jì)數(shù)通過CPU22被限制為構(gòu)成分析結(jié) 果統(tǒng)計(jì)單元34的差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的數(shù)量以下。
分配決定單元41在統(tǒng)計(jì)開始位置開始計(jì)數(shù)，直到計(jì)數(shù)值(以下簡稱為"分 配計(jì)數(shù)值，，)達(dá)到統(tǒng)計(jì)數(shù)為止，對(duì)每個(gè)統(tǒng)計(jì)單位進(jìn)行計(jì)數(shù)。
在統(tǒng)計(jì)單位為1比特時(shí)，分配決定單元41將表示對(duì)分配計(jì)數(shù)值進(jìn)行計(jì)數(shù) 的期間的門(gate)信號(hào)，和表示0值的控制信號(hào)輸出到分配單元42。
另一方面，在統(tǒng)計(jì)單位為64比特的倍數(shù)時(shí)，分配決定單元41將門信號(hào) 和表示分配計(jì)數(shù)值的控制信號(hào)輸出到分配單元42。
在門信號(hào)表示的期間中控制信號(hào)的值表示0時(shí)，分配單元42將各個(gè)并行 信號(hào)表示的分析結(jié)果分配給各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40。
另一方面，門信號(hào)表示的期間中控制信號(hào)的值表示1至64的其中一個(gè)時(shí)， 將所有的并行信號(hào)表示的分析結(jié)果分配給與控制信號(hào)的值對(duì)應(yīng)的差錯(cuò)計(jì)數(shù)器 40。
圖3表示作為統(tǒng)計(jì)單位指定了 1比特時(shí)的定時(shí)圖。這時(shí)，分配單元42將 各個(gè)分析結(jié)果每次1比特地分配給各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40。其結(jié)果，各個(gè)差錯(cuò)計(jì) 數(shù)器40分別對(duì)1比特的分析結(jié)果中包含的比特差錯(cuò)的數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。
另一方面，圖4表示作為統(tǒng)計(jì)單位指定了 64比特時(shí)的定時(shí)圖。這時(shí)，分 配單元42將最初的所有分析結(jié)果分配給第1個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40，將下一個(gè)所 有分析結(jié)果分配給第2個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40。其結(jié)果，各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40分別 對(duì)64比特的分析結(jié)果中包含的比特差錯(cuò)的數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。
CPU22從各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的計(jì)數(shù)值計(jì)算各個(gè)比特差錯(cuò)率，顯示控制單 元23將計(jì)算出的各個(gè)比特差錯(cuò)率顯示在顯示裝置21上。
圖5以及圖6表示通過顯示控制單元23在顯示裝置21所顯示的操作畫 面的圖像。
在圖5中，操作畫面上配置了表示被測試信號(hào)的分析結(jié)果的分析結(jié)果區(qū) 域50、用于選擇測試信號(hào)的分析區(qū)間被分割后的分割區(qū)間的選擇區(qū)域51、表 示被測試信號(hào)的分析狀態(tài)的分析狀態(tài)區(qū)域52。另外，在本實(shí)施方式中，分析 區(qū)間中的分割區(qū)間的數(shù)設(shè)為64。
在分析結(jié)果區(qū)域50上，顯示了各個(gè)分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率。這里，分 析結(jié)果區(qū)域50所顯示的各個(gè)分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率是根據(jù)各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的計(jì)數(shù)值通過CPU22計(jì)算出的。
在分析結(jié)果區(qū)域50中，由選擇區(qū)域51所選擇的分割區(qū)間與其他的分割 區(qū)間以不同的配色等顯示了比特差錯(cuò)率。另外，在圖5中，在分析區(qū)間選擇 了第19個(gè)分割區(qū)間。
在選擇區(qū)域51上配置了 用于顯示選擇中的分割區(qū)間中的開頭的比特位 置(統(tǒng)計(jì)開始位置)的字段(field) 61;用于顯示選擇中的分割區(qū)間的分析 區(qū)間中的升序的字段62;用于顯示選擇中的分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率的字段 63;用于變更選擇的分割區(qū)間的控制器64;用于將選擇中的分割區(qū)間指定為 新的分析區(qū)間的控制器65;用于將分析區(qū)間作為一個(gè)分割區(qū)間指定的控制器 66。
分析狀態(tài)區(qū)域52上配置了用于顯示參照模式存儲(chǔ)單元30中存儲(chǔ)的參 照模式的模式長度的字段70;用于顯示分析區(qū)間中的分割區(qū)間的數(shù)(統(tǒng)計(jì)數(shù)) 的字段71;用于顯示分析區(qū)間的比特長度的字段72;用于顯示一個(gè)分割區(qū)間 的比特長度(統(tǒng)計(jì)單位)的字段73。
在這樣的操作畫面上，分析開始控制器80通過輸入裝置20而被操作時(shí)， 通過測試信號(hào)發(fā)生裝置3產(chǎn)生測試信號(hào)，通過被測試信號(hào)分析裝置4的比特 差錯(cuò)分析單元33開始分析接收到測試信號(hào)的測定對(duì)象物2所發(fā)送的被測試信
在被測試信號(hào)的分析開始時(shí)，分析區(qū)間中將開頭的分割區(qū)間中的開頭的 比特位置除以SP變換單元31中的并行信號(hào)數(shù)所得的值表示為統(tǒng)計(jì)開始位置， 將分割區(qū)間的比特長度表示為統(tǒng)計(jì)單位，將分析區(qū)間中的分割區(qū)間的數(shù)表示 為統(tǒng)計(jì)數(shù)的信號(hào)，從CPU22被輸出到分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元34。
在輸入了該信號(hào)的分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元34中，各個(gè)分割區(qū)間中的比特差錯(cuò) 數(shù)通過各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40而被計(jì)數(shù)。作為該結(jié)果，各個(gè)分割區(qū)間中的比特差 錯(cuò)率被顯示在分析結(jié)果區(qū)域50上，選擇中的分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率被顯示 在字段63上。
這里，控制器65通過輸入裝置20而被操作，當(dāng)選擇中的分割區(qū)間作為 新的分析區(qū)間而被指定時(shí)，如圖6所示，將所選擇的分割區(qū)間設(shè)為新的分析 區(qū)間的操作畫面顯示在顯示裝置21上，表示新的統(tǒng)計(jì)開始位置、統(tǒng)計(jì)單位以 及統(tǒng)計(jì)數(shù)的信號(hào)從CPU22被輸出到分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元34。
在輸入了該信號(hào)的分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元34中，各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40被復(fù)位，從新的分析區(qū)間所分割的各個(gè)分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)數(shù)通過各個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器
40被計(jì)數(shù)。
作為該結(jié)果，各個(gè)分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率顯示在分析結(jié)果區(qū)域50上， 選擇中的分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率顯示在字段63上。
另外，在分割區(qū)間的比特長度為1比特長度時(shí)，如圖6所示，CPU22也 可以使參照模式存儲(chǔ)單元30所存儲(chǔ)的參照模式的各個(gè)比特與各個(gè)分割區(qū)間 相對(duì)應(yīng)，從而顯示在分析結(jié)果區(qū)域50上。
此外，在圖6所示的操作畫面上，控制器66通過輸入裝置20而被操作， 分析區(qū)間作為1個(gè)分割區(qū)間被指定時(shí)，如圖5所示，對(duì)于將分析區(qū)間設(shè)為1 個(gè)分割區(qū)間的新的分析區(qū)間的操作畫面顯示在顯示裝置21上，在該操作畫面 上，從新的分析區(qū)間所分割的各個(gè)分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率顯示在分析結(jié)果 區(qū)域50上，選擇中的分割區(qū)間中的比特差錯(cuò)率顯示在字段63上。
另外，在圖5以及圖6中，各個(gè)分割區(qū)間由分析區(qū)間和對(duì)比特差錯(cuò)率進(jìn) 行計(jì)數(shù)的差錯(cuò)計(jì)數(shù)器40的數(shù)量決定。為了與具有測試信號(hào)的模式中成為比特 差錯(cuò)的主要原因的模式跨越兩個(gè)分割區(qū)間的情況等相對(duì)應(yīng)，CPU22也可以根 據(jù)經(jīng)由輸入裝置20的操作，使分析區(qū)間中的分析開始位置以及分析結(jié)束位置 偏移(shift )。
這樣，本發(fā)明一實(shí)施方式的設(shè)備測試系統(tǒng)1從對(duì)被測試信號(hào)的分析區(qū)間 進(jìn)行了分割的分割區(qū)間中指定新的分析區(qū)間，因此能夠比以往的裝置容易確 定差錯(cuò)率高的測試模式或成為比特差錯(cuò)的主要原因的測試模式。
此外，設(shè)備測試系統(tǒng)1不需要事先預(yù)測比特差錯(cuò)率高的模式或成為比特 差錯(cuò)的主要原因的模式，在每次設(shè)定分析區(qū)間時(shí)，基于一覽顯示的每個(gè)分割 區(qū)間的統(tǒng)計(jì)結(jié)果(比特差錯(cuò)數(shù)、比特差錯(cuò)率等)，進(jìn)行一次或重復(fù)多次分析區(qū) 間的變更、擴(kuò)大(Zoom Out )、分析區(qū)間的任意一部分的詳細(xì)顯示(Zoom In ) 等操作，從而能夠容易確定比特差錯(cuò)發(fā)生率高的模式或成為比特差錯(cuò)產(chǎn)生的 主要原因的模式。
權(quán)利要求
1、一種被測試信號(hào)分析裝置，分析被測試信號(hào)，并將分析結(jié)果顯示在顯示裝置(21)上，其特征在于，所述被測試信號(hào)分析裝置包括分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元(34)，對(duì)所述被測試信號(hào)設(shè)定的分析區(qū)間進(jìn)行分割而成的每個(gè)分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)所述分析結(jié)果；以及顯示控制單元(23)，將所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的統(tǒng)計(jì)結(jié)果按每個(gè)所述分割區(qū)間顯示在所述顯示裝置(21)上，在所述分割區(qū)間作為新的分析區(qū)間而被指定時(shí)，所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元對(duì)將該新的分析區(qū)間進(jìn)行分割而得的每個(gè)新的分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)所述被測試信號(hào)的分析結(jié)果，所述顯示控制單元按每個(gè)所述新的分割區(qū)間將所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的統(tǒng)計(jì)結(jié)果顯示在所述顯示裝置上。
2、 如權(quán)利要求1所述的被測試信號(hào)分析裝置，其特征在于，在多個(gè)所述分割區(qū)間作為所述新的分析區(qū)間而被指定時(shí)，所述分析結(jié)果 統(tǒng)計(jì)單元對(duì)將所迷新的分析區(qū)間分割而成的每個(gè)新的分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)所述被測 試信號(hào)的分析結(jié)果，所述顯示控制單元按每個(gè)所述新的分割區(qū)間將所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元的 統(tǒng)計(jì)結(jié)果顯示在所述顯示裝置上。
3、 如權(quán)利要求1所述的被測試信號(hào)分析裝置，其特征在于， 所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元統(tǒng)計(jì)所述被測試信號(hào)的比特差錯(cuò)。
4、 如權(quán)利要求1所述的被測試信號(hào)分析裝置，其特征在于， 所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元包括 多個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器(40)，統(tǒng)計(jì)所述分析結(jié)果；分配決定單元(41)，確定所述分析結(jié)果是哪一個(gè)所述分割區(qū)間的結(jié)果， 并決定與確定的所述分割區(qū)間對(duì)應(yīng)的所述差錯(cuò)計(jì)數(shù)器作為所述分析結(jié)果的分 配目的i也；以及分配單元(42)，將所述分析結(jié)果分配到由所述分配決定單元決定的所述 差錯(cuò)計(jì)數(shù)器。
5、 如權(quán)利要求2所述的被測試信號(hào)分析裝置，其特征在于， 所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元統(tǒng)計(jì)所述被測試信號(hào)的比特差錯(cuò)。
6、 如權(quán)利要求2所述的被測試信號(hào)分析裝置，其特征在于，所述分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元包括 多個(gè)差錯(cuò)計(jì)數(shù)器(40)，統(tǒng)計(jì)所述分析結(jié)果；分配決定單元(41)，確定所述分析結(jié)果是哪一個(gè)所述分割區(qū)間的結(jié)果， 并決定與確定的所述分割區(qū)間對(duì)應(yīng)的所述差錯(cuò)計(jì)數(shù)器作為所述分析結(jié)果的分 酉己目的i也；以及分配單元(42),將所述分析結(jié)果分配到由所述分配決定單元決定的所述 差錯(cuò)計(jì)數(shù)器。
7、 一種設(shè)備測試系統(tǒng)，包括 測試信號(hào)發(fā)生裝置(3)，產(chǎn)生測試信號(hào)；以及被測試信號(hào)分析裝置(4 ),分析由接收到所述測試信號(hào)的測定對(duì)象物(2 ) 所發(fā)送的被測試信號(hào)，并將分析結(jié)果顯示在顯示裝置(21)上， 所述設(shè)備測試系統(tǒng)的特征在于，所述被測試信號(hào)分析裝置由權(quán)利要求1所述的被測試信號(hào)分析裝置構(gòu)成。
8、 一種被測試信號(hào)分析方法，其特征在于，包括對(duì)接收到的被測試信號(hào)所設(shè)定的分析區(qū)間進(jìn)行分割而成的每個(gè)分割區(qū) 間，分析所述被測試信號(hào)的步驟；按每個(gè)所述分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)分析了所述被測試信號(hào)的結(jié)果的步驟； 基于統(tǒng)計(jì)后的結(jié)果的顯示，選擇一個(gè)或者連續(xù)的多個(gè)所述分割區(qū)間的步驟；將選擇的所述一個(gè)或者連續(xù)的多個(gè)分割區(qū)間設(shè)定為新的分析區(qū)間的步 驟；以及對(duì)設(shè)定的所述新的分析區(qū)間進(jìn)行分割而成的每個(gè)新的分割區(qū)間，分析新 接收到的被測試信號(hào)的步驟。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠比以往的裝置更加容易確定差錯(cuò)率高的測試模式或成為比特差錯(cuò)的主要原因的測試模式的被測試信號(hào)分析裝置。本發(fā)明的測試信號(hào)發(fā)生裝置在分析被測試信號(hào)，并將分析結(jié)果顯示在顯示裝置(21)上的被測試信號(hào)分析裝置(4)中，包括分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元(34)，對(duì)被測試信號(hào)設(shè)定的分析區(qū)間進(jìn)行分割而成的每個(gè)分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果；以及顯示控制單元(23)，將分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元(34)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果按每個(gè)分割區(qū)間顯示在顯示裝置(21)上，在分割區(qū)間作為新的分析區(qū)間而被指定時(shí)，分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元(34)對(duì)該新的分析區(qū)間進(jìn)行分割的每個(gè)新的分割區(qū)間統(tǒng)計(jì)被測試信號(hào)的分析結(jié)果，顯示控制單元(23)按每個(gè)新的分割區(qū)間將分析結(jié)果統(tǒng)計(jì)單元(34)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果顯示在顯示裝置(21)上。
文檔編號(hào)G01R31/319GK101454681SQ200780018900
公開日2009年6月10日 申請日期2007年3月29日 優(yōu)先權(quán)日2006年3月31日
發(fā)明者今關(guān)肇, 和田健, 宮本隆志 申請人:安立股份有限公司