專利名稱：實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種測(cè)量系統(tǒng)與方法，且特別是有關(guān)于一種阻抗測(cè)量系統(tǒng) 與方法。
背景技術(shù)：
元件測(cè)試作業(yè)在制造工業(yè)中占有相當(dāng)重要的地位，為了提高產(chǎn)品的合格 率，首先需在元件進(jìn)廠時(shí)便需先進(jìn)行各種元件測(cè)試作業(yè)。
現(xiàn)有的元件測(cè)試方法是利用測(cè)試器以測(cè)量待測(cè)元件的電參數(shù)，測(cè)試人員 需記錄數(shù)據(jù)并判斷數(shù)據(jù)是否在正常范圍內(nèi)。若數(shù)據(jù)不在正常范圍內(nèi)，則判斷 待測(cè)元件為不良品，并進(jìn)行不良品的后續(xù)處理。
圖1是現(xiàn)有的阻抗測(cè)量裝置的方塊示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)Dl，測(cè)試器裝置IO 包括計(jì)算機(jī)ll、測(cè)試器12、開(kāi)關(guān)箱13與待測(cè)物14，測(cè)試人員可通過(guò)計(jì)算機(jī) 11選擇測(cè)試器的多種測(cè)試功能以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行一連串的測(cè)試作業(yè)，以測(cè)試待 測(cè)物的信賴度。然而，在所述測(cè)試作業(yè)完成之后，尚需測(cè)試人員個(gè)別地測(cè)量 每--待測(cè)物的電性參數(shù)，如此，將耗費(fèi)許多人力并延長(zhǎng)整個(gè)測(cè)試作業(yè)時(shí)間。
有鑒于此，為解決現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)與作業(yè)耗費(fèi)人力與時(shí)間的問(wèn)題，需要設(shè) 計(jì)一種測(cè)量系統(tǒng)與方法，其可快速且自動(dòng)地測(cè)量元件的電性參數(shù)，并分析所 述電性參數(shù)以節(jié)省人力、簡(jiǎn)化測(cè)試作業(yè)并提高測(cè)試準(zhǔn)確度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，用以測(cè)量 多個(gè)待測(cè)元件的阻抗值，以簡(jiǎn)化測(cè)試流程并提高測(cè)試作業(yè)的準(zhǔn)確性。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，用以快速且自動(dòng)地 測(cè)量元件的電性參數(shù)，并對(duì)所述電性參數(shù)進(jìn)行分析，以簡(jiǎn)化并加速測(cè)試作業(yè)， 同時(shí)可節(jié)省人力并降低成本。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，以測(cè)量多個(gè)待測(cè)元件的阻抗值。該實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)包含電源裝置、開(kāi)關(guān)矩陣(SWitch
matrix)、阻抗測(cè)量器與測(cè)試控制器。開(kāi)關(guān)矩陣包含多個(gè)元件開(kāi)關(guān)，所述元 件開(kāi)關(guān)分別連接所述待測(cè)元件的一端。電源裝置通過(guò)-一電源開(kāi)關(guān)連接所述待 測(cè)元件的另一端，并輸出一測(cè)試電源信號(hào)。該測(cè)試電源信號(hào)可例如為一直流 信號(hào)或一交流信號(hào)。阻抗測(cè)量器通過(guò)一測(cè)量開(kāi)關(guān)連接待測(cè)元件的另一端。測(cè) 試控制器用以控制開(kāi)關(guān)矩陣、電源開(kāi)關(guān)與測(cè)量開(kāi)關(guān)三者。當(dāng)測(cè)試控制器閉合 元件開(kāi)關(guān)與電源開(kāi)關(guān)，且關(guān)斷測(cè)量開(kāi)關(guān)時(shí)，連接于閉合的元件開(kāi)關(guān)的待測(cè)元 件可接收測(cè)試電源信號(hào)。另外，當(dāng)測(cè)試控制器關(guān)斷電源開(kāi)關(guān)且閉合測(cè)量開(kāi)關(guān)， 并依序閉合元件開(kāi)關(guān)時(shí)，阻抗測(cè)量器可依序測(cè)量連接于其上的待測(cè)元件的阻 抗值。
依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，測(cè)試控制器可接收待測(cè)元 件的阻抗值并對(duì)所述阻抗值進(jìn)行后續(xù)的分析作業(yè)。測(cè)試控制器可分別通過(guò)開(kāi) 關(guān)控制信號(hào)、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)控制開(kāi)關(guān)矩陣、電源開(kāi) 關(guān)與測(cè)量開(kāi)關(guān)。另外，系統(tǒng)可進(jìn)一步包括接口總線，該接口總線可傳送開(kāi)關(guān) 控制信號(hào)、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)，并可傳送來(lái)自阻抗測(cè)量 器的阻抗值至測(cè)試控制器或其它具有數(shù)據(jù)記錄與分析功能的數(shù)據(jù)處理裝置， 例如計(jì)算機(jī)等。該接口總線可例如為通用接口總線(General Purpose Interface Bus, GPIB)或RS-232接口。
此外，在該實(shí)施例中，測(cè)試控制器可通過(guò)執(zhí)行儀器集成程序產(chǎn)生開(kāi)關(guān)控 制信號(hào)、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)三者。儀器集成程序可例如 為L(zhǎng)abview程序、C語(yǔ)言程序與VB語(yǔ)言程序。而且，當(dāng)元件開(kāi)關(guān)與電源開(kāi) 關(guān)閉合時(shí)，待測(cè)元件串聯(lián)電源裝置，當(dāng)測(cè)量開(kāi)關(guān)閉合，且元件開(kāi)關(guān)依序閉合 時(shí)，待測(cè)元件依序并聯(lián)阻抗測(cè)量器。并且，測(cè)試控制器可依據(jù)儀器集成程序 的指令控制元件開(kāi)關(guān)與測(cè)量開(kāi)關(guān)，使阻抗測(cè)量器依序地測(cè)量每一待測(cè)元件的 阻抗值并將阻抗值傳回至測(cè)試控制器，以進(jìn)行后續(xù)的分析作業(yè)。若測(cè)試控制 器判斷某一待測(cè)元件為不良品，則在后續(xù)的測(cè)試流程中，可省略該待測(cè)元件 的測(cè)試作業(yè)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提出一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，用以測(cè)量多 個(gè)待測(cè)元件阻抗值，該實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法包含下列步驟提供開(kāi)關(guān)矩陣、電 源開(kāi)關(guān)、測(cè)量開(kāi)關(guān)與測(cè)試控制器，開(kāi)關(guān)矩陣包含多個(gè)元件開(kāi)關(guān)，所述元件開(kāi)關(guān)分別連接所述待測(cè)元件的一端，且測(cè)試控制器用以控制開(kāi)關(guān)矩陣、電源開(kāi) 關(guān)與測(cè)量開(kāi)關(guān)。然后，閉合元件開(kāi)關(guān)，且閉合電源開(kāi)關(guān)以傳送測(cè)試電源信號(hào) 至待測(cè)元件，該測(cè)試電源信號(hào)可例如為一直流信號(hào)或一交流信號(hào)。之后，閉 合測(cè)量開(kāi)關(guān)并依序閉合元件開(kāi)關(guān)，以依序測(cè)量待測(cè)元件的阻抗值，同樣地， 所述阻抗值可例如為一直流阻抗值或一交流阻抗值。
依據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，還包括接收待測(cè)元件的阻 抗值并對(duì)所述阻抗值進(jìn)行后續(xù)的分析作業(yè)的步驟。并且，可分別通過(guò)開(kāi)關(guān)控 制信號(hào)、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)控制開(kāi)關(guān)矩陣、電源開(kāi)關(guān)與 測(cè)量開(kāi)關(guān)三者。另外，該方法可通過(guò)一接口總線傳送開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、電源開(kāi) 關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)，且可傳送來(lái)自阻抗測(cè)量器的阻抗值至例如
一計(jì)算機(jī)。該接口總線可例如為通用接口總線(General Purpose Interface Bus, GPIB)或RS-232接口 。
此外，在該實(shí)施例中，可通過(guò)執(zhí)行儀器集成程序產(chǎn)生開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、電 源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)三者。儀器集成程序可例如為L(zhǎng)abview 程序、C語(yǔ)言程序與VB語(yǔ)言程序。而且，當(dāng)元件開(kāi)關(guān)與電源開(kāi)關(guān)閉合時(shí)， 待測(cè)元件串聯(lián)電源裝置，當(dāng)測(cè)量開(kāi)關(guān)閉合，且元件開(kāi)關(guān)依序閉合時(shí)，依序測(cè) 量每一待測(cè)元件的阻抗值。此外，可依據(jù)儀器集成程序的指令控制元件開(kāi)關(guān) 與測(cè)量開(kāi)關(guān)，可采用阻抗測(cè)量器依序地測(cè)量每一待測(cè)元件的阻抗值并將阻抗 值傳回計(jì)算機(jī)，以進(jìn)行后續(xù)的分析作業(yè)。若判斷某一待測(cè)元件為不良品，則 在后續(xù)的測(cè)試流程中，可省略該待測(cè)元件的測(cè)試作業(yè)。
由上可知，相較于現(xiàn)有技術(shù)中，測(cè)試人員需記錄阻抗值并判斷待測(cè)元件 是否為不良品，因而造成人力資源的消耗的缺點(diǎn)。在本發(fā)明的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量 系統(tǒng)與方法中，采用儀器集成程序集成實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)中的所有儀器的信 號(hào)與數(shù)據(jù)，故可大幅地節(jié)省待測(cè)元件的測(cè)試時(shí)間并簡(jiǎn)化測(cè)試流程，同時(shí)提高 測(cè)試作業(yè)的準(zhǔn)確性。


為使本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂，所 附附圖的詳細(xì)說(shuō)明如下
圖1是現(xiàn)有技術(shù)的阻抗測(cè)量裝置的方塊示意6圖2是依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)的方塊示意
圖3是依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)的電路示意
圖4是依照本發(fā)明另 一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)的方塊示意
圖5是依照本發(fā)明另一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法的流程圖。
主要組件符號(hào)說(shuō)明
20、 30:實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng) 212、 312:儀器集成程序 22、 32:電源裝置 24、 34:阻抗測(cè)量器 26、 SW2:測(cè)量開(kāi)關(guān)
90:待測(cè)元件 91:電路板
21、 31:計(jì)算機(jī)
214、 314: GPIB接口 23、 33:開(kāi)關(guān)矩陣 25、 SW1:電源開(kāi)關(guān) 33a 33f:元件開(kāi)關(guān) 90a 90f:電容 912、 914:待測(cè)點(diǎn)
具體實(shí)施例方式
為了節(jié)省人力資源并減少誤判的發(fā)生，下述實(shí)施例提供實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系 統(tǒng)與方法，以節(jié)省待測(cè)元件的測(cè)試時(shí)間并簡(jiǎn)化測(cè)試流程，同時(shí)提高測(cè)試作業(yè) 的準(zhǔn)確性。
當(dāng)待測(cè)元件進(jìn)行加速測(cè)試(也即，針對(duì)加速產(chǎn)品早期失效所設(shè)計(jì)出的加 速測(cè)試)或信賴性測(cè)試(也即，針對(duì)測(cè)試元件在嚴(yán)格的溫度或電性下的運(yùn)作 情形所設(shè)計(jì)出的信賴性測(cè)試)時(shí)，下述實(shí)施例所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)與方 法可實(shí)時(shí)地測(cè)量測(cè)試過(guò)程中的阻抗值變化，依據(jù)阻抗值變化可判斷測(cè)試元件 是否通過(guò)測(cè)試。
圖2是依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)的方塊示意 圖。請(qǐng)參照?qǐng)D2，實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)20可測(cè)量待測(cè)元件90的阻抗值，實(shí)時(shí) 阻抗測(cè)量系統(tǒng)20包含計(jì)算機(jī)21、電源裝置22、開(kāi)關(guān)矩陣(switchmatrix) 23與阻抗測(cè)量器24。計(jì)算機(jī)21分別通過(guò)開(kāi)關(guān)控制信號(hào)S2、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)Sl與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)S4控制開(kāi)關(guān)矩陣23、電源開(kāi)關(guān)25與測(cè)量開(kāi)關(guān)26 三者。電源裝置22通過(guò)電源開(kāi)關(guān)25連接待測(cè)元件90，并輸出測(cè)試電源信號(hào) Se至待測(cè)元件90。阻抗測(cè)量器24通過(guò)測(cè)量開(kāi)關(guān)26與開(kāi)關(guān)矩陣23連接待測(cè) 元件90，以測(cè)量待測(cè)元件90的阻抗值。阻抗測(cè)量器24輸出對(duì)應(yīng)該阻抗值的 阻抗信號(hào)S3至計(jì)算機(jī)21。
計(jì)算機(jī)21包含儀器集成程序212與GPIB接口 214，測(cè)試人員可依據(jù)待 測(cè)元件90的測(cè)試需求編寫(xiě)儀器集成程序212。當(dāng)計(jì)算機(jī)21執(zhí)行儀器集成程 序212時(shí)，將產(chǎn)生電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)Sl、開(kāi)關(guān)控制信號(hào)S2、與測(cè)量開(kāi)關(guān)控 制信號(hào)S4并通過(guò)GPIB接口輸出所述控制信號(hào)。儀器集成程序可采用Labview 軟件、C語(yǔ)言與VB語(yǔ)言進(jìn)行編寫(xiě)作業(yè)。此外，在依據(jù)本實(shí)施例的其它實(shí)施 例中，可采用RS-232接口以取代GPIB接口 214，同樣可達(dá)成傳送多個(gè)控制 信號(hào)的效果。
然而，待測(cè)元件90的數(shù)量可多達(dá)數(shù)百個(gè)，此時(shí)開(kāi)關(guān)矩陣包括對(duì)應(yīng)待測(cè)元 件的多個(gè)元件開(kāi)關(guān)，所述元件開(kāi)關(guān)分別連接待測(cè)元件90的一端。當(dāng)計(jì)算機(jī) 21閉合元件開(kāi)關(guān)與電源開(kāi)關(guān)25，且關(guān)斷測(cè)量開(kāi)關(guān)26時(shí)，連接于閉合的元件 開(kāi)關(guān)的待測(cè)元件90接收測(cè)試電源信號(hào)Se，測(cè)試電源信號(hào)Se可例如為100V。 當(dāng)計(jì)算機(jī)21關(guān)斷電源開(kāi)關(guān)25且閉合測(cè)量開(kāi)關(guān)26，并依序閉合元件開(kāi)關(guān)時(shí)， 阻抗測(cè)量器24依序測(cè)量連接于其上的待測(cè)元件90的阻抗值。
舉例來(lái)說(shuō)，若待測(cè)元件90的測(cè)試需求為在3小時(shí)內(nèi)持續(xù)接收100V的高 壓，且每隔半小時(shí)進(jìn)行待測(cè)元件90的阻抗值測(cè)量作業(yè)，則計(jì)算機(jī)21可閉合 元件開(kāi)關(guān)與電源開(kāi)關(guān)25，且關(guān)斷測(cè)量開(kāi)關(guān)26，連接于閉合的元件開(kāi)關(guān)的待測(cè) 元件將接收100V的高壓。經(jīng)半小時(shí)后，計(jì)算機(jī)21可關(guān)斷電源開(kāi)關(guān)25且閉 合測(cè)量開(kāi)關(guān)26，并依序閉合元件開(kāi)關(guān)時(shí)，阻抗測(cè)量器24依序測(cè)量連接于其 上的待測(cè)元件90的阻抗值。如此，將可獲知待測(cè)元件90在接收高電壓后阻 抗值的變動(dòng)情形。
本實(shí)施例的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)采用計(jì)算機(jī)21以控制開(kāi)關(guān)矩陣23、電源 開(kāi)關(guān)25與測(cè)量開(kāi)關(guān)26的開(kāi)關(guān)狀態(tài)以集成電源裝置22與阻抗測(cè)量器24，故 可節(jié)省待測(cè)元件的測(cè)試時(shí)間并簡(jiǎn)化測(cè)試流程。
在本實(shí)施例中，待測(cè)元件可例如為電容、電感或電阻等無(wú)源器件的組合， 此外，芯片或晶體管有源器件也可通過(guò)本實(shí)施例的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行端子間的阻抗值的測(cè)量作業(yè)，以下將以電容為例更具體地說(shuō)明實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系 圖3是依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)的電路示意
圖。請(qǐng)參考圖3，實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)30包含計(jì)算機(jī)31、電源裝置32、開(kāi) 關(guān)矩陣33與阻抗測(cè)量器34。電源裝置32通過(guò)電源開(kāi)關(guān)SW1連接電容 90a 90f，并輸出測(cè)試電源信號(hào)Se至電容90a 90f。阻抗測(cè)量器34通過(guò)測(cè)量 開(kāi)關(guān)SW2與開(kāi)關(guān)矩陣33連接電容90a 90f，以測(cè)量電容90a 90f的阻抗值。 計(jì)算機(jī)31也分別通過(guò)開(kāi)關(guān)控制信號(hào)S2、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制 信號(hào)控制開(kāi)關(guān)矩陣23、電源開(kāi)關(guān)25與測(cè)量開(kāi)關(guān)SW2。
進(jìn)一歩來(lái)說(shuō)，開(kāi)關(guān)矩陣33包含多個(gè)元件開(kāi)關(guān)33a 33f，元件開(kāi)關(guān)33a 33f 分別連接電容90a 90f。當(dāng)采用電容測(cè)試其耐壓能力，也就是，電容將在3 小時(shí)內(nèi)持續(xù)接收例如100V的高壓，且每隔半小時(shí)測(cè)量一次電容的阻抗值。 計(jì)算機(jī)首先閉合所有元件開(kāi)關(guān)33a 33f與電源開(kāi)關(guān)SW1，且關(guān)斷測(cè)量開(kāi)關(guān)， 以使電容90a 90f通過(guò)電源開(kāi)關(guān)SW1接收測(cè)試電源信號(hào)Se，也即，電容 90a 90f接收100V的高壓。經(jīng)半小時(shí)后，計(jì)算機(jī)31可關(guān)斷電源開(kāi)關(guān)SW1且 閉合測(cè)量開(kāi)關(guān)SW2，并依序閉合元件開(kāi)關(guān)33a 33f，以依序測(cè)量卯a(chǎn) 90f的 阻抗值。
也就是，例如僅閉合元件開(kāi)關(guān)33a，并關(guān)斷其余元件開(kāi)關(guān)33b 33f，以連 接電容90a與阻抗測(cè)量器34，則阻抗測(cè)量器34可測(cè)量電容90a的阻抗值。 接著，僅閉合元件開(kāi)關(guān)33b，并關(guān)斷其余元件開(kāi)關(guān)33a、 33c 33f，以連接電 容卯b與阻抗測(cè)量器34，則阻抗測(cè)量器34可測(cè)量電容90b的阻抗值，依此 類推，直到完成所有電容90a 卯f的測(cè)量作業(yè)。在后續(xù)的測(cè)試作業(yè)中，同樣 地，電容90a 90f接收來(lái)自電源裝置32的100V的直流電壓，并每隔半小時(shí) 測(cè)量所有電容90a 90f的阻抗值。所述阻抗值將傳送至計(jì)算機(jī)31，計(jì)算機(jī)31 可依據(jù)所述阻抗值判斷電容90a 90f是否已損壞。
在上述實(shí)施例中，測(cè)試電源信號(hào)Se是采用100V直流電壓為例，然而， 本發(fā)明不限于此，電源裝置可依據(jù)待測(cè)元件的測(cè)試需求輸出低頻或高頻交流 正弦波信號(hào)、方波信號(hào)、三角波信號(hào)與鋸齒波信號(hào)等等，以進(jìn)行待測(cè)元件的 信賴度測(cè)試作業(yè)。
此外，在本實(shí)施例中，也可將電容90a 90f置放在8(TC的高溫烤箱中，而且，選擇性地，電源裝置32無(wú)需輸出測(cè)試電源信號(hào)Se，以測(cè)試高溫環(huán)境
下電容的阻抗值改變的情形。
另外，圖4是依照本發(fā)明另一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)的方 塊示意圖。請(qǐng)參考圖4，前述實(shí)施例的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)20也可實(shí)時(shí)地測(cè)量 正進(jìn)行加速測(cè)試或信賴性測(cè)試的電路板91上的多對(duì)待測(cè)點(diǎn)912、 914間的阻 抗值。
除上述實(shí)施例之外，本發(fā)明的另一較佳實(shí)施例還提供一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量 方法，其可測(cè)量多個(gè)待測(cè)元件的阻抗值。
圖5是依照本發(fā)明另一較佳實(shí)施例的一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法的流程圖。 請(qǐng)同時(shí)參考圖3與圖5，實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法包括步驟51 54。首先，在歩驟 51中，提供開(kāi)關(guān)矩陣33、電源開(kāi)關(guān)SW1、測(cè)量開(kāi)關(guān)SW2與計(jì)算機(jī)31，開(kāi)關(guān) 矩陣33包含多個(gè)元件開(kāi)關(guān)33a 33f，元件開(kāi)關(guān)分別連接待測(cè)元件的一端。然 后，在步驟52中，計(jì)算機(jī)31輸出一開(kāi)關(guān)控制信號(hào)S2至開(kāi)關(guān)矩陣33以閉合 元件開(kāi)關(guān)33a 33f。之后，計(jì)算機(jī)31閉合電源開(kāi)關(guān)SW1以傳送測(cè)試電源信 號(hào)Se至電容90a 90f(步驟53)，此電源信號(hào)Se可為直流信號(hào)或交流信號(hào)。其 后，在步驟54中，計(jì)算機(jī)31輸出測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)以閉合測(cè)量開(kāi)關(guān)SW2， 并依序閉合元件開(kāi)關(guān)33a 33f，使得每一元件開(kāi)關(guān)33a 33f依序并聯(lián)阻抗測(cè)量 器34，以依序進(jìn)行每一電容90a 卯f的阻抗值測(cè)量作業(yè)。
實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法采用計(jì)算機(jī)以控制電源開(kāi)關(guān)SW1、開(kāi)關(guān)矩陣33與測(cè) 量開(kāi)關(guān)SW2，使待測(cè)元件可依據(jù)其測(cè)試需求接收測(cè)試電源信號(hào)Se，并進(jìn)行阻 抗測(cè)量作業(yè)。如此一來(lái)，將可簡(jiǎn)化測(cè)試流程并提高測(cè)試準(zhǔn)確度。
此外，計(jì)算機(jī)31可接收來(lái)自阻抗測(cè)量器34的阻抗信號(hào)S3，以分析每一 電容90a 卯f的阻抗值。當(dāng)計(jì)算機(jī)31判斷某一電容已損壞時(shí)，則不再對(duì)此損 壞電容進(jìn)行阻抗測(cè)量作業(yè)。也就是，在后續(xù)阻抗測(cè)量作業(yè)中，阻抗測(cè)量器34 不再測(cè)量損壞電容的阻抗值，如此，將可省略不必要的測(cè)試作業(yè)以簡(jiǎn)化測(cè)試 流程。
同樣地，本實(shí)施例的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法是采用一接口總線，以傳送來(lái)自 計(jì)算機(jī)的開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)至開(kāi)關(guān)矩陣、 電源開(kāi)關(guān)與測(cè)量開(kāi)關(guān)。接口總線可為通用接口總線(GPIB)或RS-232接口。
在此實(shí)施例中，實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法通過(guò)執(zhí)行一儀器集成程序產(chǎn)生開(kāi)關(guān)控
10制信號(hào)、電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)。此儀器集成程序是采用例
如Labview軟件、C語(yǔ)^或VB語(yǔ)言進(jìn)行編寫(xiě)作業(yè)。
由上述本發(fā)明較佳實(shí)施例可知，應(yīng)用本發(fā)明的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)與方法 可實(shí)時(shí)地測(cè)量多個(gè)待測(cè)元件的阻抗值，并集成電源裝置、開(kāi)關(guān)矩陣與阻抗測(cè) 量器。如此，可大幅地節(jié)省待測(cè)元件的測(cè)試時(shí)間并簡(jiǎn)化測(cè)試流程，同時(shí)達(dá)到 提高測(cè)試作業(yè)的準(zhǔn)確性與節(jié)省人力的效果。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的 情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明做出各種相應(yīng)的改變和變形， 但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，用以測(cè)量多個(gè)待測(cè)元件的阻抗值，其特征在于，該系統(tǒng)至少包含一開(kāi)關(guān)矩陣，該開(kāi)關(guān)矩陣包含多個(gè)元件開(kāi)關(guān)，所述元件開(kāi)關(guān)分別連接所述待測(cè)元件的一端；一電源開(kāi)關(guān)；一電源裝置，通過(guò)該電源開(kāi)關(guān)連接所述待測(cè)元件的另一端，并輸出一測(cè)試電源信號(hào)；一測(cè)量開(kāi)關(guān)；一阻抗測(cè)量器，通過(guò)該測(cè)量開(kāi)關(guān)連接所述待測(cè)元件的該另一端；以及一測(cè)試控制器，用以控制該開(kāi)關(guān)矩陣、該電源開(kāi)關(guān)與該測(cè)量開(kāi)關(guān)，其中，當(dāng)該測(cè)試控制器閉合所述元件開(kāi)關(guān)與該電源開(kāi)關(guān)，且關(guān)斷該測(cè)量開(kāi)關(guān)時(shí)，連接于閉合的所述元件開(kāi)關(guān)的所述待測(cè)元件接收該測(cè)試電源信號(hào)，當(dāng)該測(cè)試控制器關(guān)斷該電源開(kāi)關(guān)且閉合該測(cè)量開(kāi)關(guān)，并依序閉合所述元件開(kāi)關(guān)時(shí)，以該阻抗測(cè)量器依序測(cè)量連接于其上的待測(cè)元件的阻抗值。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試控制 器接收所述待測(cè)元件的阻抗值。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試控制 器分別通過(guò)一開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、 一電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與一測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)控 制該開(kāi)關(guān)矩陣、該電源開(kāi)關(guān)與該測(cè)量開(kāi)關(guān)。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，還包括一接口總線，用以傳送該開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、該電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與該測(cè)量開(kāi)關(guān)控制 /士 口
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試控制 器通過(guò)執(zhí)行一儀器集成程序產(chǎn)生該開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、該電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與該 測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)。
6、 一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，用以測(cè)量多個(gè)待測(cè)元件的阻抗值，其特征在 于，該方法至少包含下列步驟提供一開(kāi)關(guān)矩陣、 一電源開(kāi)關(guān)、 一測(cè)量開(kāi)關(guān)與一測(cè)試控制器，該開(kāi)關(guān)矩陣包含多個(gè)元件開(kāi)關(guān)，所述元件開(kāi)關(guān)分別連接所述待測(cè)元件的一端； 閉合所述元件開(kāi)關(guān)；閉合該電源開(kāi)關(guān)以傳送一測(cè)試電源信號(hào)至所述待測(cè)元件；以及 閉合該測(cè)量開(kāi)關(guān)并依序閉合所述元件開(kāi)關(guān)，以依序測(cè)量所述待測(cè)元件的 阻抗值，其中，該測(cè)試控制器用以控制該開(kāi)關(guān)矩陣、該電源開(kāi)關(guān)與該測(cè)量開(kāi)關(guān)。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，其特征在于，還包括傳送 所述待測(cè)元件的阻抗值至一測(cè)試控制器的步驟。
8、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，其特征在于，分別依據(jù)一 開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、 一電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與一測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)以控制該開(kāi)關(guān)矩 陣的所述元件開(kāi)關(guān)、該電源開(kāi)關(guān)與該測(cè)量開(kāi)關(guān)。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，其特征在于，通過(guò)一接口 總線，以傳送該幵關(guān)控制信號(hào)、該電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與該測(cè)量開(kāi)關(guān)控制信號(hào)。
10、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量方法，其特征在于，還包括執(zhí) 行一儀器集成程序產(chǎn)生該開(kāi)關(guān)控制信號(hào)、該電源開(kāi)關(guān)控制信號(hào)與該測(cè)量開(kāi)關(guān) 控制信號(hào)的歩驟。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種實(shí)時(shí)阻抗測(cè)量系統(tǒng)與方法，用以測(cè)量多個(gè)待測(cè)元件的阻抗值，該系統(tǒng)包含電源裝置、開(kāi)關(guān)矩陣、阻抗測(cè)量器與測(cè)試控制器。開(kāi)關(guān)矩陣包含多個(gè)元件開(kāi)關(guān)，元件開(kāi)關(guān)分別連接待測(cè)元件的一端。電源裝置則通過(guò)一電源開(kāi)關(guān)連接待測(cè)元件的另一端，并輸出一測(cè)試電源信號(hào)。阻抗測(cè)量器也通過(guò)一測(cè)量開(kāi)關(guān)連接待測(cè)元件的另一端。測(cè)試控制器用以控制開(kāi)關(guān)矩陣、電源開(kāi)關(guān)與測(cè)量開(kāi)關(guān)，并且利用阻抗測(cè)量器分別測(cè)量待測(cè)元件的阻抗值。
文檔編號(hào)G01R27/02GK101561467SQ20081009320
公開(kāi)日2009年10月21日 申請(qǐng)日期2008年4月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月18日
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