專利名稱：一種測試智能卡可靠性的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試智能卡可靠性的方法。
背景技術(shù)：
隨著計(jì)算機(jī)軟件技術(shù)和集成電路的不斷發(fā)展，智能卡的應(yīng)用范圍越來越廣泛，從個(gè)人手 機(jī)SIM卡到金融業(yè)的銀行卡和身份認(rèn)證，智能卡在發(fā)揮著重要作用。隨著半導(dǎo)體微細(xì)加工技 術(shù)的發(fā)展，越來越多的新興制造技術(shù)和器件應(yīng)用在智能卡芯片系統(tǒng)中，新工藝和新材料的應(yīng) 用給產(chǎn)品可靠性帶來新的問題。同時(shí)，智能卡的應(yīng)用環(huán)境也越來越復(fù)雜，因此對智能卡系統(tǒng) 的穩(wěn)定性與可靠性測試已成為一項(xiàng)很重要的工作。
現(xiàn)有的測試技術(shù)和方法，大都是在智能卡芯片系統(tǒng)穩(wěn)定供電的情況下進(jìn)行，比如存儲器 數(shù)據(jù)保持性試驗(yàn)和擦寫壽命測試。但是，在生產(chǎn)測試和現(xiàn)場使用過程中，由于越來越多復(fù)雜 集成電路的廣泛應(yīng)用，智能卡芯片系統(tǒng)的應(yīng)用環(huán)境受到大量的噪聲干擾，這些噪聲主要來自 于其他電子設(shè)備的不穩(wěn)定、開關(guān)機(jī)、靜電放電(ESD)等。于是在電源、地或者輸入/輸出(I/O) 等管腳存在不可預(yù)知的瞬時(shí)激勵導(dǎo)致類似閂鎖效應(yīng)(Latchup)的發(fā)生，尤以電源快速瞬態(tài)干 擾最為普遍也最為嚴(yán)重。在實(shí)際生產(chǎn)測試或者用戶使用過程中，由于電源快速瞬態(tài)干擾造成 智能卡產(chǎn)品性能劣化或功能失效問題時(shí)有發(fā)生。而行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)所采用的ESD測試和Latch up測 試，其方法和激勵并不能覆蓋和模擬現(xiàn)場環(huán)境中的干擾情形，不能夠發(fā)現(xiàn)因芯片系統(tǒng)對電源 遭受快速瞬態(tài)干擾導(dǎo)致的產(chǎn)品失效。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有測試技術(shù)的不足以及實(shí)際測試需要，本發(fā)明提出了一種測試智能卡可靠性 的方法，能夠提高測試的覆蓋率，避免產(chǎn)品由于測試不足而發(fā)生潛在的質(zhì)量問題。 為了解決卜.述問題，本發(fā)明提出一種智能卡的測試方法，包括
(1) 生成測試卡；
(2) 通過讀卡設(shè)備，在測試卡電源管腳施加穩(wěn)定直流電壓偏置，測量正常電流ICC1;
然后由干擾電路對測試卡電源管腳輸入干擾信號，測量電流ICC2，如果ICC2超過正常電流 ICC1的5倍，則中止測試，判斷測試失??；如果ICC2在正常電流值1CC1的5倍以內(nèi)，則繼 續(xù)后面的檢驗(yàn)步驟；
(3) 干擾測試完成后，檢驗(yàn)測試卡的性能和功能，如果測試卡的性能劣化或功能失效，
3則測試結(jié)果判定為樣品未通過測試；如果測試卡性能和功能正常，則測試結(jié)果判定為樣品通 過測試。
作為優(yōu)選，為了擴(kuò)大測試覆蓋率以確保產(chǎn)品可靠性，按照本發(fā)明所公開的測試方法對智 能卡進(jìn)行干擾測試，檢驗(yàn)智能卡在電源受到干擾的情況下是否電流過大，干擾測試后是否性 能劣化或功能失效，考核智能卡的抗干擾能力。
作為優(yōu)選，所述步驟(1)具體為選取功能正常的樣卡，通過測試設(shè)備測試卡片的靜態(tài) 電學(xué)特性，確定電性能參數(shù)在產(chǎn)品規(guī)范定義范圍內(nèi)；
作為優(yōu)選，所述步驟(2)具體為在測試卡電源管腳施加穩(wěn)定直流電壓偏置，測量電流 ICC1，做為實(shí)施測試過程中合格判據(jù)的參考值。
作為優(yōu)選，所述步驟(2)具體為將智能卡電源管腳與電源干擾電路輸出直接連接，將
電流表串聯(lián)在電源管腳上，通過更改電源干擾電路參數(shù)，產(chǎn)生不同的干擾波形，對智能卡電
源端輸入不同程度的干擾信號，測量每種干擾信號下的電流值ICC2。如果ICC2超過正常電 流值ICC1的5倍，則中止測試，判斷測試失??；否則繼續(xù)后面檢驗(yàn)步驟。
步驟(3)具體為干擾測試后，重新測試樣卡靜態(tài)電學(xué)特性，并驗(yàn)證其功能，如果測試 卡的性能劣化或功能失效，則測試結(jié)果判定為樣品未通過測試；如果測試卡性能和功能正常， 則測試結(jié)果判定為樣品通過測試。
本發(fā)明提出的智能卡測試方法，使測試更加貼近和模擬了產(chǎn)品復(fù)雜的制造過程以及用戶 使用現(xiàn)場環(huán)境，能夠提前發(fā)現(xiàn)由于芯片系統(tǒng)設(shè)計(jì)不足導(dǎo)致產(chǎn)品抗干擾能力較弱的問題，為改 進(jìn)可靠性設(shè)計(jì)以及為應(yīng)用環(huán)境可靠性設(shè)計(jì)等方面提供參考。


圖1是本發(fā)明提出的智能卡的測試方法優(yōu)選實(shí)施流程圖。 圖2是本發(fā)明測試過程中用到的干擾電路示意圖
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施流程圖如圖l所示，包括以下內(nèi)容
(1) 生成測試卡；
(2) 在測試卡電源管腳施加穩(wěn)定直流電壓偏置，測量電流ICC1;然后由干擾電路對測 試卡電源管腳進(jìn)行干擾，測量電流ICC2，如果ICC2超過正常電流值ICC1的5倍，則中止測 試，判斷測試失敗；如果ICC2在正常電流值ICC1的5倍以內(nèi)，則繼續(xù)后面的檢驗(yàn)步驟；
(3) 干擾測試完成后，檢驗(yàn)測試卡的性能和功能，如果測試卡的性能劣化或功能失效，則測試結(jié)果判定為樣品未通過測試；如果測試卡性能和功能正常，則測試結(jié)果判定為樣品通 過測試。
作為優(yōu)選，所述步驟(1)具體為選取功能正常的樣卡，通過測試設(shè)備測試卡片的靜態(tài) 電學(xué)特性，確定電性能參數(shù)在產(chǎn)品規(guī)范定義范圍內(nèi)；
作為優(yōu)選，所述步驟(2)中的干擾測試對智能卡進(jìn)行電源干擾測試，檢驗(yàn)智能卡在電源 受到干擾的情況下是否電流過大，干擾測試后是否性能劣化或功能失效，考核智能卡的抗干 擾能力，這樣擴(kuò)大了測試覆蓋率以確保產(chǎn)品可靠性，避免經(jīng)過測試的卡在用戶的實(shí)際使用中 出現(xiàn)性能劣化或功能失效。
作為優(yōu)選，所述步驟(2)具體為將智能卡電源管腳VCC與干擾電路(如圖2所示)輸 出1直接連接，將電流表2串聯(lián)在電源管腳VCC上。首先斷開開關(guān)S0，將選擇開關(guān)S4與電 感選通，在測試卡電源管腳施加5V穩(wěn)定直流電壓偏置，測量電流ICC1，做為實(shí)施測試過程 中合格判據(jù)的參考值；然后，閉合開關(guān)S0，通過S1、 S2、 S3和S4的不同選擇組合，更改干 擾電路參數(shù)，產(chǎn)生不同的干擾波形，對智能卡電源端進(jìn)行不同程度的干擾，盡可能貼切實(shí)際 使用環(huán)境，以提高測試覆蓋率。在電源遭受干擾的情況下測量電流值ICC2。如果ICC2超過 正常電流值ICC1的5倍，則中止測試，判斷測試失??；否則繼續(xù)后面檢驗(yàn)步驟。
作為優(yōu)選，所述步驟(3)具體為測試完成后，檢驗(yàn)測試卡的電性能和功能。首先通過 測試設(shè)備測試卡片的靜態(tài)電學(xué)特性，然后利用讀卡設(shè)備對測試卡進(jìn)行復(fù)位，對卡片內(nèi)存儲器 進(jìn)行讀寫操作。如果測試卡電性能參數(shù)超出產(chǎn)品規(guī)范定義范圍，復(fù)位應(yīng)答錯(cuò)誤或者不能正常 工作，則測試失?。蝗绻麥y試卡電性能參數(shù)符合產(chǎn)品規(guī)范定義，并且工作正常，則測試成功。
根據(jù)本發(fā)明中提供的測試智能卡可靠性的方法，使測試更加貼近和模擬了產(chǎn)品復(fù)雜的制 造過程以及用戶使用現(xiàn)場環(huán)境，能夠提前發(fā)現(xiàn)由于芯片系統(tǒng)設(shè)計(jì)不足導(dǎo)致產(chǎn)品抗干擾能力較 弱的問題，為改進(jìn)可靠性設(shè)計(jì)以及為應(yīng)用環(huán)境可靠性設(shè)計(jì)等方面提供參考。
對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以作出各種 變換或變化，因此所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本發(fā)明的范疇，都在本發(fā)明的保護(hù)范圍之 內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種測試智能卡可靠性的方法，其特征在于所述方法，包括以下步驟(1)生成測試卡；(2)通過讀卡設(shè)備，在測試卡電源管腳施加穩(wěn)定直流電壓偏置，測量正常電流ICC1；然后由電源干擾電路對測試卡電源管腳輸入干擾信號，測量電流ICC2，如果ICC2超過正常電流ICC1的5倍，則中止測試，判斷測試失?。蝗绻鸌CC2在正常電流ICC1的5倍以內(nèi)，則繼續(xù)后面的檢驗(yàn)步驟；(3)干擾測試完成后，檢驗(yàn)測試卡的靜態(tài)電學(xué)特性，并驗(yàn)證其功能，如果測試卡的性能劣化或功能失效，則測試結(jié)果判定為樣品未通過測試；如果測試卡性能和功能正常，則測試結(jié)果判定為樣品通過測試。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種測試智能卡可靠性的方法，其特征在于，所述步驟(l) 具體為選取功能正常的樣卡，通過測試設(shè)備測試卡片的靜態(tài)電學(xué)特性，確定電性能參數(shù)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種測試智能卡可靠性的方法，其特征在于，所述步驟(2)具體為在測試卡電源管腳施加穩(wěn)定直流電壓偏置，測量正常電流ICCl,做為實(shí)施測試過程 中合格判據(jù)的參考值；然后將測試卡電源管腳與干擾電路輸出直接連接，將電流表串聯(lián)在電 源管腳上，通過更改干擾電路參數(shù)，產(chǎn)生不同的干擾波形，對智能卡電源端進(jìn)行不同程度的干擾，測量每種干擾下的電流值ICC2，如果ICC2超過正常電流值ICC1的5倍，則中止測試， 判斷測試失敗；否則繼續(xù)后面檢驗(yàn)步驟。
全文摘要
本發(fā)明針對智能卡在生產(chǎn)、制造和應(yīng)用過程中，因應(yīng)用環(huán)境不穩(wěn)定導(dǎo)致產(chǎn)品性能劣化或功能失效的現(xiàn)象提出了一種測試智能卡可靠性的方法。本方法的測試流程包括(1)生成測試卡；(2)通過讀卡設(shè)備，在測試卡電源管腳施加穩(wěn)定直流電壓偏置測量電流ICC1；然后由干擾電路對測試卡電源管腳輸入干擾信號，測量電流ICC2，如果ICC2超過正常電流值ICC1的5倍，則中止測試，判斷測試失?。蝗绻鸌CC2在正常電流值ICC1的5倍以內(nèi)，則繼續(xù)后面的檢驗(yàn)步驟；(3)干擾測試完成后，檢驗(yàn)測試卡的性能和功能，如果測試卡的性能劣化或功能失效，則測試結(jié)果判定為樣品未通過測試；如果測試卡性能和功能正常，則測試結(jié)果判定為樣品通過測試。
文檔編號G01R31/28GK101629989SQ20081011665
公開日2010年1月20日 申請日期2008年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月15日
發(fā)明者吳彩峰, 歐陽秋笙, 艾偉偉 申請人:北京中電華大電子設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司