專利名稱：用于脈沖渦流檢查的自動提離補償?shù)闹谱鞣椒?br> 技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及可以用于檢效，j材料或結(jié)構(gòu)尤其例如諸如航空器面板和 管道等這樣的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中存在的諸如腐蝕、裂紋等缺陷的方法和設(shè)備。
背景技術(shù)：
諸如腐蝕、裂紋等缺陷會削弱材料或結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)整體性。許多工業(yè) 中結(jié)構(gòu)的故障可以具有非常嚴(yán)重的后果，這些故障比如諸如形成氣體或 輸油管等這樣的管道或航空器面板的部件的結(jié)構(gòu)故障。因此，相當(dāng)多的 工作致力于結(jié)構(gòu)的檢查上，以便確定它們是否具有或獲得可以影響它們 的結(jié)構(gòu)整體性的任何缺陷。
結(jié)構(gòu)可被視覺檢查以試圖檢測缺陷。然而，雖然一些缺陷能夠被視 覺檢查，比如會導(dǎo)致表面變形的嚴(yán)重腐蝕，許多缺陷比如從結(jié)構(gòu)的外部 表面不容易看出的裂紋或腐蝕會被漏掉。此外，許多結(jié)構(gòu)會用油漆、涂 料和絕緣體的層覆蓋，這會使視覺檢查甚至更困難。
檢查結(jié)構(gòu)以便檢測缺陷的另一方法涉及超聲波。然而，除非隨后的 層被機械結(jié)合在一起，超聲波僅可以穿透結(jié)構(gòu)的單層。因此，檢測多層 結(jié)構(gòu)中的缺陷是困難的。
檢測結(jié)構(gòu)中的缺陷的另 一方法是利用渦流。渦流檢查在檢測導(dǎo)電結(jié) 構(gòu)中裂縫方面具有相當(dāng)大的優(yōu)點，并且具有非常寬范圍的應(yīng)用。它是非 破壞性的，并且可以檢測肉眼看不見的裂縫。通常用單個頻率實現(xiàn)非破 壞性檢測。有時可以使用兩個頻率或多個頻率，以便提高檢查能力和檢 測可靠性。渦流可以穿透材料的多個層，以便發(fā)現(xiàn)會威脅材料或結(jié)構(gòu)的 可用性的隱藏損傷。然而，為了在復(fù)雜結(jié)構(gòu)中精確定位缺陷位置，傳統(tǒng)
的渦流技術(shù)遇到因頻率衰減引起的困難。脈沖渦流(PEC)方波脈沖提 供寬帶頻率能量，特別在低頻率處。因此，其提供了關(guān)于缺陷深度的更 多信息和后續(xù)的數(shù)據(jù)處理的潛力。
探頭提離是與在要被測試結(jié)構(gòu)的表面上移動探頭相關(guān)的問題，其在 于探頭和要被檢查結(jié)構(gòu)之間間距的變化產(chǎn)生接收信號中的虛假變化，該虛假變化會掩蔽指示真實缺陷的變化，這對于識別缺陷是誤導(dǎo)的。例如， 在其之上移動探頭的結(jié)構(gòu)表面的變化，比如油漆和/或涂層厚度，鉚釘 的表面特征的存在，和操作者在使用中施加至探頭的壓力的變化，可以 產(chǎn)生提離中的變化。
US6344741和CA2312101公開了 一種用于補償脈沖渦流技術(shù)中的提 離變化的方法。從在沒有缺陷的位置處距離要被測試結(jié)構(gòu)兩個或多個不 同提離距離處的探頭獲得校準(zhǔn)信號。確定檢測信號在時域中交叉的點， 以在時域信號的該特定時間點處建立"相交的提離點"。在校準(zhǔn)信號交 叉的相同時間點處比較后續(xù)的時域測試信號的幅度，以便補償提離。
然而，交叉點可能不是非常精確，并且當(dāng)檢測不同大小缺陷時可能 漂移。此外，僅在接收信號上的單個點處實現(xiàn)提離補償，使僅有限量的 信息從時域信號可用，限制了缺陷分析。
U S 5 3 919 8 8公開了 一種利用渦流測試檢測導(dǎo)電物體中的裂縫的方 法。鐵氧體磁心具有纏繞在其上的初級和次級線圏。矩形波電流被供給 至初級線圏，以在次級線圏中感應(yīng)脈沖波形的電壓。以對應(yīng)于兩個不同 閾值電壓的兩個分開的時間情況測量感應(yīng)電壓的脈沖持續(xù)時間。利用兩 個測量的脈沖持續(xù)時間的比較，消除鐵氧體磁心和導(dǎo)電物體之間距離 (提離)變化的影響。
US6573712公開了一種檢查裝置，其具有驅(qū)動部件，用于調(diào)節(jié)檢查 探頭的位置以保持恒定的提離。
作出關(guān)于提離發(fā)生和相關(guān)的提離距離的正確判斷，使得能夠消除檢 測信號中提離引起的、掩蔽缺陷信號的分量，從而可以恢復(fù)缺陷信息， 以便產(chǎn)生可靠的檢測結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
依據(jù)本發(fā)明的第 一 方面，提供一種用于補償渦流探頭和導(dǎo)電樣品的 表面之間的間隔(提離)的方法，該方法包括
通過將渦流探頭定位在沒有缺陷的樣品區(qū)域和距離樣品表面已知 的參考間隔(提離)處，激勵探頭以在樣品中產(chǎn)生渦流，并且感應(yīng)以該
已知的參考間隔在導(dǎo)電樣品中產(chǎn)生的渦流產(chǎn)生的參考信號，以及確定感 應(yīng)的信號的梯度值，獲得至少一組參考數(shù)據(jù)；
通過將渦流探頭定位在距離樣品表面未知的間隔(提離)處，激勵探頭以產(chǎn)生渦流，并且確定隨后的測試信號的對應(yīng)梯度值，執(zhí)行后續(xù)的 測試測量，以及
通過確定至少一個參考信號和測試信號之間的差異，補償測試測量 中渦流探頭和樣品表面之間的間隔(提離)。
已經(jīng)發(fā)現(xiàn)感測的信號的梯度指示探頭和正被測試的導(dǎo)電材料表面 之間的間隔(提離)。已發(fā)現(xiàn)本發(fā)明的實施例具有提供精確和可靠的提 離補償?shù)哪芰?。本發(fā)明的實施例還提供完整的提離補償?shù)男盘枺幌裨S 多現(xiàn)有技術(shù)方法僅在沿時變信號的單個點處提供提離補償。完整的信號 對于確定缺陷的性質(zhì)和位置的后續(xù)信號分析和處理是有用的。優(yōu)選產(chǎn)生 脈沖渦流。
在感測參考和測試信號之前，可以通過沒有提離地將探頭放在沒有 缺陷的區(qū)域上，并獲得之后從全部后續(xù)信號中減去的平衡信號，執(zhí)行平 衡調(diào)節(jié)。
最大幅度梯度(不管它是正還是負梯度)優(yōu)選被確定，并用于執(zhí)行 補償。通過包括例如可以確定感測的時變信號的峰值微分的處理器或計 算機的控制系統(tǒng)，可以容易地確定最大幅度梯度。因此，本發(fā)明的方法 可以容易地被自動化。優(yōu)選在確定梯度之前平滑感測的信號，比如通過 低通濾波器，以便消除由噪聲產(chǎn)生的任何偽結(jié)果。
測試測量中的補償可以包括獲得多組參考數(shù)據(jù)，每一組在探頭和樣 品表面之間的不同已知間隔處獲得。然后可以選擇具有最接近測試信號 的梯度的該組參考數(shù)據(jù)，并且確定選擇的參考信號和測試信號之間的差 異。替代地或者附加地，可以從一個或多個參考數(shù)據(jù)組內(nèi)插參考數(shù)據(jù)。 涉及參考信號或測試信號的數(shù)據(jù)可以乘以取決于測試和參考信號的大 小的比率的因數(shù)。
依據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種渦流檢查裝置，包括配置為執(zhí)行 本發(fā)明第一方面的方法的渦流探頭和處理裝置。


現(xiàn)在僅通過示例，參照附圖，描述本發(fā)明，附圖中 圖1示出了探頭和樣品表面之間的間隔(提離)； 圖2a示出提離參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生程序，示出了執(zhí)行本發(fā)明的實施例的 方法的流程圖；圖2b示出AD-L0C方法補償程序； 圖3示出了脈沖渦流檢查裝置；
圖4a示出帶有不同提離信號的脈沖渦流缺陷信號和缺陷，示出了 沒有提離和在多個不同的提離處從樣品獲得的 一 系列檢測的脈沖渦流 信號；
圖4b示出帶有提離信號微分的脈沖渦流缺陷，示出了在圖4a中呈
現(xiàn)的信號的微分；
圖4c示出20。/。材料損失缺陷，有或沒有提離的PEC信號和經(jīng)過提離 補償?shù)腜EC信號，示出了提離補償之前和之后來自20%缺陷的脈沖渦流
信號；
圖5a示出了脈沖渦流測試掃描中使用的變化的提離距離和位置； 圖5b示出沒有提離補償?shù)腃-掃描PEC成像，示出了沒有提離補償
的檢查C-掃描的脈沖渦流圖像；以及
圖5c示出有提離補償?shù)腃-掃描PEC成像，示出了施加了依據(jù)本發(fā)
明實施例的提離補償?shù)膱D5b的檢查C-掃描。
具體實施例方式
圖1示出了稱為探頭1和要被檢查樣品2表面之間的提離的間隔。 圖2是示出了執(zhí)行本發(fā)明的方法的示例的流程圖10。該流程圖包括
用于產(chǎn)生參考數(shù)據(jù)的第一部分20和用于產(chǎn)生經(jīng)過補償?shù)臏y試數(shù)據(jù)的第
二部分30。
如圖2中所示，在步驟21,優(yōu)選通過沒有提離地將探頭放置在沒有 缺陷的區(qū)域上平衡探頭，以獲得從所有后續(xù)信號減去的平衡信號。在步 驟22，探頭被定位在距離樣品表面已知的參考間隔(提離)處。優(yōu)選在 樣品基本上沒有缺陷的部分上定位探頭?？梢允褂萌绫绢I(lǐng)域熟知的任何 合適的渦流探頭，比如絕對探頭(absolute probe)，微分探頭，反射 探頭，未屏蔽探頭，屏蔽的探頭，或者利用線圏或電子傳感器的，以上 的單個、多個或陣列構(gòu)造的組合。在該示例中，使用具有整體的發(fā)射器 線圏和接收器陣列的探頭。接收器陣列典型地具有16或32個傳感器， 如本領(lǐng)域熟知的。然而如果期望，可以使用具有獨立的發(fā)射器和接收器 的探頭。通過在探頭和樣品的無缺陷部分之間放置已知厚度的墊片(通 常不導(dǎo)電的)，探頭可被定位在距離樣品表面的已知提離處。在步驟23，激勵探頭以在樣品的表層產(chǎn)生渦流，并通過探頭檢測渦 流產(chǎn)生的參考信號。例如利用方波電流激勵發(fā)射器線圏，以產(chǎn)生寬的頻 率帶，從而可以檢測樣品中多個深度處的缺陷。
在步驟24,確定參考信號的梯度。優(yōu)選地，確定參考信號的最大梯 度(不管梯度是正還是負)。依據(jù)本發(fā)明的渦流檢查裝置具有比如微處 理器的處理裝置，其可以通過計算參考信號的一階微分，確定梯度。測 試信號的梯度的最大幅度將是該一階微分的峰值。檢測的參考信號或確 定的梯度或微分中的至少一個被平滑，例如通過高斯平滑，或者經(jīng)過低 通濾波器，以便消除可能由噪聲引起的、并且可能產(chǎn)生錯誤值的任何尖 峰。檢測的參考信號和它相關(guān)的峰值梯度或微分被一起存儲于與該處理 器相聯(lián)系的存儲器裝置中。
根據(jù)需要多少組參考信號和相關(guān)梯度，按所需次數(shù)重復(fù)步驟21至 24。已經(jīng)發(fā)現(xiàn)更多組參考信號的使用提供更精確的結(jié)果。如果重復(fù)步驟 21至24,那么在探頭和樣品無缺陷部分之間放置另一已知厚度的不同 墊片(通常非導(dǎo)電的)，以在該第二已知提離處進行測量。如果產(chǎn)生多 組參考信號，那么產(chǎn)生的參考信號的每一個的梯度可以在獲得每一參考 信號之后被單獨確定，或者可以在已經(jīng)檢測全部參考信號之后一起確定 全部梯度。
當(dāng)已經(jīng)確定合適數(shù)量的參考信號和相關(guān)梯度時，該方法可以用于產(chǎn) 生測試數(shù)據(jù)，以便檢測任何缺陷。該測試數(shù)據(jù)可被提離補償。在步驟31, 可以在樣品之上定位探頭。然而，與如在上面的步驟21至24中用以產(chǎn) 生參考數(shù)據(jù)的探頭的使用相反，在該情況中，在樣品和探頭之間存在什 么樣的間隔程度是無關(guān)緊要的。在實踐中，探頭很可能在比如航行器面 板或管道元件的被測試結(jié)構(gòu)的部分上移過，并且提離很可能隨著探頭在 結(jié)構(gòu)之上移過而改變，例如由于油漆作業(yè)、涂層和絕緣體厚度的變化， 由于探頭遇到比如鉚釘?shù)鹊谋砻嫣卣?，以及由于操作者施加至探頭的壓 力的變化。
在步驟32,利用探頭中的接收器感測樣品中的渦流產(chǎn)生的信號。 在步驟33,確定測試信號的梯度，在該示例中通過計算一階微分， 并確定它的微分峰值。如步驟23中一樣，當(dāng)產(chǎn)生上面的參考數(shù)據(jù)時， 優(yōu)選通過計算測試信號的峰值微分確定測試信號的最大幅度梯度。
在步驟34,補償測試信號，以便減小或消除提離的影響。這通過從測試信號的數(shù)椐減去與一生成的參考信號相關(guān)的、加權(quán)的提離參考數(shù)據(jù) 而執(zhí)行。如果生成了多個參考信號，具有與測試信號最類似的梯度峰值 或最接近的峰值微分的參考信號將被識別，并且被標(biāo)記為當(dāng)前提離表 現(xiàn)，并且對應(yīng)的加權(quán)的識別的參考信號將被用作從測試信號減去的信 號。可以通過任何合適的方法比較最大梯度或峰值微分，比如本領(lǐng)域技 術(shù)人員熟知的最近距離準(zhǔn)則。替代或附加地，參考信號的數(shù)據(jù)可被內(nèi)插， 以產(chǎn)生將從測試信號的數(shù)據(jù)減去的更合適的參考數(shù)據(jù)組。內(nèi)插可以是有 幫助的，例如當(dāng)發(fā)現(xiàn)測試信號的斜率基本上位于兩個參考信號的斜率之 間的中間時，或者如果僅單個參考信號可用。參考信號可被乘以一補償 比，該補償比從測試信號和對應(yīng)的參考信號的比率導(dǎo)出，以便補償測試
和參考信號的大小的任何差異。在該示例中，步驟34之前有一系列步 驟34a至34d,用于確定對于產(chǎn)生的信號提離現(xiàn)象是否出現(xiàn)，并且假如 出現(xiàn)的話，打開補償功能并選擇參考信號。如果需要，可以在步驟34e 關(guān)閉提離補償。在步驟34f重復(fù)補償程序，直至全部數(shù)據(jù)已被補償，并 接著在步驟34g執(zhí)行數(shù)據(jù)的成像。
圖3示出了適用于執(zhí)行本發(fā)明的脈沖渦流檢查裝置。該裝置包括如 上所述的探頭40。探頭40在該示例中具有傳感器陣列。探頭40經(jīng)由連 接器41連接至處理和顯示裝置42。處理和顯示裝置42具有比如微處理 器的處理器和存儲器，用以存儲信號和執(zhí)行適當(dāng)?shù)奶幚?，比如峰值微?的確定，補償?shù)膱?zhí)行，以及具有相關(guān)的峰值微分的信號的存儲。該裝置 42具有用以顯示結(jié)果給使用者的顯示裝置43。
該裝置42可以執(zhí)行如下所述的自動微分提離補償過程
1) 首先，收集多(K)個提離參考信號Lo—Ref (k)，每一個在探 頭40距離樣品一預(yù)定提離處。這是參考信號組。
提離參考組{ Lo—Ref (k) }k=l，2，…，K
例如，用提離距離5mil ( 0. 127mm) , 1 Omi 1 ( 0. 254mm ) , 15mils (0. 381mm),以及20mils( 0. 508隱)產(chǎn)生四個提離參考信號。K=l， 2， 3， 4。
2) 在這之后，計算全部已知提離參考信號一階微分，以便找到它 們的峰值DPv — Lo—Ref (k)，其中k-l，2，…，K。
在該示例中，微分算子是一階微分，平滑算子是高斯平滑，并且微 分峰值被稱作DPv-Lo—Ref組。
3) 下面定義提離參考手冊組，其由提離參考信號Lo-Ref (k)和它對應(yīng)的微分峰值DPv—Lo-Ref (k)組成，其中k=l, 2,…，K Lo-Ref—Book-(提離參考組DPv—Lo—Ref組} ={ Lo一Ref (k) , DPv_Lo_Ref (k) } k=l，2'...，K
4) 然后，對于具有未知缺陷和未知提離類型的每一單獨的測試信 號，執(zhí)行下面
a )對于測試信號-DPv—test計算微分峰值。
b) 通過最近距離準(zhǔn)則將當(dāng)前DPv-test與DPv-Lo-Ref組比較，以 找到最類似的DPv—Lo—Ref (k)和獲得提離類型指數(shù)(lift-off class index ) k。
c) 依據(jù)提離類型指數(shù)k,得知內(nèi)含在測試信號中的提離的類型，從 而能夠在后續(xù)的補償程序中選擇正確的對應(yīng)的提離參考信號Lo—Ref
(k)。
5) 最后，利用Lo—Ref(k)，通過利用補償公式，實現(xiàn)自動提離補 償。該補償公式包括確定合適的參考信號和測試信號之間的差異。
還優(yōu)選依據(jù)下面的表達式計算補償比
Ratio=DPv—test/DPv—Lo—Ref
然后該補償比可被包括在補償公式中
Auto—Comp=Sig_test- Ratio*Sig—L0—Ref (k)
其中Sig—test是測試信號，并且Sig—LO—Ref ( k )是合適的參考信號。
圖4a示出了從樣品獲得的一系列檢測的脈沖渦流信號，沒有提離 (組A)以及^笨頭位于0. 05mm的提離(組B) ， 0. 25mm的提離(組C) 以及O. 5mm的提離(組D)。組A， B， C， D每一個包含是大約5%， 10%和 20%的總樣品厚度的材料損失的缺陷的信號。如從圖4a清楚看出的，脈 沖渦流信號的梯度主要受提離距離影響，而每一單獨組中缺陷大小的變 化具有小得多的影響。因此，在圖4a中，與不同的缺陷大小相關(guān)但是 具有相同的提離距離的脈沖渦流信號群集成主要由提離距離決定的同 一組l^沖渦流信號。
圖4b示出了在圖4a中呈現(xiàn)的信號的微分。具有不同的缺陷但是具
有相同的提離距離的脈沖渦流信號的微分不僅群集成取決于提離距離 的同一組，而且提供非常接近的微分峰值。從這可以看出，微分峰值清楚地指示在脈沖渦流信號中存在的提離。該提離特征被析取，并用于計 算補償比參數(shù)，以便執(zhí)行自動提離補償。
圖4c示出了依據(jù)本發(fā)明一實施例的變化提離脈沖渦流補償?shù)男Ч?圖4c中由粗實線表示具有20%的總樣品厚度的材料損失的一缺陷的樣 品的理想脈沖渦流信號，其中探頭被仔細定位，以使探頭和樣品表面之 間不存在提離。這是沒有提離影響地獲得的理想信號。圖4c中還由各 指示的虛線示出以0. 05irrni, 0. 25隱和0. 5mm的提離距離從該樣品的該 2 0%缺陷獲得的脈沖渦流信號。以部分重疊沒有提離地獲得的理想信號 的接近的虛線示出對應(yīng)的經(jīng)過提離補償?shù)拿}沖渦流信號。本發(fā)明的實施 例的提離補償?shù)男Ч?，由?jīng)過提離補償?shù)男盘柸绾尉o密地跟隨，或者甚 至覆蓋在沒有提離地獲得的理想信號上，在圖4c中清楚地示出。
圖5a, 5b和5c示出了在脈沖渦流C-掃描圖像上執(zhí)行的本發(fā)明的實 施例的提離補償。
圖5a示出了脈沖渦流C-掃描中的提離距離和它們的位置。不同的 提離距離，也就是O咖，0. 127mm， 0. 254mm, 0. 381mm和0. 508mm，通過 圖5a的單色圖像中不同的陰影呈現(xiàn)，但是也可以通過不同的色彩示出。
圖5b示出如可以從圖3中示出的裝置42的顯示裝置43上看到的 檢查掃描的脈沖渦流圖像。該掃描圖像示出其中不同的陰影或色彩指示 不同程度的材料損失的脈沖渦流圖像?？梢栽诿}沖渦流C-掃描圖像附近 提供通過特定的陰影或色彩指示材料損失的百分比水平的圖表。脈沖渦 流C-掃描圖像指示由材料損失構(gòu)成的缺陷的位置，呈現(xiàn)為對應(yīng)于正被測 試結(jié)構(gòu)中的缺陷的實際位置的C-掃描圖像上位置的不同的陰影或色彩。 圖5b中示出的圖像指示了可以通過在要被測試結(jié)構(gòu)的表面上移過如圖 3所示的探頭40而獲取的典型數(shù)據(jù)。顯示了多個"斑塊(patch)", 它們是由于在如圖5a所示的使用過程中在該點處的測量中探頭40的提 離。如從圖5a的掃描圖像中可以看到的，由在那些點處受到的提離引 起的斑塊使C-掃描圖像相當(dāng)不清楚，從而很難清楚地識別實際的缺陷。
相反，圖5c示出在已經(jīng)依據(jù)本發(fā)明的實施例實施提離補償之后， 圖5b的脈沖渦流C-掃描圖像。如可以看到的，x-軸上位置20和90處 的缺陷比在圖5b的C-掃描圖像中清楚得多地被看到。缺陷現(xiàn)在是如此 清楚，使得關(guān)于缺陷形狀的信息是清楚可辨的。在已經(jīng)消除提離影響之 后，缺陷的存在和位置清楚可見。因此可以獲得精確得多的缺陷信息。在仍落入本發(fā)明的范圍中時，可以對上面所述的示例進行多種變 化。例如可以使用任何合適的渦流探頭。該探頭可以具有在探頭主體中 整體地一起提供的發(fā)射器和接收器，或者可以分別提供發(fā)射器和接收 器。接收器可以包括一個或多個線圏或傳感器。
權(quán)利要求
1. 一種用于補償渦流探頭(1)和正被測試的導(dǎo)電樣品(2)表面之間的間隔的影響的方法，該方法包括通過將渦流探頭(1)定位(21)在基本上沒有缺陷的區(qū)域和距離樣品(2)表面已知的參考間隔(22)處，激勵(23)探頭以在樣品中產(chǎn)生渦流，并且感測以該已知的參考間隔在樣品中產(chǎn)生的渦流產(chǎn)生的參考信號，以及確定(24)感測的時變信號的梯度值，獲得至少一組參考數(shù)據(jù)；通過將渦流探頭定位(31)在距離樣品表面未知的參考間隔處，激勵探頭以產(chǎn)生渦流，并且確定(33)隨后的測試信號的對應(yīng)梯度值，執(zhí)行后續(xù)的測試測量，以及通過確定至少一個參考信號和測試測量之間的差異，補償(34)測試測量中渦流探頭和樣品表面之間的間隔的影響。
2. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中獲得多組參考數(shù)據(jù)，每一組 在渦流探頭(1)和樣品(2)表面之間的不同已知參考間隔處獲得。
3. 依據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中確定每一參考信號和測試信 號的最大幅度梯度，并且具有最接近測試信號的最大幅度梯度的參考信 號被用于補償。
4. 依據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中獲得該多個參考信號的每一 個和測試信號的 一 階微分峰值，并且利用具有最接近測試信號的 一階微 分峰值的參考信號執(zhí)行補償。
5. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中從測試信號和選擇的參考信 號的微分的峰值幅度的比率確定補償參數(shù)。
6. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中通過從測試信號減去選擇的 參考信號獲得完整的經(jīng)過補償?shù)男盘枴?br> 7. 依據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中平滑感測的信號、微分或峰 值微分中的至少一個。
8. 依據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中從該一個或多個參考數(shù)據(jù)組 內(nèi)插關(guān)于所述至少 一個參考信號的數(shù)據(jù)。
9. 一種渦流檢查裝置，包括配置為執(zhí)行如權(quán)利要求1所述的方法 的渦流探頭(1)和處理裝置(42)。
10.依據(jù)權(quán)利要求9所述的渦流檢查裝置，其中探頭是絕對探頭， 微分探頭，反射探頭，未屏蔽的探頭，屏蔽的探頭，或利用線圈或電子 傳感器的，單獨、多個或陣列構(gòu)造的，其中的任何組合。
全文摘要
本發(fā)明提供用于脈沖渦流檢查的自動提離補償。探頭(1)和被測試結(jié)構(gòu)(2)表面之間的提離間隔的變化常常掩蔽結(jié)構(gòu)中缺陷的檢測。描述了用于自動分類和補償提離的變化的方法和設(shè)備。已知提離處的參考信號(23)可以用對應(yīng)的計算的比率參數(shù)加權(quán)，并從測試信號(32)減去，以補償提離。優(yōu)選獲得多個參考信號，并且優(yōu)選確定每個參考信號的最大幅度梯度(24)。還獲得后續(xù)的測試信號的最大幅度梯度(33)，識別具有最接近測試信號的最大幅度梯度的對應(yīng)參考信號，并在相關(guān)補償程序中選擇該對應(yīng)的參考信號。已發(fā)現(xiàn)這種方法將信號恢復(fù)為使得提離被消除，并且缺陷容易被識別。
文檔編號G01N27/90GK101413923SQ20081013143
公開日2009年4月22日 申請日期2008年6月12日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月12日
發(fā)明者J·漢森, X·喬 申請人:通用電氣檢查技術(shù)有限公司