專利名稱：用于分析干式化學測試元件的方法和裝置的制作方法
用于分析干式化學測i^;件的方法和^g獄領域本發(fā)明涉朋于分析干式化學i斷件的方法和鍾，篇免疫測淑件。 背景獄本技術用于化驗(assay)裝載干式化學觀Ji^件的一種或多種分析物。為此 目的，在測淑件上形成多個化驗區(qū)域，如條形、圓形敘形，根據化i^f需液 ,品的用量在鵬區(qū)嫩只聚一種或多種分豐斶(如US 6,707,554 Bl)。通常分析 物直接被標記，從而以備隨后干式化學卿K^件的光學分析。干式化學測i^i件 的準備還可以包括禾,緩沖溶液、 、 液 或沖冼。 :tig，干式化學 測i^;件可以皿光學掃描而被分析，從而確定觀!H^i件的化驗區(qū)中一種或多種 特定分豐斶的雜。光學掃描，中，掃描化驗區(qū)產生的測S^束離開4^區(qū)后可ffi3i1tiim 測。Mimtl鵬i^^產生測1^，其一部分利用魏的單頓多色光源產生, ^^述化驗區(qū)載有待測光活性物質。在鵬區(qū)，須B^e^的光與光活性物質相互 作用，導致測i魏束的光學l4M發(fā)生相應的變化，作為觀S^m離開化驗區(qū)。當 施加測i^^時，娜、^S^戯光tN"用于分析測l^的光學M。測散 束也可以基于化驗區(qū)的光活性物質的發(fā)光。隨著測默束離開各自的化驗區(qū)后測歡§雖可能會隨分析的化驗區(qū)的不同 而不同。例如，測^^在各自鵬區(qū)產生的熒光會以不同的《M^:出，這可是 例如待測分析物濃度的指示。發(fā)出的頂!B3fe強度與觀察的化驗區(qū)的光吸收范圍尤 期眹。如熒光化驗，它的范圍與熒光肝濃度尤期眹。干式化學測販件的光學掃描期間，iKl例如澳'K^件和檢lll^g^撿測 測量，，或測i^&束和光,+樹于彼此而榭奐，從而光學分析一個又一個化 驗區(qū)。根據已知的光學掃描禾聘，在開始掃描前設^^3描織，然后開始掃 描。通常設定檢測^CT的度定掃^ES和曝光時間。如mM干式化學ll^^件 上的化驗區(qū)鄉(xiāng)弓破不同的測散，會產生有的區(qū)鄉(xiāng)ijfi^艘較低的問題，一 艦應于較低濃度的待測分鵬，—些清況下，掃^IM:麵實際上不能收集
到適于分析物的檢測信號。在其他W^:濃度分,的區(qū)域，離開化驗區(qū)的測量艦的光^X太麵吏當鵬描驗下微^SSg負荷。發(fā)明內容本發(fā)明的目的在于衝共在一種用于分析干式化學沸K^件的方法和裝置，其 中即便在載有待測光活性物質的檢測元件的化驗區(qū)具有不同光學活性時也肖嫩利 用光翔描實現優(yōu)化分析。根據本發(fā)明，鵬蚊權利要求l的用于分析干式化學測細牛的方法禾卿 ^l利要求12的用于分析干式化學觀^f;件的體實l^發(fā)明的目的。也麟了 用于進fri會斷藥物測試的方法和體。本發(fā)明的雌實施例形成了/AM權利要求 中的主要內容。根據本發(fā)明的一個方面，這里,一種分析干式化學測^;件的方法，尤其 免疫學測i玩件，其中利用光對3描分析干式化學測i^;件，由此，測量棘離 開測販件的化驗區(qū)，所述化驗區(qū)載有一種或多種固定的光活性物質，禾傭檢測 器裝置檢測各測量光 M，戶/M的方^^括以下步驟第一B區(qū)光學掃描戰(zhàn)呈 中，具有第一測fi^販的觀^^^開織一鵬區(qū)，根據掃描織的第一設S^擇掃描參數，對檢測，置的工作范圍和照射到檢測 置的測1^的第 —光量，相對于彼jtbia糊整，和第二化驗區(qū)光學掃描纖中，具有區(qū)別于第一 測量光^l的第二測量光纟M的須!)ft^束離開第二化驗區(qū)，根據區(qū)別于掃描參數 的第一設置的掃描參數的第二^g^擇掃描Mt對檢觀J^S的工作范圍和照 射到檢測l^g的測S^的第二爐，艦于彼鵬預整。根據本發(fā)明另一個的方面，麟了一種用于艦光對3描分析干式化學測試 元件的裝置，絲免疫學觀iji^i件，該縫艦魏，用于保if用于^3描 分析的干式化學測販件，檢tJ^S，用于檢測離開微區(qū)盼測fi^，戶腐 化驗區(qū)載有一種或多種固定的光活性物質，并具有相應的測歡 艘，禾啦帝蝶 置，用于按如下方繼制千式化學測i^;件的光對3描第一化驗區(qū)光對3描過 程中，具有第一測量光弓販的頂ijl^^開織一化驗區(qū)，根據掃描參數的第一 設置選擇掃描參數，對檢I，置的工作范圍和照射到檢泖J^g的測fi^束的 第一光量，相對于彼雌fi^整，和第二化驗區(qū)光^3描ai呈中，具有區(qū)別于第 一測量光 雖的第二測^^販的測fi^離開第二化驗區(qū)，根據區(qū)別于掃描參 數的第一設置的掃描參數的第二^2^f掃描參數，對檢l!l^置的工作范圍和
照朝至|臉 §的測*^的第二 ,相對于《^i^彌整。根據本發(fā)明，在分析干式化翔斷件的掃描雖中， 也調魁頓 用的測量系統的光對3描'M,特別是光學元件，4媒與正在分析的化驗區(qū)的光 活性相適應。控制照射至IJ檢頂^g的測fi^的^fi，使得檢測器總;K作在 予跌規(guī)定的工作范圍。所虹作范圍是為檢測驢予跌規(guī)定的，如發(fā)光二極管， 發(fā)光二極管^電倍增器的二維設置，并可M檢測器適當的電布線有選掛也設 置。檢測器裝置的工作范圍， 一般為檢觀離產生的電信號與照射的光ft^性相關的范圍，檢測^g^J見清晰并可重現的行為。如果照朝至iMi螺表面的^MIg 出檢測器工作范圍，也就是鵬范圍，"^會因為照謝的jfel^:低而觀測不到輸 出信號，棘是檢壩幡超負荷導致1:頓喊非線性。在這種膚況下，即使電輸出信 號能與檢測器噪音區(qū)分，iJ5^隹以甚至不可倉調于iff古以分l腺化驗。如果是已 知化驗裝置可再現的響應功能，并允許iff古產生的輸出電信號，非線性范圍也可 指定為檢測^g的工作范圍。測量光^T3Iil特別^iM光束、gM、 t^t光^Mt，的形^測。至于選擇分析明附aw光學'頓可艦具將慮包^m^分析物的干式化學測貌件的性質來決定。娜、CT或艦棘是由于施加在化驗區(qū)的測試 光束產生的，所述測i^^與含有固定的光活性物質的化驗區(qū)相互作用，源于產 生了相應變化的測量光束。然而，^^^6對3描中也可肖^生熒光和m形式 的皿M。財卜，光學掃描可包括來自化驗區(qū)的， 的檢測，i^P分是 由于生物發(fā)光、化學發(fā)艦電化學發(fā)光。生物發(fā)^^化學發(fā)光的情況下，添加物 質并M f機區(qū)的光活性物MM^:光(luminescence)方式的^^鄉(xiāng)。相反， 電化學發(fā)光是基于向干式化學測i^^m^區(qū)鄉(xiāng)電能，以^t活性物質進行發(fā) 光。在本方法的實施例中給出了為雌區(qū)鄉(xiāng)電能的魏方式，如一個或多個電 極。光活性物質由一種或多種固定在測^:件上的試劑鵬產生，腿的^S可能^合反應或化學，。準備光^g描MfOT觀^i件期間的，的結果是，產生具備可用于光學掃描'M的光活性物質。結合M^T能為例如免麟合腿 ，化皿。這種反應或化學Mi^J能會發(fā)生多次。皿一個或多個結合^， —個或多個固定在測i玩件的試齊阿以被間接豐祝。 一個或多1S^劑的^^也可 能會,硫的試劑的結合。
對于根據掃描參,一^S的掃描，和根據掃描M^二^S的掃描參數之間的轉變，可以提供一個或多個措施(measure),從而將照射至l臉測，置的 測量光束的光量相應體至IJ^PI幡的工作范圍。這鵬施也包括如在測1^^'J 檢U^e路徑中插A^出濾光片。隔膜(diaphragm)的JOT也Jlf共了范例。 理論上，可利用任何措l^l5根據檢i^M的工作范圍調^ 射至'Mi麟置的測量光束的^S。在一實施例中甚至可以ffl^OT檢U^置的電布,改n作范圍，這樣又一次可以實JlMM的^fi和工作范圍間的配合。皿實施例， 在這種連接方式中，放大系數可改變。對檢1^置的工作范圍的調節(jié)，可作為替代的或附加措施來影響照射至'J檢測^g的^l:。檢Si^g工作范圍的調節(jié)也成為相翔描鵬掃描織的—部分。本發(fā)明更皿的實施例提供了如下一個^L個選自如下設定的掃描參數組中的錢掃描艦、曝光時間、11^^的觀微3賊、檢觀幡的放絲數和為化驗區(qū)提供電能。掃描皿是指， 一方面其上具有化驗區(qū)的干式化學 ^;件， 另一方面特別是包括檢測 §的掃描體，二者的相鄉(xiāng)^MJt。作為附加或 可選擇，j頓測i^;束時，可OT測i^^!31化驗區(qū)的3M。 S51^，施， 對^iM七驗區(qū)，得到相關的掃描時間，這期間M^f!!Kfi為M^區(qū)檢測測 量光束。如果離開化驗區(qū)的測S^的觀iS^，相對較低，通常表明分f/^r濃度較低，掃描驗可相應的選擇的較低以ii^夠的測a^^s^射至i臉溯鵬 置。相反的，如果確定不同鵬區(qū)的湖IJfi^敏強可加対3Mt。曝光時間是指檢測驟置為化驗區(qū)檢測測fi^的時間。其首先^I3描鄉(xiāng)的影響。另外， 可以在預定的時間段或多^hf腕的時間段，開^^暴露^M檢頂^S的檢測 器表面的光學元件。 :，可 可調式隔膜。然而，澳!H^6^的光^ffi常會影 響測M^:束的光強，該測i^^PW式化學lH^;件以進行分析。這個掃描 織也可調整。本發(fā)明的一優(yōu)選實施例中，對于掃描參數的第一和第二設置，至A一個掃描 參數為常數。^一和第二掃描參數間進行B^時，必須g^的掃描,的數目 齡，6K^im本發(fā)明的-^選實施例中，在干式化學測i^6件纖掃描過程中，進行根據掃描M^—^a辦3描參數到根據掃描參^m二設置的掃描,的^0更鵬的是，本發(fā)明的進1賺為，根據掃描M^—體附3描織到根據掃描M^二^S的掃描,的變化，是H^予l5fcit行的預掃描^S導出的 湖優(yōu)信息的函數。予M5feia行的予廚3描鵬可鵬關于干式化學i斷件3te化驗 區(qū)的光活性的信息，這一信息是鄉(xiāng)M淑目對Uffi^。根據這一信息，化驗區(qū)掃描織體可被體，從麗在光學掃描器件相鵬亍變化。預掃描鵬可為快速掃描。作為附加或可選擇，比為隨后的主掃描體更低的併Jf率的劍牛下進行預掃描 。對Tf頁掃描M，不必《OT實際^^析的干式化學1^;件，可使用與化驗區(qū)構造類似的,觀y^;件莉示準測^件。本發(fā)明優(yōu)選實施例中，根據掃描# —體的掃描 ^搬據掃描參鄉(xiāng) 二設置的掃描參數的變化，是根據干式化學測^^件光對3描an的當前測量值 導出的當前測量信息的函數。即使掃描行為己予跌設定，掃描鄉(xiāng)呈期間可即時或 當劍^掃描,^ 司的 。本發(fā)明的頓—步艦在于，干式化學泖鵬件光學掃描繊中，根據掃描 參，一設置的掃描參數至搬據掃描#|^二^§的掃描參數的對撥生多次。 掃描參數設置間的變化可根據預設的控審慘數自動進行多次。然而，作為附加或 可選擇，掃描娥呈中獲得的當前的測量信息也可能弓胞多次變化。本發(fā)明的更,的改進在于，第一^區(qū)在利用根據掃描^cB—^g的掃描，的光^3描后,利用根據掃描#^二^1的掃描參數再^2行^3描。 第一化驗區(qū)的第二次光^3描可以在隨后的化驗區(qū)光對3描之前馬上進行。然而， 也可以在干式化學測^i件，的一次掃描之后^一4t^區(qū)進行第二次光對3 描。在此瞎況下，通常需要返回第一化驗區(qū)。如禾擁第一體掃描纖，檢測器 ^S上無信號或信號不足以用于分析時,,一ft驗區(qū)可以進行第二 M;學掃描。然后iiiie^掃描,的^a再次分析第一i^區(qū)。在本發(fā)明一個有意義的實施例中，分職相應條區(qū)的觀^^z用區(qū)，在化驗區(qū)光學掃描過程中不會重疊。觀!l試光應用區(qū)作為與相關的化驗區(qū)關聯的(in conjunction with)光^g描鵬中觀鵬穿過的干式化學lB^i件上的區(qū)域。對此， 實施例提供了使得領微細區(qū)彼此緊鄰，從而在其間殆有不暴露于測微的 區(qū)域。本發(fā)明有利的實施例中，鵬第~^ 以位于工作范圍的第~^范圍內，選 擇第二光量以位于工作范圍的與第"T范圍不同的第二子范圍內。更優(yōu)選的，第 —子范圍和第二子范圍是工作范圍較f舒B較高的子范圍。這樣，檢測^S的工 作范圍和動態(tài)范圍得至嘬充分的禾傭。雌的，本發(fā)明的一個^a在于，多個相同的條區(qū)在一個掃描錢進行光學掃描，并以二維備(resolved) fi^^PJ。該實施例，j頓了允許二維爐 的測^6^^t在檢測器表面的檢i!lll^g。 ^^戶脫的方法的實施例，獸辦測 量掃描方向的橫向上的多個化驗區(qū)。^^f述的方法的多種實施例中，光學掃描an中得到的圖像信息可以根據所謂的整合(stitching) iiSbS。 M:M中，單3蟲的圖，合形成全圖，多次產 生的圖象信息，如重疊，可以被消除。！^可以^S利用不同方法獲得的^的 軟件實現。關于本發(fā)明用于分析干式化學頂B^;件的裝置的實施例，結合相關的方法給予說明。


結合雌實施例合附圖詳細說明本發(fā)明，其中圖i戶^為分析干式化^^測i^;件的^S示意圖，圖2戶標為干式化學 縱件示例， 圖3麻為掃描Mli^圖，圖4所示為干式化學測i^i件示意亂其具有布置于掃描體糊黃向上的多個化驗區(qū)，和圖5所示為掃描戰(zhàn)M^意圖，其中干式化學測i^f;件的化驗區(qū)第一次掃描鵬后的再次光^3描。具體實舫式圖1戶標為禾擁光對3描分析干式化學l^i件1的錢示意圖。置于支架 2 (特別用作I^;件1的固定器)上的測i^;件1的光學分析，可ili共測i^i件 l化驗區(qū)中的一種或多種光活性物質的分析檢測，特別是用于醫(yī)學診斷分析。光 活性物質由一種或多種固定在測i^;件1上的試劑H^生，腿的^Z可能是 結合鵬(bindingreaction)或化學鵬。律恪用于光對3描鵬的測淑件期間 發(fā)生的反應的結果是，產生具備可用于光，描M的光活性物質。結合HiS可 能為例如免自合皿^HtSiS (hybridization reacticMi)。這種^SiS^;化學g 可能會發(fā)生多次。 31—個或多個結合，， 一個或多個固定在、鵬^:件1上的 試齊阿以被間擻祝。 一個或多^H^劑的^^會P^aih豐疏的試劑的結合。
在該實施例中，在光對3描，，觀iJi^W 3產生的測i^^施加給干式化 學測i^;件1。 ilil檢測^g 4可檢測離肝式化學頂縱件1的測默束。 光學分析期間，干式化學測i^;件1和一個或多a學元件(特別是觀^fc源3 ^!!^g 4)之間會發(fā)生相對移動。與檢頂!)^a 4和測WI 3 !^的控 翁，5，用于光翔描期間，在^M青況下，針對干式化學觀!H^;件l上的不 同化驗區(qū)^t^描參ifctfi^。為了這一目的，控審隨5船到用于在掃描 戰(zhàn)驢生鵬移動的移動單元6。依 帶，5，根據干式化學測^;件1不同化驗區(qū)^g掃描參數， 4接收的爐和檢泖 § 4的工作范圍相對于彼ltki^預整。體的 掃描 ^別^括檢測^§ 4的掃Mt和曝光時間，測i^^光強禾P^測 5的放大系數的設定。圖2所示為干式化學測^t件的示意圖，在可設計成如膜的基底20上形成化 驗區(qū)21。用于化驗的光活性物質被'俘蕕，(即，被固定)在多個化驗區(qū)21?；?區(qū)21的光活性物質發(fā)生結合(binding),特別M31與光活性敏域標識的^f MiS的抗體。掃描期間離開多個化驗區(qū)21的測M^束的強度為一個或多個4^區(qū) 21中TO的一個或多^h^:活性物質的范圍(extent) t尉瘋indicator)。圖3所示為掃描^fi^m圖，干式化學艦^;件30上為兩個壩Wfc^^ 區(qū)31、 32。它們是掃描各自相劉七驗區(qū)時測^^151的干式化學測^件30 上的區(qū)域。可以看到測W6^用區(qū)31、 32彼此相鄰，它們不錢。根據一個實 施例，光對3描時兩個測W(^應用區(qū)31、 32的掃描參數的體可以不同，如不 同的掃^S。圖4麻為干式化學頂^￡件40的雜圖，此元件的雌區(qū)41不僅髓掃 航向42延伸也在期黃向上(transversely)延伸。光^^描干式化學頂職件40 期間，如果有魏的檢汲!l^g如二維^!5管陣列，可實現掃 向42糊黃向上 的空間分辨率。其優(yōu)械于，M體的化驗區(qū)41屬于"相同信號數i廣，即它們 發(fā)出相同淑目似^^的測 ;光束，也可以用,的掃描參數^S來分析。圖5為掃描MIM^圖，第一次掃描之后對干式化學測i^;件50上的化驗區(qū) 51積M:對3描，然后對隨后的il^區(qū)52進行掃描。這樣，在化驗區(qū)51的掃描 過程中，如果確定初始接收的光強不足以產^I合在檢卿J^fiJ^行分析的信 號，則肯辦在，掃描MI呈期間起作用。
以上說明涉及1頓施加到化驗區(qū)的觀1^^的光對3描，要分析的光活性物 質以固定的形式存在于化驗區(qū)，由此，產生1H^，特別的，該測S3^T以 Jiit^光束、鄉(xiāng)光束、戯出的棘。作為附加或可選擇，用于分析干式化學 測i玩件1 ，產生測fi^，該測fi^鉢上可基于生物發(fā)光(bioluminescence)、 化學發(fā)M電化學發(fā)光M^測。掃描參數可M以上說明^g。戰(zhàn)說明書、權利要斜卩附圖公幵的本發(fā)明的餘征，對判MS^對本發(fā)明各種實施例的實嫩im
權利要求
1. 一種分析干式化學測試元件的方法，尤其免疫學測試元件，其中利用光學掃描分析干式化學測試元件，由此，測量光束離開測試元件(1；20；30；50)的化驗區(qū)(21；41；51)，所述化驗區(qū)(21；41；51)載有一種或多種固定的光活性物質，利用檢測器裝置(4)檢測各測量光強度，所述的方法包括以下步驟第一化驗區(qū)光學掃描過程中，具有第一測量光強度的測量光束離開該第一化驗區(qū)，根據掃描參數的第一設置選擇掃描參數，對檢測器裝置(4)的工作范圍和照射到檢測器裝置(4)的測量光束的第一光量，相對于彼此進行調整，和第二化驗區(qū)光學掃描過程中，具有區(qū)別于第一測量光強度的第二測量光強度的測量光束離開第二化驗區(qū)，根據區(qū)別于掃描參數的第一設置的掃描參數的第二設置選擇掃描參數，對檢測器裝置(4)的工作范圍和照射到檢測器裝置(4)的測量光束的第二光量，相對于彼此進行調整。
2. 如^l利要求1戶，的方法，，征在于設為掃描 的一個或多個變量選自以下^t組掃描艦，曝光時間，泖Ji^^的測^^雖，檢 5 (4)的放大系數和化驗區(qū)(21; 41; 51)的電能伊應。
3. 如權利要求1或2戶腿的方法，辦征在于掃描 的第一和第二設置中至^V^個掃描皿為常數。
4. 如J^SA一個權利要求戶脫的方法，辦征在于，在干式化學 賦元件(1; 20; 30; 50)纖掃描鵬中，將根據掃描參織一設置的掃描織變^g據掃描^^二^S的掃描Mt
5. 如J^^一個權利要求臓的方法，期寺征在于，根據掃描Mi^一設置的掃描參數到根據掃描參數第二^g的掃描參數的變化，是根據予^ta行 的預掃描鵬導出的測量信息的函數。
6. 如jd^d^個權利要求戶腿的方法，^tr征在于，根據掃描參鄉(xiāng)—^g的掃描參數到根據掃描^^二^S的掃描,的變化，是根l^f式化學澳l斷件(1; 20; 30; 50)光對3描鵬的當ti糧值導出的當箭測量信息的函數。
7. 如J^M^-個權利要求戶;M的方法，，征在于，干式化學 ^件(1; 20; 30; 50)光^^描iil呈中，在根據掃描^B—體的掃描參數與根 據掃描^^二^的掃描#1^間的 ^生多次。
8. 如Jd^M^"個權利要求戶艦的方法，，征在于，第一化驗區(qū)在利用根據掃描參I^一^S的掃描，的光對3描后，利用根據掃描^m二iSS 的掃描織積熵行光翔描。
9. 如±^1>~個權利要求臓的方法，蕭征在于，分職目應化驗 區(qū)(21; 41; 51)的觀iJi^OT區(qū)(31, 32)，在化驗區(qū)(21; 41; 51)光學掃描鵬中不會驢。
10. 如J^Sd^"^^權利要求戶;M的方法，，征在于，選擇第一;M以 位于工作范圍的第一子范圍內，選擇第二光量以位于工作范圍的與第一子范圍不 同的第二^^范圍內。
11. 如±3^!>~個權利要求臓的旅，辦征在于，多個相同的雌 區(qū)(41)在一個掃描^2進行光學掃描，并以二維，的方^^測。
12. —種用于分析干式化學頂ii^i件的縫，尤其免疫學IJi^;件，其利 用至d^"個前述權利要求的方^a行光學掃描，包括支架(2)，被^g^f用于光學掃描分析的干式化學鵬玩件(1; 20; 30;50),檢測,置(4)，被^g^檢測離開化驗區(qū)(21; 41; 51)的測t^，所 述化驗區(qū)載有一種或多種固定的光活性物質，并具有相應的測i^M，禾口控第l隨(5),被體來按如下方微制干式化學測i^;件(1; 20; 30; 50)的光翔描..第一化驗區(qū)光學掃描戰(zhàn)呈中，具有第一測a^販盼測fty^開織一化 驗區(qū)，根據掃描織的第一^a^擇掃描織，對檢i麟置(4)的工作范圍和 照謝至i臉測fi^g (4)的測散束的第~^*，木附于ma糊整，和第二化驗區(qū)光學掃描鵬中，具有區(qū)另吁第一測1^虧艘的第二測4^破 的測量光束離開第二化驗區(qū)，根據區(qū)另盱掃描參數的第一體的掃描參數的第二設置選擇掃描參數，對檢測t!M (4)的工作范圍和照射至i臉測i^a (4)的測散束的第二爐，艦于彼雌 整。
13. 女敗利要求12戶腐的體，辦征^^審體(5)被^g^將從以 下錢組選擇的一個或多個錢體為掃描織掃^M，曝光時間，Ui就束的泖jm弓雖，檢1^1 (4) 6^狄系數和化驗區(qū)(21; 41; 51)的電能供
14. 女財又利要求12或13戶脫的驢，辦征在于控帶MS (5)被^S^^g描,的第一和第二tM中的至d^個掃描參數^^為常數。
15. 如權利要求12-14中至一個臓的驢，辦征在于，控審隨(5) 被^S^在干式化學頂^i件(1; 20; 30; 50)麟掃描戰(zhàn)呈中，將根據掃描參 鄉(xiāng)—體的掃描參 ^ 掃描#1^二體的掃描織。
16. 如權利要求12-15中至il^^個戶腿的縫，^JT征在于，控律i隨(5) 被體來弓胞根據掃描參麟一體的掃描^^'瓶據掃描 ^二體的掃描 參數的變化，i^^化是根據予l5feia行的預掃描鵬導出的測量信息的函數。
17. 如權利要求12-16中至^"個戶脫的體，辦征在于，控帶鵬(5) 被^S來弓胞根據掃描參 —^§的掃描參數到根據掃描參,二^的掃描 織的變化，被化是根軒式化學測細牛(1; 20; 30; 50)光學掃描鵬的當itr測量值導出的當fr測量^t息的函數。
18. 如權利要求12-17中至^>~個戶腿的體，^IT征在于，控審驢(5) 被^2^在干式化學泖M^件(1; 20; 30; 50)光翔描鵬中，在根據掃描參，一^g的掃描，與根據掃描參，二^g的掃描參lfct間多次e^。
19. 女P^利要求12-18中至^"個戶員的^S， ^!T征在于，控帶，(5) 被設置來，在利用根據掃描#^一^§的掃描#^的光^3描后，禾IJ用根據掃描參,二^a的掃描參i^一化驗區(qū)再 ^t行光對3描。
20. ;to^禾腰求12-19中至i^"個，的^S,期伊征在于，控帶mS (5) 被^S^形^!imOT區(qū)(31, 32)，該1H^IS用區(qū)(31， 32)被分I2^相應 的麟區(qū)，從而在鵬區(qū)光對3描MI呈中它們不會錢。
21. 如權利要求12-20中至知個臓的體，^!W在于，控審隨(5) 被體來將第一光S^擇為位于工作范圍的第"T范圍內，將第二5feS^擇為位 于工作范圍的與第4范圍不同的第二子范圍內。
22. 如權利要求12-21中至h個臓的縫，期寺征在于，控第,(5) 和檢測器(4)被^a來在一個掃描^S光對3描多個相同的化驗區(qū)(41)，并以 二維備的方微測它們。
23. 如權利要求12-22中至少一個臓的錢，鄉(xiāng)征在于，頓娜(3 ) 來產生測^ ，并將其，于，(2)中的干式化^^測U^件(1; 20; 30; 50)的鵬區(qū)(21; 41; 51)。
24. 女P^利要求12-23中至^>^個戶腿的驢，欺寺征在于，電豐^S能 夠耦合到化驗區(qū)(21; 41; 51)，并用于向干式化學頂i^;件(1; 20; 30; 50)的，區(qū)(21; 41; 51)提供電能。
25. 權利要求l一11中至d^"個所述的方法^^利要求12—24中至d^^個 戶腿的體ffi^豫斷醫(yī)學泖賦，微免疫測處的應用。
全文摘要
用于分析干式化學測試元件的方法和裝置，特別是免疫測試元件，通過光學掃描分析干式化學測試元件，測量光束離開載有一種或多種固定化光活性物質的測試元件化驗區(qū)，通過檢測器檢測各自測量光強度。包括步驟第一化驗區(qū)光學掃描過程中，第一測量光強度的測量光束離開第一化驗區(qū)，根據掃描參數的第一設置選擇掃描參數，對檢測器裝置的工作范圍和照射到其上測量光束的第一光量，相對彼此進行調整，第二化驗區(qū)光學掃描過程中，區(qū)別于第一測量光強度的第二測量光強度測量光束離開第二化驗區(qū)，根據區(qū)別于掃描參數第一設置的掃描參數第二設置選擇掃描參數，對檢測器裝置的工作范圍和照射到其上的測量光束第二光量，相對于彼此進行調整。
文檔編號G01N33/53GK101398383SQ20081017370
公開日2009年4月1日 申請日期2008年9月10日 優(yōu)先權日2007年9月10日
發(fā)明者C·埃芬豪澤, E·亨德勒, N·奧蘭特 申請人:霍夫曼-拉羅奇有限公司