專利名稱:高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置。
背景技術(shù):
我國(guó)電力工業(yè)的高速發(fā)展,使相關(guān)的測(cè)試技術(shù)和測(cè)試設(shè)備有了長(zhǎng)足進(jìn)步, 匯集單片機(jī)、自動(dòng)測(cè)試等先進(jìn)技術(shù)的智能型高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀器不斷出新,
但對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)技術(shù)和設(shè)備仍比較落后,存在著功能簡(jiǎn)單,自動(dòng)化程度不高,校 驗(yàn)接線復(fù)雜,附加誤差不確定,工作效率低等不足,影響了其發(fā)展和應(yīng)用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,對(duì)高壓開(kāi)關(guān)特性 測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)和調(diào)整,具有智能化設(shè)計(jì)和一體化便攜結(jié)構(gòu),體 積小,功能強(qiáng),操作簡(jiǎn)單,自動(dòng)化程度高。
上述的目的通過(guò)以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)
高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其組成包括機(jī)箱,所述的機(jī)箱中裝有輸 入單元,所述的機(jī)箱中裝有輸出單元和電源電路,所述的輸入單元、輸出單元、 電源電路分別與主控板連接。
所述的高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,所述的主控板包^微處理器、A/D 轉(zhuǎn)換電路、顯示模塊、時(shí)基電路、鍵盤(pán)電路,其各組成部分間具有電路連接關(guān) 系。
所述的高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,所述的輸入單元包括采樣電路和AD 536 AK單片真有效值(rms)交/直流轉(zhuǎn)換電路。
所述的高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,所述的A/D轉(zhuǎn)換電路采用ICL7135 單片模數(shù)轉(zhuǎn)換器,所述的微處理器為ATmegal28單片機(jī)或嵌入式系統(tǒng),所述的 時(shí)基電路使用恒溫晶體振蕩器OC2012C - D17,所述的顯示模塊選用LCD圖形液 晶顯示屏或LED高亮度數(shù)碼管。
這個(gè)技術(shù)方案有以下有益效果
1、本發(fā)明是一種完全符合中華人們共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB3309 - 89《高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備常溫下的機(jī)械試驗(yàn)》要求的新型智能化專用設(shè)備,其測(cè)控技術(shù)先進(jìn)、設(shè) 計(jì)思路成熟、整體結(jié)構(gòu)合理、電磁兼容措施完善、功能強(qiáng)、穩(wěn)定性好、抗干擾 性強(qiáng),適用于計(jì)量、檢定部門(mén)、工礦企業(yè)及科研院所對(duì)各種高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試 儀的主要技術(shù)參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)和調(diào)整。
2、 本發(fā)明借助微處理器強(qiáng)大的實(shí)時(shí)控制功能和數(shù)據(jù)處理功能,使本產(chǎn)品的 校驗(yàn)項(xiàng)目擴(kuò)展到50余種可以對(duì)交(直)流電壓輸出幅值的可調(diào)范圍、可調(diào) 細(xì)度、準(zhǔn)確度;1 一 8個(gè)斷口的合閘參數(shù)(各斷口合閘時(shí)間、合閘總時(shí)間、合
閘順序、合閘三相不同期時(shí)間、合閘同相不同期時(shí)間、合閘彈跳時(shí)間)共六組
十五項(xiàng);1 一 8個(gè)斷口的分間參數(shù)(各斷口分閘時(shí)間、分閘總時(shí)間、分閘順序、 分閘三相不同期時(shí)間、分閘同相不同期時(shí)間、分閘彈跳時(shí)間)共六組十五項(xiàng);1 一8個(gè)斷口的重合閘參數(shù)(各斷口重合閘時(shí)間、重合閘總時(shí)間、重合閘順序、 重合閘三相不同期時(shí)間、重合閘同相不同期時(shí)間、重合閘彈跳時(shí)間)共六組十 八項(xiàng)的測(cè)量范圍、準(zhǔn)確度及開(kāi)關(guān)速度、彈跳幅度等高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀的主要 技術(shù)參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)。
3、 本發(fā)明的微處理器是高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置的核心部件,采用高 性能AVR單片機(jī)ATmega128,為系統(tǒng)提供了硬件載體,且使穩(wěn)定性得以提高;在 單片機(jī)中嵌入控制、管理及數(shù)據(jù)處理軟件,更有利于智能控制的實(shí)現(xiàn)和應(yīng)用功 能的擴(kuò)展。
4、 本發(fā)明采用了單片真有效值(rms)交/直流轉(zhuǎn)換電路AD536AK、單片A/D 轉(zhuǎn)換器ICL7135和帶有恒溫槽的基準(zhǔn)電壓源LM 199 (溫度漂移±1 PPM / C), 確保交(直)流電量測(cè)量的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。本產(chǎn)品在準(zhǔn)確度方面完全符合 GB3309 - 89標(biāo)準(zhǔn)要求。
5、 本發(fā)明采用了 0C2012C - D17型恒溫晶體振蕩器(長(zhǎng)期穩(wěn)定性±0. 5 PPM /年),保證了本產(chǎn)品對(duì)時(shí)間量測(cè)量的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
6、 本發(fā)明顯示采用圖形液晶顯示屏,本產(chǎn)品具有字跡清晰、信息量大的漢 字化人機(jī)界面。
7、 本發(fā)明應(yīng)用了先進(jìn)的測(cè)控技術(shù),引入了智能設(shè)計(jì),使本產(chǎn)品操作簡(jiǎn)單、 使用方便,并實(shí)現(xiàn)了校驗(yàn)過(guò)程的自動(dòng)化。8、本發(fā)明采用了一體化便攜鋁合金箱式外形結(jié)構(gòu)、體積小、重量輕、特別 適合攜帶到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行校驗(yàn)和調(diào)整。
附圖1是本發(fā)明的機(jī)箱結(jié)構(gòu)示意圖。
附圖2是本發(fā)明的硬件連接示意圖。
附圖3是本發(fā)明的輸入單元及A/D轉(zhuǎn)換電路原理圖。
附圖4是本發(fā)明的微處理器及外圍電路原理圖。
附圖5是本發(fā)明的輸出單元電路原理圖。
附圖6是本發(fā)明的電源電路原理圖。
根據(jù)電子線路制圖規(guī)范,上述電路原理圖中相同的引腳標(biāo)號(hào)具有連接關(guān)系。
本發(fā)明的
具體實(shí)施例方式
實(shí)施例1:
高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其組成包括機(jī)箱l,所述的機(jī)箱l中裝有 輸入單元3,所述的機(jī)箱1中裝有輸出單元4和電源電路5,所述的輸入單元3、 輸出單元4和電源電路5分別與主控板2連接,所述的主控板2包括微處理器7、 A/D轉(zhuǎn)換電路8、顯示模塊9、時(shí)基電路IO、鍵盤(pán)電路ll,其各組成部分間具有 電路連接關(guān)系。
所述高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,所述的輸入單元包括采樣電路和AD 536 AK單片真有效值(rms)交/直流轉(zhuǎn)換電路,所述的A/D轉(zhuǎn)換電路采用單片模 數(shù)轉(zhuǎn)換器ICL7135,所述的微處理器為ATMEL公司的ATmegal28單片機(jī),所述 的時(shí)基電路使用恒溫晶體振蕩器0C2012C - D17,所述的顯示模塊選用LCD圖形 液晶顯示屏。
實(shí)施例2:
高壓幵關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其組成包括機(jī)箱l,所述的機(jī)箱l中裝有
輸入單元3,所述的輸入單元3包括采樣電路3-1和單片真有效值轉(zhuǎn)換電路3-2, 所述的輸入單元3與A/D轉(zhuǎn)換電路8連接,所述的A/D轉(zhuǎn)換電路8通過(guò)光電耦 合器與微處理器7連接;所述的機(jī)箱1中裝有輸出單元4和電源電路5,所述的 輸出單元4和電源電路5分別與主控板2連接,所述的主控板2包括微處理器7、
5A/D轉(zhuǎn)換電路8、顯示模塊9、時(shí)基電路IO、鍵盤(pán)電路ll,所述的A/D轉(zhuǎn)換電路 8、顯示模塊9、時(shí)基電路IO、鍵盤(pán)電路11分別與微處理器7連接。
所述高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,所述的真有效值轉(zhuǎn)換電路3-2采用美 國(guó)模擬器件公司的AD 536 AK,所述的微處理器7也可以選擇帶有內(nèi)部A/D轉(zhuǎn)換 電路的嵌入式系統(tǒng),所述的A/D轉(zhuǎn)換電路8也可以采用嵌入式系統(tǒng)內(nèi)部的A/D 轉(zhuǎn)換電路和軟件程序來(lái)實(shí)現(xiàn),所述的顯示模塊9為L(zhǎng)ED高亮度數(shù)碼管,所述的 時(shí)基電路10使用長(zhǎng)期穩(wěn)定性好的恒溫晶體振蕩器0C2012C - D17。
結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的工作過(guò)程作進(jìn)一步描述
由附圖1、 2可知,本發(fā)明的硬件包括機(jī)箱、輸入單元、輸出單元、主控板、 電源電路及微處理器、A/D轉(zhuǎn)換電路、顯示模塊、時(shí)基電路、鍵盤(pán)電路等,其各 組成部分間具有電路連接關(guān)系。
輸入信號(hào)經(jīng)采樣電路、AC/DC電路接入A/D轉(zhuǎn)換電路,變?yōu)閿?shù)字信號(hào),然后 經(jīng)光電耦合器接入微處理器進(jìn)行識(shí)別和運(yùn)算,經(jīng)微處理器處理、加工后的數(shù)據(jù)、 信號(hào)以程序代碼的形式分別傳送到顯示模塊和輸出單元;由液晶顯示器進(jìn)行漢 字化顯示,由輸出電路去控制被校高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀的運(yùn)行,進(jìn)而自動(dòng)完成 校驗(yàn)工作。
權(quán)利要求
1.一種高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其組成包括機(jī)箱,其特征是所述的機(jī)箱中裝有輸入單元,所述的機(jī)箱中裝有輸出單元和電源電路,所述的輸入單元、輸出單元、電源電路分別與主控板連接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其特征是所述 的主控板包括微處理器、A/D轉(zhuǎn)換電路、顯示模塊、時(shí)基電路,其各組成部分間 具有電路連接關(guān)系。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其特征是 所述的輸入單元包括采樣電路和AD 536 AK單片真有效值(rms)交/直流轉(zhuǎn)換電 路。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其特征是所述 的A/D轉(zhuǎn)換電路采用ICL7135單片模數(shù)轉(zhuǎn)換器,所述的微處理器為ATmegal28 單片機(jī)或嵌入式系統(tǒng),所述的時(shí)基電路使用恒溫晶體振蕩器0C2012C-D17,所 述的顯示模塊選用LCD圖形液晶顯示屏或LED高亮度數(shù)碼管。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,其特征是所述 的A/D轉(zhuǎn)換電路采用ICL7135單片模數(shù)轉(zhuǎn)換器,所述的微處理器為ATmegal28 單片或嵌入式系統(tǒng),所述的時(shí)基電路使用恒溫晶體振蕩器0C2012C-D17,所述 的顯示模塊選用LCD圖形液晶顯示屏或LED高亮度數(shù)碼管。
全文摘要
高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置,我國(guó)電力工業(yè)的高速發(fā)展,使相關(guān)的測(cè)試技術(shù)和測(cè)試設(shè)備有了長(zhǎng)足進(jìn)步,匯集單片機(jī)、自動(dòng)測(cè)試等先進(jìn)技術(shù)的智能型高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀器不斷出新,但對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)技術(shù)和設(shè)備仍比較落后,存在著功能簡(jiǎn)單,自動(dòng)化程度不高,校驗(yàn)接線復(fù)雜,附加誤差不確定,工作效率低等不足,影響了其發(fā)展和應(yīng)用。本發(fā)明組成包括機(jī)箱(1),所述的機(jī)箱(1)中裝有輸入單元(3),所述的機(jī)箱(1)中裝有輸出單元(4)和電源電路(5),所述的輸入單元(3)、輸出單元(4)和電源電路(5)分別與主控板(2)連接。本發(fā)明用于對(duì)高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)的校驗(yàn)和調(diào)整。
文檔編號(hào)G01R35/00GK101666866SQ20081018508
公開(kāi)日2010年3月10日 申請(qǐng)日期2008年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月4日
發(fā)明者偉 盧, 濱 牛, 王艷芳, 敏 胡 申請(qǐng)人:哈爾濱理工大學(xué)