專利名稱：發(fā)光二極管承載片及其電性測試平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種發(fā)光二極管承載片以及針對所述發(fā)光二極管承載片進(jìn)行電性測
試的平臺。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有針對發(fā)光二極管進(jìn)行電性測試的方式，請參考圖5所示，是主要于一載臺60 上放置一承載膠片70，其中承載膠片70表面設(shè)有多個待測的發(fā)光二極管71 (圖中僅顯示 一個為代表)，再以兩個為一組的探針80分別對應(yīng)接觸同一發(fā)光二極管71的兩電極，而逐 一對每個發(fā)光二極管71進(jìn)行電性測試，或是以多組探針80同時對多個發(fā)光二極管71進(jìn)行 電性測試，此種測試方式雖是經(jīng)由電腦配合機(jī)械動作進(jìn)行操作，但由于以兩個為一組的探 針80分別對準(zhǔn)接觸發(fā)光二極管71的兩電極的步驟是為精密且耗時的程序，故整體作業(yè)時 間因此而拉長，有待針對測試方式作進(jìn)一步改良以縮短作業(yè)時間，讓整體工藝更快速。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的一目的在于提供一種發(fā)光二極管承載片，可使 一測試平臺只需使用單一探針對應(yīng)單一個發(fā)光二極管進(jìn)行電性測試，不僅使探針使用量減 半且相對縮短電性測試的作業(yè)時間。 欲達(dá)上述目的所使用的技術(shù)手段，所述發(fā)光二極管承載片是主要于一載體上設(shè)有
一可導(dǎo)通電流的電極接觸面，可提供多個底面及頂面均設(shè)有電極的發(fā)光二極管設(shè)置于所述
電極接觸面上，使所述電極接觸面同時與各發(fā)光二極管底面的電極電性接觸。 本發(fā)明的另一目的在于提供一種應(yīng)用前述發(fā)光二極管承載片的發(fā)光二極管電性
測試平臺。 達(dá)成此目的所使用的技術(shù)手段，是令所述發(fā)光二極管電性測試平臺包括 —電連接件，是供電連接前述發(fā)光二極管承載片的電極接觸面；以及 至少一探針，是連接所述電連接件，所述至少一探針可供電性接觸前述發(fā)光二極
管承載片上的發(fā)光二極管頂面的電極，藉此使探針與發(fā)光二極管承載片的電極接觸面構(gòu)成
回路以測試各發(fā)光二極管是否正常。 所述發(fā)光二極管電性測試平臺可進(jìn)一步包括一載臺供所述發(fā)光二極管承載片置 放定位于其上。 由于發(fā)光二極管承載片的電極接觸面提供多個發(fā)光二極管底面的電極共用所述 電極接觸面，當(dāng)進(jìn)行電性測試時，單一發(fā)光二極管僅需由一個探針對應(yīng)接觸另一個電極，故 可節(jié)省第二個探針的使用，可提升整體測試作業(yè)的速度，降低工藝的時間成本。


圖1 :是本發(fā)明第一實施例的立體示意圖。
圖2:是圖1的側(cè)視圖。
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圖3:本發(fā)明第 圖4:本發(fā)明第 圖5 :現(xiàn)有發(fā)光 附圖標(biāo)號
實施例的側(cè)視圖。 實施例的側(cè)視圖。 極管電性測試平臺的立體示意圖。
10載體
100電極接觸面
12A絕緣膠膜 20發(fā)光二極管 201第二電極 40載臺
ll金屬薄膜 12B導(dǎo)電膠膜 200第一電極 30探針
41穿孔 60載臺 71發(fā)光二極管
50電連接件 70承載膠片 80探針
具體實施例方式
本發(fā)明包括一種發(fā)光二極管承載片以及一種提供所述發(fā)光二極管承載片進(jìn)行發(fā) 光二極管電性測試的測試平臺，所述的發(fā)光二極管承載片，請參考圖1所示，是揭示有一載 體IO，所述載體10上是設(shè)有一可導(dǎo)通電流的電極接觸面IOO，本實施例中，所述載體10為 金屬材料或半導(dǎo)體材料所制成；于所述電極接觸面100上設(shè)有多個發(fā)光二極管20(圖中僅 顯示一個作為代表)，各發(fā)光二極管20的底面設(shè)有一第一電極200而共同電性接觸所述電 極接觸面IO，各發(fā)光二極管20的頂面則設(shè)有一第二電極201，此種發(fā)光二極管形式有別于 一般正負(fù)極皆設(shè)同一表面的發(fā)光二極管形式，可增加頂面的發(fā)光區(qū)域面積而提升亮度，并 可直接將發(fā)光二極管產(chǎn)生的熱源直接通過負(fù)極散掉。 前述發(fā)光二極管承載片的載體10除可為金屬材料或半導(dǎo)體材料所制成之外，尚 可包括其他種實施態(tài)樣，如圖3、圖4所示，所述載體10可包括一基材12A， 12B以及一鍍 于基材12A，12B表面的金屬薄膜ll，從而以此金屬薄膜11作為電極接觸面IOO，所述基材 12A， 12B可為一絕緣膠膜12A或是一導(dǎo)電膠膜12B。 關(guān)于提供前述的發(fā)光二極管承載片進(jìn)行發(fā)光二極管電性測試的測試平臺，如圖1 所示，包括 —電連接件50，是連接一測試電壓源的一端(圖中未示出所述電壓源)，所述電連 接件50是供電連接所述發(fā)光二極管承載片的載體10的電極接觸面IOO，本實施例中，是呈 一夾子形式；以及 至少一探針30，是連接前述測試電壓源的另一端，所述至少一探針30是供電性接 觸所述這些發(fā)光二極管20頂面的第二電極201。 由于探針30與電連接件50分別連接測試電壓源的兩端，當(dāng)探針30接觸發(fā)光二極 管20頂面的第二電極201時，探針30與連接電極接觸面100的電連接件50之間將可通過 發(fā)光二極管20的兩電極200,201構(gòu)成一回路，進(jìn)而輸入測試電壓給發(fā)光二極管20，以測試 發(fā)光二極管20是否正常發(fā)亮。由于載體10的電極接觸面100直接固定電性接觸發(fā)光二極 管20底面的第一電極200，故不必如現(xiàn)有技術(shù)一般必須同時使用兩個為一組的探針分別對 準(zhǔn)接觸同一發(fā)光二極管的電極，而可有效地縮短電性測試花費(fèi)的時間。
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前述發(fā)光二極管測試平臺可如圖1至圖4所示，進(jìn)一步包括一載臺40以供所述載
體10置放定位于其上，所述載臺40可通過真空吸附方式固定所述載體10。 所述提供載體10置放的載臺40可進(jìn)一步具有一穿孔41連通載體10底面，如圖4
所示，以該圖的實施例而言，當(dāng)載體10的基材為導(dǎo)電膠膜12B時，前述電連接件50即可通
過穿孔41從載臺40下方電連接導(dǎo)電膠膜12B，方便通過導(dǎo)電膠膜12B傳輸測試電壓到金屬
薄膜ll。 本發(fā)明通過前揭發(fā)光二極管承載片及其測試平臺的設(shè)計，使每一發(fā)光二極管僅需 使用一個探針接觸其電極以進(jìn)行電性測試，若整體構(gòu)成回路導(dǎo)通而發(fā)光，即表示發(fā)光二極 管狀態(tài)正常，相較于現(xiàn)有技術(shù)需同時使用兩個為一組的探針，本發(fā)明僅使用一探針針對單 一個發(fā)光二極管進(jìn)行測試，較為便捷而可縮短電性測試的作業(yè)時間以及減少探針需求量， 進(jìn)一步降低工藝成本。 雖然本發(fā)明已以實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何具有本發(fā)明所 屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動與潤飾，因此 本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求所界定范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種發(fā)光二極管承載片，其特征在于，所述發(fā)光二極管承載片是主要于一載體上設(shè)有一可導(dǎo)通電流的電極接觸面，可提供多個底面及頂面均設(shè)有電極的發(fā)光二極管設(shè)置于所述電極接觸面上，使所述電極接觸面同時與各發(fā)光二極管底面的電極電性接觸。
2. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管承載片，其特征在于，所述載體為金屬材料或半導(dǎo) 體材料所制成。
3. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管承載片，其特征在于，所述載體包括一基材以及一 鍍于基材表面的金屬薄膜，以此金屬薄膜作為電極接觸面。
4. 如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管承載片，其特征在于，所述基材為一絕緣膠膜。
5. 如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管承載片，其特征在于，所述基材為一導(dǎo)電膠膜。
6. —種發(fā)光二極管電性測試平臺，其特征在于，所述發(fā)光二極管電性測試平臺提供如 權(quán)利要求1至5中任一權(quán)利要求所述的發(fā)光二極管承載片進(jìn)行發(fā)光二極管電性測試，所述 發(fā)光二極管測試平臺包括一電連接件，是供電連接所述發(fā)光二極管承載片的載體的電極接觸面；以及 至少一探針，是連接所述電連接件，所述至少一探針是供電性接觸前述發(fā)光二極管承 載片上的發(fā)光二極管頂面的電極，使探針與載體的電極接觸面構(gòu)成電性測試回路。
7. 如權(quán)利要求6所述的發(fā)光二極管電性測試平臺，其特征在于，所述發(fā)光二極管電性 測試平臺進(jìn)一步包括一載臺供發(fā)光二極管承載片的載體置放定位于其上。
8. 如權(quán)利要求7所述的發(fā)光二極管電性測試平臺，其特征在于，所述載臺是通過真空 吸附方式固定所述發(fā)光二極管承載片的載體。
9. 如權(quán)利要求8所述的發(fā)光二極管電性測試平臺，其特征在于，所述載臺具有一穿孔 可連通發(fā)光二極管承載片的載體底面。
全文摘要
本發(fā)明關(guān)于一種發(fā)光二極管承載片及其電性測試平臺，所述發(fā)光二極管承載片是主要于一載體上設(shè)有一可導(dǎo)通電流的電極接觸面，以提供多個發(fā)光二極管置于其上并同時與各發(fā)光二極管底面的一電極電性接觸；所述測試平臺包括一用以電連接電極接觸面的電連接件以及至少一探針，所述至少一探針是連接所述電連接件而供電性接觸承載片上發(fā)光二極管頂面的一電極，藉此使探針與電極接觸面構(gòu)成回路以測試各發(fā)光二極管是否正常，相較于一般必需以兩個為一組的探針同時與單一發(fā)光二極管的兩電極接觸，本發(fā)明不僅減少一半的探針使用量，進(jìn)而縮短電性測試的作業(yè)時間。
文檔編號G01R1/02GK101750521SQ200810185679
公開日2010年6月23日 申請日期2008年12月19日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月19日
發(fā)明者尤承庠, 王獻(xiàn)儀, 王裕賢 申請人:竑騰科技股份有限公司