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      含多組接線盤的測試接線平臺的制作方法

      文檔序號:6028191閱讀:198來源:國知局
      專利名稱:含多組接線盤的測試接線平臺的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種用于測試電纜性能參數(shù)的組合式夾具裝置,尤其涉及一種可快速接線,也可對更高頻率要求的電纜進(jìn)行測試的接線平臺。
      背景技術(shù)
      用于電纜測試的接線裝置根據(jù)夾具自身結(jié)構(gòu)不同來決定電纜的測試條件。測試頻率越高,電纜剝線長度必須越短,這樣對整個接線裝置的結(jié)構(gòu)及屏蔽效果都提出了更高的要求。
      公告號為CN2709992Y的中國實(shí)用新型專利涉及到這樣一種電纜測試平臺。是通過壓接方式實(shí)現(xiàn)接線的。它包括一個安裝于底座上的測試本體、測試本體內(nèi)有一和底座線路連接的腔體,腔體內(nèi)包括有接線夾具、連通底座內(nèi)測試線的電路板、以及屏蔽材料。其中,電路板設(shè)于腔體下方,接線夾具在電路板的上面,夾具上還設(shè)有按鈕和接線器。電纜從外界穿至夾具與電路板之間,通過按鈕壓下夾具,接線器內(nèi)的接觸彈簧張開,電纜線對伸入接線孔,松開按鈕后,彈簧閉合,使接線器可靠夾持住電纜線對,并將其固定于電路板上,由此實(shí)現(xiàn)了接線。測試完畢后,只需再次按下按鈕,就能將線對抽出。使用非常方便。所述接線夾具可有多個,以扇形方式排列。這樣一根電纜中的多個線對就能依次插入腔體,通過腔體內(nèi)的接線夾具與測試線連接。腔體及腔體內(nèi)的屏蔽材料起屏蔽作用。
      由此看來,這種測試平臺具有快速連接及拆卸線對的優(yōu)點(diǎn),也有一定的屏蔽效果??蓾M足大部分電纜測試的需求。但是由于這種夾具采用線對插入腔體的方式來實(shí)現(xiàn)固定,只有當(dāng)每股線對都進(jìn)入了腔體,才算完成夾持。如果夾具間留給待插入電纜的空間過小,很有可能會出現(xiàn)操作完第一線對,對其余線對進(jìn)行操作時,需要對其進(jìn)行折彎以后才能順利進(jìn)行操作,容易引起線對結(jié)構(gòu)的改變(如屏蔽層的改變等),從而影響高頻測試。由于這是由夾具本身結(jié)構(gòu)所決定的,因此整個測試平臺很難在結(jié)構(gòu)上進(jìn)一步加以調(diào)整來縮短剝線的長度,以適應(yīng)更高的頻率測試及屏蔽要求。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明要解決的一個技術(shù)問題是提供一種可快速接線進(jìn)行電纜測試;同時也可對更高頻率要求電纜進(jìn)行測試的電纜測試接線平臺,以滿足不同電纜測試條件的需求。為解決上 3一種含多組接線盤的測試接線平臺,至少包括兩組接線盤。
      優(yōu)選地,所述接線盤包括快速接線盤和高頻接線盤,所述高頻接線盤包括盤體和第一夾具,所述第一夾具包括第一底座,和與第一底座樞軸連接的蓋板,所述第一底座和蓋板之間設(shè)有鎖緊機(jī)構(gòu),第一底座上設(shè)有觸點(diǎn),蓋板在相應(yīng)于觸點(diǎn)的位置上設(shè)有壓柱。
      優(yōu)選地,所述第一底座包括第一凹槽,觸點(diǎn)設(shè)于第一凹槽內(nèi),所述蓋板上的壓柱可嵌入第一凹槽內(nèi)。
      優(yōu)選地,所述第一底座與蓋板在各自末端樞軸連接,所述第一凹槽設(shè)在第一底座的始端。進(jìn)一步地,所述高頻接線盤的盤體上設(shè)有第二凹槽,所述第一夾具埋設(shè)于第二凹槽內(nèi)。優(yōu)選地,所述第一夾具有多個,沿圓周方向均布于高頻接線盤上。進(jìn)一步地,所述高頻接線盤的盤體中心設(shè)有貫通的沉孔。
      優(yōu)選地,高頻接線盤還包括與沉孔配合的第一導(dǎo)線插銷,所述第一導(dǎo)線插銷上設(shè)有與第一凹槽相通的第三凹槽。
      優(yōu)選地,高頻接線盤還包括與沉孔配合的第二導(dǎo)線插銷,所述第二導(dǎo)線插銷上設(shè)有與第一凹槽相通的第四凹槽,且中心設(shè)有通孔。
      進(jìn)一步地,所述高頻接線盤上還包括在垂直方向上夾持電纜的第二夾具。
      優(yōu)選地,還包括第一、第二面板,所述快速接線盤和高頻接線盤分別設(shè)于第一、第二面板上。
      本發(fā)明可以包含兩組或多組測試接線盤。各組接線盤之間可以有同樣的結(jié)構(gòu),這樣可以方便測試,縮短測試時間;各組接線盤之間也可以有不同的結(jié)構(gòu),以適應(yīng)不同的測試條件。使用接線平臺時,若對較低頻率要求的電纜測試時,將其接入快速接線盤;若需要對更高頻率要求的電纜測試,接入高頻接線盤,可根據(jù)不同頻率測試要求選擇不同的接線盤。
      優(yōu)選地,本發(fā)明通過壓柱和觸點(diǎn)的配合設(shè)置實(shí)現(xiàn)接線第一凹槽里設(shè)有觸點(diǎn),電纜線對進(jìn)入第一凹槽,第一夾具閉合,壓柱就能將線對下壓于觸點(diǎn)上,實(shí)現(xiàn)連接,鎖緊機(jī)構(gòu)可確保線對與觸點(diǎn)的良好接觸。
      由于第一夾具為翻蓋式夾具,蓋板打開后,給待接電纜留出了足夠的操作空間,只要使每個線對都能和觸點(diǎn)接觸,合上蓋板即可。與現(xiàn)有技術(shù)中插入式夾具相比,這種夾具可大大縮短剝線長度,優(yōu)選地,第一夾具沿圓周方向的布置,及第一凹槽位于第一夾具前端的設(shè)計,都能更有效地縮短電纜剝線長度。因此,本發(fā)明可用于更高頻率測試。
      另外,本發(fā)明充分考慮到了屏蔽作用壓柱與第一凹槽的嵌入配合;整個第一夾具埋設(shè)于高頻接線盤的第二凹槽中;以及中心沉孔與第一、第二導(dǎo)線插銷的配合,都能保證有效屏蔽。


      圖1為本發(fā)明涉及的含多組接線盤的測試接線平臺的立體效果圖。
      圖2為本發(fā)明涉及的高頻接線盤的結(jié)構(gòu)示意圖。
      圖3為高頻接線盤中第一夾具與第一凹槽的結(jié)構(gòu)示意圖。
      圖4為高頻接線盤拆去第二夾具后的俯視圖。
      圖5為說明高頻接線盤與第一、第二導(dǎo)線插銷裝配的示意圖。
      圖6為第一導(dǎo)線插銷的結(jié)構(gòu)示意圖。
      圖7為第二導(dǎo)線插銷的結(jié)構(gòu)示意圖。
      其中,
      1. 快速接線盤37.第二導(dǎo)線插銷
      2. 第一面板38.觸點(diǎn)
      3. 高頻接線盤321.第一凹槽
      4. 第二面板322.鎖緊機(jī)構(gòu)
      31.第二底座323.壓柱
      32.第一夾具324.蓋板
      33.第二夾具325.第一底座
      34.第二凹槽361.第三凹槽
      35.沉孔371.第四凹槽
      36.第一導(dǎo)線插銷372.通孔
      具體實(shí)施例方式
      如圖1-7所示,圖1示出的是本發(fā)明涉及的測試平臺。它由兩塊不同方向的面板組成。第一面板2上設(shè)一對快速接線盤1,快速接線盤1的底座上設(shè)有測試本體,測試本體內(nèi)有一腔體,腔體內(nèi)包含了四個插入式夾具(第三夾具)、底座內(nèi)與測試線連接的電路板,以及屏蔽材料。夾具以扇形方式排列,電纜拆分成四股線對,依次進(jìn)入各自夾具所在腔體,通過下壓方式實(shí)現(xiàn)線對與腔體內(nèi)設(shè)電路板的連接。采用這種接線盤進(jìn)線和抽線都很方便,但是由于這種夾具采用線對插入腔體的方式來實(shí)現(xiàn)固定,只有當(dāng)每股線對都進(jìn)入了腔體,才算完成夾持。如果夾具間留給待插入電纜的空間過小,很有可能會出現(xiàn)操作完第一線對,對其余線對進(jìn)行操作時,需要對其進(jìn)行折彎以后才能順利進(jìn)行操作,容易引起線對結(jié)構(gòu)的改變(如屏蔽層的改變等),從而影響高頻測試。應(yīng)用這種夾具裝夾電纜測試,電纜剝線長度要求較長,且由于本體外露設(shè)于底座上,屏蔽效果不是最佳,因此此種接線盤適合較低頻率電纜的測試。
      第二面板4上設(shè)一對高頻接線盤3。參見圖2的結(jié)構(gòu)示意圖。該接線盤包括一個第二底座31,第二底座31上沿圓周方向等間隔設(shè)有四道第二凹槽34,每道凹槽內(nèi)都埋設(shè)有第一夾具32。第一夾具32包括一個第一底座325和蓋板324,蓋板324與第一底座325在各自的末端通過樞軸連接,第一底座325與第二凹槽34固定連接。在第一底座325和蓋板324的中間部分相應(yīng)設(shè)有鎖緊機(jī)構(gòu)322,蓋板324翻下,與第一底座325閉合,鎖緊機(jī)構(gòu)322可以將上述兩者緊扣。蓋板324可以比第一底座325略長些,在第一底座325的始端設(shè)有第一凹槽321,第一凹槽321內(nèi)設(shè)有觸點(diǎn)38,該觸點(diǎn)38與第二底座31內(nèi)的電路板或測試信號線連接。在蓋板324的相應(yīng)位置上設(shè)有壓柱323,當(dāng)蓋板324與第一底座325閉合時,壓柱323能嵌入第一凹槽321內(nèi),有線對進(jìn)來時,由于壓柱323的下壓力,可使線對與觸點(diǎn)38連接。
      與快速接線盤相比,高頻接線盤采用翻蓋式夾具接線。第一凹槽321里設(shè)有觸點(diǎn)38,電纜線對只要進(jìn)入第一凹槽321內(nèi),第一夾具32閉合,壓柱323就能將線對下壓于觸點(diǎn)38上,實(shí)現(xiàn)連接,鎖緊機(jī)構(gòu)322可確保線對與觸點(diǎn)38的良好接觸。
      由于第一夾具32為翻蓋式夾具,蓋板打開后,給待接電纜留出了足夠的操作空間,只要使每個線對都能和觸點(diǎn)接觸,合上蓋板32即可。與現(xiàn)有技術(shù)中插入式夾具相比,這種夾具可大大縮短剝線長度。優(yōu)選地,第一夾具32沿圓周方向的布置,及第一凹槽321位于第一夾具32前端的設(shè)計,能更好地縮短電纜剝線長度。
      另外,壓柱323與第一凹槽321的嵌入配合,整個第一夾具32埋設(shè)于高頻接線盤3的第二凹槽34中,都能起到良好的屏蔽作用。
      優(yōu)選地,高頻接線盤3的中心設(shè)有貫通的沉孔35,相應(yīng)地,分別有第一導(dǎo)線插銷36和第二導(dǎo)線插銷37與之配合。所述第一導(dǎo)線插銷36與第二導(dǎo)線插銷37形狀幾乎相同,都設(shè)有四道第三凹槽361 (或第四凹槽371),與四個第一夾具32對應(yīng)相通(即同時和第一凹槽321對應(yīng)相通),唯一不同的是,第二導(dǎo)線插銷37的中心還設(shè)有通孔372。將上述兩配件插入沉孔35與高頻接線盤3固定,設(shè)置凹槽的作用在于不僅能固定線對,同時起到了屏蔽的效果。線對可根據(jù)測試時的實(shí)際需要選擇從不同方向穿孔進(jìn)入電纜夾具。當(dāng)電纜從高頻接線盤3的正面進(jìn)入實(shí)施測試時,配合使用第一導(dǎo)線插銷36。電纜由第二夾具33垂直夾持,線對在高頻 接線盤3的中心處開始分離,依次進(jìn)入各自的第三凹槽361和第一夾具32下的第一凹槽321 。 當(dāng)電纜從逆向進(jìn)入時,換第二導(dǎo)線插銷37插入即可。
      高頻接線盤的剝線長度短,只有19mm,且屏蔽效果好,更適合用于高頻測試。測試時, 同樣的接線盤成對使用,將電纜的一頭接在一個高頻接線盤上,另一頭對應(yīng)接在另一個高頻 接線盤上即可。較低頻率測試時,電纜連接方式也是如此。
      當(dāng)測量頻率相對較低時,允許剝線長度較長,采用快速接線盤可以達(dá)到迅速接線的目的, 同時保證測量精度;當(dāng)測量頻率較高時,允許剝線長度較短,此時被剝離的線對剛性較強(qiáng), 裝線要求比較高,需要有相對應(yīng)的夾具,因此裝線周期相對較長。本發(fā)明通過這種組合,可 以根據(jù)不同的測試要求,在同一臺設(shè)備上選擇合適的測試接線盤,達(dá)到適應(yīng)各種電纜的測試 要求,同時提高測試速度。
      權(quán)利要求
      1.一種含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于至少包括兩組接線盤。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于所述接線盤包括快速 接線盤(1)和高頻接線盤(3),所述高頻接線盤(3)包括盤體和第一夾具,所述第一夾 具(32)包括第一底座(325),和與第一底座(325)樞軸連接的蓋板(324),所述第一 底座(325)和蓋板(324)之間設(shè)有鎖緊機(jī)構(gòu)(322),第一底座(325)上設(shè)有觸點(diǎn)(38), 蓋板(324)在相應(yīng)于觸點(diǎn)(38)的位置上設(shè)有壓柱(323)。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于所述第一底座(325) 包括第一凹槽(321),觸點(diǎn)(38)設(shè)于第一凹槽(321)內(nèi),所述蓋板(324)上的壓柱(323) 可嵌入第一凹槽(321)內(nèi)。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于所述第一底座(325) 與蓋板(324)在各自末端樞軸連接,所述第一凹槽(321)設(shè)在第一底座(325)的始端。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于所述高頻接線盤(3) 的盤體上設(shè)有第二凹槽(34),所述第一夾具(32)埋設(shè)于第二凹槽(34)內(nèi)。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的含多組接線盤的測試接線平合,其特征在于所述第一夾具(32) 有多個,沿圓周方向均布于高頻接線盤(3)上。
      7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于所述高頻接線盤(3) 的盤體中心設(shè)有貫通的沉孔(35)。
      8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于高頻接線盤(3)還 包括與沉孔(35)配合的第一導(dǎo)線插銷(36),所述第一導(dǎo)線插銷(36)上設(shè)有與第一凹 槽(321)相通的第三凹槽(361)。
      9. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于高頻接線盤(3)還 包括與沉孔(35)配合的第二導(dǎo)線插銷(37),所述第二導(dǎo)線插銷(37)上設(shè)有與第一凹 槽(321)相通的第四凹槽(371),且中心設(shè)有通孔(372)。
      10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于所述高頻接線盤 (3)上還包括在垂直方向上夾持電纜的第二夾具(33)。
      11. 根據(jù)權(quán)利要求1-10中任一項所述的含多組接線盤的測試接線平臺,其特征在于還包 括第一、第二面板(2, 4),所述快速接線盤(1)和高頻接線盤(3)分別設(shè)于第一、第 二面板(2, 4)上。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種含多組接線盤的測試接線平臺。至少包括兩組接線盤。本發(fā)明可以包含兩組或多組測試接線盤。各組接線盤之間可以有同樣的結(jié)構(gòu),這樣可以方便測試,縮短測試時間;各組接線盤之間也可以有不同的結(jié)構(gòu),以適應(yīng)不同的測試條件。
      文檔編號G01R31/00GK101676736SQ20081020006
      公開日2010年3月24日 申請日期2008年9月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月18日
      發(fā)明者瑩 尹, 斌 江, 池敏雁, 沈奶連, 涂建坤, 龔江疆 申請人:上海電纜研究所;上海賽克力光電纜有限責(zé)任公司
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