專利名稱：：導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法與裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種導(dǎo)磁構(gòu)件漏磁無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，具體涉及一種導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法與裝置。
背景技術(shù)：
：漏磁檢測(cè)方法是從磁粉檢測(cè)法延伸出來的。最初的磁化方式為剩磁法，被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件的磁化狀態(tài)很弱；隨后的直接常規(guī)磁化法加強(qiáng)了被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件的磁化狀態(tài)，增強(qiáng)了缺陷的顯示指示性，但存在著缺陷走向與磁化方向有關(guān)的檢出性問題磁化方向盡可能與缺陷走向垂直才能夠很好的被檢測(cè)并觀察出。所以目前導(dǎo)磁構(gòu)件上全方位走向傷的全面只能采用復(fù)合磁化漏磁檢測(cè)方法得以完成，檢測(cè)方法相對(duì)掃查運(yùn)動(dòng)復(fù)雜，檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜，成本高，且由于低速的螺旋推進(jìn)掃查運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致不能實(shí)現(xiàn)高速檢測(cè)。另外，不能適應(yīng)自身難以作旋轉(zhuǎn)動(dòng)作的導(dǎo)磁構(gòu)件(如連續(xù)油管、鋼帶、方鉆具、鋼軌等)上全方位走向傷的全面檢測(cè)；也不能完成縱向焊縫上的平行于焊縫走向的傷的檢測(cè)。'在漏磁檢測(cè)中，對(duì)于鋼管、連續(xù)油管、鋼帶、方鉆具、鋼軌等"細(xì)長(zhǎng)"形導(dǎo)磁構(gòu)件，往往將沿著其外形長(zhǎng)尺寸方向?yàn)檩S向(或縱向)，而垂直于該方向的為周向(或橫向)。導(dǎo)磁構(gòu)件軸向磁化最易檢測(cè)與其軸線夾角為90°走向的傷(簡(jiǎn)稱橫向傷)，但也用于檢測(cè)與其軸線夾角為45-90。的近橫向走向的傷，所以實(shí)際上橫向傷包括與導(dǎo)磁構(gòu)件軸線夾角為45-90°走向傷；同樣地，縱向傷包括與導(dǎo)磁構(gòu)件軸線夾角為0-45。走向的傷。所以，導(dǎo)磁構(gòu)件上全方位走向傷的檢測(cè)也即其橫、縱向傷的全面檢測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的任務(wù)是提供一種導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法，該方法易于實(shí)現(xiàn)，成本較低，并且適用性強(qiáng)；本發(fā)明還提供了實(shí)現(xiàn)該方法的裝置。本發(fā)明提供的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法，其步驟包括第1步、將待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件伸入穿過式線圈內(nèi)，對(duì)其進(jìn)行軸向超強(qiáng)磁化，形成縱、橫向傷泄漏磁場(chǎng)的超強(qiáng)激勵(lì)場(chǎng)；第2步、利用磁敏檢測(cè)元件拾取縱、橫向傷處泄漏磁場(chǎng)，在待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件的軸向方向設(shè)置二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，周向方向設(shè)置至少二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，拾取位置點(diǎn)成陣列分布；第3步、將磁敏檢測(cè)元件拾取的磁場(chǎng)轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)，如果電壓有突變，導(dǎo)磁構(gòu)件的該拾取位置點(diǎn)存在傷，否則，導(dǎo)磁構(gòu)件的該拾取位置點(diǎn)不存在傷；第4步、被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件以直進(jìn)式相對(duì)運(yùn)動(dòng)通過穿過式磁化線圈和磁敏檢測(cè)元件，重復(fù)上述過程，完成構(gòu)件體上縱、橫向傷的全面檢測(cè)。由于在上述檢測(cè)中，相同損傷當(dāng)量的縱、橫向傷所對(duì)應(yīng)的檢出電壓信號(hào)幅值有差異，為了達(dá)到相同損傷當(dāng)量的縱、橫向傷損傷級(jí)別的一致判斷，所以在第3步中，如果確定傷存在，則進(jìn)行下述處理；①、采用信號(hào)求和及比較法進(jìn)行縱、橫向傷信號(hào)區(qū)分利用如下公式(I)(II)判斷當(dāng)式(I)成立時(shí)，該電壓信號(hào)為橫向傷l的檢出信號(hào)，當(dāng)式(II)成立時(shí)，該電壓信號(hào)為縱向傷2的檢出信號(hào)。<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>式中，i、j分別表示周向方向和軸向方向磁敏檢測(cè)元件的序號(hào)；②對(duì)縱、橫向傷檢出信號(hào)進(jìn)行補(bǔ)償，對(duì)縱向或橫向傷進(jìn)行信號(hào)幅值放大或縮小，實(shí)現(xiàn)相同損傷當(dāng)量的縱橫向傷級(jí)別的一致識(shí)別。本發(fā)明提供的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)裝置，包括穿過式線圈、第一磁敏組件，信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件，數(shù)據(jù)采集卡和磁敏組件安裝板；第一磁敏組件與穿過式線圈通過磁敏元件安裝板連接為一體；信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件由加法器、比較器、第一放大器串聯(lián)構(gòu)成，加法器與第一磁敏檢測(cè)組件相連；數(shù)據(jù)采集卡由濾波器、第二放大器以及A/D轉(zhuǎn)換器串聯(lián)構(gòu)成；濾波器與第一放大器相連。第一磁敏組件包括成陣列分布的磁敏檢測(cè)元件，其中，在待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件的軸向方向設(shè)置有二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，在周向方向設(shè)置有至少二個(gè)磁敏檢測(cè)元件。本發(fā)明提供的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法是基于導(dǎo)磁構(gòu)件上任何走向的傷在單一方向的磁激勵(lì)足夠強(qiáng)時(shí)均可被激發(fā)出泄漏場(chǎng)這一原理的。在剩磁磁化法和常規(guī)直接磁化條件下，所產(chǎn)生的單一磁化場(chǎng)可激發(fā)出垂直于磁化場(chǎng)方向走向傷的泄漏磁場(chǎng)并被觀察或檢測(cè)出；但此時(shí)對(duì)于平行于該磁化方向走向傷由于磁通分流卻沒能激發(fā)出的泄漏磁場(chǎng)，難以形成傷的顯示指示并被觀察出；將常規(guī)磁化場(chǎng)強(qiáng)度增大達(dá)到中心場(chǎng)強(qiáng)1T以上的超強(qiáng)磁化場(chǎng)，激發(fā)出平行于該超強(qiáng)場(chǎng)走向傷的泄漏場(chǎng)，且能夠很好的形成顯示指示并被檢測(cè)出來。這樣在單一方向的超強(qiáng)磁化狀態(tài)下可以檢測(cè)出導(dǎo)磁構(gòu)件上縱、橫向傷，形成超強(qiáng)漏磁檢測(cè)方法。本發(fā)明提供的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法的特點(diǎn)是采用穿過式磁化線圈對(duì)導(dǎo)磁構(gòu)件進(jìn)行軸向超強(qiáng)磁化，激發(fā)出導(dǎo)磁構(gòu)件上縱、橫向傷的泄漏磁場(chǎng)并利用磁敏元件陣列拾取，實(shí)現(xiàn)導(dǎo)磁構(gòu)件上縱、橫向傷的檢出；然后通過陣列元件信號(hào)求和比較法進(jìn)行縱、橫向傷檢出信號(hào)的識(shí)別，并對(duì)縱、橫向傷檢出信號(hào)進(jìn)行補(bǔ)償，實(shí)現(xiàn)同損傷當(dāng)量的縱、橫向傷等信號(hào)幅值與靈敏度的統(tǒng)一判斷?？傊景l(fā)明方法首先將傳統(tǒng)的導(dǎo)磁構(gòu)件復(fù)合磁化漏磁檢測(cè)方法進(jìn)行簡(jiǎn)化與統(tǒng)一，降低成本；實(shí)現(xiàn)導(dǎo)磁構(gòu)件與檢測(cè)單元之間簡(jiǎn)單的直進(jìn)式相對(duì)掃查運(yùn)動(dòng)，完成高速高效地探傷；同時(shí)，能完成自身難以作旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的導(dǎo)磁構(gòu)件(如連續(xù)油管、鋼帶、方鉆具、鋼軌等)縱、橫向傷的全面檢測(cè)；也能適應(yīng)縱向焊縫上縱向傷的檢測(cè)。圖1.1為本發(fā)明檢測(cè)原理中常規(guī)磁化漏磁檢測(cè)示意圖；圖1.2為本發(fā)明檢測(cè)原理中超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)示意圖；圖2.1為本發(fā)明檢測(cè)方法示意圖2.2為本發(fā)明檢測(cè)方法縱、橫向傷識(shí)別補(bǔ)償原理示意圖3.1為本發(fā)明檢測(cè)裝置總體示意圖3.2為本發(fā)明檢測(cè)裝置3.1中磁敏組件結(jié)構(gòu)示意圖4.1為本發(fā)明檢測(cè)裝置3.1中磁敏組件針對(duì)鋼管檢測(cè)的結(jié)構(gòu)示意圖4.2為本發(fā)明檢測(cè)裝置3.1中磁敏組件針對(duì)方形鉆具檢測(cè)的結(jié)構(gòu)示意圖4.3為本發(fā)明檢測(cè)裝置3.1中磁敏組件針對(duì)鋼帶(板)檢測(cè)的結(jié)構(gòu)示意圖4.4為本發(fā)明檢測(cè)裝置3.1中磁敏組件針對(duì)鋼軌檢測(cè)的結(jié)構(gòu)示意圖5.1為本發(fā)明檢測(cè)N5(截面積損失5%100)橫向傷時(shí)，磁敏元件5a、5b的檢出信號(hào)R,、K12及兩者求和R,+712輸出波形圖5.2為本發(fā)明檢測(cè)N5(截面積損失5%100)橫向傷時(shí)，磁敏元件5a、5c的檢出信號(hào)^、r21及兩者求和+K21輸出波形圖5.3為本發(fā)明檢測(cè)N5(截面積損失5%100)縱向傷時(shí)，磁敏元件5a、5b的檢出信號(hào)rn、F12及兩者求和K,+K2輸出波形圖5.4為本發(fā)明檢測(cè)N5(截面積損失5%100)縱向傷時(shí)，磁敏元件5a、5c的檢出信號(hào)K,、K21及兩者求和rn+r21輸出波形圖5.5為本發(fā)明檢測(cè)N5(截面積損失5%100)的縱、橫向傷的最終檢測(cè)輸出波形具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。如圖1.1、1.2所示，在剩磁磁化法和常規(guī)直接磁化條件下，所產(chǎn)生的單一磁化場(chǎng)H1可激發(fā)出垂直于磁化場(chǎng)H1方向走向的傷(即橫向傷l)的泄漏磁場(chǎng)并被觀察或檢測(cè)出；但此時(shí)對(duì)于平行于磁化場(chǎng)HI方向走向的傷(即縱向傷2):由于磁通在導(dǎo)磁構(gòu)件內(nèi)的分流導(dǎo)致難以激發(fā)出的泄漏磁場(chǎng)，不能形成傷的顯示指示并被觀察出；將常規(guī)磁化場(chǎng)H強(qiáng)度增大到Hl，,達(dá)到中心場(chǎng)強(qiáng)1T的超強(qiáng)磁化場(chǎng)，激發(fā)出縱向傷2的泄漏場(chǎng)，且能夠很好的形成顯示指示并被檢測(cè)出來。這樣在單一方向的超強(qiáng)磁化狀態(tài)下可以檢測(cè)出導(dǎo)磁構(gòu)件的縱、橫向傷，形成超強(qiáng)漏磁檢測(cè)方法。如圖2.1、2.2所示，本發(fā)明提供的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法，其主要實(shí)施步驟為第1步、將待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件4伸入穿過式線圈3內(nèi)，對(duì)其進(jìn)行軸向超強(qiáng)磁化，并使磁化線圈中心的軸向磁化場(chǎng)強(qiáng)度H1達(dá)到1T以上，形成縱、橫向傷泄漏磁場(chǎng)的超強(qiáng)激勵(lì)場(chǎng)；第2步、利用磁敏組件5拾取縱、橫向傷處泄漏磁場(chǎng)，拾取位置點(diǎn)成陣列布置，所拾取的磁場(chǎng)強(qiáng)度r記為<formula>formulaseeoriginaldocumentpage9</formula>其中，w表示導(dǎo)磁構(gòu)件4的周向方向磁敏元件的個(gè)數(shù)，"為大于等于2的正整數(shù)。第3步、將磁敏組件5拾取的磁場(chǎng)轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)，如果電壓有突變，導(dǎo)磁構(gòu)件的該位置點(diǎn)存在傷，否則，導(dǎo)磁構(gòu)件的該位置點(diǎn)不存在傷；第4步、被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件4以直進(jìn)式相對(duì)運(yùn)動(dòng)通過穿過式磁化線圈3和磁敏組件5，重復(fù)上述過程，完成構(gòu)件體上縱、橫向傷的全面檢測(cè)。由于在上述檢測(cè)中，相同損傷當(dāng)量的縱、橫向傷所對(duì)應(yīng)的檢出電壓信號(hào)幅值有差異，為了達(dá)到相同損傷當(dāng)量的縱、橫向傷損傷級(jí)別的一致判斷，所以在第3步中，如果確定傷存在，則進(jìn)行下述處理；①、采用信號(hào)求和及比較法進(jìn)行縱、橫向傷信號(hào)區(qū)分利用如下公式(I)(II)判斷當(dāng)式(I)成立時(shí)，該電壓信號(hào)為橫向傷l的檢出信號(hào)，當(dāng)式(II)成立時(shí)，該電壓信號(hào)為縱向傷2的檢出信號(hào)。<formula>formulaseeoriginaldocumentpage10</formula>(I)<formula>formulaseeoriginaldocumentpage10</formula>(II)式中，i、j分別表示周向方向和軸向方向磁敏檢測(cè)元件的序號(hào)；②對(duì)縱、橫向傷檢出信號(hào)進(jìn)行補(bǔ)償當(dāng)為縱向傷2的檢出信號(hào)時(shí)，對(duì)其進(jìn)行信號(hào)放大補(bǔ)償，放大倍數(shù)為1,實(shí)現(xiàn)相同損傷當(dāng)量的縱橫向傷級(jí)別的一致識(shí)別。或者，當(dāng)為橫向傷1的檢出信號(hào)時(shí)，對(duì)其進(jìn)行信號(hào)縮小補(bǔ)償，縮小數(shù)為2/3，實(shí)現(xiàn)相同損傷當(dāng)量的縱橫向傷級(jí)別的一致識(shí)別。倍為防止漏檢，可以再布置一套磁敏組件，兩套磁敏組件在導(dǎo)磁構(gòu)件的軸向方向錯(cuò)位布置，在其橫向方向交錯(cuò)布置，對(duì)于該套磁敏組件所拾取的磁場(chǎng)強(qiáng)度按照上述相同的方式進(jìn)行處理，以確保檢測(cè)的準(zhǔn)確性。下面以二套磁敏檢測(cè)組件為例，說明本發(fā)明提供的基于超強(qiáng)磁化的導(dǎo)磁構(gòu)件漏磁檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)。如圖3.1所示，它主要包括穿過式線圈3，第一、第二磁敏組件5、5'，信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件6，數(shù)據(jù)采集卡7，磁敏組件安裝板8。第一、第二磁敏組件5、5'與穿過式線圈3通過磁敏元件安裝板8連接為一體。檢測(cè)時(shí)，讓導(dǎo)磁構(gòu)件4在驅(qū)動(dòng)滾輪9、9'上以直進(jìn)式相對(duì)運(yùn)動(dòng)通過穿過式磁化線圈和磁敏檢測(cè)元件，穿過式線圈3對(duì)被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件4進(jìn)行單一軸向超強(qiáng)磁化，磁化場(chǎng)強(qiáng)度達(dá)1T以上，第一、第二磁敏組件5、5'拾取被檢構(gòu)件4上縱、橫向傷的泄漏場(chǎng)信息，經(jīng)過信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件6對(duì)被檢測(cè)出的縱、橫向傷信號(hào)進(jìn)行識(shí)別并加以補(bǔ)償，達(dá)到損傷當(dāng)量相同的縱、橫向傷信號(hào)幅值相等以后，經(jīng)過數(shù)據(jù)采集卡7獲取數(shù)字量的檢測(cè)信號(hào)。當(dāng)導(dǎo)磁構(gòu)件驅(qū)動(dòng)裝置9、9'驅(qū)動(dòng)被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件4通過穿過式線圈3、第一第二磁敏組件5、5'后，完成導(dǎo)磁構(gòu)件4的整體檢測(cè)。信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件6由加法器10、比較器11、第一放大器12串聯(lián)構(gòu)成，用以對(duì)縱、橫向傷的檢出信號(hào)進(jìn)行識(shí)別判斷并對(duì)其幅值加以補(bǔ)償處理，其中加法器10用以對(duì)磁敏元件輸出信號(hào)求和，比較器11用以對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行比較并依據(jù)公式進(jìn)行識(shí)別判別，第一放大器12最后對(duì)識(shí)別后的信號(hào)進(jìn)行幅值補(bǔ)償。加法器10分別與第一、第二磁敏檢測(cè)組件5、5'相連。數(shù)據(jù)采集卡7由濾波器13、第二放大器14以及A/D轉(zhuǎn)換器15串聯(lián)構(gòu)成。濾波器13與第一放大器12相連。如圖3.2所示，磁敏組件5由磁敏元件5a、5b、5c、5d、5e、5f、5g、5h構(gòu)成，磁敏組件5'由磁敏元件5a，、5b，、5c，、5d，、5e，、5f，、5g，、5h，構(gòu)成。磁敏元件5a、5b、5c、5d、5e、5f、5g、5h與5a，、5b，、5c，、5d，、5e'、5f'、5g'、5h'在導(dǎo)磁構(gòu)件軸向方向錯(cuò)位布置，在導(dǎo)磁構(gòu)件橫向方向交錯(cuò)布置，以防止漏檢。如圖3.1所示，本發(fā)明檢測(cè)裝置中檢測(cè)鋼管4a、方形鉆具4b、板材4c及鋼軌4d時(shí)的磁敏組件分別如圖4.1至4.4中的50、5p、5q及5r所示。檢測(cè)時(shí)，對(duì)于N5(截面積損失5%100)的橫向傷，磁敏元件5a、5b、5c獲得對(duì)應(yīng)的檢出信號(hào)分別為「u、「12、r21，其求和輸出為^+^、^n+「21，可獲得對(duì)應(yīng)的檢出輸出波形如圖5.1、5.2所示。檢出信號(hào)的幅值關(guān)系為<formula>formulaseeoriginaldocumentpage11</formula>滿足公式(1)，判斷為橫向傷，與實(shí)際相向符合。對(duì)于N5(截面積損失5%100)的縱向傷，磁敏元件5a、5b、5c獲得對(duì)應(yīng)的檢出信號(hào)分別為^、F12、K2I，其求和輸出為「11+^12、K11+F21，可獲得對(duì)應(yīng)的檢出輸出波形如圖5.3、5.4所示。檢出信號(hào)的幅值關(guān)系為<formula>formulaseeoriginaldocumentpage12</formula>滿足公式(11)，判斷為縱向傷，與實(shí)際相向符合。此時(shí)，N5正確判斷為縱向傷，對(duì)其進(jìn)行信號(hào)放大補(bǔ)償，放大倍數(shù)為1.5，讓其檢出信號(hào)最大幅值與N5橫向傷的相當(dāng)，如圖5.5所示，最終實(shí)現(xiàn)相同損傷當(dāng)量同為N5的縱、橫向傷級(jí)別的一致識(shí)別。權(quán)利要求1、一種導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法，其步驟包括第1步、將待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件伸入穿過式線圈內(nèi)，對(duì)其進(jìn)行軸向超強(qiáng)磁化，形成縱、橫向傷泄漏磁場(chǎng)的超強(qiáng)激勵(lì)場(chǎng)；第2步、利用磁敏檢測(cè)元件拾取縱、橫向傷處泄漏磁場(chǎng)，在待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件的軸向方向設(shè)置二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，周向方向設(shè)置至少二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，拾取位置點(diǎn)成陣列分布；第3步、將磁敏檢測(cè)元件拾取的磁場(chǎng)轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)，如果電壓有突變，導(dǎo)磁構(gòu)件的該拾取位置點(diǎn)存在傷，否則，導(dǎo)磁構(gòu)件的該拾取位置點(diǎn)不存在傷；第4步、被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件以直進(jìn)式相對(duì)運(yùn)動(dòng)通過穿過式磁化線圈和磁敏檢測(cè)元件，重復(fù)上述過程，完成構(gòu)件體上縱、橫向傷的全面檢測(cè)。2、根據(jù)權(quán)利要求1所述導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法，其特征在于:第2步中拾取位置點(diǎn)的磁場(chǎng)強(qiáng)度r記為Kll。2。1"22Kwl2如果第3步確定傷存在，則進(jìn)行下述處理；①、采用信號(hào)求和及比較法進(jìn)行縱、橫向傷信號(hào)區(qū)分利用如下公式(i)(n)判斷當(dāng)式(I)成立時(shí)，該電壓信號(hào)為橫向傷的檢出信號(hào)，當(dāng)式(II)成立時(shí)，該電壓信號(hào)為縱向傷的檢出信號(hào)；(I)++0=2式中，i、j分別表示周向方向和軸向方向磁敏檢測(cè)元件的序號(hào)；②對(duì)縱、橫向傷檢出信號(hào)進(jìn)行補(bǔ)償，實(shí)現(xiàn)相同損傷當(dāng)量的縱橫向傷級(jí)別的一致識(shí)別。3、根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法，其特征在于在待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件的軸向方向還錯(cuò)位布置有二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，其周向方向也交錯(cuò)布置有至少二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，所增設(shè)的拾取位置點(diǎn)成陣列分布。4、一種導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)裝置，其特征在于它包括穿過式線圈(3)，第一磁敏組件(5)，信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件(6)，數(shù)據(jù)采集卡(7)和磁敏組件安裝板(8);第一磁敏組件(5)與穿過式線圈(3)通過磁敏元件安裝板(8)連接為一體；信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件(6)由加法器(10)、比較器(ll)、第一放大器(12)串聯(lián)構(gòu)成，加法器(10)與第一磁敏檢測(cè)組件(5)相連；數(shù)據(jù)采集卡(7)由濾波器(13)、第二放大器(14)以及A/D轉(zhuǎn)換器(15)串聯(lián)構(gòu)成；濾波器(13)與第一放大器(12)相連；第一磁敏組件(5)包括成陣列分布的磁敏檢測(cè)元件，其中，在待檢測(cè)的導(dǎo)磁構(gòu)件的軸向方向設(shè)置有二個(gè)磁敏檢測(cè)元件，在周向方向設(shè)置有至少二個(gè)磁敏檢測(cè)元件。5、根據(jù)權(quán)利要求4所述的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)裝置，其特征在于它還包括第二磁敏組件(5')，第二磁敏組件(5')與磁敏元件安裝板(8)連接；第一、第二磁敏組件(5、5')中的磁敏檢測(cè)元件在被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件的軸向方向錯(cuò)位布置，在導(dǎo)磁構(gòu)件橫向方向交錯(cuò)布置。6、根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)裝置，其特征在于它還包括二個(gè)驅(qū)動(dòng)滾輪(9、9，)，它們分別位于被檢測(cè)導(dǎo)磁構(gòu)件的全文摘要本發(fā)明公開了一種導(dǎo)磁構(gòu)件超強(qiáng)磁化漏磁檢測(cè)方法及裝置。該方法采用單一穿過式磁化線圈對(duì)導(dǎo)磁構(gòu)件進(jìn)行局部單一軸向超強(qiáng)磁化，激發(fā)出其上縱、橫向傷的泄漏磁場(chǎng)并利用磁敏元件陣列加以拾取，實(shí)現(xiàn)其上縱、橫向傷的全面檢出；再通過信號(hào)求和比較法進(jìn)行縱、橫向傷檢出信號(hào)區(qū)分并對(duì)其進(jìn)行信號(hào)幅值補(bǔ)償，實(shí)現(xiàn)同損傷當(dāng)量的縱、橫向傷等信號(hào)幅值與靈敏度的統(tǒng)一判斷。裝置包括穿過式線圈、磁敏組件，信號(hào)識(shí)別補(bǔ)償組件和數(shù)據(jù)采集卡。本發(fā)明將傳統(tǒng)的檢測(cè)方法進(jìn)行簡(jiǎn)化與統(tǒng)一，降低成本；實(shí)現(xiàn)導(dǎo)磁構(gòu)件與檢測(cè)單元之間簡(jiǎn)單的直進(jìn)式相對(duì)掃查運(yùn)動(dòng)，完成高速高效地探傷；能完成自身難以作旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的導(dǎo)磁構(gòu)件縱、橫向傷的全面檢測(cè)；也能適應(yīng)縱向焊縫上縱向傷的檢測(cè)。文檔編號(hào)G01N27/82GK101419192SQ20081023660公開日2009年4月29日申請(qǐng)日期2008年11月28日優(yōu)先權(quán)日2008年11月28日發(fā)明者孫燕華,康宜華申請(qǐng)人:華中科技大學(xué)