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      一種電容檢測裝置及方法

      文檔序號:6030567閱讀:159來源:國知局
      專利名稱:一種電容檢測裝置及方法
      技術領域
      本發(fā)明描述了一種電容檢測裝置及方法,屬于電子技術領域,尤其涉及 一種可以在遇水狀態(tài)下檢測電容值的裝置與方法。
      背景技術
      近些年來,電容觸摸感應技術被廣泛應用于便攜電子、消費電子、筆記 本電腦等領域,觸摸按鍵、全屏觸摸、多指觸控等諸多技術也在迅猛發(fā)展, 然而在提高電容觸摸抗水能力上,并沒有一個較好的解決方案提出。
      如圖1所示,在電容觸摸感應裝置中,通常包括一定數(shù)量的電容感應點
      (110、 111或112……),每個電容感應點存在固有的寄生電容(Cp0、 Cpl 或Cp2……)。例如,當手指(或其他導體,12)靠近電容感應點112時,手 指12和電容感應點112又產(chǎn)生新的感應電容C2。電容C2相當于并聯(lián)到原來 的寄生電容Cp2之上。電容觸摸感應裝置的實質(zhì)就是引起電容感應點電容的 變化,于是,通過檢測電容C2的電容值,便可得到手指按鍵動作所需要的開
      如圖2所示,遇水13后,相鄰的兩個電容感應點(111和112)由于水 的存在而連接在一起,即相當于在感應點111和感應點112之間串聯(lián)了一個 電阻Rw。
      如圖3所示為遇水后,檢測電容感應點111時的電路圖。A點是對電容 感應點111進行電容檢測的檢測點。通過檢測電路對A點進行電容檢測時, 如果不能識別Rw對檢測結果的影響,將不能解決遇水情況下對感應點111 的電容檢測。

      發(fā)明內(nèi)容
      為了使電容式觸摸裝置在遇水狀態(tài)下實現(xiàn)電容的有效測量,本發(fā)明提出 了一種新的電容檢測裝置與方法。
      一種電容檢測裝置,包括電源、被測電容、第一開關、第二開關、邏輯與門、積分電容、比較器、以及模數(shù)轉換器,其中
      所述電源連接至第一開關,用于通過第一開關實現(xiàn)對被測電容周期性的
      充電;
      所述被測電容通過第二開關與積分電容連接;
      所述比較器連接被測電容,用于比較被測電容上的電壓與參考電壓,輸 出比較信號;
      所述邏輯與門輸入端連接所述比較器輸出信號以及時鐘信號; 所述第二開關受所述邏輯與門的輸出信號控制;
      所述模數(shù)轉換器連接積分電容,用于將積分電容的電壓轉換成相應的數(shù)
      一種利用上述裝置進行電荷檢測的方法,包括 步驟l,被測電容被電源充電至電源電壓;
      步驟2,比較器比較被測電容上的電壓與參考電壓的大小,并輸出比較
      值;
      步驟3,根據(jù)所述比較器輸出信號與第二周期性時鐘信號的邏輯關系, 第二開關實現(xiàn)斷開與閉合;
      步驟4,當?shù)诙_關閉合、第一開關斷開時,被測電容向積分電容轉移 電荷;
      步驟5,計算積分電容上的電壓;
      步驟6,根據(jù)積分電容上的電壓計算被測電容的電容值。
      本發(fā)明的裝置和方法可以實現(xiàn)較高精度高速的電容檢測,并且可以用來 識別阻容網(wǎng)絡中的電容并進行檢測,該特性可以解決電容式觸摸屏應用中的 過水問題。
      本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述,并且,部分地從說 明書中變得顯而易見,或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu) 點可通過在所寫的說明書、權利要求書、以及附圖中所特別指出的結構來實 現(xiàn)和獲得。
      以下結合附圖介紹較佳實施例,對本發(fā)明提出的裝置與方法加以詳細說
      5明。應該指出的是,附圖的目的只是便于對本發(fā)明具體實施例的說明,不是 一種多余的敘述或是對本發(fā)明范圍的限制。


      圖1為電荷觸摸感應基本原理圖。
      圖2為某電容感應點遇水后的電容觸摸感應狀態(tài)。 圖3為遇水后檢測電容感應點111時的等效電路圖。 圖4為本發(fā)明的電荷檢測裝置的電路原理圖。 圖5為利用圖4裝置進行電容檢測的一組時序圖。 圖6為圖4裝置解決過水問題的電路原理圖。
      具體實施例方式
      圖4為本發(fā)明的電容檢測裝置的電路原理圖。被測電容CT通過第一開 關Sl連接到電源Vdd,比較器41的一個輸入端接入?yún)⒖茧妷篤ref,另一端 連接被測電容CT。比較器41的輸出信號Vcom和一個時鐘信號Vclk2通過 邏輯與門42后輸出信號Vs2。第二開關S2將被測電容CT和積分電容CL連 接。第一開關Sl受到一個時鐘信號Vsl控制,第二開關S2受到信號Vs2的 控制。比較器41將隨時比較被測電容CT上的電壓與參考電壓的大小。
      如圖5所示為利用上述裝置進行電容檢測的一組時序圖。
      在第一時鐘周期的Tl相內(nèi),當Vsl為高電平時,Sl閉合,電源對CT 充電,其電壓升高,當其電壓高于參考電壓Vref時,比較器41的輸出信號 Vcom為高電平。在此過程中,由于時鐘信號Vclk2為低電平,所以邏輯與門 42的輸出信號Vs2為低電平,第二開關S2斷開。
      當T2相內(nèi),Vsl為低電平,Sl斷開。由于Vclk2是高電平,Vcom為高 電平,所以Vs2為高電平,S2閉合,CT與CL連接,CT開始向CL充電, 隨著電荷的轉移,CT上的電壓連續(xù)降低,當CT上的電壓降低到Vref時,比 較器41的輸出信號翻轉為低電平,于是Vs2翻轉為低電平,S2斷開。
      其中,跟隨器43隨時跟隨CL上的電壓,并對積分電壓進行緩沖后,驅 動后續(xù)裝置中的電容。積分電壓通過模數(shù)轉換器(Analog to Digital Converter, ADC) 44將電壓值轉換為數(shù)字量。因此,在單周期內(nèi),積分電容CL上轉移的電荷量為
      Q二CT承(Vdd國Vref)
      其中,Q為積分電容CL上轉移的電荷量,CT為被測電容CT的電容值。 那么經(jīng)過n個周期,積分電容CL上總的轉移電荷量為 Qt=n*CT*(Vdd-Vref)
      其中,Qt為積分電容電容CL上總的電荷轉移量。 于是,CL上的積分電壓Vcl為
      Vcl=Qt/CL= n*CT*(Vdd-Vref) /CL= [n* (Vdd畫Vref) /CL]*CT
      因此,積分電容CL上的積分電壓與被測電容CT上的電壓是成正比的。
      下面我們將結合圖6、圖3與圖2來解釋如何利用上述裝置解決觸摸感 應中的過水問題。根據(jù)圖2和圖3以及在背景技術中的闡述,我們知道由于 電荷觸摸裝置遇水,將會產(chǎn)生一個電阻Rw,同時相鄰固有電容Cpl也將會 對感應電容C2的檢測產(chǎn)生一定影響。
      我們將圖3中的檢測電路用圖5所述裝置進行替換得到圖6所示的利用 上述裝置解決過水問題的電路原理圖。感應電容C2和電阻Rw后與寄生電容 Cpl并聯(lián),然后通過第一開關Sl連接到電源Vdd,其中A節(jié)點為檢測點。比 較器41的一個輸入端接入?yún)⒖茧妷篤ref,另一輸入端連接檢測點A。比較器 41的輸出信號Vcom和一個時鐘信號Vclk2通過邏輯與門42后輸出信號Vs2。 第二開關S2將檢測點A和積分電容CL連接。第一開關SI受到一個時鐘信 號Vsl控制,第二開關S2受到信號Vs2的控制。比較器41將隨時比較被測 電容CT上的電壓與參考電壓的大小。
      在第一時鐘周期的Tl相內(nèi),當Vsl為高電平時,SI閉合,Cpl和C2 被同時充電到相同點位Vdd,當其電壓高于參考電壓Vref時,比較器41的 輸出信號Vcom為高電平。在此過程中,由于時鐘信號Vclk2為低電平,所 以邏輯與門42的輸出信號Vs2為低電平,第二開關S2斷開。
      在T2相內(nèi),Vsl為低電平,Sl斷開。由于Vclk2是高電平,Vcom為高 電平,所以Vs2為高電平,S2閉合,寄生電容Cpl和C2同時開始向CL轉 移電荷,當放電至VA=Vref時,比較器翻轉,放電過程結束。電容Cpl和 C2上瞬時電流分別為il、 i2,由此可得在單次電荷轉移過程中,轉移到CL
      7上的電荷為:
      Q=Cpl*(Vdd-Vref)+C2*(Vdd-Vref-Rw*i2) =(Cpl+C2) * (Vdd-Vref) -C2*Rw*i2
      由于電阻Rw的存在,使得轉移到積分電容上的電荷產(chǎn)生了差別,存在 電阻的網(wǎng)絡轉移的電荷會相對減少;因此積分電壓也會偏低,從而能夠有效 識別電阻Rw的影響。
      通過上面的分析,利用本裝置來檢測圖3中所示阻容網(wǎng)絡中的電容時, 能夠有效識別電阻Rw的影響,也就是說利用該特性可以解決電容式觸摸屏 應用中的過水問題。
      以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,但是它們不是本發(fā)明范圍的局限。 應當指出,對于本技術領域的普通技術人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前 提下,所作出的若干改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
      8
      權利要求
      1、一種電容檢測裝置,包括電源、被測電容、第一開關、第二開關、邏輯與門、積分電容、比較器、以及模數(shù)轉換器,其中所述電源連接至第一開關,用于通過第一開關實現(xiàn)對被測電容周期性的充電;所述被測電容通過第二開關與積分電容連接;所述比較器連接被測電容,用于比較被測電容上的電壓與參考電壓,輸出比較信號;所述邏輯與門輸入端連接所述比較器輸出信號以及時鐘信號;所述第二開關受所述邏輯與門的輸出信號控制;所述模數(shù)轉換器連接積分電容,用于將積分電容的電壓轉換成相應的數(shù)字量。
      2、 根據(jù)權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述第一開關將電源和被測 電容連接起來,并受第一周期性時鐘信號控制,實現(xiàn)閉合與斷開。
      3、 根據(jù)權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述比較器輸出信號以及第 二周期性時鐘時鐘信號連接至所述邏輯與門,所述邏輯與門的輸出信號 控制所述第二開關的斷開與閉合,從而實現(xiàn)積分電容與被測電容的斷開 與連接。
      4、 根據(jù)權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述第二開關受比較器輸出 信號和第二周期性時鐘信號的共同控制。
      5、 根據(jù)權利要求1所述的裝置,其特征在于,當?shù)诙_關閉合時,第一開 關是斷開的,此時,被測電容向積分電容轉移電荷。
      6、 根據(jù)權利要求1所述的裝置,其特征在于,當?shù)谝婚_關閉合時,第二開 關是斷開的,此時,被測電容被充電至電源電壓。
      7、 一種利用上述裝置進行電荷檢測的方法,包括 步驟l,被測電容被電源充電至電源電壓;步驟2,比較器比較被測電容上的電壓與參考電壓的大小,并輸出比較 值;步驟3,根據(jù)所述比較器輸出信號與第二周期性時鐘信號的邏輯關系, 第二開關實現(xiàn)斷開與閉合;步驟4,當?shù)诙_關閉合、第一開關斷開時,被測電容向積分電容轉移 電荷;步驟5,計算積分電容上的電壓;步驟6,根據(jù)積分電容上的電壓計算被測電容的電容值。
      8、 根據(jù)權利要求7所述的方法,其特征在于,在步驟1中,被測電容分別 與第一開關和第二開關連接,第一開關受第一周期性時鐘信號控制,當 第一開關閉合并且第二開關斷開時,被測電容被充電至電源電壓。
      9、 根據(jù)權利要求7所述的方法,其特征在于,所述比較器輸出信號以及第 二周期性時鐘時鐘信號連接至一個邏輯與門,所述邏輯與門的輸出信號 控制所述第二開關的斷開與閉合。
      10、 根據(jù)權利要求7所述的方法,其特征在于,所述第二開關受比較器輸出 信號和第二周期性時鐘信號的共同控制。
      全文摘要
      本發(fā)明描述了一種電容檢測裝置及方法,該裝置包括一個比較器,用來進行電壓比較從而控制被測電容的放電時間;一個積分電容,用來積分被測電容的放電電荷,產(chǎn)生與被測電容成一定關系的積分電壓;一個模數(shù)轉換器,用來將積分電壓轉換成相應的數(shù)字量。本發(fā)明的裝置與方法可以實現(xiàn)較高精度高速的電容檢測,并且可以用來識別阻容網(wǎng)絡中的電容并進行檢測,該特性可以解決電容式觸摸應用中的過水問題。
      文檔編號G01R27/26GK101477152SQ20081024074
      公開日2009年7月8日 申請日期2008年12月24日 優(yōu)先權日2008年12月24日
      發(fā)明者李志謙, 甄志芳 申請人:北京希格瑪和芯微電子技術有限公司
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