專利名稱：阻抗測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種阻抗測(cè)試裝置，尤其涉及一種可自動(dòng)進(jìn)行多點(diǎn)阻抗測(cè)試的阻抗測(cè)試裝置
背景技術(shù)：
在電子元器件制造領(lǐng)域中，各電子元器件在裝配使用之前，為使其具備導(dǎo)電、屏蔽等功 能， 一般都必須對(duì)所述電子元器件進(jìn)行阻抗測(cè)試，以確認(rèn)該電子元器件的阻抗值是否在客戶 要求的規(guī)格內(nèi)。通常，客戶會(huì)在電子元器件的藍(lán)圖上標(biāo)注出若干阻抗測(cè)量點(diǎn)的測(cè)試位置，并 標(biāo)示某個(gè)測(cè)試點(diǎn)為公共點(diǎn)，要求檢測(cè)其余阻抗測(cè)試點(diǎn)與公共點(diǎn)之間的阻抗值。
在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，檢測(cè)人員需利用萬(wàn)用表或阻抗儀手動(dòng)測(cè)試所述電子元件的公共點(diǎn)與 其余各阻抗測(cè)試點(diǎn)之間的阻抗值，每測(cè)試完一次所述電子元件的公共點(diǎn)與其余各阻抗測(cè)試點(diǎn) 之間的阻抗值，就需要從所述萬(wàn)用表或阻抗儀上讀取并手動(dòng)記錄該測(cè)得的阻抗數(shù)據(jù)。接下來(lái) ，重復(fù)上述操作，直至將所有數(shù)據(jù)測(cè)試完。最后，需要將記錄的測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入到計(jì)算機(jī)內(nèi)進(jìn) 行分析，以確定所述電子元件是否符合客戶要求。整個(gè)測(cè)試過(guò)程繁瑣、且測(cè)試誤差比較大， 測(cè)試效率低。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述，有必要提供一種測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)單、誤差小，且可有效提高測(cè)試效率的阻抗 測(cè)試裝置。
一種阻抗測(cè)試裝置，用于對(duì)待測(cè)試工件進(jìn)行阻抗測(cè)試，所述阻抗測(cè)試包括一測(cè)試平臺(tái)、 一驅(qū)動(dòng)裝置、若干測(cè)試探針、 一信息處理裝置、 一顯示器、 一萬(wàn)用表、 一繼電器模組、若干 控制按鍵；所述測(cè)試平臺(tái)包括一底座及一探針安裝架，所述底座用于放置所述待測(cè)試工件， 所述探針安裝架可調(diào)節(jié)地裝設(shè)于該底座上方位置處；所述驅(qū)動(dòng)裝置裝設(shè)于所述底座上，并與 所述探針安裝架固接以驅(qū)動(dòng)所述探針安裝架相對(duì)放置于底座上的待測(cè)試工件移動(dòng)；所述若干 測(cè)試探針裝設(shè)于所述探針安裝架上，并與所述繼電器模組電性連接；所述信息處理裝置裝設(shè) 于所述底座內(nèi)，其包括一中央處理器，該中央處理器與所述若干控制按鍵、驅(qū)動(dòng)裝置、顯示 器、繼電器模組及萬(wàn)用表電性連接，用于接收指令并驅(qū)動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)裝置、萬(wàn)用表及繼電器模 組工作，并對(duì)測(cè)得的結(jié)果進(jìn)行比較分析；所述控制按鍵用于向阻抗測(cè)試裝置輸入相關(guān)指令， 所述顯示器用于顯示相關(guān)輸入指令及測(cè)試結(jié)果，所述繼電器模組用于控制所述測(cè)試探針并驅(qū)動(dòng)所述萬(wàn)用表進(jìn)行阻抗測(cè)試。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明所述阻抗測(cè)試裝置可一次性自動(dòng)對(duì)待測(cè)試工件上的多個(gè)阻抗測(cè) 試點(diǎn)進(jìn)行阻抗測(cè)試，同時(shí)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，并將每次測(cè)得的阻抗值進(jìn)行存儲(chǔ)，從而有效 提高了阻抗測(cè)試效率及測(cè)試質(zhì)量。


圖1為本發(fā)明阻抗測(cè)試裝置的硬件架構(gòu)示意圖2為圖l所示阻抗測(cè)試裝置一較佳實(shí)施例的立體分解示意圖3為本發(fā)明所示阻抗測(cè)試裝置的立體組裝示意圖4為本發(fā)明阻抗測(cè)試裝置工作時(shí)，待測(cè)試工件放置于其定位裝置上的立體示意圖； 圖5為本發(fā)明阻抗測(cè)試裝置工作時(shí)，探針與待測(cè)試工件接觸時(shí)的立體示意圖。
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參閱圖l，所示為本發(fā)明阻抗測(cè)試裝置100的硬件架構(gòu)示意圖。所述阻抗測(cè)試裝置100 用于對(duì)一待測(cè)試工件200(見(jiàn)圖4)進(jìn)行阻抗測(cè)試，以檢測(cè)其阻抗值是否在規(guī)定的范圍內(nèi)。所述 阻抗測(cè)試裝置IOO包括一測(cè)試平臺(tái)IO、 一驅(qū)動(dòng)裝置20、若干測(cè)試探針30、 一信息處理裝置40 、 一顯示器50、 一萬(wàn)用表60、 一繼電器模組70、 一存儲(chǔ)卡80及若干控制按鍵90。
請(qǐng)一并參閱圖2及圖3，所述測(cè)試平臺(tái)10用于裝夾、定位所述待測(cè)試工件200，該測(cè)試平 臺(tái)10包括一底座11、 二卡持塊13、 一工件安裝治具15、 一監(jiān)測(cè)裝置17及一探針安裝架19。所 述底座ll大致呈矩形箱體狀，其包括一頂板113、 一操作面板115及一防護(hù)板117。所述頂板 113大致呈矩形平板狀，其上大致中部位置處貫通開(kāi)設(shè)有一大致矩形的安裝孔1132及一連接 通孔1135。所述頂板113上靠近其一側(cè)緣位置處沿垂直于頂板113方向相對(duì)固設(shè)有二圓柱形導(dǎo) 滑塊1137。所述操作面板115大致呈矩形板狀，其沿垂直于所述頂板113方向裝設(shè)于所述底座 ll的一側(cè)面上。所述操作面板115上貫通開(kāi)設(shè)有一條形的存儲(chǔ)卡安裝孔1151及裝設(shè)有所述若 干控制按鍵90與所述顯示器50。所述防護(hù)板117大致呈"U"形板狀，其固定裝設(shè)于所述頂板 113上靠近其一側(cè)的周緣位置處，并與所述頂板113共同圍成一容置空間118。所述二導(dǎo)滑塊 1137容置于所述容置空間118內(nèi)。
所述卡持塊13橫截面大致呈L形，其一側(cè)緣位置處貫通開(kāi)設(shè)有一條形滑槽132。所述二卡 持塊13沿垂直于所述操作面板115方向相對(duì)間隔地固定裝設(shè)于所述底座11的頂板113上，并位 于所述安裝孔1132的兩側(cè)。所述二卡持塊13與所述底座11的頂板113共同圍成一大致"凸" 形的裝設(shè)空間(圖未標(biāo)示)，以用于裝設(shè)所述工件安裝治具15。所述工件安裝治具15橫截面 大致呈"凸"形塊狀，其包括一主體部151、 二由所述主體部151兩側(cè)相對(duì)延伸的滑塊153、一工件安裝部155及一推桿158。所述二滑塊153的末端部分別設(shè)有一安裝孔1532，用于將所 述工件安裝治具153可滑動(dòng)地裝設(shè)于所述卡持塊13上，以防止其與卡持塊13脫離。所述工件 安裝部155大致呈矩形凹腔狀，其凹設(shè)于所述主體部151上，用于裝設(shè)待測(cè)試工件200。所述 推桿158大致呈圓柱形桿狀，其固接于所述主體部151上。所述工件安裝治具15通過(guò)其兩側(cè)的 滑塊153對(duì)應(yīng)可滑動(dòng)地配合裝設(shè)于所述固定裝設(shè)于所述頂板13上的二卡持塊之間。
所述監(jiān)測(cè)裝置17為一光纖傳感器，其裝設(shè)于所述安裝孔1132上并電性連接于所述信息處 理裝置40上，以用于在阻抗測(cè)試過(guò)程中檢測(cè)所述待測(cè)試工件200是否準(zhǔn)確定位或監(jiān)測(cè)所述待 測(cè)試工件200上方是否被遮蔽、阻礙。所述探針安裝架19大致呈"T"形板狀，其包括一連接 端191及一探針安裝端193。所述連接端191的兩端對(duì)應(yīng)于所述二導(dǎo)滑塊1137各設(shè)有一導(dǎo)滑通 孔1912，以使得所述探針安裝架19可滑動(dòng)地裝設(shè)于所述二導(dǎo)滑塊1137上。所述連接端191的 大致中部位置處凸設(shè)有一固定塊1915，以將所述探針安裝架19固定裝設(shè)于所述驅(qū)動(dòng)裝置20上 。所述探針安裝端193貫通開(kāi)設(shè)有用于裝設(shè)所述若干探針30的若干探針安裝通孔1932及一連 接通孔1935。
所述驅(qū)動(dòng)裝置20裝設(shè)于所述測(cè)試平臺(tái)10的底座11的頂板113的上方，并容置于所述容置 空間118內(nèi)。所述驅(qū)動(dòng)裝置20與所述探針安裝架19的連接端191固接，以驅(qū)動(dòng)所述探針安裝架 19沿所述導(dǎo)滑塊1137上下滑移，從而帶動(dòng)所述探針30上下滑移。在本實(shí)施例中，所述驅(qū)動(dòng)裝 置20包括一安裝板21、 一汽缸23、 一導(dǎo)接板25、 一電磁閥26、 一進(jìn)氣管27及一出氣管28。所 述安裝板21大致呈矩形平板狀，其固定裝設(shè)于所述防護(hù)板117上，并罩設(shè)于容置空間118及二 導(dǎo)滑塊1137上方。所述安裝板21上貫通開(kāi)設(shè)有一通孔212。所述汽缸23大致呈圓柱體狀，其 包括一缸體231、 一進(jìn)氣管安裝端233、 一出氣管安裝端235及一可滑動(dòng)地裝設(shè)于缸體231內(nèi)的 活塞237。所述導(dǎo)接板25大致呈矩形板狀，其中部位置處貫通開(kāi)設(shè)有一安裝通孔251，該導(dǎo)接 板25固定裝設(shè)于所述汽缸23的出氣管安裝端235上，并固定裝設(shè)于所述二導(dǎo)滑塊l 137上。所 述電磁閥26固定裝設(shè)于所述測(cè)試平臺(tái)10的底座11的防護(hù)板l 17上，用以實(shí)現(xiàn)對(duì)所述汽缸23的 控制。所述電磁閥26包括一與外界氣源連接的氣源輸入端261、 一進(jìn)氣管連接端263及一出氣 管連接端265。所述進(jìn)氣管27及出氣管28的兩端分別固定連接于所述電磁閥26的進(jìn)氣管連接 端263、出氣管連接端265及汽缸23的進(jìn)氣管安裝端233、出氣管安裝端235上。
所述若干測(cè)試探針30對(duì)應(yīng)地裝設(shè)于所述探針安裝架19的若干探針安裝通孔1932內(nèi)，并從 該探針安裝架19的另一側(cè)伸出，其另一端通過(guò)導(dǎo)線33與所述繼電器模組70電性連接。
所述信息處理裝置40為一集成電路板，其裝設(shè)于所述底座ll內(nèi)。所述信息處理裝置40上 包括一中央處理器41、 一驅(qū)動(dòng)裝置連接端口42、 一顯示器接口45、 一萬(wàn)用表連接端口46、 一繼電器控制端口47、 一存儲(chǔ)卡卡座48及一輸入控制端口49。所述驅(qū)動(dòng)裝置連接端口42、顯示 器接口45、萬(wàn)用表連接端口46、繼電器控制端口47、存儲(chǔ)卡卡座48及輸入控制端口49均與所 述中央處理器41電性連接，并分別對(duì)應(yīng)地與驅(qū)動(dòng)裝置20、顯示器50、萬(wàn)用表60、繼電器模組 70、存儲(chǔ)卡80及輸入控制按鍵200電性連接。使用時(shí)，可通過(guò)所述輸入控制按鍵90輸入相關(guān) 控制信息，例如開(kāi)啟/關(guān)閉所述阻抗測(cè)試裝置100、對(duì)所述阻抗測(cè)試裝置100進(jìn)行參數(shù)設(shè)置 等。所述中央處理器41接收到通過(guò)所述輸入控制按鍵90輸入的相關(guān)控制指令后，可驅(qū)動(dòng)所述 驅(qū)動(dòng)裝置20、萬(wàn)用表60及繼電器模組70工作，并將測(cè)得的結(jié)果進(jìn)行比較分析，顯示于所述顯 示器50上及將測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)于存儲(chǔ)卡80上。
所述萬(wàn)用表60裝設(shè)于所述底座11內(nèi)，其電性連接于所述信息處理裝置40的萬(wàn)用表連接端 口46上，并與所述繼電器模組70電性連接。
所述繼電器模組70裝設(shè)于所述測(cè)試平臺(tái)10的底座11內(nèi)，其電性連接于所述信息處理裝置 40的繼電器控制端口47上，并與所述萬(wàn)用表60及所述若干測(cè)試探針30電性連接。
所述存儲(chǔ)卡80可拆卸地裝設(shè)于所述操作面板115的存儲(chǔ)卡安裝孔1151內(nèi)，并容置、電性 連接于所述信息處理裝置40的存儲(chǔ)卡卡座48內(nèi)。
請(qǐng)參閱圖3，組裝所述阻抗測(cè)試裝置100時(shí)，先將所述二卡持塊13相對(duì)固定裝設(shè)于所述底 座11的頂板113上，并位于所述安裝通孔1132及連接通孔1135的兩側(cè)，以使得所述二卡持塊 13與頂板113共同圍成一橫截面大致"凸"形的裝設(shè)空間。接下來(lái)，將所述工件安裝治具15 可滑動(dòng)地裝設(shè)于所述底座11的頂板113與該二卡持塊13圍成的"凸"形裝設(shè)空間內(nèi)；同時(shí)， 采用二螺釘或銷釘分別穿過(guò)所述工件安裝治具15兩側(cè)的滑塊153上的安裝孔1532，從而使得 所述工件安裝治具15可沿所述卡持塊13上的條形滑槽132限定的路徑來(lái)回滑動(dòng)。再接下來(lái)， 將所述監(jiān)測(cè)裝置17固定裝設(shè)于所述頂板113的安裝孔1132內(nèi)并電性連接于所述信息處理裝置 40上。將所述探針安裝架19的連接端191兩端的導(dǎo)滑通孔l912對(duì)準(zhǔn)所述底座11的頂板l 13上的 二導(dǎo)滑塊1137，以使得所述探針安裝架19的探針安裝端193朝向工件安裝治具15方向可滑動(dòng) 地裝設(shè)于該二導(dǎo)滑塊1137上。將所述若干測(cè)試探針30對(duì)應(yīng)地裝設(shè)于探針安裝架19的探針安裝 端193的若干探針安裝通孔1932，并從該探針安裝端193的另一側(cè)伸出；該測(cè)試探針30的導(dǎo)線 33端穿過(guò)所述探針安裝架19上的連接通孔1935及底座11的頂板113上的連接通孔1135進(jìn)入到 底座11內(nèi)。
再接下來(lái)，組裝所述驅(qū)動(dòng)裝置20，將所述汽缸23的出氣管235端的活塞237穿過(guò)所述導(dǎo)接 板25的安裝通孔151，并固定裝設(shè)于所述探針安裝架19的連接端191上的固定塊1915上；同時(shí) ，將所述導(dǎo)接板25的兩端對(duì)應(yīng)固接于所述頂板113的二道滑塊1137的末端上。再接下來(lái)，將所述汽缸23的進(jìn)氣管231端穿過(guò)所述安裝板21的通孔212，并將該安裝板21固定裝設(shè)于所述底 座l 1的防護(hù)板l 17上方。將所述電磁閥26裝設(shè)于所述防護(hù)板117的一側(cè)板上，同時(shí)將進(jìn)氣管 27的兩端分別裝設(shè)于所述電磁閥26的進(jìn)氣管連接端263及汽缸23的進(jìn)氣管安裝端233上；將所 述出氣管28的兩端分別裝設(shè)于所述電磁閥26的出氣管連接端265及汽缸23的出氣管安裝端235
最后，將所述信息處理裝置40、萬(wàn)用表60及繼電器模組70裝設(shè)于所述底座11內(nèi)，該信息 處理裝置40的驅(qū)動(dòng)裝置連接端口42、顯示器接口45、萬(wàn)用表連接端口46、繼電器控制端口 47、存儲(chǔ)卡卡座48及輸入控制端口49分別對(duì)應(yīng)地與所述驅(qū)動(dòng)裝置20、顯示器50、萬(wàn)用表60、 繼電器模組70、存儲(chǔ)卡80及輸入控制按鍵90電性連接。將所述測(cè)試探針30的導(dǎo)線33端電性連 接于所述繼電器模組70上，即完成所述阻抗測(cè)試裝置100的組裝。
請(qǐng)一并參閱圖4及圖5，利用所述阻抗測(cè)試裝置100對(duì)待測(cè)試工件200進(jìn)行阻抗測(cè)試時(shí)，先 開(kāi)啟所述阻抗測(cè)試裝置IOO，并將所述存儲(chǔ)卡80插設(shè)于所述操作面板115的存儲(chǔ)卡安裝孔 1151中。接下來(lái)，將所述待測(cè)試工件200放置于所述工件安裝治具15的工件安裝部155上，推 動(dòng)所述推桿158使所述工件安裝治具15沿所述二卡持塊13的條形滑槽132朝向探針安裝架19方 向滑移直至其剛好位于所述探針安裝架19的正下方。所述監(jiān)測(cè)裝置17檢測(cè)所述待測(cè)試工件 200是否準(zhǔn)確定位或監(jiān)測(cè)所述待測(cè)試工件200上方是否被遮蔽、阻礙。再接下來(lái)，驅(qū)動(dòng)所述驅(qū) 動(dòng)裝置20，使其帶動(dòng)探針安裝架19向下移動(dòng)，所述裝設(shè)于探針安裝架19上的若干測(cè)試探針30 分別對(duì)應(yīng)地抵持于所述待測(cè)試工件200的各阻抗測(cè)試點(diǎn)上。所述待測(cè)試工件200的各阻抗測(cè)試 點(diǎn)通過(guò)各測(cè)試探針30與萬(wàn)用表60、繼電器模組70及信息處理裝置40共同形成若干測(cè)試回路。 所述信息處理裝置40對(duì)所述萬(wàn)用表60進(jìn)行清零處理后，對(duì)待測(cè)試工件200的各阻抗測(cè)試點(diǎn)進(jìn) 行阻抗測(cè)試，并對(duì)每次測(cè)得的阻抗值進(jìn)行分析，將分析結(jié)果顯示于所述顯示器50上。在測(cè)試 過(guò)程中，所述繼電器模組70自動(dòng)依次切換、通斷所述待測(cè)試工件200的各阻抗測(cè)試點(diǎn)與萬(wàn)用 表60形成的測(cè)試回路，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)各阻抗測(cè)試點(diǎn)地阻抗測(cè)試。每次測(cè)得的各阻抗值被自動(dòng)存 儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)卡80中。測(cè)試完成后，關(guān)閉所述阻抗測(cè)試裝置IOO，即完成所述待測(cè)試工件200 的阻抗測(cè)試工作，可將所述存儲(chǔ)于存儲(chǔ)卡80中的測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)入到計(jì)算機(jī)中進(jìn)行相關(guān)編輯分析
可以理解，所述監(jiān)測(cè)裝置也可以為一光感應(yīng)開(kāi)關(guān)，當(dāng)所述待測(cè)試工件200定位好后，自 動(dòng)驅(qū)動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)裝置20帶動(dòng)所述探針安裝架19向下移動(dòng)，以使裝設(shè)于其上的測(cè)試探針30對(duì)應(yīng) 地抵持于待測(cè)試工件200的各阻抗測(cè)試點(diǎn)上，以進(jìn)行阻抗測(cè)試。
可以理解，所述驅(qū)動(dòng)裝置20也不限于本實(shí)施例中的汽缸驅(qū)動(dòng)方式，其也可以采用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)或其他方式進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。
另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可在本發(fā)明權(quán)利要求公開(kāi)的范圍和精神內(nèi)做其他形式和細(xì)節(jié)上 的各種修改、添加和替換。當(dāng)然，這些依據(jù)本發(fā)明精神所做的各種修改、添加和替換等變化 ，都應(yīng)包含在本發(fā)明所要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種阻抗測(cè)試裝置，用于對(duì)待測(cè)試工件進(jìn)行阻抗測(cè)試，其特征在于所述阻抗測(cè)試包括一測(cè)試平臺(tái)、一驅(qū)動(dòng)裝置、若干測(cè)試探針、一信息處理裝置、一顯示器、一萬(wàn)用表、一繼電器模組、若干控制按鍵；所述測(cè)試平臺(tái)包括一底座及一探針安裝架，所述底座用于放置所述待測(cè)試工件，所述探針安裝架可調(diào)節(jié)地裝設(shè)于該底座上方位置處；所述驅(qū)動(dòng)裝置裝設(shè)于所述底座上，并與所述探針安裝架固接以驅(qū)動(dòng)所述探針安裝架相對(duì)放置于底座上的待測(cè)試工件移動(dòng)；所述若干測(cè)試探針裝設(shè)于所述探針安裝架上，并與所述繼電器模組電性連接；所述信息處理裝置裝設(shè)于所述底座內(nèi)，其包括一中央處理器，該中央處理器與所述若干控制按鍵、驅(qū)動(dòng)裝置、顯示器、繼電器模組及萬(wàn)用表電性連接，用于接收指令并驅(qū)動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)裝置、萬(wàn)用表及繼電器模組工作，并對(duì)測(cè)得的結(jié)果進(jìn)行比較分析；所述控制按鍵用于向阻抗測(cè)試裝置輸入相關(guān)指令，所述顯示器用于顯示相關(guān)輸入指令及測(cè)試結(jié)果，所述繼電器模組用于控制所述測(cè)試探針并驅(qū)動(dòng)所述萬(wàn)用表進(jìn)行阻抗測(cè)試。
2.如權(quán)利要求l所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述信息處理裝 置還包括一驅(qū)動(dòng)裝置連接端口、 一顯示器接口、 一萬(wàn)用表連接端口、 一繼電器控制端口及一 輸入控制端口，該驅(qū)動(dòng)裝置連接端口、顯示器接口、萬(wàn)用表連接端口、繼電器控制端口及輸 入控制端口均與所述中央處理器電性連接，并分別對(duì)應(yīng)地與驅(qū)動(dòng)裝置、顯示器、萬(wàn)用表、繼 電器模組及輸入控制按鍵電性連接。
3.如權(quán)利要求2所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述底座呈箱體 狀，其包括一頂板、 一操作面板及一防護(hù)板，所述頂板上靠近其一側(cè)緣位置處相對(duì)設(shè)有二導(dǎo) 滑塊，以使所述探針安裝架可滑動(dòng)地裝設(shè)于所述導(dǎo)滑塊上；所述若干控制按鍵及顯示器裝設(shè) 于所述操作面板上，所述防護(hù)板固定裝設(shè)于頂板上靠近其一側(cè)的周緣位置處，并與頂板共同 圍成一容置空間，所述驅(qū)動(dòng)裝置及導(dǎo)滑塊容置于該容置空間內(nèi)。
4.如權(quán)利要求3所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述測(cè)試平臺(tái)還 包括二卡持塊及一工件安裝治具，所述二卡持塊橫截面呈L形，其相對(duì)間隔地固定裝設(shè)于頂 板上，并與頂板共同圍成一裝設(shè)空間；所述工件安裝治具可滑動(dòng)地裝設(shè)于所述二卡持塊圍成的裝設(shè)空間內(nèi)。
5 如權(quán)利要求4所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述卡持塊上靠近其一側(cè)緣位置處設(shè)有一條形滑槽，所述工件安裝治具包括一主體部、二由所述主體部?jī)蓚?cè) 相對(duì)延伸的滑塊，所述二滑塊上分別設(shè)有一安裝孔，用以將工件安裝治具可滑動(dòng)地裝設(shè)于所 述卡持塊上，并于該滑塊的條形滑槽內(nèi)滑動(dòng)以防止其與卡持塊脫離。
6 如權(quán)利要求5所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述工件安裝治具還包括一工件安裝部及一推桿，所述工件安裝部呈矩形凹腔狀，其凹設(shè)于所述主體部上，用于裝設(shè)待測(cè)試工件；所述推桿固接于所述主體部上。
7 如權(quán)利要求3所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述探針安裝架 包括一連接端及一探針安裝端，該連接端的兩端對(duì)應(yīng)于所述二導(dǎo)滑塊各設(shè)有一導(dǎo)滑通孔，以 使探針安裝架可滑動(dòng)地裝設(shè)于該二導(dǎo)滑塊上；所述連接端中部位置處凸設(shè)有一固定塊，以將 所述探針安裝架固定裝設(shè)于所述驅(qū)動(dòng)裝置上。
8 如權(quán)利要求7所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述探針安裝端 貫通開(kāi)設(shè)有若干探針安裝通孔，所述若干探針對(duì)應(yīng)地裝設(shè)于所述探針安裝架的若干探針安裝通孑L內(nèi)。
9 如權(quán)利要求4所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述頂板上中部 位置處貫通開(kāi)設(shè)有一安裝孔，該安裝孔位于所述二卡持塊之間；所述測(cè)試平臺(tái)還包括一監(jiān)測(cè) 裝置，其固定裝設(shè)于所述安裝孔中，并電性連接于所述信息處理裝置上，以用于檢測(cè)待測(cè)試 工件是否準(zhǔn)確定位。
10 如權(quán)利要求l所述的阻抗測(cè)試裝置，其特征在于所述阻抗測(cè)試 裝置還包括一存儲(chǔ)卡，所述信息處理裝置還包括一存儲(chǔ)卡卡座，該存儲(chǔ)卡卡座與中央處理器 電性連接；所述操作面板上對(duì)應(yīng)于所述存儲(chǔ)卡卡座位置處設(shè)有一條形的存儲(chǔ)卡安裝孔，以使 得所述存儲(chǔ)卡通過(guò)該存儲(chǔ)卡安裝孔與所述存儲(chǔ)卡卡座電性連接。
全文摘要
一種阻抗測(cè)試裝置，其包括一測(cè)試平臺(tái)、一驅(qū)動(dòng)裝置、若干測(cè)試探針、一信息處理裝置、一顯示器、一萬(wàn)用表、一繼電器模組、若干控制按鍵。所述測(cè)試平臺(tái)包括一用于放置待測(cè)試工件的底座及一可調(diào)節(jié)地裝設(shè)于該底座上方的探針安裝架。所述驅(qū)動(dòng)裝置裝設(shè)于底座上，并與探針安裝架固接以驅(qū)動(dòng)探針安裝架相對(duì)底座移動(dòng)。所述若干測(cè)試探針裝設(shè)于探針安裝架上，并與繼電器模組電性連接。所述信息處理裝置裝設(shè)于底座內(nèi)，用于接收指令并驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置、萬(wàn)用表及繼電器模組工作，并對(duì)測(cè)得的結(jié)果進(jìn)行比較分析。所述阻抗測(cè)試裝置可一次性自動(dòng)對(duì)待測(cè)試工件上的多個(gè)阻抗測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行阻抗測(cè)試，有效提高了阻抗測(cè)試效率及測(cè)試質(zhì)量。
文檔編號(hào)G01R27/02GK101587149SQ20081030173
公開(kāi)日2009年11月25日 申請(qǐng)日期2008年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月23日
發(fā)明者姜志強(qiáng), 孫長(zhǎng)發(fā), 智 成, 林 李, 雷 李, 王春影, 董林森, 譚傳康, 平 陳 申請(qǐng)人:深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司