專利名稱：電路空板測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電路板生產(chǎn)制造過程中測試結(jié)構(gòu)，尤其是指一種 電路空板測試裝置，進(jìn)一步而言是指一種可以檢測出電路板上分布過 密之線路是否正常之電路空板測試裝置。
背景技術(shù)：
目前，電路板(PCB)正沿著高集成、高密集趨勢發(fā)展，傳統(tǒng)的 電路空板測試一般采用扎針方式進(jìn)行測試，其使用探針在空板的每個(gè) 分支與節(jié)點(diǎn)栽針，再利用測試儀與探針連接，對每個(gè)分支與節(jié)點(diǎn)進(jìn)行 開路或短路的測試，如此會存在制作費(fèi)用高，難度大，配線復(fù)雜等缺 陷，從而導(dǎo)致無法進(jìn)行有效地測試，給業(yè)內(nèi)生產(chǎn)過程中帶來困擾。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型針對上述現(xiàn)有技術(shù)所存在之缺失，主要目的在于提供 一種利用感應(yīng)測試方式檢測各種過密線路的電路空板測試裝置。 為實(shí)現(xiàn)上述之目的，本實(shí)用新型采取如下技術(shù)方案 一種電路空板測試裝置，包括感測組以及第一差動(dòng)放大器和第二 差動(dòng)放大器，該感測組包括一感測電路板和一與感測電路板串聯(lián)的參 考電阻，該參考電阻另一端接地形成電流回路；上述第一差動(dòng)放大器 的輸入端連接參考電阻兩端，以取得感測電路板傳來的訊號；上述第端；當(dāng)對待測電路板之線路上通以信號源時(shí)，由上述第一差動(dòng)放大器 和第二差動(dòng)放大器兩者的輸出端輸出訊號共同檢知待測電路板的線 路是否正常。上述待測電路板之線路上設(shè)有通道開關(guān)，該通道開并另端串接至 第二差動(dòng)放大器的輸入端。
本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)在于通過感測組與兩個(gè)差動(dòng)放大器之間的組接， 可有效地計(jì)算出感測電路板與待測電路板之線路間的電容量，進(jìn)而可
準(zhǔn)確地對PCB斷路、短路、微短路進(jìn)行判定，即使其節(jié)點(diǎn)分布過密仍 能進(jìn)行檢測。


圖l是本實(shí)用新型之電路示意圖2是本實(shí)用新型測試斷路之等效電路圖3是本實(shí)用新型測試短路之等效電路圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式
對本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
請參閱圖l至圖3所示， 一種電路空板測試裝置，包括感測組以 及第一差動(dòng)放大器(2)和第二差動(dòng)放大器(3),其中
該感測組包括一感測電路板(11)和一與感測電路板(11)串耳關(guān) 的參考電阻(12)，該參考電阻(12)另一端接地形成電流回路；
上述第一差動(dòng)放大器(2)的輸入端(21)連接參考電阻(12) 兩端，以取得感測電路板(11)傳來的訊號。
上述第二差動(dòng)放大器(3)的輸入端(31)連至貼近感測電路板 (11)的待測電路板(4)之線路(5)另端。而第二差動(dòng)放大器(3) 另一端(32)連接于感測電路板(11)與參考電阻(12)串接的電路 上。
當(dāng)對待測電路板)4 )之線路(5 )上通以信號源(6 )時(shí)，由上 述第一差動(dòng)放大器(2)和第二差動(dòng)放大器(3)兩者的輸出端(22、 33)輸出訊號共同檢知待測電路板(4)的線路(5)是否正常。上述待測電路板(4 )之線路(5 )上設(shè)有通道開關(guān)(7 ),該通 道開并(7)另端串接至第二差動(dòng)放大器(3)的輸入端。本實(shí)用新型線路斷路的判定方法如圖1,感測電路板(ll)所 測到之訊號經(jīng)過參考電阻(12)對地形成電流回路，因此，參考電阻 (12)上就有一個(gè)交流電壓，在經(jīng)第一差動(dòng)放大器(2)放大，送到 AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換。藉此，可對線路(5 )分布過密之電路板做 檢測，經(jīng)訊號源通入待測電路板(4 )之線路(5 )，將感測電路板(11) 貼近待測電路板(4)另一端，而可以簡單清楚測得由第一差動(dòng)放大 器(2)送到AD轉(zhuǎn)換信號V2，在經(jīng)第二差動(dòng)放大器(3)得到的AD 轉(zhuǎn)換信號VI,根據(jù)Z=l / 2 x n x F x C，可以算出感測電路板與待測 電路板之線路間的電容量，從而判斷線路是否開路/短路，其中訊號 測試運(yùn)算過程如下先可算出串聯(lián)回路中的電流I=V2/Rl，再通過公 式算出Zc=Vi + I )結(jié)合上述電流I的公式，即Zc=Vi x Rl + V2),其中 Rl為已知的直流電阻阻抗，然后才艮據(jù)/>式Zc=l / 2xnxFxC即可 得知電容量C=l/2 x n x F x Zc。再如，當(dāng)線路5c存在斷路情況下，會在斷開點(diǎn)產(chǎn)生一電容(Cx), 所以測試回路等效于圖2，其中，根據(jù)串電容可得C= (CxxCy) + (Cx+Cy)，藉此，因?yàn)镃x^艮小，所以C值也就小，如此可以判定線 路為開路狀態(tài)；當(dāng)線圖存在短路時(shí)，將會等效成圖3,其中假設(shè)圖1 中線路(5a、 5b、 5d)短路或《鼓短路時(shí)設(shè)I^10MQ,測試頻率為10KHZ, 電容Cx-lpf,則電容Wc-l / 2x n xFxCx=16 MQ;基于上述原理將 準(zhǔn)確地對PCB斷路、短路、微短路進(jìn)行判定，即使其節(jié)點(diǎn)分布過密仍 能進(jìn)行4企測。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)重點(diǎn)在于通過感測組與兩個(gè)差動(dòng)放大器之間的 組接，可有效地計(jì)算出感測電路板與待測電路板之線路間的電容量， 進(jìn)而可準(zhǔn)確地對PCB斷路、短路、微短路進(jìn)行判定，即使其節(jié)點(diǎn)分布 過密仍能進(jìn)行檢測。以上所述，僅是本實(shí)用新型一種電路空板測試裝置的較佳實(shí)施例 而已，并非對本實(shí)用新型的技術(shù)范圍作任何限制，故凡是依據(jù)本實(shí)用 新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何細(xì)微修改、等同變化與修 飾，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1、 一種電路空板測試裝置，其特征在于包括感測組以及第一 差動(dòng)放大器和第二差動(dòng)放大器，該感測組包括一感測電路板和一與感 測電路板串聯(lián)的參考電阻，該參考電阻另一端接地形成電流回路；上 述第一差動(dòng)放大器的輸入端連接參考電阻兩端，以取得感測電路板傳 來的訊號；上述第二差動(dòng)放大器的輸入端連至貼近感測電路板的待測 電路板之線路另端；當(dāng)對待測電路板之線路上通以信號源時(shí)，由上述 第一差動(dòng)放大器和第二差動(dòng)放大器兩者的輸出端輸出訊號共同檢知 待測電路板的線路是否正常。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路空板測試裝置，其特征在于上 述待測電路板之線路上設(shè)有通道開關(guān)，該通道開并另端串接至第二差 動(dòng)放大器的輸入端。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種電路空板測試裝置，包括感測組以及第一差動(dòng)放大器和第二差動(dòng)放大器，該感測組包括一感測電路板和一與感測電路板串聯(lián)的參考電阻，該參考電阻另一端接地形成電流回路；上述第一差動(dòng)放大器的輸入端連接參考電阻兩端，以取得感測電路板傳來的訊號；上述第二差動(dòng)放大器的輸入端連至貼近感測電路板的待測電路板之線路另端；當(dāng)對待測電路板之線路上通以信號源時(shí)，由上述第一差動(dòng)放大器和第二差動(dòng)放大器兩者的輸出端輸出訊號共同檢知待測電路板的線路是否正常；其通過感測組與兩個(gè)差動(dòng)放大器之間的組接，可有效地計(jì)算出感測電路板與待測電路板之線路間的電容量，進(jìn)而可準(zhǔn)確地對PCB斷路、短路、微短路進(jìn)行判定，即使其節(jié)點(diǎn)分布過密仍能進(jìn)行檢測。
文檔編號G01R31/02GK201156069SQ20082004305
公開日2008年11月26日 申請日期2008年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月21日
發(fā)明者屠澤勇 申請人:東莞中逸電子有限公司