專利名稱：陶瓷電容器測(cè)試探頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電子測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特指一種陶瓷電容器 測(cè)試探頭。
技術(shù)背景
由于陶瓷電容器的損耗因子小、諧振頻率高等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng) 用于各種電子產(chǎn)品中。 一般陶瓷電容器在出廠之前，都要測(cè)試其容 量、介質(zhì)損耗和耐電壓等參數(shù)，以確定該陶瓷電容器的性能是否達(dá) 到要求?，F(xiàn)在，許多廠家是采用測(cè)試儀器配合測(cè)試模板的方式測(cè)試 陶瓷電容器的參數(shù)，在測(cè)試的過程中，陶瓷電容器的兩個(gè)引線放置 在測(cè)試模板上，再由測(cè)試儀器引出的兩根測(cè)試探頭壓住陶瓷電容器 的兩個(gè)引線，從而測(cè)試出陶瓷電容器各個(gè)參數(shù)。其中的測(cè)試探頭為 單根的探針，而探針的軟硬度不好控制，如果探針過軟，容易變形， 會(huì)導(dǎo)致測(cè)試的數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確；如果探針過硬，會(huì)壓壞或壓歪陶瓷電容 器的引線，影響產(chǎn)品的質(zhì)量。 實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足而提供一種軟 硬度合適的陶瓷電容器測(cè)試探頭。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是它包括固 定塊、穿設(shè)在固定塊中的探針，探針的下端向一側(cè)彎折，探針的上
端繞成圓環(huán)狀，在探針上環(huán)繞有彈簧狀的加強(qiáng)部，加強(qiáng)部位于固定 塊的下方。
所述的加強(qiáng)部是由探針的上端由上至下穿過固定塊環(huán)繞而成。
本實(shí)用新型有益效果在于本實(shí)用新型包括固定塊、穿設(shè)在固 定塊中的探針，探針的下端向一側(cè)彎折，探針的上端繞成圓環(huán)狀， 在探針上環(huán)繞有彈簧狀的加強(qiáng)部，加強(qiáng)部位于固定塊的下方，由于 增加了加強(qiáng)部，本實(shí)用新型探針的軟硬度合適、彈性適中，可準(zhǔn)確 地測(cè)試出陶瓷電容器的參數(shù)，而且不會(huì)壓壞或壓歪陶瓷電容器的引 線，本實(shí)用新結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖2是本實(shí)用新型的側(cè)視圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明，見圖l、 2所示， 陶瓷電容器測(cè)試探頭，它包括固定塊1、穿設(shè)在固定塊1中的探針2， 探針2的下端向一側(cè)彎折，探針2的上端繞成圓環(huán)狀，在探針2上 環(huán)繞有彈簧狀的加強(qiáng)部3，加強(qiáng)部3位于固定塊1的下方，所述的加 強(qiáng)部3是由探針2的上端由上至下穿過固定塊1環(huán)繞而成。本實(shí)用 新型使用時(shí)是由探針2的下端壓住陶瓷電容器的引線，再配合測(cè)試 儀器的具體測(cè)試功能，就能測(cè)試出該陶瓷電容器的容量、介質(zhì)損耗 和耐電壓等參數(shù)，這樣的測(cè)試探頭可準(zhǔn)確地測(cè)試出陶瓷電容器的參 數(shù)，而且不會(huì)壓壞或壓歪陶瓷電容器的引線。
當(dāng)然，以上所述僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，故凡依本實(shí)用 新型專利申請(qǐng)范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾， 均包括于本實(shí)用新型專利申請(qǐng)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1、陶瓷電容器測(cè)試探頭，它包括固定塊(1)、穿設(shè)在固定塊(1)中的探針(2)，探針(2)的下端向一側(cè)彎折，探針(2)的上端繞成圓環(huán)狀，其特征在于在探針(2)上環(huán)繞有彈簧狀的加強(qiáng)部(3)，加強(qiáng)部(3)位于固定塊(1)的下方。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的陶瓷電容器測(cè)試探頭，其特征在于 所述的加強(qiáng)部(3)是由探針(2)的上端由上至下穿過固定塊(1) 環(huán)繞而成。
專利摘要本實(shí)用新型涉及電子測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特指一種陶瓷電容器測(cè)試探頭，其包括固定塊、穿設(shè)在固定塊中的探針，探針的下端向一側(cè)彎折，探針的上端繞成圓環(huán)狀，在探針上環(huán)繞有彈簧狀的加強(qiáng)部，加強(qiáng)部位于固定塊的下方，由于增加了加強(qiáng)部，本實(shí)用新型探針的軟硬度合適、彈性適中，可準(zhǔn)確地測(cè)試出陶瓷電容器的參數(shù)，而且不會(huì)壓壞或壓歪陶瓷電容器的引線，本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計(jì)合理。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201191297SQ20082004369
公開日2009年2月4日 申請(qǐng)日期2008年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月31日
發(fā)明者輝 于, 強(qiáng) 李, 炳 李, 苑 梅, 趙紅飚 申請(qǐng)人:東莞市易利嘉電子有限公司