專利名稱：放射性物質(zhì)檢測和x光輻射成像的集成系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明總體涉及物品檢查領(lǐng)域，具體涉及放射性物質(zhì)檢測以及X
光檢查領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備已經(jīng)被廣泛地用于海關(guān)、邊境、機場、核電廠 和其它重要場所的出入口放射性檢查，用于阻止放射性物質(zhì)的非法轉(zhuǎn) 移?，F(xiàn)有技術(shù)中的放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備主要是利用放射性物質(zhì)/特殊核 材料通過設(shè)備時，對其所發(fā)射的伽馬、中子射線進(jìn)行檢測，根據(jù)所述 伽馬、中子射線引起的系統(tǒng)計數(shù)率變化或能譜異常變化，從而判斷通 過的被檢物體是否含有放射性物質(zhì)/特殊核材料。
除了放射性物質(zhì)監(jiān)測，通常在重要場所的出入口還要對進(jìn)出物品進(jìn)
行X光檢測?，F(xiàn)有技術(shù)中的X光檢測設(shè)備是利用X光機為輻射源，當(dāng)
被檢物體通過檢測設(shè)備時檢測透過物體的x光劑量，根據(jù)測得的透過
劑量變化獲得物體的質(zhì)量厚度和圖象信息，并據(jù)此判斷是否含有危險物品。
上述的放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備和X光檢測設(shè)備可以在不同的檢查領(lǐng)
域完成各自的功能，但一個問題在于，不能將上述的放射性物質(zhì)監(jiān)測
設(shè)備和X光檢測設(shè)備相鄰放置對一件^L檢物體進(jìn)行放射性物質(zhì)監(jiān)測和 X光檢測。其原因是在對被檢物體進(jìn)行X光輻射成像檢查時，X光檢 測設(shè)備會發(fā)射出大量的X射線，其中有一部分X射線會漏入到相鄰放 置的放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備中。由于放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備正是通過對射 線的探測來判斷通過的被檢物體是否含有放射性物質(zhì)，所以漏入的X 射線會影響放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備的檢測精度，使其無法正確判斷所檢 測到的異常輻射是由于放射性物質(zhì)引起還是由漏入的X射線引起的。 進(jìn)而，由于不能將上述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備和X光檢測設(shè)備相鄰放置， 所以在機場或港口等海關(guān)必須在放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備和X光檢測設(shè)備 之間不斷運送貨品，導(dǎo)致了大量的人力、物力、空間和時間上的浪費。 發(fā)明內(nèi)容
鑒于如上所述現(xiàn)有技術(shù)中具有的缺陷，希望提供一種集成系統(tǒng)，可
以在同 一地點同時探測放射性物質(zhì)和進(jìn)行X光輻射檢測。
本發(fā)明通過合理的檢測低限設(shè)置和數(shù)字濾波技術(shù)解決了所述放射 性物質(zhì)探測設(shè)備與x光檢測設(shè)備的集成問題。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，提供了 一種用于對被檢物體進(jìn)行放射
性物質(zhì)探測和X光輻射檢測的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括X光檢測設(shè)備，用 于對被檢物體進(jìn)行X光輻射成像檢查；放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備，與所述X 光檢測設(shè)備相鄰放置，用于檢測所述被檢物體發(fā)出的放射性射線；所 述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備在其檢測能區(qū)內(nèi)設(shè)置用于區(qū)分所檢測到的由所 述X光檢測設(shè)備發(fā)出的X光射線所處的能量區(qū)和由所述被檢物體發(fā)出 的放射性射線所處的能量區(qū)的檢測低限，并檢測高于所述檢測低限的 能量區(qū)內(nèi)射線的計數(shù)或能譜。
通過以上技術(shù)方案，實現(xiàn)了 X光物體檢查設(shè)備與放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè) 備的緊湊集成，可在在同一地點進(jìn)行射線輻射成像檢查和放射性物質(zhì) 監(jiān)測，大大節(jié)約了機場、港口等海關(guān)的空間資源，節(jié)省了時間，進(jìn)而 避免了由于在放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備和X光檢測設(shè)備之間不斷運送貨品 導(dǎo)致的人力、物力上的浪費。


下面通過結(jié)合附圖對各個具體實施方式
進(jìn)行詳細(xì)描述，相同的附圖 標(biāo)記表示相同的組成部件。
圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的用于檢測放射性物質(zhì)并對物體進(jìn) 行X光檢查的系統(tǒng)的側(cè)視圖2是如圖1所示的用于檢測放射性物質(zhì)并對物體進(jìn)行X光檢查的 系統(tǒng)的俯^L圖3是放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備在包括環(huán)境本底工作時，多道脈沖幅度 分析器(MCA)獲得的散射能譜；
圖4是放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備的具體組成框圖。
具體實施方式
圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例用于檢測放射性物質(zhì)并對物體進(jìn)行X
光檢查的系統(tǒng)100的側(cè)視圖，其中附圖標(biāo)記101表示放射性物質(zhì)監(jiān)測 設(shè)備，用于檢測被檢物體發(fā)出的伽馬或中子射線。102表示X光檢測設(shè) 備，用于對被檢物體進(jìn)行X光輻射成像檢查。其中放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè) 備101置于X光沖全測設(shè)備102的入口兩側(cè)，但本領(lǐng)域^支術(shù)人員也可以 想到將其置于X光檢測設(shè)備102的出口兩側(cè)，或置于入口或出口的一 側(cè)，及將其置于X光檢測設(shè)備102的上、下方。103表示載物臺，用于 承載被檢物體。104表示履帶，用于傳送被檢物體從接受放射性物質(zhì)監(jiān) 測的位置向前移動通過X光檢測設(shè)備102。 105表示支柱，用于支撐載 物臺103。
圖2是如圖1所示的用于檢測放射性物質(zhì)并對物體進(jìn)行X光檢查的 系統(tǒng)的俯視圖，總體用附圖標(biāo)記200表示。其中附圖標(biāo)記201表示與 圖1中相同的放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備。202表示與圖1中相同的X光檢測 設(shè)備。203表示在X光檢測設(shè)備202中發(fā)射的、經(jīng)過準(zhǔn)直的X射線。在 以X光檢測設(shè)備102在進(jìn)行檢查時，該X光4企測設(shè)備連續(xù)發(fā)射X射線， 其中心存在很強的扇形初級X射線，該扇形初級X射線在被準(zhǔn)直器準(zhǔn) 直成X射線203。在其被準(zhǔn)直、透射過被檢物體和探測器檢測過程中， 會有大量散射射線形成，這些散射射線在現(xiàn)有技術(shù)中可能會影響附近 放射性物質(zhì)檢測設(shè)備201的檢測精度。204表示鉛簾，用于遮擋部分所 述散射射線。205表示被檢物體，而205，表示正處于接受X光檢測位置 的被檢物體。206表示部分包圍放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201的第一屏蔽 體。207表示至少部分包圍X光檢測設(shè)備202的第二屏蔽體。
在圖2所示的實施例中，X光檢測設(shè)備202的橫截面為矩形，其被 第二屏蔽體207完全包圍。放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201和第一屏蔽體206 被置于X光檢測設(shè)備202的入口處的一側(cè)，所述第一屏蔽體206為馬 蹄形，其圓弧端包圍所述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201，開口軸線與^^皮檢物 體的運送方向成例如45度角。并且開口部分的兩臂從圓弧部位向外延 伸，以確保由X光檢測設(shè)備202在所有鉛簾204處于自然垂直狀態(tài)時 發(fā)出的散射射線或被激發(fā)的X熒光射線以及此處泄漏出的散射射線不 能到達(dá)放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201。優(yōu)選的，所述第一屏蔽體206還可以 至少部分地屏蔽天然本底射線，以提高系統(tǒng)靈敏度。同時所述開口還 保證了對被檢物體205有足夠的張角，可以正確的檢測被檢物體205 發(fā)出的伽馬和中子射線。該張角，或稱視野，與X光檢測設(shè)備202對 物品的檢查速度相關(guān)，速度快時張角適當(dāng)加大，速度慢時張角可適當(dāng)
縮小。在本實施例中使用45度角作為示例，當(dāng)然本領(lǐng)域的普通技術(shù)人 員也可以容易的想到使用其他角度，例如30-60度之間的夾角，達(dá)到 相同的技術(shù)效果。同樣，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以容易的想到將放 射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201和第一屏蔽體206置于X光檢測設(shè)備202入口 或者出口的兩側(cè)或上、下方，不影響并確保被檢貨物的暢行而且不占 用外場地。只要第一屏蔽體206能屏蔽掉鉛簾上的散射，則任何角度 及放置位置都可以實現(xiàn)。多個置于不同位置、角度的放射性物質(zhì)監(jiān)測 設(shè)備201和第一屏蔽體206可以同時使用，只要其能夠屏蔽掉鉛簾上 的散射并且有足夠的張角以用于檢測被檢物體205發(fā)出的伽馬和中子 射線。另外，除了馬蹄形，第一屏蔽體206還可以以C形實現(xiàn)或任何 具有一邊開口的包圍形狀實現(xiàn)，如矩形等多邊形。
在一個優(yōu)選實施方式中，使用重金屬材料制成第 一屏蔽體206和第 二屏蔽體207,由于中子對重金屬具有良好的穿透性，因此用重金屬材 料構(gòu)成第一屏蔽體206和第二屏蔽體207,不但可以對X射線達(dá)到良好 的屏蔽效果，而且可以使中子的探測靈敏度不受影響或影響很小。
下面結(jié)合圖3解釋通過提高放大器或多道的檢測低限，減小散射射 線對放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備的影響。在放射性物質(zhì)發(fā)射的伽馬和/或中子 射線入射到放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201時，與放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201 中的探測器材料相互作用并轉(zhuǎn)換成為電脈沖信號輸出；該電脈沖信號 經(jīng)線性放大成型、數(shù)據(jù)采集等，可被系統(tǒng)按計數(shù)率記錄下來，也可按 信號幅度大小記錄成能譜。圖3是放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201在包括環(huán) 境本底工作時，多道脈沖幅度分析器(MCA)獲得的散射能譜，其中橫 軸表示道數(shù)，縱軸表示計數(shù)。
圖4具體解釋了放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備的具體組成框圖，該放射性物 質(zhì)監(jiān)測設(shè)備在圖4中總體以附圖標(biāo)記400表示。該放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè) 備400主要包括伽馬探測模塊401、中子探測模塊402、占用/速度 探測器403、門控探測器404、溫度控制組件405、聲光報警406、視 頻監(jiān)控407 、信號傳輸與控制器408、計算機409、 TCP/IP模塊"0、 USP電源411。其中信號傳輸與控制器408、計算機409、 TCP/IP模塊 410包括在數(shù)據(jù)獲取與處理分系統(tǒng)412中。伽馬探測組件401由高靈敏 的塑料閃爍體/Nal晶體、低噪聲光電倍增管、高壓、放大器等組成，
用于探測伽馬射線并將其信號傳輸給數(shù)據(jù)獲取與處理分系統(tǒng)412。中子 探測組件402由優(yōu)化慢化體結(jié)構(gòu)、He-3正比中子管、高壓、放大器等 組成，用于來探測中子并將其信號傳輸給數(shù)據(jù)獲取與處理分系統(tǒng)412。 占用/速度探測器403由裝在對立探測柱上的對射式紅外傳感器組成， 用以獲知是否有被檢物通過監(jiān)測區(qū)域。數(shù)據(jù)獲取與處理分系統(tǒng)412以 計數(shù)器或多道分析器與高級精簡指令系統(tǒng)處理器(ARM)嵌入式系統(tǒng)組 成，用以采集和處理數(shù)據(jù)、判斷是否存在射線計數(shù)率或能譜異常并產(chǎn) 生相關(guān)的報警信息。通過軟件對相關(guān)的數(shù)據(jù)處理和計算、條件修正、 邏輯判斷等形成一套報警算法，及用戶界面、信息留存等軟件。門控 探測器404、溫度控制組件405、聲光報警406、視頻監(jiān)控407、信號 傳輸與控制器408、計算機409、 TCP/IP模塊410、 USP電源411屬于 現(xiàn)有技術(shù)中的功能模塊，出于說明書簡明考慮，在此不對其具體組成 ——累述。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員也可以理解，各功能模塊可根據(jù)實際 需求增減。
當(dāng)放射性物質(zhì)通過檢測設(shè)備時，在探測到的射線計數(shù)率或能譜發(fā)生 異常時，可以判斷被檢物體含有放射性物質(zhì)。為了有效的監(jiān)測放射性 物質(zhì)，放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201需根據(jù)系統(tǒng)所處環(huán)境本底水平，確定 計數(shù)率報警閾值和/或射線能鐠變化限值，以滿足系統(tǒng)靈敏度、準(zhǔn)確度、 監(jiān)測速度和誤報警率的要求。系統(tǒng)測量的射線計數(shù)率或能譜的峰面積 符合物理統(tǒng)計規(guī)律，即在一個相對穩(wěn)定的環(huán)境，和無電子學(xué)噪聲被記
錄(或相對少量)的情況下，已知前一時段的計數(shù)率或峰面積，可預(yù) 知下一時段的計數(shù)率或面積出現(xiàn)值的幾率，通常出現(xiàn)在5個西格瑪之
外的幾率遠(yuǎn)小于0. 1 % ，因而報警閾值基本上設(shè)定在5個西格瑪，符合 幾乎所有標(biāo)準(zhǔn)要求的誤報率水平，該闊值也成為該系統(tǒng)的靈敏度，當(dāng) 下一個計數(shù)率或峰面積等于或大于前一個(或平均或占用前)的計數(shù) 率或峰面積加它的5個西格瑪，即輸出才艮警。同樣，如杲有一放射源， 其射線被探測到的計數(shù)率或其峰面積的真值為此時本底計數(shù)率或峰面 積(對應(yīng)區(qū))的5個西格瑪，且系統(tǒng)閾值設(shè)置在5個西格瑪，則按統(tǒng) 計規(guī)律，該源被探測的準(zhǔn)確率為50%,也為一般標(biāo)準(zhǔn)所要求；同理因 統(tǒng)計規(guī)律，靈敏度等指標(biāo)與探測的時間和物體移動速度等因素相關(guān)。 當(dāng)被檢測物體通過放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201時，如果測量到的射線計 數(shù)率或能譜變化程度高于設(shè)定值，放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201輸出報警信息。根據(jù)系統(tǒng)探測到的射線能量特征(能譜)，可以判別放射性物 質(zhì)的類別以及具體的核素。具體而言，能譜即按探測到的射線能量的
大小記錄的二維譜，如譜儀事先經(jīng)過能量刻度，如用241Am(特征能量 59KeV…)、137Cs(特征能量661. 6KeV…)、60Co(特征能量1173. 2KeV、 1 332. 5KeV)，其全能峰對應(yīng)的能量都是已知的；對未知源的探測，如 能譜中出現(xiàn)峰或通過數(shù)學(xué)解譜得到峰位，經(jīng)刻度系數(shù)轉(zhuǎn)換為能量，即 可知該峰的來源核素，當(dāng)然很多核素有多個特征峰，且其分之比固定， 但因自吸收、探測效率、屏蔽、干擾、多核素重疊等因素，探測到的 峰面積比差異會很大。
回到圖3，圖中下方的灰色譜線是環(huán)境本底的能譜，主要由宇宙射 線和環(huán)境中的天然放射性物質(zhì)構(gòu)成。位于灰色譜線之上的黑色譜線是 包含環(huán)境本底和X光檢測設(shè)備202無鉛簾屏蔽及工作時，放射性物質(zhì) 監(jiān)測設(shè)備201檢測到的能譜。在黑色能譜中，在低道數(shù)，即低能量區(qū) 顯示出很高的計數(shù)率。這是因為所述的散射射線在X光檢測設(shè)備202 中經(jīng)過一次或多次散射后損失了大量能量，所以其能量主要集中在低 能區(qū)。而被檢物體如含有放射性物質(zhì)時，其射線能量通常會高于圖中 所示的低能區(qū)。也就是說，被檢物體發(fā)出的射線能量與X光散射射線 處于不同的能量區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的 一個實施例，在黑色能譜曲線從高計數(shù)率到平穩(wěn)低計 數(shù)率的拐點處設(shè)置了檢測低限(LLD)。檢測低限通過數(shù)字電路依據(jù)具
體探測器射線能量范圍的要求及靈敏度指標(biāo)進(jìn)行靈活的動態(tài)設(shè)置。根 據(jù)確定的能量限，即可確定檢測低限。具體而言，經(jīng)刻度的能譜，能 量與道數(shù)相對應(yīng)，有確定的能量限即有確定檢測低限。在一般標(biāo)準(zhǔn)中， 對不同源的檢測靈敏度要求不同，而靈敏度與本底的計數(shù)率或?qū)?yīng)區(qū) 間面積相關(guān)，因而為滿足相應(yīng)源的靈敏度要求，可以有針對性地調(diào)整 檢測低限，如60Co的特征峰在1MeV以上，因而對計數(shù)系統(tǒng)而言，通 過提高檢測低限，降低本底計數(shù)，即可提高探測60Co源的靈敏度。同 時可確定探測能區(qū)內(nèi)本底和包含X光檢測設(shè)備工作時的系統(tǒng)的計數(shù)率 及能譜，并計算出系統(tǒng)探測該能區(qū)的靈敏度及與X光檢測設(shè)備不工作 時的靈敏度差異量。通過設(shè)定這個檢測低限，放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備201 不記錄低于該檢測低限的低能散射射線，只記錄高能放射性射線，從 而減少了散射射線對放射性物質(zhì)監(jiān)測的影響。
在X光檢測設(shè)備工作時，因鉛簾的開啟、貨物進(jìn)出及大小、質(zhì)量
的不同，可能造成散射射線往高能區(qū)堆積，造成計數(shù)率和語型的奇變，
從而給檢測低限的設(shè)定帶來困難。從圖3可見，在上述低能區(qū)的表示 散射射線能量的部分黑色能譜是連續(xù)的、無明顯特征峰的、呈指數(shù)下 降型的光滑能譜。相反，所有放射性物質(zhì)的射線能語均應(yīng)呈現(xiàn)有特征 峰和有結(jié)構(gòu)的能譜。因此，對通過使用多道脈沖幅度分析器來檢測所
色能譜進(jìn)行數(shù)字濾波技術(shù)和k滑處理、能量標(biāo)定、解;普等技術(shù)處理， 可以將包含散射射線的連續(xù)光滑的本底譜濾掉，從而減小散射射線對 放射性物質(zhì)監(jiān)測的影響。所述的數(shù)字濾波技術(shù)包括多種形式，如設(shè)計 一個高通低阻濾波器F()用來轉(zhuǎn)換能譜，如Bj-F(Ai) i = 1, 2， 3, ...1024,此處Ai為原始獲取能譜，Bj為經(jīng)濾波能譜。由于探測 器測量射線的能量分辨是固定和已知的(通過刻度)，因此所選濾波 器的頻譜是已知的。利用上述數(shù)字濾波技術(shù)補充檢測低限的設(shè)置，可 以降低解譜和尋峰、峰識別的難度。
本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以想到將使用重金屬材料對X射線的屏蔽方 案應(yīng)用于各個實施例中。以及，可以將以上設(shè)置屏蔽體和設(shè)置檢測低 限等實施方式單獨和組合使用。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員還可以在不脫 離本發(fā)明整體構(gòu)思的條件下想出各種變型和替換方案，其都在本申請 的保護(hù)范圍之內(nèi)。術(shù)語"包括/包含"并不排除所列元件/步驟之外的 元件/步驟，"一個/一種，，不排除包含多個的情況。
權(quán)利要求1.一種用于對被檢物體進(jìn)行放射性物質(zhì)探測和X光輻射檢測的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括X光檢測設(shè)備，用于對被檢物體進(jìn)行X光輻射成像檢查；放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備，與所述X光檢測設(shè)備相鄰放置，用于檢測所述被檢物體發(fā)出的放射性射線；其特征在于，所述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備在其檢測能區(qū)內(nèi)設(shè)置用于區(qū)分所檢測到的由所述X光檢測設(shè)備發(fā)出的X光射線所處的能量區(qū)和由所述被檢物體發(fā)出的放射性射線所處的能量區(qū)的檢測低限，并檢測高于所述檢測低限能量區(qū)內(nèi)的射線計數(shù)或能譜。
2. 如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其中所述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備通過 單道計數(shù)器來檢測高于所述檢測低限的能量區(qū)內(nèi)的射線計數(shù)。
3、如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備通過 多道脈沖幅度分析器來檢測高于所述檢測低限的能量區(qū)內(nèi)的射線能 譜。
4. 如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中所述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備通過 數(shù)字濾波處理來過濾所述X光檢測設(shè)備發(fā)出的X光射線對能譜造成的 奇變效應(yīng)。
5. 如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中所述數(shù)字濾波處理包括利用高 通低阻濾波器來轉(zhuǎn)換能譜。
6. 如權(quán)利要求1-5中任一項所述的系統(tǒng)，其中所述檢測低限是通 過數(shù)字電路根據(jù)能量范圍限制以及靈敏度要求動態(tài)設(shè)置的。
專利摘要本實用新型涉及放射性物質(zhì)探測和X光輻射檢測領(lǐng)域，提供了一種用于在同一地點同時進(jìn)行放射性物質(zhì)探測和X光輻射檢測的系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中兩種檢測必須分開進(jìn)行的問題。本實用新型的集成系統(tǒng)包括X光檢測設(shè)備，用于對被檢物體進(jìn)行X光輻射成像檢查；放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備，與所述X光檢測設(shè)備相鄰放置，用于檢測所述被檢物體發(fā)出的放射性射線；所述放射性物質(zhì)監(jiān)測設(shè)備在其檢測能區(qū)內(nèi)設(shè)置用于區(qū)分所檢測到的由所述X光檢測設(shè)備發(fā)出的X光射線所處的能量區(qū)和由所述被檢物體發(fā)出的放射性射線所處的能量區(qū)的檢測低限，并檢測高于所述檢測低限的能區(qū)內(nèi)的能量。本實用新型實現(xiàn)了兩種檢測設(shè)備的緊湊集成，大大節(jié)約了空間、時間資源。
文檔編號G01N23/00GK201196636SQ200820079460
公開日2009年2月18日 申請日期2008年3月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月18日
發(fā)明者君 呂, 王小兵, 苗高峰, 蒲中奇, 宇 賀, 崑 趙, 喆 辛, 明 阮 申請人:同方威視技術(shù)股份有限公司