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      一種檢測(cè)接觸式ic卡讀寫器電氣特性的設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):6036658閱讀:205來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:一種檢測(cè)接觸式ic卡讀寫器電氣特性的設(shè)備的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器設(shè)備領(lǐng)域,特別涉及一種檢測(cè)接觸式IC卡讀寫
      器電氣特性的設(shè)備。
      背景技術(shù)
      近年來(lái)隨著IC卡技術(shù)的不斷發(fā)展,IC卡以其安全性卨、存儲(chǔ)量大、使用方便快捷、多
      功能等諸多特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于銀行、商業(yè)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、通訊、安全、醫(yī)療、保險(xiǎn)、交通
      和社會(huì)公共事業(yè)收費(fèi)等多種領(lǐng)域,人人便利了人們的生活。相應(yīng)的,與IC卡密不可分的讀寫 器也越來(lái)越受到重視,IC卡讀寫器能夠給IC卡和PC機(jī)提供一個(gè)經(jīng)濟(jì)、通用、安全的界面, 并適用于多種PC接口。目前,IC卡讀寫器分為接觸式讀寫器和非接觸式讀寫器,其中,常
      用的是接觸式讀'與器,由于其技術(shù)相對(duì)比較成熟,現(xiàn)在很多行業(yè)如金融、通訊等己經(jīng)廣泛應(yīng) 用接觸式讀寫器技術(shù)并存在大量的基礎(chǔ)設(shè)施。
      接觸式讀寫器通過(guò)卡座的機(jī)械觸點(diǎn)為IC卡提供電源并進(jìn)行通訊,能讀寫符合ISO 7816 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的IC卡,接觸式讀寫器依據(jù)ISO 7816國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)與TC P之間的信息交換、通訊 協(xié)議。在接觸式讀寫器讀取不同的IC卡時(shí),如果IC卡性能不好會(huì)直接影響接觸式讀寫器性 能的發(fā)揮,比如拉低讀寫器的輸出電流,嚴(yán)重的還會(huì)導(dǎo)致讀寫器工作不正常或者設(shè)備損壞等。 目前,接觸式讀寫器的一些電氣特性(如電壓值、電流值、頻率及其他電氣特性)只是理論 上的一個(gè)數(shù)值,在接觸式讀寫器的生產(chǎn)、測(cè)試或使用過(guò)程當(dāng)中,檢測(cè)其實(shí)際上能否達(dá)到理論 值的方法卻很少,也無(wú)法清楚了解接觸式讀寫器能在什么范圍內(nèi)保持正常的丁作狀態(tài)。

      實(shí)用新型內(nèi)容
      為了能夠準(zhǔn)確的檢測(cè)到接觸式讀寫器的電壓值、電流值和頻率值的電氣特性,本實(shí)用新 型提供了一種使用方便、檢測(cè)效率高的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,所采用的技
      術(shù)方案為
      一種檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是包括控制模塊、通訊模塊、測(cè)量 模塊、顯示模塊和電源模塊,其中所述通訊模塊和控制模塊相迕,提供與接觸式讀寫器進(jìn)行交互的通訊接口;所述測(cè)量模塊和通訊模塊相連,檢測(cè)接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息; 所述控制模塊和測(cè)量模塊相連,獲取測(cè)量模塊檢測(cè)到接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息,或 利用獲取的測(cè)量模塊檢測(cè)到的信息計(jì)算得到接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息;所述顯示模 塊和控制模塊相連,將控制模塊獲取到或計(jì)算出的電氣特性參數(shù)信息顯示輸出;所述電源模 塊分別與控制模塊、通訊模塊、測(cè)量模塊和顯示模塊相連,為所述設(shè)備供電。
      所述測(cè)量模塊具體為電壓檢測(cè)模塊,所述電壓檢測(cè)模塊為AD采集模塊,檢測(cè)接觸式讀 寫器的電壓值,并將采集到的通訊模塊的電壓值進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換。
      所述測(cè)量模塊具體為測(cè)頻模塊,測(cè)量通訊模塊的CLK頻率值。
      所述測(cè)頻模塊與所述控制模塊集成在一個(gè)控制芯片上。
      所述測(cè)頻模塊還包括峰值整理單元,用于整理采集到的CLK頻率的峰值為穩(wěn)定的頻率峰值。
      所述控制模塊還包括模擬負(fù)載單元,用于利用測(cè)頻模塊檢測(cè)到的CLK頻率值模擬與所述 接觸式讀寫器相連的接觸式IC卡的APDU禾n/或ATR數(shù)據(jù)流。
      所述測(cè)量模塊具體為電流檢測(cè)模塊,所述電流測(cè)量模塊包括AD采集模塊和電流轉(zhuǎn)換模 塊,電流轉(zhuǎn)換模塊分別與通訊模塊和AD采集模塊連接,AD采集模塊還與控制模塊連接,所 述電流轉(zhuǎn)換模塊將檢測(cè)到的通訊模塊的電流值轉(zhuǎn)換為電壓值,AD采集模塊將采集到的電流 轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后的電壓值進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電壓值數(shù)字量,所述控制模塊獲取所述 AD采集模塊轉(zhuǎn)換得到的電壓值數(shù)字量,計(jì)算出相應(yīng)的電流值。
      所述AD采集模塊為獨(dú)立的AD轉(zhuǎn)換芯片或與所述控制模塊集成在同一個(gè)控制芯片上。
      所述測(cè)量模塊具體為下述四種電路之一
      1) 電壓檢測(cè)模塊、測(cè)頻模塊和功能選擇模塊,所述電壓檢測(cè)模塊和測(cè)頻檢測(cè)分別與通訊 模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與所述控制模塊相連,用于選定需要檢測(cè)的接觸式 讀寫器的電氣特性為電壓或頻率;
      2) 電壓檢測(cè)模塊、電流檢測(cè)模塊和功能選擇模塊,所述電壓檢測(cè)模塊和電流檢測(cè)分別與 通訊模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與所述控制模塊相連,用于選定需要檢測(cè)的接 觸式讀寫器的電氣特性為電壓或電流;
      3) 測(cè)頻模塊、電流檢測(cè)模塊和功能選擇模塊,所述測(cè)頻模塊和電流檢測(cè)模塊分別與通訊 模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與所述控制模塊相連,用于選定需要檢測(cè)的接觸式 讀寫器的電氣特性為頻率或電流;
      4) 電壓檢測(cè)模塊、測(cè)頻模塊、電流檢測(cè)模塊和功能選擇模塊,所述電壓檢測(cè)模塊、測(cè)頻 模塊和電流檢測(cè)模塊分別與通訊模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與所述控制模塊相連,用于選定需要檢測(cè)的接觸式讀寫器的電氣特性為電壓、頻率或電流。
      所述電壓檢測(cè)模塊具體為AD采集模塊,電流檢測(cè)模塊具體為AD采集模塊與電流轉(zhuǎn)換
      模塊串聯(lián)電路。
      所述控制模塊為控制芯片。
      所述通訊模塊為模擬IC卡觸點(diǎn)組,包括VCC、 RST、 CLK、 IO和GND五個(gè)觸點(diǎn)。
      所述顯示模塊具體為顯示裝置,所述顯示裝置為液晶顯示屏、段碼顯示器、點(diǎn)陣顯示器、 字符顯示器、圖像顯示器或指針盤。
      所述電源模塊為USB接口、電池或太陽(yáng)能供電裝置。
      所述電流轉(zhuǎn)換模塊由電流轉(zhuǎn)換芯片和電阻組成,所述電流轉(zhuǎn)換芯片,用于檢測(cè)電流值并 將電流值轉(zhuǎn)換為與電流值成正比的電壓值,所述電阻,用于改變負(fù)載得到不同的電流值。
      所述測(cè)頻模塊為頻率檢測(cè)元件,所述頻率檢測(cè)元件具體由定時(shí)器、計(jì)數(shù)器和計(jì)算器組成, 其中,定時(shí)器用于測(cè)量采集CLK頻率的時(shí)間長(zhǎng)度,計(jì)數(shù)器用于對(duì)采集到的CLK脈沖進(jìn)行計(jì) 數(shù)得到計(jì)數(shù)值,計(jì)算器用于利用定時(shí)器測(cè)量的時(shí)間長(zhǎng)度值和計(jì)數(shù)器計(jì)得的計(jì)數(shù)值計(jì)算CLK的 頻率值。
      所述峰值整理單元具體為OC門電路,用于選擇得到多種不同的CLK頻率峰值,整理 CLK頻率的峰值為穩(wěn)定的峰值。
      所述功能選擇模塊為功能按鈕裝置或選擇開關(guān)。
      有益效果本實(shí)用新型一種檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,為檢測(cè)接觸式讀寫 器的電氣特性提供了使用非常便捷的設(shè)備,使得在接觸式讀寫器的生產(chǎn)、測(cè)試或使用過(guò)程當(dāng) 中,不僅能檢測(cè)到讀寫器是否能達(dá)到電氣特性的理論值,還能準(zhǔn)確了解讀寫器在什么范圍內(nèi) 保持正常的工作狀態(tài)。另外,本實(shí)用新型一種檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備檢測(cè)到 的結(jié)果還可以作為檢査接觸式讀寫器性能的一個(gè)參數(shù),因此能夠極大提高檢測(cè)接觸式讀寫器 電氣特性的工作效率,非常適合在生產(chǎn)測(cè)試等場(chǎng)合應(yīng)用。


      圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例3的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例4的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例5的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖6是本實(shí)用新型實(shí)施例6的電路原理圖。
      具體實(shí)施方式

      為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施 方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。 實(shí)施例l
      參見圖l,檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,該設(shè)備包括控制模塊101、通訊
      模塊102、測(cè)量模塊103、顯示模塊104和電源模塊105;
      通訊模塊102和控制模塊101相連,用于為控制模塊101提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行
      交互的通訊接口;
      測(cè)量模塊103和通訊模塊102相連,用于檢測(cè)接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息; 控制模塊101和測(cè)量模塊103相連,用于獲取測(cè)量模塊103檢測(cè)到接觸式讀寫器的電氣
      特性參數(shù)信息,或利用獲取的測(cè)量模塊檢測(cè)到的信息計(jì)算得到接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)
      信息;
      顯示模塊104和控制模塊101相連,用于將控制模塊101獲取到或計(jì)算出的電氣特性參 數(shù)信息顯示輸出;
      電源模塊105分別與控制模塊101、通訊模塊102、測(cè)量模塊103和顯示模塊104相連, 用于為上述模塊供電。
      具體的,控制模塊101為以單片機(jī)為核心的控制芯片。
      通訊模塊102為模擬IC卡觸點(diǎn)組,包括VCC、 RST、 CLK、 10和GND五個(gè)觸點(diǎn),用于 為控制模塊101提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行交互的通訊接口。
      本實(shí)用新型提供的顯示模塊104為顯示裝置,例如液晶顯示屏、段碼顯示器、點(diǎn)陣顯示 器、字符顯示器、圖像顯示器或指針盤等,顯示模塊104通過(guò)能夠輸出的信號(hào)量格式進(jìn)行顯示。
      優(yōu)選的,本實(shí)施例中的電源模塊105以USB接口方式供電,也可以是其它方式,例如電 池、太陽(yáng)能供電裝置等。
      測(cè)量模塊103具體為電壓檢測(cè)模塊、測(cè)頻模塊、電流檢測(cè)模塊,分別為AD采集模塊、 測(cè)頻模塊、AD采集模塊與電流轉(zhuǎn)換模塊串聯(lián)電路,用于檢測(cè)接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù) 信息,其中電氣特性包括電壓值、電流值、頻率值或其他電氣特性,在控制模塊101模擬負(fù) 載單元的控制下,還可以進(jìn)行模擬負(fù)載,模擬與接觸式讀寫器相連的接觸式IC卡的APDU 和/或ATR數(shù)據(jù)流,在實(shí)際應(yīng)用中,還可以利用檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備進(jìn)行 EMV卡短路測(cè)試。實(shí)施例2
      參見圖2,檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,用于檢測(cè)接觸式讀寫器的電壓值, 該設(shè)備包括控制模塊201、通訊模塊202、電壓檢測(cè)模塊203、顯示模塊204和電源模塊205, 本實(shí)施例中電壓檢測(cè)模塊203具體為AD采集模塊;
      通訊模塊202和控制模塊201相連,用于為控制模塊201提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行 交互的通訊接口;
      AD采集模塊203和通訊模塊202相連,用于將采集到的通訊模塊202的電壓值進(jìn)行模/ 數(shù)轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電壓值數(shù)字量;
      控制模塊201和AD采集模塊203相連,用于獲取AD采集模塊203轉(zhuǎn)換得到的電壓值 數(shù)字量;
      顯示模塊204和控制模塊201相連,用于將控制模塊201獲取到的電壓值數(shù)字量顯示輸
      出;
      電源模塊205分別與控制模塊201、通訊模塊202、 AD采集模塊203和顯示模塊204相 連,用于為上述模塊供電。
      AD采集模塊203可以與控制模塊201集成在一個(gè)控制芯片上。 具體的,控制模塊201為以單片機(jī)為核心的控制芯片。
      通訊模塊202為模擬IC卡觸點(diǎn)組,包括VCC、 RST、 CLK、 10和GND五個(gè)觸點(diǎn),用于 為控制模塊201提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行交互的通訊接口 。
      AD采集模塊203為A/D轉(zhuǎn)換芯片,用于對(duì)通訊模塊202 VCC觸點(diǎn)上提供的電壓值進(jìn)行 模/數(shù)轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電壓值數(shù)字量,并將電壓數(shù)字量發(fā)送至控制模塊201,控制模塊201 將結(jié)果發(fā)送至顯示模塊204,顯示模塊204以能夠輸出的信號(hào)量格式顯示出來(lái)。
      本實(shí)用新型提供的顯示模塊204可以是顯示裝置,例如液晶顯示屏、段碼顯示器、點(diǎn)陣 顯示器、字符顯示器、圖像顯示器或指針盤等,顯示模塊204通過(guò)能夠輸出的信號(hào)量格式進(jìn) 行顯示。
      作為優(yōu)選的,本實(shí)施例中的電源模塊205是USB接口方式供電,也可以是其它方式,例 如電池、太陽(yáng)能供電裝置等。
      實(shí)施例3
      參見圖3,檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,用于檢測(cè)接觸式讀寫器的CLK頻 率值,該設(shè)備包括控制模塊301、通訊模塊302、測(cè)頻模塊303、顯示模塊304和電源模塊305;
      通訊模塊302和控制模塊301相連,用于為控制模塊301提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行 交互的通訊接口;
      測(cè)頻模塊303和通訊模塊302相連,用于測(cè)量通訊模塊302提供的接觸式讀寫器的CLK 頻率值;
      控制模塊301和測(cè)頻模塊303相連,用于獲取測(cè)頻模塊303測(cè)量到的CLK頻率值; 顯示模塊304和控制模塊301相連,用于將控制模塊301獲取到的CLK頻率值顯示輸出; 電源模塊305分別與控制模塊301、通訊模塊302、測(cè)頻模塊303和顯示模塊304相連, 用于為上述模塊供電。
      測(cè)頻模塊303可以與控制模塊301集成在一個(gè)控制芯片上。
      測(cè)頻模塊303還包括峰值整理單元,用于整理采集到的CLK頻率的峰值為穩(wěn)定的頻率峰值。
      進(jìn)一步的,控制模塊301還包括模擬負(fù)載單元,用于利用測(cè)頻模塊檢測(cè)到的CLK頻率值 模擬與接觸式讀寫器相連的接觸式IC卡的APDU和/或ATR數(shù)據(jù)流。 具體的,控制模塊301為以單片機(jī)為核心的控制芯片。
      通訊模塊302為模擬IC卡觸點(diǎn)組,包括VCC、 RST、 CLK、 IO和GND五個(gè)觸點(diǎn),用于 為控制模塊301提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行交互的通訊接口 。
      測(cè)頻模塊303為頻率檢測(cè)元件,用于從通訊模塊302 CLK觸點(diǎn)上獲得一定時(shí)間段的頻率 數(shù),頻率檢測(cè)元件可以由定時(shí)器、計(jì)數(shù)器和計(jì)算器組成,計(jì)數(shù)器用于對(duì)采集到的CLK脈沖進(jìn) 行計(jì)數(shù)得到計(jì)數(shù)值,定時(shí)器用于測(cè)量采集CLK頻率的時(shí)間長(zhǎng)度,計(jì)算器用于利用定時(shí)器測(cè)量 的時(shí)間長(zhǎng)度值和計(jì)數(shù)器計(jì)得的計(jì)數(shù)值計(jì)算得到CLK頻率值。
      測(cè)頻模塊303還包括峰值整理單元,峰值整理單元具體為OC門電路,用于選擇得到多 種不同的CLK頻率峰值,整理CLK頻率的峰值為穩(wěn)定的峰值,以便保護(hù)控制模塊301。
      本實(shí)用新型提供的顯示模塊304可以是顯示裝置,例如液晶顯示屏、段碼顯示器、點(diǎn)陣 顯示器、字符顯示器、圖像顯示器或指針盤等,顯示模塊304通過(guò)能夠輸出的信號(hào)量格式進(jìn) 行顯示。
      作為優(yōu)選的,本實(shí)施例中的電源模塊305是USB接口方式供電,也可以是其它方式,例 如電池、太陽(yáng)能供電裝置等。
      實(shí)際應(yīng)用中,測(cè)頻模塊303和控制模塊301的模擬負(fù)載單元還可以進(jìn)行模擬負(fù)載,模擬 與接觸式讀寫器相連的接觸式IC卡的APDU和ATR數(shù)據(jù)流。測(cè)頻模塊303從通訊模塊302 CLK觸點(diǎn)上獲得一定時(shí)間段的頻率數(shù),根據(jù)f=N/T計(jì)算得到CLK頻率值,并將CLK頻率值結(jié)果發(fā)送至控制模塊301,控制模塊301根據(jù)1 etu = F/DX 1/f計(jì)算出基本時(shí)間單位letu的 值,參數(shù)F和D分別是時(shí)鐘率轉(zhuǎn)換因子和波特率調(diào)整因子。在電路輸入/輸出上使用的etu依 賴于傳輸因子F和D的實(shí)際值,etu應(yīng)等于F/D時(shí)鐘周期。 為計(jì)算etu, F和D因子對(duì)應(yīng)當(dāng)采用下面三對(duì)值
      Fi和Di,按ATR在TA1中指示的值;如果TA1不存在,則Fi和Di設(shè)為缺省值; Fd和Dd,缺省值為372和1;
      Fn和Dn,在Fd到Fi和Dd到Di范圍里成功的PPS交換所協(xié)商的值。 控制模塊301的模擬負(fù)載單元依據(jù)letu的值可以從通訊模塊302 IO觸點(diǎn)上讀取與接觸式 讀寫器相連的接觸式IC卡的APDU,或模擬并發(fā)送APDU和ATR數(shù)據(jù)流給接觸式讀寫器, 還可以將讀取到或模擬的APDU和ATR數(shù)據(jù)流發(fā)送至顯示模塊304進(jìn)行顯示。
      實(shí)施例4
      參見圖4,檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,用于檢測(cè)接觸式讀寫器的電流值, 該設(shè)備包括控制模塊401、通訊模塊402、電流檢測(cè)模塊403、顯示模塊404和電源模塊405, 電流檢測(cè)模塊403包括電流轉(zhuǎn)換模塊4031和AD采集模塊4032;
      通訊模塊402和控制模塊401相連,用于為控制模塊401提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行 交互的通訊接口;
      電流轉(zhuǎn)換模塊4031和通訊模塊402相連,用于將檢測(cè)到的通訊模塊402的電流值轉(zhuǎn)換為 電壓值;
      AD采集模塊4032和電流轉(zhuǎn)換模塊4031相連,用于將采集到的電流轉(zhuǎn)換模塊4031轉(zhuǎn)換 后的電壓值進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電壓值數(shù)字量;
      控制模塊401和AD采集模塊4032相連,用于獲取AD采集模塊4032轉(zhuǎn)換得到的電壓 值數(shù)字量,計(jì)算出相應(yīng)的電流值;
      顯示模塊404和控制模塊401相連,用于將控制模塊401計(jì)算出的電流值顯示輸出;
      電源模塊405分別與控制模塊401、通訊模塊402、電流轉(zhuǎn)換模塊4031、 AD采集模塊 4032和顯示模塊404相連,用于為上述模塊供電。
      AD采集模塊4032可以與控制模塊401集成在一個(gè)控制芯片上。
      具體的,控制模塊401為以單片機(jī)為核心的控制芯片。
      通訊模塊402為模擬IC卡觸點(diǎn)組,包括VCC、 RST、 CLK、 10和GND五個(gè)觸點(diǎn),用于 為控制模塊401提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行交互的通訊接口 。
      電流轉(zhuǎn)換模塊4031為電流轉(zhuǎn)換芯片和電阻,電流轉(zhuǎn)換芯片用于檢測(cè)通訊模塊402 VCC觸點(diǎn)上提供的電流值,并將該電流值轉(zhuǎn)換為與電流值成正比的電壓值,發(fā)送至AD采集模塊 4032,電阻用于改變負(fù)載得到不同的電流值。
      AD采集模塊4032為A/D轉(zhuǎn)換芯片,用于對(duì)電流轉(zhuǎn)換模塊4031提供的電壓值進(jìn)行模/數(shù) 轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電壓值數(shù)字量,并將電壓數(shù)字量發(fā)送至控制模塊401,控制模塊401計(jì)算 出相應(yīng)的電流值并將結(jié)果發(fā)送至顯示模塊404,顯示模塊404以能夠輸出的信號(hào)量格式顯示 出來(lái)。
      本實(shí)用新型提供的顯示模塊404可以是顯示裝置,例如液晶顯示屏、段碼顯示器、點(diǎn)陣 顯示器、字符顯示器、圖像顯示器或指針盤等,顯示模塊404通過(guò)能夠輸出的信號(hào)量格式進(jìn)
      行顯示。
      作為優(yōu)選的,本實(shí)施例中的電源模塊405是USB接口方式供電,也可以是其它方式,例 如電池、太陽(yáng)能供電裝置等。
      實(shí)施例5
      參見圖5,檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,該設(shè)備包括控制模塊501、通訊 模塊502、電流轉(zhuǎn)換模塊5031、 AD采集模塊5032、測(cè)頻模塊5033、顯示模塊504、電源模 塊505和功能選擇模塊506;
      通訊模塊502和控制模塊501相連,用于為控制模塊501提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行 交互的通訊接口;
      AD采集模塊5032分別與電流轉(zhuǎn)換模塊5031和通訊模塊502相連,用于將采集到的通 訊模塊502的電壓值或者電流轉(zhuǎn)換模塊5031轉(zhuǎn)換后的電壓值進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電 壓值數(shù)字量;
      電流轉(zhuǎn)換模塊5031和通訊模塊502相連,用于將檢測(cè)到的通訊模塊502的電流值轉(zhuǎn)換為 電壓值;
      測(cè)頻模塊5033和通訊模塊502相連,用于測(cè)量通訊模塊502提供的接觸式讀寫器的CLK 頻率值;
      控制模塊501分別與AD采集模塊5032、測(cè)頻模塊5033和功能選擇模塊506相連,用 于獲取AD采集模塊5032轉(zhuǎn)換得到的電壓值數(shù)字量,或利用獲取的電壓值數(shù)字量計(jì)算出相應(yīng) 的電流值,或獲取測(cè)頻模塊5033測(cè)量到的CLK頻率值,或獲取功能選擇模塊506選定的對(duì) 接觸式讀寫器需要檢測(cè)的電氣特性;
      顯示模塊504和控制模塊501相連,用于將控制模塊501獲取或計(jì)算出到的電壓值數(shù)字 量、CLK頻率值或電流值顯示輸出;電源模塊505分別和控制模塊501、通訊模塊502、電流轉(zhuǎn)換模塊5031、 AD采集模塊 5032、測(cè)頻模塊5033、顯示模塊504和功能選擇模塊506相連,用于為上訴模塊供電。
      AD采集模塊5032和測(cè)頻模塊5033中的至少一個(gè)模塊可以與控制模塊501集成在一個(gè) 控制芯片上。
      具體的,控制模塊501為以單片機(jī)為核心的控制芯片。
      通訊模塊502為模擬IC卡觸點(diǎn)組,包括VCC、 RST、 CLK、 10和GND五個(gè)觸點(diǎn),用于 為控制模塊501提供與接觸式讀寫器之間進(jìn)行交互的通訊接口 。
      電流轉(zhuǎn)換模塊5031為電流轉(zhuǎn)換芯片和電阻,電流轉(zhuǎn)換芯片用于檢測(cè)通訊模塊402 VCC 觸點(diǎn)上提供的電流值,并將該電流值轉(zhuǎn)換為與電流值成正比的電壓值,發(fā)送至AD采集模塊 5032,電阻用于改變負(fù)載得到不同的電流值。
      AD采集模塊5032為A/D轉(zhuǎn)換芯片,用于對(duì)電流轉(zhuǎn)換模塊5031或通訊模塊5033 VCC 觸點(diǎn)上提供的電壓值進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電壓值數(shù)字量,并將電壓數(shù)字量發(fā)送至控制 模塊501,控制模塊501將電壓值數(shù)字量或計(jì)算出相應(yīng)的電流值結(jié)果發(fā)送至顯示模塊504,顯 示模塊504以能夠輸出的信號(hào)量格式顯示出來(lái)。
      測(cè)頻模塊5033為頻率檢測(cè)元件,用于從通訊模塊502 CLK觸點(diǎn)上獲得一定時(shí)間段的頻 率數(shù),頻率檢測(cè)元件可以由定時(shí)器、計(jì)數(shù)器和計(jì)算器組成,計(jì)數(shù)器用于對(duì)采集到的CLK脈沖 進(jìn)行計(jì)數(shù)得到計(jì)數(shù)值,定時(shí)器用于測(cè)量采集CLK頻率的時(shí)間長(zhǎng)度,計(jì)算器用于利用定時(shí)器測(cè) 量的時(shí)間長(zhǎng)度值和計(jì)數(shù)器計(jì)得的計(jì)數(shù)值計(jì)算得到CLK頻率值。
      測(cè)頻模塊5033還包括峰值整理單元,峰值整理單元具體為OC門電路,用于選擇得到多 種不同的CLK頻率峰值,整理CLK頻率的峰值為穩(wěn)定的峰值,以便保護(hù)控制模塊501。
      本實(shí)用新型提供的顯示模塊504可以是顯示裝置,例如液晶顯示屏、段碼顯示器、點(diǎn)陣 顯示器、字符顯示器、圖像顯示器或指針盤等,顯示模塊504通過(guò)能夠輸出的信號(hào)量格式進(jìn) 行顯示。
      作為優(yōu)選的,本實(shí)施例中的電源模塊505是USB接口方式供電,也可以是其它方式,例 如電池、太陽(yáng)能等。
      功能選擇模塊506可以由功能按鈕裝置實(shí)現(xiàn),也可以由選擇開關(guān)實(shí)現(xiàn),通過(guò)選擇連通功 能選擇模塊506中的其中一個(gè)電路,用于為控制模塊501提供選定的需要檢測(cè)的接觸式讀寫 器的電氣特性。作為優(yōu)選的,本實(shí)施例中的功能選擇模塊506由功能按鈕裝置來(lái)實(shí)現(xiàn),當(dāng)用 功能按鈕連通某一通路時(shí),其它通路同時(shí)切斷,這時(shí),接觸式讀寫器的某個(gè)電氣特性被選定 進(jìn)行檢測(cè)。實(shí)施例6
      圖6為檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備的一種優(yōu)選電路圖,其中,主控芯片 C8051F344是控制模塊,USB—SOCKET-A是電源模塊,功能按鈕裝置KEY1-4是功能選擇模 塊,電流轉(zhuǎn)換芯片MAX471和電阻R12-20是電流轉(zhuǎn)換模塊,模擬IC卡觸點(diǎn)組HEADER 5X2 是通訊模塊,A/D轉(zhuǎn)換芯片是AD采集模塊,頻率檢測(cè)元件7407和OC門電路是測(cè)頻模塊, LCD液晶屏HG240128B是顯示模塊。主控芯片C8051F344通過(guò)VCC和GND與 USB—SOCKET-A供電接口相連,用于為主控芯片供電,主控芯片C8051F344通過(guò)P3.0-P3.3 和功能按鈕裝置KEY1-4相連,電流轉(zhuǎn)換芯片MAX471和電阻R12-20串聯(lián)在主控芯片 C8051F344的P2.1和模擬IC卡觸點(diǎn)組HEADER 5X2的VCC觸點(diǎn)上,用于檢測(cè)模擬IC卡觸 點(diǎn)組HEADER 5X2的VCC觸點(diǎn)上提供的電流值,并將該電流值轉(zhuǎn)換為與電流值成正比的電 壓值,發(fā)送至A/D轉(zhuǎn)換芯片,其中A/D轉(zhuǎn)換芯片與主控芯片集成在一個(gè)主控芯片上,主控芯 片C8051F344通過(guò)管腳P2.0與模擬IC卡觸點(diǎn)組HEADER 5X2的VCC觸點(diǎn)相連,通過(guò)該觸 點(diǎn),A/D轉(zhuǎn)換芯片可直接采集電壓值,并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換后將得到的電壓值數(shù)字量輸出至主控 芯片,主控芯片C8051F344通過(guò)P0.7和頻率檢測(cè)元件7407相連,頻率檢測(cè)元件7407和模擬 IC卡觸點(diǎn)組HEADER 5X2的CLK觸點(diǎn)相連,用于從CLK觸點(diǎn)上采集到穩(wěn)定的頻率峰值的 CLK頻率,并計(jì)算出CLK頻率值后輸出給主控芯片,在主控芯片C8051F344的控制下,可 以計(jì)算出所測(cè)得的電流值,由C8051F344的P4.0-P4.7端口將電流值、CLK頻率值和電壓數(shù) 字量輸出至LCD液晶屏HG240128B的D0-D7端口 ,由LCD液晶屏HG240128B將上述數(shù)據(jù) 值顯示輸出。
      本實(shí)用新型提供的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備的測(cè)量模塊具體為AD采集模 塊、測(cè)頻模塊、電流檢測(cè)模塊中至少兩個(gè)的組合,相應(yīng)的,還設(shè)置有功能選擇模塊,用于選 定需要檢測(cè)的接觸式讀寫器的電氣特性為電壓、電流或頻率。其中,在控制模塊的控制下, 控制模塊的模擬負(fù)載單元和測(cè)頻模塊還可以進(jìn)行模擬負(fù)載,利用測(cè)頻模塊檢測(cè)到的CLK頻率 值模擬與接觸式讀寫器相連的接觸式IC卡的APDU和/或ATR數(shù)據(jù)流,實(shí)際應(yīng)用中,本領(lǐng)域 的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型提供的不同測(cè)量模塊進(jìn)行組合使用,組合的連接關(guān)系可以參考 實(shí)施例2、實(shí)施例3、實(shí)施例4及實(shí)施例5。
      本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種簡(jiǎn)單方便的檢測(cè)接觸式讀寫器的電氣特性的一種檢測(cè)接觸 式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,克服了在讀寫器的生產(chǎn)、測(cè)試或使用過(guò)程當(dāng)中,不能快捷直 觀的檢測(cè)到讀寫器是否能達(dá)到電氣特性的理論值,不能準(zhǔn)確了解讀寫器在什么范圍內(nèi)保持正 常的工作狀態(tài)。另外,本實(shí)用新型實(shí)施例提供的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備檢測(cè) 到的結(jié)果可以作為檢査讀寫器性能的一個(gè)參數(shù),極大地提高了檢測(cè)接觸式讀寫器電氣特性的工作效率,非常適合在生產(chǎn)測(cè)試等場(chǎng)合應(yīng)用。
      以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例,并不用以限制本實(shí)用新型的權(quán)利范圍,凡在本 實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的 保護(hù)范圍之內(nèi)。
      權(quán)利要求1、一種檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是包括控制模塊、通訊模塊、測(cè)量模塊、顯示模塊和電源模塊,其中所述通訊模塊和控制模塊相連,提供與接觸式讀寫器進(jìn)行交互的通訊接口;所述測(cè)量模塊和通訊模塊相連,檢測(cè)接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息;所述控制模塊和測(cè)量模塊相連,獲取測(cè)量模塊檢測(cè)到接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息,或利用獲取的測(cè)量模塊檢測(cè)到的信息計(jì)算得到接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息;所述顯示模塊和控制模塊相連,將控制模塊獲取到或計(jì)算出的電氣特性參數(shù)信息顯示輸出;所述電源模塊分別與控制模塊、通訊模塊、測(cè)量模塊和顯示模塊相連,為所述設(shè)備供電。
      2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述測(cè)量 模塊具體為電壓檢測(cè)模塊,所述電壓檢測(cè)模塊為AD采集模塊,檢測(cè)接觸式讀寫器的電壓值, 并將采集到的通訊模塊的電壓值進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換。
      3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述測(cè)量 模塊具體為測(cè)頻模塊,測(cè)量通訊模塊的CLK頻率值。
      4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述測(cè)頻 模塊與所述控制模塊集成在 一個(gè)控制芯片上。
      5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述測(cè)頻 模塊還包括峰值整理單元,用于整理采集到的CLK頻率的峰值為穩(wěn)定的頻率峰值。
      6、 根據(jù)權(quán)利要求3或5所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述 控制模塊還包括模擬負(fù)載單元,用于利用測(cè)頻模塊檢測(cè)到的CLK頻率值模擬與所述接觸式讀 寫器相連的接觸式IC卡的APDU和/或ATR數(shù)據(jù)流。
      7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述測(cè)量 模塊具體為電流檢測(cè)模塊,所述電流測(cè)量模塊包括AD采集模塊和電流轉(zhuǎn)換模塊,電流轉(zhuǎn)換 模塊分別與通訊模塊和AD采集模塊連接,AD采集模塊還與控制模塊連接,所述電流轉(zhuǎn)換模 塊將檢測(cè)到的通訊模塊的電流值轉(zhuǎn)換為電壓值,AD采集模塊將采集到的電流轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換 后的電壓值進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,得到對(duì)應(yīng)的電壓值數(shù)字量,所述控制模塊獲取所述AD采集模塊 轉(zhuǎn)換得到的電壓值數(shù)字量,計(jì)算出相應(yīng)的電流值。
      8、 根據(jù)權(quán)利要求2或7所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述 AD采集模塊為獨(dú)立的AD轉(zhuǎn)換芯片或與所述控制模塊集成在同一個(gè)控制芯片上。
      9、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述測(cè)量模塊具體為下述四種電路之一1) 電壓檢測(cè)模塊、測(cè)頻模塊和功能選擇模塊,所述電壓檢測(cè)模塊和測(cè)頻檢測(cè)分別與 通訊模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與所述控制模塊相連,用于選定需 要檢測(cè)的接觸式讀寫器的電氣特性為電壓或頻率;2) 電壓檢測(cè)模塊、電流檢測(cè)模塊和功能選擇模塊,所述電壓檢測(cè)模塊和電流檢測(cè)分 別與通訊模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與所述控制模塊相連,用于選 定需要檢測(cè)的接觸式讀寫器的電氣特性為電壓或電流;3) 測(cè)頻模塊、電流檢測(cè)模塊和功能選擇模塊,所述測(cè)頻模塊和電流檢測(cè)模塊分別與 通訊模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與所述控制模塊相連,用于選定需 要檢測(cè)的接觸式讀寫器的電氣特性為頻率或電流;4) 電壓檢測(cè)模塊、測(cè)頻模塊、電流檢測(cè)模塊和功能選擇模塊,所述電壓檢測(cè)模塊、 測(cè)頻模塊和電流檢測(cè)模塊分別與通訊模塊和控制模塊連接,所述功能選擇模塊與 所述控制模塊相連,用于選定需要檢測(cè)的接觸式讀寫器的電氣特性為電壓、頻率 或電流。
      10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述電壓 檢測(cè)模塊具體為AD采集模塊,電流檢測(cè)模塊具體為AD采集模塊與電流轉(zhuǎn)換模塊串聯(lián)電路。
      11、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述控制 模塊為控制芯片。
      12、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述通訊 模塊為模擬IC卡觸點(diǎn)組,包括VCC、 RST、 CLK、 IO和GND五個(gè)觸點(diǎn)。
      13、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述顯示 模塊具體為顯示裝置,所述顯示裝置為液晶顯示屏、段碼顯示器、點(diǎn)陣顯示器、字符顯示器、 圖像顯示器或指針盤。
      14、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述電源 模塊為USB接口、電池或太陽(yáng)能供電裝置。
      15、 根據(jù)權(quán)利要求7或10所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所 述電流轉(zhuǎn)換模塊由電流轉(zhuǎn)換芯片和電阻組成,所述電流轉(zhuǎn)換芯片,用于檢測(cè)電流值并將電流 值轉(zhuǎn)換為與電流值成正比的電壓值,所述電阻,用于改變負(fù)載得到不同的電流值。
      16、 根據(jù)權(quán)利要求3或9所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述 測(cè)頻模塊為頻率檢測(cè)元件,所述頻率檢測(cè)元件具體由定時(shí)器、計(jì)數(shù)器和計(jì)算器組成,其中, 定時(shí)器用于測(cè)量采集CLK頻率的時(shí)間長(zhǎng)度,計(jì)數(shù)器用于對(duì)采集到的CLK脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)得到計(jì)數(shù)值,計(jì)算器用于利用定時(shí)器測(cè)量的時(shí)間長(zhǎng)度值和計(jì)數(shù)器計(jì)得的計(jì)數(shù)值計(jì)算CLK的頻率 值。
      17、 根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述峰值 整理單元具體為OC門電路,用于選擇得到多種不同的CLK頻率峰值,整理CLK頻率的峰值為穩(wěn)定的峰值。
      18、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備,其特征是所述功能 選擇模塊為功能按鈕裝置或選擇開關(guān)。
      專利摘要一種使用方便、檢測(cè)效率高的檢測(cè)接觸式IC卡讀寫器電氣特性的設(shè)備。技術(shù)方案是包括控制模塊、通訊模塊、測(cè)量模塊、顯示模塊和電源模塊,其中通訊模塊和控制模塊相連,提供與接觸式讀寫器進(jìn)行交互的通訊接口;測(cè)量模塊和通訊模塊相連,檢測(cè)接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息;控制模塊和測(cè)量模塊相連,獲取測(cè)量模塊檢測(cè)到接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息,或利用獲取的測(cè)量模塊檢測(cè)到的信息計(jì)算得到接觸式讀寫器的電氣特性參數(shù)信息;顯示模塊和控制模塊相連,將控制模塊獲取到或計(jì)算出的電氣特性參數(shù)信息顯示輸出;電源模塊分別與控制模塊、通訊模塊、測(cè)量模塊和顯示模塊相連,為所述設(shè)備供電。
      文檔編號(hào)G01R31/00GK201251610SQ20082011034
      公開日2009年6月3日 申請(qǐng)日期2008年9月8日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月8日
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