專利名稱：在線鋁膜測厚裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及測量裝置，特別是一種在線鋁膜測厚裝置。
背景技術(shù)：
巻繞式真空鍍膜機(jī)在透明塑料薄膜上鍍一層鋁膜，物理厚度約在
200A° 500A°之間，也可用間接方法表達(dá)厚度，即在鋁膜表面每平方厘米的電阻值來表達(dá)膜厚(也稱方塊電阻)， 一般在0. 5 4 Q /cm2范圍內(nèi)。
具體鍍膜方法是在真空環(huán)境中，有收巻及放巻輥筒，薄膜大約以300米/S的速度，從放巻輥巻繞到收巻輥上，在二輥筒中間的下方有一個金屬鋁的加熱蒸發(fā)源，將鋁蒸鍍到薄膜上，這樣邊巻邊鍍直至整巻膜鍍完。
薄膜的寬度從1米 2米，為了保證整個幅面的鍍層的均勻性及規(guī)定厚度，故需要一個量化厚度的在線測厚工具。

實用新型內(nèi)容
為克服上述已有技術(shù)的不足，本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種在線鋁膜測厚裝置，該裝置可以在鍍鋁膜的同時，在線測量鍍層的厚度，實時顯示厚度的測量值。
本實用新型在線鋁膜測厚裝置的工作原理是
薄膜厚層方塊電阻在0.5 4Q/cm2之間時，薄膜有一定的透光度。鍍層厚，透光度低，方塊電阻就小，鍍層薄透光度高，方塊電阻就大，測量薄膜的光線透過率可知道鍍層的厚度。
3本實用新型的技術(shù)方案是
一種在線鋁膜測厚裝置，包括檢測傳感器模塊、計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊、數(shù)據(jù)顯示模塊；
該檢測傳感器模塊的輸出端將電信號輸出至該計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸入端，所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸出端將厚度數(shù)據(jù)輸出至所述
的數(shù)據(jù)顯示模塊的輸入端；
所述的檢測傳感器模塊包括多組兩兩對應(yīng)的紅外光發(fā)射頭和紅外光接收頭。
所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊和所述的數(shù)據(jù)顯示模塊通過RS232串行口相連。
所述的每組紅外光發(fā)射頭和紅外光接收頭兩頭相對，距離lOmm。所述的紅外光接收頭使用選頻放大器及帶通濾器,將光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸出。
所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的CPU是AM89S52，還包括A/D轉(zhuǎn)換器、匪禾口國。
所述的數(shù)據(jù)顯示模塊是HITECH PWS6600C-P液晶顯示器。所述的數(shù)據(jù)顯示模塊用直方圖的方式，將一個幅面的厚度數(shù)據(jù)顯示在屏幕上。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是
本新型在線鋁膜測厚裝置能夠在巻繞式鍍膜機(jī)鍍鋁膜的同時，在線測量鍍層的厚度，實時顯示厚度的測量值，從而控制鋁蒸發(fā)量來達(dá)到膜層的均勻性及厚度要求。
本新型在線鋁膜測厚裝置包括多組發(fā)射接收頭組成一行，可對整個幅面進(jìn)行測量，并與一行多個蒸發(fā)源相對應(yīng)。
為使本新型在線鋁膜測厚裝置具有抗干擾能力，不受其他光線影響，故使用紅外脈沖調(diào)制光發(fā)射原理，接收端使用選頻放大器及帶通濾器，以減少雜散光干擾，取得厚度信號。


圖1是本新型在線鋁膜測厚裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型的具體實施方式
做進(jìn)一步詳細(xì)
的說明，但不應(yīng)以此限制本實用新型的保護(hù)范圍。
請參閱圖1本新型在線鋁膜測厚裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。本新型在線鋁膜
測厚裝置由三部分組成
(1) 檢測傳感器模塊這部分安裝在真空室中，該檢測傳感器模塊的輸出端將電信號輸出至該計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸入端，從而將光信號轉(zhuǎn)換成厚度電信號后，傳送到真空室外。
該檢測傳感器模塊包括多組兩兩對應(yīng)的紅外光發(fā)射頭和紅外光接收頭。每組紅外光發(fā)射頭和紅外光接收頭兩頭相對，距離約10mm。
(2) 計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊:將真空室內(nèi)傳出的厚度電信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，然后用計算機(jī)程度中數(shù)學(xué)模型對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到厚度數(shù)據(jù)。
該計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸出端將厚度數(shù)據(jù)輸出至所述的數(shù)據(jù)顯示模塊的輸入端；所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊和所述的數(shù)據(jù)顯示模塊通過RS232串行口相連。
所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的CPU是AM89S52，還包括A/D轉(zhuǎn)換器、R0M、 RAM和I/O 口 。
(3) 數(shù)據(jù)顯示模塊
得到厚度數(shù)據(jù)，經(jīng)串行RS232 口轉(zhuǎn)入液晶顯示屏，用直方圖的方式，將一個幅面的厚度數(shù)據(jù)顯示在屏幕上。
所述的數(shù)據(jù)顯示模塊可以采用HITECH PWS6600C-P液晶顯示器。本新型在線鋁膜測厚裝置的具體工作方法是
在線鋁膜測厚裝置有一個紅外光發(fā)射頭、和一個紅外光接收頭，兩頭相對，距離約10mm。薄膜從中間通過，紅外光發(fā)射頭發(fā)射的紅外光穿過薄膜，被紅外光接收頭接收。鍍層的厚度變化會引起光線透過率的變化，紅外光接收頭收到的紅外光也隨之變化，最后接收頭將光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸出。
一對測量頭只能測量一個點，為了對整個幅面進(jìn)行測量，故用多組發(fā)射接收頭組成一行，可對整個幅面進(jìn)行測量，并與一行多個蒸發(fā)源相對應(yīng)。
為使在線鋁膜測厚裝置具有抗干擾能力，不受其他光線影響，故使用紅外脈沖調(diào)制光發(fā)射原理，接收端使用選頻放大器及帶通濾器，以減少雜散光干擾，取得厚度信號。
由于光透過率與膜厚之間有大比例非線性現(xiàn)象，為此在儀器的計算機(jī)程序中對采集的厚度信號進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，即用計算機(jī)數(shù)學(xué)模型對十幾路信號進(jìn)行運(yùn)算得到修正的膜厚數(shù)據(jù)，再經(jīng)過計算機(jī)通訊口，在液晶顯示器上顯示各路膜厚的直方圖。
以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并非用來限定本實用新型的實施范圍。即凡依本實用新型申請專利范圍的內(nèi)容所作的等效變化與修飾，都應(yīng)為本實用新型的技術(shù)范疇。
權(quán)利要求1、一種在線鋁膜測厚裝置，其特征在于包括檢測傳感器模塊、計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊、數(shù)據(jù)顯示模塊，該檢測傳感器模塊的輸出端將電信號輸出至該計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸入端，所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸出端將厚度數(shù)據(jù)輸出至所述的數(shù)據(jù)顯示模塊的輸入端；所述的檢測傳感器模塊包括多組兩兩對應(yīng)的紅外光發(fā)射頭和紅外光接收頭。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的在線鋁膜測厚裝置，其特征在于所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊和所述的數(shù)據(jù)顯示模塊通過RS232串行口相連。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的在線鋁膜測厚裝置，其特征在于所述的每組紅外光發(fā)射頭和紅外光接收頭兩頭相對，距離10mm。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的在線鋁膜測厚裝置，其特征在于所述的紅外光接收頭使用選頻放大器及帶通濾器，將光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸出。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的在線鋁膜測厚裝置，其特征在于所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的CPU是AM89S52，還包括A/D轉(zhuǎn)換器、R0M和RAM。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的在線鋁膜測厚裝置，其特征在于所述的數(shù)據(jù)顯示模塊是HITECH PWS6600C-P液晶顯示器。
專利摘要本實用新型公開了一種在線鋁膜測厚裝置，包括檢測傳感器模塊、計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊、數(shù)據(jù)顯示模塊；該檢測傳感器模塊的輸出端將電信號輸出至該計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸入端，所述的計算機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊的輸出端將厚度數(shù)據(jù)輸出至所述的數(shù)據(jù)顯示模塊的輸入端；所述的檢測傳感器模塊包括多組兩兩對應(yīng)的紅外光發(fā)射頭和紅外光接收頭。本新型在線鋁膜測厚裝置可以在鍍鋁膜的同時，在線測量鍍層的厚度，實時顯示厚度的測量值，從而控制鋁蒸發(fā)量來達(dá)到膜層的均勻性及厚度要求。
文檔編號G01B11/06GK201273814SQ20082015053
公開日2009年7月15日 申請日期2008年7月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月4日
發(fā)明者夏積祥 申請人:上海曙光機(jī)械制造廠有限公司