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      一種三坐標(biāo)測量儀的輔助支架的制作方法

      文檔序號:6039244閱讀:338來源:國知局
      專利名稱:一種三坐標(biāo)測量儀的輔助支架的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實用新型涉及一種三坐標(biāo)測量儀,尤其涉及一種三坐標(biāo)測量儀輔助支架。
      背景技術(shù)
      一些產(chǎn)品有形位公差的要求,而這些形位公差一般都建立在一些基準(zhǔn)之上,
      在產(chǎn)品前期開發(fā)階段沒有檢具來驗證產(chǎn)品是否合格的情況下,通常選擇CMM (三坐標(biāo))來測量產(chǎn)品是否合格,而采用CMM測量,則需要制造支架來輔助 測量,這里的三坐標(biāo)測量儀輔助支架適合用于有兩個或兩個以上嵌件,形位公 差又建立在以嵌件位置度為基準(zhǔn)的相關(guān)塑膠產(chǎn)品測量,塑膠產(chǎn)品必定存在嵌件 位置度偏差,產(chǎn)品出模后會有一個自然收縮的過程,為了將產(chǎn)品能夠順利安裝 上輔助支架,必須避開產(chǎn)品嵌件的位置度偏差,當(dāng)前,會選擇將嵌件的位置度 偏差體現(xiàn)在輔助支架裝配軸上,此時以嵌件位置度為基準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差 測量就會因為基準(zhǔn)裝配間隙過大導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確,無法正確判斷產(chǎn)品是否合格。

      實用新型內(nèi)容
      本實用新型針對現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供了一種結(jié)構(gòu)簡單,讓測量更準(zhǔn)確 的三坐標(biāo)測量儀輔助支架。
      為了解決上述技術(shù)問題,本實用新型通過下述技術(shù)方案得以解決 一種三坐標(biāo)測量儀的輔助支架,包含底板,第一裝配軸、第二裝配軸,第 一固定塊,第二固定塊,所述底板上分別設(shè)置有第一固定塊、第二固定塊,所 述第一固定塊,第二固定塊上分別設(shè)置有第一裝配軸、第二裝配軸,其要點是,所述第二裝配軸固定端與第二固定塊配合孔之間有間隙,由于采用了裝配軸可 相對移動的技術(shù)方案,嵌件位置度合格的產(chǎn)品便能順利裝上裝配軸,由于裝配 軸與嵌件內(nèi)孔配合部分直徑按照嵌件內(nèi)孔理論最小值加工,換句話說,此技術(shù) 方案充分考慮了嵌件的位置度,又減小了裝配軸與嵌件內(nèi)孔之間的裝配間隙, 使以嵌件位置度為基準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差測量更準(zhǔn)確,數(shù)據(jù)更可靠。
      上述技術(shù)方案中,所述間隙為0.3mm。
      有益效果本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有如下有益效果
      1) 本實用新型采用一個裝配軸固定,另一個裝配軸可相對移動的技術(shù)方案, 嵌件位置度合格的產(chǎn)品便能順利裝上裝配軸,待測產(chǎn)品安裝后,由于裝配軸與 嵌件內(nèi)孔配合部分直徑按嵌件內(nèi)孔理論最小值加工,換句話說,此技術(shù)方案充 分考慮了嵌件的位置度偏差,又減小了裝配軸與嵌件內(nèi)孔之間的裝配間隙,使 以嵌件位置度為基準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差測量更準(zhǔn)確,數(shù)據(jù)更可靠。
      2) 本實用新型還可用于產(chǎn)品上嵌件的位置度與嵌件內(nèi)孔尺寸的快速檢驗,
      簡單準(zhǔn)確。

      圖1三坐標(biāo)測量儀的輔助支架的主視圖
      圖2為圖1中的A-A向視圖 圖3為圖1中的B-B向視圖
      圖4為三坐標(biāo)測量儀的輔助支架的立體圖具體實施方式
      以下結(jié)合附圖與具體實施方式
      對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述 見圖1 圖4,所述三坐標(biāo)測量儀的輔助支架主要由底架l,裝配軸、固定 塊等構(gòu)成。
      所述底板1上分別設(shè)置有第二固定塊5,第一固定塊3,所述第二固定塊5 上設(shè)置有第二裝配軸4,所述第一固定塊3上設(shè)置有第一裝配軸2。所述第二裝 配軸4與第二固定塊5之間有間隙,第二裝配軸4固定端在第二固定塊5配合 孔內(nèi)可相對移動,便于待測產(chǎn)品的安裝,這樣一來,第一裝配軸2,第二裝配軸 4的軸直徑就可按嵌件內(nèi)孔最小理論尺寸加工,減小了基準(zhǔn)裝配的間隙誤差。
      優(yōu)選的,所述第二裝配軸4固定端與第二固定塊5配合孔之間存在的間隙 便是圖紙要求產(chǎn)品嵌件位置度偏差的最大值,待測產(chǎn)品能否安裝上三坐標(biāo)測量 儀輔助測量支架,即可判斷產(chǎn)品上嵌件位置度是否合格。合格后,再進(jìn)行以嵌 件位置度為基準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差測量。
      由于采用了裝配軸可相對移動的技術(shù)方案,能方便的對嵌件位置度合格的 產(chǎn)品進(jìn)行測量,由于裝配軸與嵌件內(nèi)孔配合部分直徑按嵌件內(nèi)孔理論最小值加 工,換句話說,此技術(shù)方案充分考慮了嵌件的位置度偏差,又減小了裝配軸與 嵌件內(nèi)孔之間的裝配間隙,使以嵌件位置度為基準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差測量更 準(zhǔn)確,數(shù)據(jù)更可靠。
      現(xiàn)以實際數(shù)據(jù)來說明
      現(xiàn)有技術(shù)中待測產(chǎn)品兩嵌件的位置度為00.15,嵌件內(nèi)孔為07士0.05, 那么第一裝配軸2、第二裝配軸4嵌件內(nèi)孔配合部分直徑會選擇做成06.8 (不 考慮制造公差),計算公式如下(7_0.05) _0.15=6.8,如果裝配軸與嵌件內(nèi) 孔配合部分直徑不做成06.8,會導(dǎo)致產(chǎn)品在三坐標(biāo)輔助測量支架上很難裝配,但要是裝配軸與嵌件內(nèi)孔配合部分直徑做成了 06.8,同樣會因為嵌件內(nèi)孔與裝 配軸之間裝配間隙過大,導(dǎo)致以產(chǎn)品嵌件位置度為基準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差測 量數(shù)據(jù)不可靠。
      本實用新型第一裝配軸2,第二裝配軸4軸直徑按產(chǎn)品上嵌件內(nèi)孔理論最
      小值加工,做成06.95 (07—0.05=06.95),將圖紙要求產(chǎn)品上嵌件位置度偏 差的最大值全部體現(xiàn)到第二裝配軸4的固定端上,第一裝配軸2與第一固定塊3 正常配合。比如第二裝配軸4固定端軸直徑做成0 6,第二固定塊5與第二裝配 軸4固定端的配合孔直徑就要做成06.3, (06.3 — 06.0=00.3,產(chǎn)品上兩嵌件 的位置度疊加0 0.15+ 0 0.15= 0 0.3),使第二裝配軸4固定端可以在第二固定 塊5配合孔內(nèi)進(jìn)行上下左右四個方向上的移動,既考慮了產(chǎn)品上嵌件位置度存 在的偏差,又減小了嵌件內(nèi)孔與裝配軸之間的裝配間隙,使以嵌件位置度為基 準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差測量數(shù)據(jù)更可靠。
      雖然本實用新型已經(jīng)通過優(yōu)選實施例進(jìn)行了描述,然而本實用新型并非局 限于這里所描述的實施例,在不脫離本實用新型范圍的情況下還包括所作出的 各種改變以及變化。
      權(quán)利要求1、一種三坐標(biāo)測量儀的輔助支架,包含底板(1),第一裝配軸(2)、第二裝配軸(4),第一固定塊(3),第二固定塊(5),所述底板(1)上分別設(shè)置有第一固定塊(3)、第二固定塊(5),所述第一固定塊(3),第二固定塊(5)上分別設(shè)置有第一裝配軸(2)、第二裝配軸(4),其特征在于,所述第二裝配軸(4)固定端與第二固定塊(5)配合孔之間有間隙(6)。
      2、 如權(quán)利要求1所述的三坐標(biāo)測量儀的輔助支架,其特征在于,所述間隙 (6)為0.3mm。
      專利摘要本實用新型公開了一種三坐標(biāo)測量儀輔助支架,其結(jié)構(gòu)包含底板,第一裝配軸、第二裝配軸,第一固定塊,第二固定塊,所述底板上分別設(shè)置有第一固定塊、第二固定塊,所述第一固定塊,第二固定塊上分別設(shè)置有第一裝配軸、第二裝配軸,其要點是,所述第二裝配軸固定端與第二固定塊配合孔之間有間隙,由于采用了裝配軸可相對移動的技術(shù)方案,嵌件位置度合格的產(chǎn)品便能順利裝上裝配軸,由于裝配軸與嵌件內(nèi)孔配合部分直徑按照嵌件內(nèi)孔理論最小值加工,換句話說,此技術(shù)方案充分考慮了嵌件的位置度,又減小了裝配軸與嵌件內(nèi)孔之間的裝配間隙,使以嵌件位置度為基準(zhǔn)的產(chǎn)品其他形位公差測量更準(zhǔn)確,測量數(shù)據(jù)更可靠。
      文檔編號G01B5/008GK201259408SQ20082016347
      公開日2009年6月17日 申請日期2008年9月1日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月1日
      發(fā)明者國 沈 申請人:寧波均勝汽車電子股份有限公司
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