專利名稱：：一種半導體致冷組件的試驗裝置的制作方法
技術領域：
：本實用新型涉及一種半導體致冷組件的試驗裝置，更具體地說是涉及半導體冰箱主要電器零部件的試驗裝置。
背景技術：
：對于半導體冰箱家電產品，進行關鍵零部件的可靠性試—瞼是非常有必要的。試驗結果是否有效取決于3個方面試驗方法(多特性應力的仿真程度決定方法)的正確度。試驗手段(多特性應力的自動化程度、模擬精度決定試驗手段)的有效度。試驗技術的先進程度(控制手段可編程性，試驗觀察、記錄的自動化程度)。通常的試驗手段有兩種，一是采用半導體冰箱整機試驗；二是直接用半導體致冷組件進行模擬試驗。半導體水箱整機試驗模擬用戶使用情況，在特定的環(huán)境中連續(xù)致冷或致熱，依靠試驗過程觀測溫度.功率曲線圖判定整機的性能變化情況；對于半導體致冷組件試驗時熱面溫度《8(TC的限定條件則靠限溫器來保護。不具備電致冷、電致熱交變壽命試驗、電耐久性壽命試驗條件1)半導體致冷組件在較短的時間內頻繁的改變電源極性，會使散熱器上的限溫器常常處于超溫保護狀態(tài)，影響試^^效果。2)用較大的散熱器，熱面溫度小于8(TC同樣影響試驗效果。3)半導體致冷組件生產廠要求在工作參數(shù)下，熱端的溫度必須低于80。C，(含改變電流方向冷端變成熱端)。否則由于熱端溫度太高，極易造成器件短路或斷纜使致冷器報廢。
實用新型內容針對現(xiàn)有^t支術的缺點，本實用新型的目的是提供一種可靠性高、試驗結果準確的半導體致冷組件的試^r裝置。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型的技術方案為一種半導體致冷組件的試-瞼裝置，包括內裝有水的試驗容器、對試驗容器水的溫度進行調控的水溫調控系統(tǒng)、置于試-驗容器內的半導體致冷組件、與水溫調控系統(tǒng)及半導體致冷組件連接的試l^控制器，水溫調控系統(tǒng)將試驗中的半導體致冷組件控制于一溫度范圍內，試-驗控制器對半導體致冷組件進行極性切換、通電及斷電循環(huán)控制，并利用一電腦測試儀纟全測試驗結果。該試驗控制器包括電源、脈沖信號源及中間繼電器，電源的正極通過一中間繼電器的常開觸點連接至半導體致冷組件的正極，半導體致冷組件的負極分別連接至電源負極及通過另-一中間繼電器的常開觸點連接至電源正極，脈沖信號源用于控制中間繼電器的常開觸點的閉合或斷開。8個中間繼電器組成D0D7脈沖分配矩陣，半導體致冷組件的數(shù)量為4，電源的正極分別通過中間繼電器DO~D3的常開觸點與半導體致冷組件的正才及連接，半導體致冷組件的負極連接至電源負極，半導體致冷組件的負極還分別通過中間繼電器D4~D7的常開觸點與電源的正才及連接。該水溫調控系統(tǒng)包括設于試驗容器內的加熱器及溫度傳感器，且該加熱器及溫度傳感器與試驗控制器連接。該水溫調控系統(tǒng)還包括冷卻水源及"i殳于冷卻水源內的第一水泵，該第一水泵通過管道與試驗容器連通，且該第一水泵與試-瞼控制器連接，冷卻水源由冷凍拒自身的制冷系統(tǒng)和外接增冷壓縮^/L的蒸發(fā)器對冷拒內水進^f亍制冷形成。該試驗容器還設有一與試驗控制器連接的水位開關，該水位開關檢測到試驗容器缺水時，則啟動設于冷卻水源中的第二水泵補水。與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的試驗裝置，在控制半導體致冷組件的熱面溫度后，使得半導體致冷組件的快速模擬可靠性試驗條件可行，并利用電源、脈沖信號源及多個中間繼電器組成的脈沖分配矩陣，對組件正向通電、斷電，再反向通電、斷電，并循環(huán)多次試驗，試驗控制器通過對水溫調控系統(tǒng)的控制從而可產生溫度不同的試驗工況，通過調整脈沖信號源發(fā)出信號的脈沖寬度調整組件極性切換的特性，故該試驗過程適用性強，具有良好的控制效果，試驗結果準確。圖1為本實用新型半導體致冷組件極性控制的原理示意圖；圖2為本實用新型半導體致冷組件的試驗裝置的結構示意圖。具體實施方式本實用新型的電致冷、電致熱交變壽命試驗裝置按試驗條件進行供電極性的切換、通電時間的控制、循環(huán)次數(shù)計數(shù)，致冷組件熱面溫度的工況控制。如圖1及圖2所示，一種半導體致冷組件的試驗裝置，包括內裝有水的試驗容器、對試驗容器水的溫度進行調控的水溫調控系統(tǒng)、置于試驗容器內的半導體致冷組件、與水溫調控系統(tǒng)及半導體致冷組件連接的試驗控制器，水溫調控系統(tǒng)將半導體致冷組件控制于一溫度范圍內，試-險控制器對半導體致冷組件進行極性切換、通電及斷電循環(huán)控制，并利用一電腦測試儀檢測試驗結果。。該試驗控制器包括電源、脈沖信號源及多個中間繼電器，電源的正極通過一中間繼電器的常開觸點連接至半導體致冷組件的正極，半導體致冷組件的負極分別連接至電源負極及通過另一中間繼電器的常開觸點連接至電源正極，脈沖信號源用于控制中間繼電器的開通或關閉。8個中間繼電器組成D0D7脈沖分配矩陣，半導體致冷組件的數(shù)量為4，電源的正才及分別通過中間繼電器DO~D3的常開觸點與半導體致冷組件的正^l連接，半導體致冷組件的負極連接至電源負極，半導體致冷組件的負極還分別通過中間繼電器D4~D7的常開觸點與電源的正才及連才妻。該水溫調控系統(tǒng)包括設于試驗容器內的加熱器及溫度傳感器，且該加熱器及溫度傳感器與試驗控制器連接。該水溫調控系統(tǒng)還包括冷卻水源及設于冷卻水源內的第一水泵，該第一水泵通過管道與試-瞼容器連通，且該第一水泵與試驗控制器連接，冷卻水源由冷凍拒自身的制冷系統(tǒng)和外接增冷壓縮機的蒸發(fā)器對冷拒內水進行制冷形成，用于保證冷卻水源的溫度與試-瞼容器中水溫有較大的溫差置換空間。試驗裝置為防止因試驗過程中容器缺水造成被試驗半導體致冷組件的損壞，該試驗容器還設有一與試驗控制器連接的水位開關，該水位開關檢測到試驗容器缺水時，則啟動設于冷卻水源中的第二水泵補水，保證試驗容器內的水容積。試驗控制器通過設于內部的4^定掃描電路、8位LED顯示器進行按鍵操作，輸入用戶按試驗條件編制的功能命令；通過采樣外部輸入溫度模擬量用于試驗容器內的水溫控制、采樣外部輸入水位開關位置信號用于試^^容器水位控制。另外，本實用新型還提供了一種半導體致冷組件的試驗方法，其包括以下步驟'a.將半導體致冷組件置于裝有水的試^^容器內，利用水溫調控系統(tǒng)將半導體致冷組件控制于一溫度范圍內；b.利用試驗控制器對半導體致冷組件進行極性切換、通電及斷電循環(huán)控制；c.檢測半導體致冷組件的電阻、最大溫差變化范圍是否小于或等于試驗前的10%,是則合格，否則不合格。上述半導體致冷組件的溫度控制在65。C-8(TC，并利用電源、脈沖信號源及多個中間繼電器組成的脈沖分配矩陣，對組件正向通電、斷電，再反向通電、斷電，并循環(huán)多次。中間繼電器的數(shù)量為8，組成D0D7脈沖分配矩陣，利用脈沖信號源對中間繼電器D0-D7進4亍序列控制，當對中間繼電器DO、Dl、D2、D3時序控制時，分別對應為半導體致冷組件E1、E2、E3、E4正向通電6S,當對中間繼電器D4、D5、D6、D7時序控制時，分別為半導體致冷組件E1E4反向通電6S，組件El在中間繼電器DO時序控制下正向通電6秒后，在中間繼電器Dl、D2、D3時序控制時組件El停電18秒，中間繼電器D4反向通電6秒后，在中間繼電器D5、D6、D7時序控制時組件El再停電18秒，以此類推組件E2、E3、E4在中間繼電器D1、D2、D3及中間繼電器D5、D6、D7的時序控制下完成一個極性切換周期。試驗控制器根據(jù)設定溫度，通過控制冷卻水源中的第一水泵及試^r容器內6的加熱器，來達到試驗過程中半導體致冷組件的熱面溫度控制在65。C8(TC之間。另外，試-險過程中還可通過對致冷組件通電電流的^見測，了解致冷組件工作狀態(tài)。通過本實用新型的實踐證明，本裝置控制準確，而且試驗數(shù)據(jù)真實可靠，對照以前的可靠性試驗手段，具有顯著的效果和突出的進步。下面列出三種半導體致冷產品的試驗結果，如表1^2所示，其中表1為致冷組件電致冷、電致熱交變壽命試驗前后性能^^t對比，表2為試驗結果。<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>表21#12704致冷組件的試驗結果最大溫差變化范圍等于試驗前26.8%、，變化大于10%的驗收標準，不合格。3#12705致冷組件的試驗結果最大溫差變化范圍等于試驗前的26%，變化大于ioy。的-險收標準，不合格。12706致冷組件試驗結果最大溫差變化范圍小于或等于10%的驗收標準，合格。權利要求1、一種半導體致冷組件的試驗裝置，其特征在于包括內裝有水的試驗容器、對試驗容器水的溫度進行調控的水溫調控系統(tǒng)、置于試驗容器內的半導體致冷組件、與水溫調控系統(tǒng)及半導體致冷組件連接的試驗控制器，水溫調控系統(tǒng)將試驗中的半導體致冷組件控制于一溫度范圍內，試驗控制器對半導體致冷組件進行極性切換、通電及斷電循環(huán)控制，并利用一電腦測試儀檢測試驗結果。2、根據(jù)權利要求1所述的半導體致冷組件的試驗裝置，其特征在于該試驗控制器包括電源、脈沖信號源及中間繼電器，電源的正極通過一中間繼電器的常開觸點連接至半導體致冷組件的正極，半導體致冷組件的負極分別連接至電源負極及通過另一中間繼電器的常開觸點連接至電源正極，脈沖信號源用于控制中間繼電器的常開觸點的閉合或斷開。3、沖艮據(jù)權利要求2所述的半導體致冷組件的試驗裝置，其特征在于8個中間繼電器組成DO~D7脈沖分配矩陣，半導體致冷組件的數(shù)量為4,電源的正極分別通過中間繼電器DO~D3的常開觸點與半導體致冷組件的正極連接，半導體致冷組件的負極連接至電源負極，半導體致冷組件的負極還分別通過中間速電器D4D7的常開觸點與電源的正極連接。4、根據(jù)權利要求l所述的半導體致冷組件的試驗裝置，其特征在于該水溫調控系統(tǒng)包括設于試驗容器內的加熱器及溫度傳感器，且該加熱器及溫度傳感器與試驗控制器連接。5、根據(jù)權利要求4所述的半導體致冷組件的試驗裝置，其特征在于該水溫調控系統(tǒng)還包括冷卻水源及設于冷卻水源內的第一水泵，該第一水泵通過管道與試-驗容器連通，且該第一水泵與試驗控制器連接，冷卻水源由冷凍拒自身的制冷系統(tǒng)和外接增冷壓縮才幾的蒸發(fā)器對冷柜內水進行制冷形成。6、根據(jù)權利要求l所述的半導體致冷組件的試驗裝置，其特征在于該試驗容器還設有一與試驗控制器連接的水位開關，該水位開關檢測到試驗容器缺水時，則啟動設于冷卻水源中的第二水泵補水。專利摘要本實用新型公開了一種半導體致冷組件的試驗裝置，其包括內裝有水的試驗容器、對試驗容器水的溫度進行調控的水溫調控系統(tǒng)、置于試驗容器內的半導體致冷組件、與水溫調控系統(tǒng)及半導體致冷組件連接的試驗控制器，水溫調控系統(tǒng)將半導體致冷組件控制于一溫度范圍內，試驗控制器對半導體致冷組件進行極性切換、通電及斷電循環(huán)控制，并利用一電腦測試儀檢測試驗結果。本實用新型可靠性高、試驗結果準確。文檔編號G01R31/00GK201281735SQ20082020256公開日2009年7月29日申請日期2008年10月28日優(yōu)先權日2008年10月28日發(fā)明者鮑德君申請人:海信科龍電器股份有限公司;海信容聲(廣東)冰箱有限公司