專利名稱：計(jì)算的斷層攝影檢查的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本申請(qǐng)總的涉及成像系統(tǒng)。雖然本申請(qǐng)對(duì)于安全檢查有特定應(yīng)用， 但是其還涉及其他應(yīng)用，其中所希望的是獲得指示被檢物體內(nèi)的感興趣 材料的信息。
背景技術(shù)：
X射線計(jì)算的斷層攝影(CT)系統(tǒng)已經(jīng)用于安全檢查應(yīng)用以檢查比 如行李之類的物體從而探測(cè)該行李內(nèi)武器、爆炸物或可能造成安全威脅
的其他違禁品的存在。
常規(guī)地，CT系統(tǒng)已經(jīng)生成指示被檢查的物體的輻射衰減的體積圖像 數(shù)據(jù)。不幸的是， 一些違禁材料的福射衰減特性可能與合法材料的輻射 衰減特性相似，從而使得安全檢查任務(wù)變得復(fù)雜。
相干散射CT(CSCT)系統(tǒng)也已經(jīng)用于安全篩選應(yīng)用。這些測(cè)量彈性 x射線散射的能量和空間分布的系統(tǒng)可以例如提供對(duì)物體的分子結(jié)構(gòu)相 對(duì)更加明確的指示，從而更確定地探測(cè)違禁材料的存在。更具體地，將 被檢物體的x射線衍射圖案與存儲(chǔ)的感興趣的一種(或多種)違禁材料 和/或合法材料的一個(gè)(或多個(gè))衍射圖案相比較。該附加信息可以用 于更好地確定該物體是否包含違禁品。
Schlomka等人的美國(guó)公布2006/0083346公開(kāi)了包括CT系統(tǒng)和CSCT
系統(tǒng)的行李檢查系統(tǒng)的實(shí)例。
雖然基于輻射衰減系數(shù)和x射線衍射圖案的檢查技術(shù)已經(jīng)用于探測(cè) 行李中違禁材料的存在，但是仍存在這樣的情況其中所希望的是獲得 關(guān)于被檢查物體的其他附加信息。
本申請(qǐng)的各個(gè)方面解決上述問(wèn)題和其他問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)一個(gè)方面， 一種方法包括探測(cè)來(lái)自x射線源的橫貫檢查區(qū)域 和其中的物體的透射輻射和來(lái)自該物體中放射性材料的發(fā)射輻射；生成 指示所探測(cè)的輻射的信號(hào)；能量分解所探測(cè)的輻射；以及處理能量分解的輻射以識(shí)別具有對(duì)應(yīng)于放射性材料的能量的探測(cè)的輻射。
根據(jù)另 一個(gè)方面， 一種系銃包括產(chǎn)生橫貫檢查區(qū)域和置于其中的物 體的透射輻射的X射線源。 一種能量分解探測(cè)器探測(cè)相干散射的透射輻 射和由該物體中的放射性材料發(fā)射的發(fā)射輻射，并且生成指示探測(cè)的輻 射的數(shù)據(jù)。 一種衍射處理器處理所述數(shù)據(jù)以生成指示相干散射輻射的衍 射圖案。 一種處理組件處理能量分解的輻射以識(shí)別具有對(duì)應(yīng)于放射性材 料的能量的探測(cè)的輻射。
根據(jù)另一方面， 一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)包括指令，當(dāng)該指令被計(jì)
算機(jī)執(zhí)行時(shí)，導(dǎo)致下列步驟探測(cè)來(lái)自x射線源的橫貫檢查區(qū)域和其中 的物體的透射輻射和來(lái)自該物體中放射性材料的發(fā)射輻射；生成指示所 探測(cè)的輻射的信號(hào)；能量分解所探測(cè)的輻射；以及處理能量分解的輻射 以識(shí)別具有對(duì)應(yīng)于放射性材料的能量的探測(cè)的輻射。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員通過(guò)閱讀并理解下面的詳細(xì)描述，將會(huì)理解本 發(fā)明的其他方面。
本發(fā)明可以具體化為各種組件和組件的布置，以及具體化為各個(gè)步 驟和步驟的安排。附圖僅僅是為了說(shuō)明優(yōu)選實(shí)施例的目的，并且不應(yīng)當(dāng) 被解釋為限制本發(fā)明。


圖1示出示范性成像系統(tǒng)； 圖2示出示范性方法。
具體實(shí)施例方式
參照?qǐng)D1,計(jì)算的斷層攝影(CT)掃描儀100包括旋轉(zhuǎn)機(jī)架(gantry) 部分104,其包圍檢查區(qū)域108的周界并繞旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)。
旋轉(zhuǎn)機(jī)架部分104支撐x-射線探測(cè)器112,該探測(cè)器112探測(cè)從檢 查區(qū)域108中發(fā)射出的輻射，該輻射包括來(lái)自x射線源116的透射輻射 (初級(jí)輻射和相干散射輻射)和來(lái)自布置在檢查區(qū)域108內(nèi)的衰變的放 射性材料或核材料的發(fā)射輻射，并且所述探測(cè)器112生成指示這些輻射 的數(shù)據(jù)或信號(hào)。準(zhǔn)直器薄片在檢查區(qū)域108內(nèi)定位于探測(cè)器112的旁邊， 以阻止源自檢查區(qū)域108外部的區(qū)中的輻射撞擊探測(cè)器112。
x射線探測(cè)器112包括通常二維的探測(cè)器元件的矩陣，所述矩陣包括通常正交于旋轉(zhuǎn)軸的探測(cè)器元件的多個(gè)行120和通常平行于旋轉(zhuǎn)軸的 探測(cè)器元件的多個(gè)列128。
在所示的實(shí)施例中，探測(cè)器112是能量分解探測(cè)器，其并行地測(cè)量 在多個(gè)能量范圍或倉(cāng)(bin)中接收到的輻射的強(qiáng)度。在一種實(shí)現(xiàn)方式 中，一個(gè)或多個(gè)倉(cāng)的能量范圍有利地對(duì)應(yīng)于由一種或多種感興趣的放射 性材料發(fā)射的衰變輻射的能量特性。
合適的能量分解探測(cè)器包括直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器，比如碲鋅鎘(CdZnTe, 或CZT)探測(cè)器或碲化鎘(CdTe)探測(cè)器，或具有能量分解能力的其他 探測(cè)器?？梢钥商娲厥褂枚鄠€(gè)閃爍或直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器或其他能量分解 技術(shù)單獨(dú)地或以組合方式實(shí)現(xiàn)探測(cè)器112。
旋轉(zhuǎn)機(jī)架部分104還支撐x射線源116,其關(guān)于^r查區(qū)域108與探 測(cè)器112相對(duì)定位。x射線源116通過(guò)旋轉(zhuǎn)機(jī)架部分104與探測(cè)器112 協(xié)調(diào)地旋轉(zhuǎn)，并且產(chǎn)生x射線輻射，當(dāng)執(zhí)行透射掃描時(shí)該x射線輻射橫 貫檢查區(qū)域108。在一個(gè)實(shí)施例中，管加速電壓有利地被設(shè)定為大約 150keV。
第一準(zhǔn)直器132準(zhǔn)直由x射線源116發(fā)射的輻射以形成大致錐形的 輻射束136,其照射探測(cè)器元件的二維矩陣。第二、可調(diào)節(jié)準(zhǔn)直器140 可定位在所述束的路徑內(nèi)以準(zhǔn)直該束從而當(dāng)希望扇形束時(shí)形成大致扇 形的束144。當(dāng)沒(méi)有要求時(shí)，第二準(zhǔn)直器140被定位以提供大致錐形的束。
對(duì)于透射掃描，x射線探測(cè)器112和x射線源116旋轉(zhuǎn)，從而使得 在至少18 0 ( 18 0 )度加扇角上獲得x射線投影。在執(zhí)行透射掃描的同時(shí)， 基本并行地探測(cè)衰變輻射。附加地或可替代地，在x射線源116關(guān)閉或 者透射輻射被阻擋而不能到達(dá)探測(cè)器112并且任選地旋轉(zhuǎn)機(jī)架部分104 且進(jìn)而探測(cè)器112停止在通常靜止的位置的同時(shí)，探測(cè)衰變輻射。
重構(gòu)器148重構(gòu)指示探測(cè)的透射(初級(jí)、相干散射，或二者)輻射 的數(shù)據(jù)以生成體積圖像數(shù)據(jù)，其包括檢查區(qū)域108的衰減系數(shù)。該圖像 數(shù)據(jù)可以進(jìn)一步被成像器150處理以生成檢查區(qū)域108的一個(gè)或多個(gè)圖 像。
衍射處理器152處理指示相干散射輻射的數(shù)據(jù)以生成檢查區(qū)域108 和其中的物體的衍射圖案。Harding的美國(guó)專利6470067討論了用于從 相干散射輻射生成x射線衍射圖案的合適技術(shù)，該專利明確地整體地在此引入以供參考。
一般地，衍射圖案由散射的X射線之間的相干性造成并且是動(dòng)量傳
遞的函數(shù)。動(dòng)量傳遞可以被估計(jì)為散射的x射線的能量與半散射角度的
正弦的乘積。從能量分解探測(cè)器獲得這樣的能量。散射角度通常是由散
射X射線的軌跡相對(duì)于在沒(méi)有散射時(shí)X射線所遵循的軌跡封閉的角度。
該角度可以從探測(cè)器元件的位置和在初級(jí)扇形束中發(fā)生散射的位置獲
3曰付。
儲(chǔ)存?zhèn)}(binner) 156儲(chǔ)存跨越具有不同能量范圍的多個(gè)能量倉(cāng)的 能量分解數(shù)據(jù)。
處理器160處理衰減系數(shù)、衍射圖案和儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)。如下面更詳細(xì) 地描述的，在一個(gè)實(shí)例中這包括處理該數(shù)據(jù)以探測(cè)放射性材料的存在以 及任選地在置于檢查區(qū)域108內(nèi)的物體中找到的武器、爆炸物、定時(shí)爆 炸裝置、以及導(dǎo)線和其他感興趣物體的材料的存在。
存儲(chǔ)器組件164存儲(chǔ)感興趣材料的已知的衰減系數(shù)、衍射圖案和能 量范圍。
物體支撐物168 (比如輸送帶)支撐并定位檢查區(qū)域108中的物體。
通用計(jì)算機(jī)用作操作員控制臺(tái)172。該控制臺(tái)172包括人可讀輸出 設(shè)備(比如監(jiān)視器或顯示器)和輸入設(shè)備(比如鍵盤(pán)和鼠標(biāo))。駐留于 該控制臺(tái)上的軟件允許操作員例如通過(guò)圖形用戶接口 (GUI)控制掃描 儀100并與之交互。
如上大體所述，探測(cè)器112可以基本并行地探測(cè)衰變輻射和相干散 射輻射。為了探測(cè)相干散射輻射，在束的路徑內(nèi)移動(dòng)第二可調(diào)節(jié)準(zhǔn)直器 140以準(zhǔn)直該束從而形成總體上呈扇形的束144。如圖1所示，該束被 準(zhǔn)直，從而使得該束撞擊探測(cè)器元件的大致中間的或中心行176。因此， 行176中的探測(cè)器元件探測(cè)初級(jí)輻射，這用于能量校正相干散射數(shù)據(jù)。 其他行的探測(cè)器元件探測(cè)相干散射輻射。
現(xiàn)在將結(jié)合圖2描述操作。在附圖標(biāo)記204處，物體(比如行李) 被放置在檢查區(qū)域108中并且能量分解探測(cè)器112探測(cè)從檢查區(qū)域108 發(fā)射出的輻射，該輻射包括來(lái)自置于檢查區(qū)域108內(nèi)的放射性材料的發(fā) 射輻射和來(lái)自x射線源116的橫貫檢查區(qū)域108的透射輻射。探測(cè)器112 的輸出指示在檢查區(qū)域108中探測(cè)到的輻射和行李，如下所述，該輸出 用于探測(cè)檢查區(qū)域108中放射性材料和違禁材料的存在。在208處，指示探測(cè)的輻射的信號(hào)是跨越多個(gè)能量倉(cāng)而儲(chǔ)存的能量。 在212處，處理儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)以確定具有大于x射線源116的加速電 壓的能量的輻射是否被探測(cè)到。這樣的輻射指示由除了 x射線源116之 外的源發(fā)射的輻射。通過(guò)實(shí)例，如上所述，所示的系統(tǒng)的管加速電壓大 約是150keV。對(duì)具有大于大約150keV的閾值能量的能量的輻射的探測(cè) 指示來(lái)自x射線源116之外的源的輻射正在發(fā)射正被探測(cè)器1U探測(cè)到 的輻射。
如果具有這樣的能量的輻射被探測(cè)到，則在216處行李被識(shí)別為包 括發(fā)射具有大于x射線源116的加速電壓的能量的輻射的放射性材料。 任選地，如下所述，可以針對(duì)發(fā)射具有小于x射線源116的加速電壓的 能量的輻射的放射性材料，進(jìn)一步檢查該行李。
如果沒(méi)有探測(cè)到具有這樣的能量的輻射(或者如果進(jìn)一步檢查具有 小于x射線源116的加速電壓的能量的輻射(如果需要))，則在220 處將具有包括感興趣的放射性材料的能量特性的能量范圍的能量倉(cāng)的 強(qiáng)度與相鄰的一個(gè)(或多個(gè))能量倉(cāng)的強(qiáng)度相比較。 一些放射性同位素 和同位素的混合發(fā)射處于不止一個(gè)能級(jí)的輻射。在這樣的情況下，將多
個(gè)能量倉(cāng)的強(qiáng)度與其他能量倉(cāng)的強(qiáng)度比較?？商娲?，可以處理儲(chǔ)存的 數(shù)據(jù)以識(shí)別具有指示感興趣的放射性材料的強(qiáng)度峰值的能量倉(cāng)。
如果對(duì)應(yīng)于對(duì)象倉(cāng)的強(qiáng)度大于相鄰的一個(gè)(或多個(gè))能量倉(cāng)的強(qiáng)度 或者如果識(shí)別了強(qiáng)度峰值，則如接下來(lái)在228處所述的進(jìn)一步檢查該行 李。否則，在226處，認(rèn)為該行李不包括放射性材料。
在228處，x射線源116被關(guān)閉或屏蔽，從而使得探測(cè)器112不能 被由x射線源116產(chǎn)生的輻射所照射。如上所述，旋轉(zhuǎn)機(jī)架部分104任 選地被停止，從而使得探測(cè)器112停止在通常靜止的位置。
在232處，能量分解探測(cè)器112探測(cè)從檢查區(qū)域108發(fā)射的輻射， 并且在236處指示能量分解的探測(cè)的輻射的信號(hào)被跨越多個(gè)能量倉(cāng)儲(chǔ) 存，每個(gè)能量倉(cāng)對(duì)應(yīng)于不同的能量范圍。
在240處，儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)被處理以確定具有感興趣的放射性材料的能 量特性的輻射是否被探測(cè)到。這包括確定具有這樣的能量的探測(cè)的輻射 是否對(duì)應(yīng)于感興趣的放射性材料的存儲(chǔ)的已知能量范圍。因?yàn)閮?chǔ)存的數(shù) 據(jù)用于確定衰變輻射的存在并且不需要空間信息，所以給定能量倉(cāng)的信 號(hào)可以被總計(jì)在一起以增加靈敏度。如果具有對(duì)應(yīng)于存儲(chǔ)的能量范圍的能量的輻射被探測(cè)到，則在244 處該物體被識(shí)別為包括放射性材料。否則認(rèn)為該物體沒(méi)有問(wèn)題(clear )。
在非法交易中令人感興趣的放射性同位素或放射性核素的實(shí)例包 括鈾-233、鈾-235、钚-239、釷-232、镅-241、鎘-109、銫-137、锎-252、 鈷-60、《衣-192、氪-85、鉛-210、鍶-90、 4雷-226和锝-99,以及感興趣 的其他同位素。
在248處，指示探測(cè)的相干散射輻射的信號(hào)被處理以生成x射線衍 射圖案。
在252處，將計(jì)算的衍射圖案與存儲(chǔ)的感興趣的已知材料的已知衍 射圖案相比較。如果計(jì)算的衍射圖案與已知的合法材料的衍射圖案的衍 射圖案相匹配，則在256處認(rèn)為該行李不包括違禁材料。否則，在260 處標(biāo)記該行李并且如果需要?jiǎng)t進(jìn)一步檢查。
如果需要，第二準(zhǔn)直器140可以適當(dāng)?shù)囟ㄎ?，從而使得形成錐形束 136而不是扇形束144。利用該配置，初級(jí)輻射連同衰變輻射一起被探 測(cè)，并且指示探測(cè)的初級(jí)輻射的信號(hào)可以被重構(gòu)以生成指示行李的輻射 衰減的圖像數(shù)據(jù)。隨后所生成的衰減數(shù)據(jù)可以與感興趣的違禁材料的存 儲(chǔ)的衰減數(shù)據(jù)比較以確定在該物體中是否存在這樣的違禁材料。
也可以考慮變型。
應(yīng)當(dāng)理解，指示探測(cè)的相干散射輻射的信號(hào)可以被重構(gòu)以生成指示 行李的輻射衰減的體積圖像數(shù)據(jù)，并且與存儲(chǔ)的感興趣的違禁材料的衰 減數(shù)據(jù)相比較以確定在檢查區(qū)域108中是否存在這樣的違禁材料。在 Schlomka等人的美國(guó)公布2006/0153328中討論了用于經(jīng)由反投影技術(shù) 重構(gòu)指示相干散射輻射的信號(hào)的合適的技術(shù)。
這里示出的示范性系統(tǒng)包括第一準(zhǔn)直器132和第二準(zhǔn)直器140，其 分別用于形成錐形束和扇形束以執(zhí)行CT掃描和CSCT掃描。在另 一個(gè)實(shí) 施例中，可以省略第一準(zhǔn)直器132,并且該掃描儀連同探測(cè)衰變輻射一 起來(lái)執(zhí)行CSCT掃描。在又一個(gè)實(shí)施例中，可以省略第二準(zhǔn)直器140,并 且該掃描儀連同探測(cè)衰變輻射一起來(lái)執(zhí)行CT掃描。
該重構(gòu)的信號(hào)也指示在檢查區(qū)域內(nèi)屏蔽材料的輻射衰減特性。因 此，通過(guò)將指示被掃描的行李的衰減系數(shù)與存儲(chǔ)的感興趣的屏蔽材料的 已知衰減系數(shù)相比較，可以在檢查區(qū)域108內(nèi)探測(cè)屏蔽材料的存在。采 樣屏蔽材料后面的物體的足夠衰變輻射所耗費(fèi)的時(shí)間量是屏蔽材料的衰減屬性的函數(shù)。因此，匹配的屏蔽材料的衰減系數(shù)可以用于確定合適 的輻射采樣時(shí)間量以允許足夠的衰變輻射通過(guò)屏蔽材料并撞擊探測(cè)器
112。
前述應(yīng)用及其變化包括但不限于，托運(yùn)和手持行李和開(kāi)艙卸貨、空 運(yùn)和海運(yùn)貨物的非破壞性成像。
已經(jīng)參照優(yōu)選實(shí)施例描述了本發(fā)明。通過(guò)閱讀和理解前述詳細(xì)描 述，其他人可以設(shè)想修改和改變。本發(fā)明意欲被解釋為包括所有這樣的 修改和改變，只要它們處于所附權(quán)利要求書(shū)或其等同物的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種方法，包括探測(cè)來(lái)自x射線源(116)的橫貫檢查區(qū)域(108)和其中的物體的透射輻射和來(lái)自該物體中的放射性材料的發(fā)射輻射；生成指示所探測(cè)的輻射的信號(hào)；能量分解所探測(cè)的輻射；以及處理該能量分解的輻射以識(shí)別具有對(duì)應(yīng)于所述發(fā)射輻射的能量的能量的探測(cè)的輻射。
2. 權(quán)利要求1的方法，其中處理所述能量分解的輻射的步驟包括識(shí) 別具有高于x射線源(116)的加速電壓的能量的輻射。
3. 權(quán)利要求l的方法，其中處理所述能量分解的輻射的步驟包括識(shí) 別具有強(qiáng)度峰值的能量倉(cāng)。
4. 權(quán)利要求1的方法，其中處理所述能量分解的輻射的步驟包括比 較具有對(duì)應(yīng)于所述放射性材料的能量范圍的能量倉(cāng)的強(qiáng)度信息與至少 一個(gè)其他能量倉(cāng)的強(qiáng)度信息。
5. 權(quán)利要求1的方法，其中處理能量分解的輻射的步驟包括計(jì)算能 量倉(cāng)之間的強(qiáng)度差。
6. 權(quán)利要求1的方法，其中探測(cè)的透射輻射包括相干散射輻射，并 且該方法進(jìn)一步包括從所述相干散射輻射生成指示所述物體的衍射圖 案，其中所述衍射圖案用于識(shí)別所述物體中的違禁品。
7. 權(quán)利要求1的方法，進(jìn)一步包括關(guān)閉x射線源(116)和阻止所 述透射輻射照射所述探測(cè)器(112)之一，同時(shí)探測(cè)所述發(fā)射輻射。
8. 權(quán)利要求1的方法，進(jìn)一步包括使用直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器和多個(gè)閃爍 探測(cè)器兩者之一 來(lái)探測(cè)輻射。
9. 權(quán)利要求1的方法，其中所述物體包括行李。
10. 權(quán)利要求1的方法，其中探測(cè)的透射輻射包括相干散射輻射， 并且進(jìn)一步包括重構(gòu)指示相干散射輻射的數(shù)據(jù)以生成包括該物體的衰 減系數(shù)的圖像數(shù)據(jù)。
11. 權(quán)利要求1的方法，其中探測(cè)的透射輻射包括初級(jí)輻射，并且 進(jìn)一步包括重構(gòu)指示該初級(jí)輻射的數(shù)據(jù)以生成包括該物體的衰減系數(shù) 的圖像數(shù)據(jù)。
12. 權(quán)利要求1的方法，其中所述透射和發(fā)射輻射僅被一個(gè)公共探測(cè)器探測(cè)。
13. 權(quán)利要求1的方法，其中所述x射線源(116)和探測(cè)器(112) 被放置在繞所述檢查區(qū)域旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)機(jī)架(104)上。
14. 一種系統(tǒng)，包括x射線源(116),其產(chǎn)生橫貫所述檢查區(qū)域(108)和置于其中的 物體的透射輻射；能量分解探測(cè)器(112),其探測(cè)相千散射的透射輻射和由所述物 體中的放射性材料發(fā)射的發(fā)射輻射，并且生成指示探測(cè)的輻射的數(shù)據(jù)；衍射處理器(152)，其處理所述數(shù)據(jù)以生成指示所述相干散射輻 射的衍射圖案；以及處理組件(160),其處理所述能量分解的輻射以識(shí)別具有對(duì)應(yīng)于 發(fā)射輻射的能量的能量的探測(cè)的輻射。
15. 權(quán)利要求14的系統(tǒng)，其中所述系統(tǒng)是行李檢查系統(tǒng)。
16. 權(quán)利要求14的系統(tǒng)，其中所述系統(tǒng)包括相干散射計(jì)算的斷層攝 影掃描儀。
17. 權(quán)利要求14的系統(tǒng)，其中所述x射線源(116)和能量分解探 測(cè)器(112)被放置在繞所述檢查區(qū)域旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)機(jī)架(104)上。
18. —種包含指令的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，當(dāng)該指令被計(jì)算機(jī)執(zhí)行 時(shí)導(dǎo)致下列步驟探測(cè)來(lái)自x射線源(116)的橫貫檢查區(qū)域(108)和其中的物體的 透射輻射和來(lái)自該物體中的放射性材料的發(fā)射輻射； 生成指示所探測(cè)的輻射的信號(hào)； 能量分解所探測(cè)的輻射；以及處理該能量分解的輻射以識(shí)別具有對(duì)應(yīng)于所述放射性材料的能量 的探測(cè)的輻射。
全文摘要
一種方法，包括探測(cè)來(lái)自x射線源的橫貫檢查區(qū)域和其中的物體的透射輻射和來(lái)自該物體中的放射性材料的發(fā)射輻射；生成指示所探測(cè)的輻射的信號(hào)；能量分解該探測(cè)的輻射；以及處理該能量分解的輻射以識(shí)別具有對(duì)應(yīng)于放射性材料的能量的探測(cè)的輻射。
文檔編號(hào)G01T1/164GK101617246SQ200880005304
公開(kāi)日2009年12月30日 申請(qǐng)日期2008年2月12日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月16日
發(fā)明者J·-P·施洛姆卡 申請(qǐng)人:皇家飛利浦電子股份有限公司