專利名稱：X射線檢查裝置和生產(chǎn)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及X射線檢査裝置和包含上述X射線檢査裝置的生產(chǎn)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
以往，為了不使混有異物等的商品出廠，使用x射線檢查裝置對(duì) 商品進(jìn)行檢査。在所述x射線檢査裝置中，在接通電源時(shí)進(jìn)行x射線 檢測的診斷測試。另一方面，在x射線檢査裝置中，x射線源等會(huì)隨 時(shí)間退化，因此，提出了具有測試模式的x射線檢査裝置，其中，除
所述接通電源時(shí)進(jìn)行的診斷測試以外，還對(duì)相當(dāng)于所述異物的試件進(jìn) 行檢査，通過對(duì)該試件進(jìn)行的檢測來檢查裝置的狀態(tài)。(參照專利文獻(xiàn) 1)
專利文獻(xiàn)l:日本特開2005—3481 (摘要)
但是，在現(xiàn)有的裝置中，必須使商品的生產(chǎn)線暫時(shí)停止以將X射 線檢査裝置切換成測試模式。因此，由于需要停止商品生產(chǎn)，所以生 產(chǎn)效率顯著下降。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種無需停止商品生產(chǎn)就能夠 對(duì)X射線檢査裝置的狀態(tài)進(jìn)行檢査的X射線檢査裝置。
為了實(shí)現(xiàn)所述目的，本發(fā)明的x射線檢査裝置，用于一邊對(duì)物品
進(jìn)行搬送一邊向所述物品照射X射線來對(duì)所述物品進(jìn)行檢査，其包括 搬送裝置，用于對(duì)所述物品進(jìn)行搬送；辨別裝置，用于辨別所述物品 是試件還是商品；和運(yùn)轉(zhuǎn)控制裝置，在通過所述辨別裝置辨別為所述 物品是商品時(shí)，將X射線檢査裝置的運(yùn)轉(zhuǎn)模式設(shè)定為判定該商品是否 合格的通常模式，在通過所述辨別裝置辨別為所述物品是試件時(shí)，將X 射線檢査裝置的運(yùn)轉(zhuǎn)模式設(shè)定為對(duì)裝置的狀態(tài)進(jìn)行檢查的測試模式。 根據(jù)本發(fā)明，能夠通過辨別裝置辨別出是商品還是試件，因此，即使不停止商品的流動(dòng)，也能夠通過放入試件而自動(dòng)地轉(zhuǎn)變?yōu)闇y試模 式。
本發(fā)明中，優(yōu)選的是，所述辨別裝置通過將照射到所述物品的X 射線的透射圖像與規(guī)定的辨別基準(zhǔn)進(jìn)行比較來進(jìn)行所述辨別。
根據(jù)本方式，由于利用x射線透射圖像進(jìn)行所述辨別，因此，只
要增加軟件而不需要另行設(shè)置硬件設(shè)施，因此不會(huì)導(dǎo)致成本大幅增長。 本發(fā)明中，優(yōu)選的是，還包括第一存儲(chǔ)部，其用于對(duì)所述規(guī)定的
辨別基準(zhǔn)進(jìn)行存儲(chǔ)，所述辨別裝置根據(jù)照射到所述物品的X射線的透 射圖像和被存儲(chǔ)在所述第一存儲(chǔ)部中的所述規(guī)定的辨別基準(zhǔn)進(jìn)行所述 辨別。
根據(jù)本方式，通過設(shè)定用于進(jìn)行辨別的辨別基準(zhǔn)，能夠?qū)崿F(xiàn)試件 的自動(dòng)判定。
本發(fā)明中，優(yōu)選的是，還包括實(shí)施登錄模式的登錄裝置，該登錄 模式用于從照射到試件的X射線的透射圖像獲得所述規(guī)定的辨別基
準(zhǔn)，并將所述規(guī)定的辨別基準(zhǔn)存儲(chǔ)在所述第一存儲(chǔ)部。 根據(jù)本方式，通過使用登錄模式，試件的登錄變得容易。 本發(fā)明中，優(yōu)選的是，還包括第二存儲(chǔ)部，用于在所述登錄模式 下存儲(chǔ)與設(shè)在所述試件中的異物相對(duì)應(yīng)的閾值，在所述測試模式下， 根據(jù)被存儲(chǔ)在所述第二存儲(chǔ)部中的閾值、和照射到由所述辨別裝置辨
別為試件的所述物品上的x射線的透射圖像，對(duì)裝置的狀態(tài)進(jìn)行檢查。
根據(jù)本方式，通過將與不同異物對(duì)應(yīng)的閾值分別存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ) 部，能夠按照異物的種類設(shè)定閾值。因此，本裝置能夠?qū)Ω鞣N異物進(jìn) 行測試，所以能夠更詳細(xì)地進(jìn)行該裝置的檢査。
本發(fā)明中，優(yōu)選的是，所述辨別裝置根據(jù)搬送所述物品的時(shí)機(jī)進(jìn) 行所述辨別。
根據(jù)本方式，能夠根據(jù)搬送物品的時(shí)機(jī)自動(dòng)投入試件，因此，x
射線檢査裝置的軟件的制作變得容易。
一種生產(chǎn)系統(tǒng)，其包括所述x射線檢查裝置、和配置于所述x射
線檢查裝置的上游的生產(chǎn)機(jī)器，所述試件優(yōu)選利用所述生產(chǎn)機(jī)器投入。 根據(jù)本方式，試件的投入變得容易。 根據(jù)本發(fā)明，能夠通過辨別裝置辨別出是商品還是試件，因此，即使不使商品的流動(dòng)停止，也能夠通過放入試件而自動(dòng)轉(zhuǎn)換成測試模 式。


圖1是表示本發(fā)明的X射線檢査裝置的示意立體圖2 (a)是表示X射線檢查裝置和分揀裝置的示意構(gòu)成圖2 (b)是表示物品流動(dòng)的示意構(gòu)成圖3是表示試件的X射線透射圖像的示意俯視圖4是表示試件的示意俯視圖5是表示一般的組合計(jì)量裝置的示意結(jié)構(gòu)圖。
附圖標(biāo)記說明
1:組合計(jì)量裝置(生產(chǎn)機(jī)器的一個(gè)例子)
10: X射線檢查裝置
121:運(yùn)轉(zhuǎn)控制部
12b:辨別部
12c:判定部
13c:第一存儲(chǔ)部
13d:第二存儲(chǔ)部
50:傳送帶(搬送裝置的一個(gè)例子) M:商品 P:試件
具體實(shí)施例方式
下面參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。 第一實(shí)施方式
圖1 圖4表示第一實(shí)施方式。 整體結(jié)構(gòu)
如圖1所示，物品的X射線檢査裝置10包括傳送帶(搬送裝置的 一個(gè)例子)50和光學(xué)系統(tǒng)20。上述光學(xué)系統(tǒng)20包括X射線源21和線 傳感器22。上述X射線源21產(chǎn)生X射線L，并使該X射線L朝線傳 感器22照射。
6上述X射線源21對(duì)傳送帶50上搬送的物品M照射X射線L。上 述線傳感器22配設(shè)在傳送帶50的下方且在與物品M的搬送方向Y大 致正交的寬度方向D上，檢測透過該物品M的X射線L。
如圖2 (b)所示，在X射線檢查裝置10的下游設(shè)有分揀裝置30。 由X射線檢査裝置10檢測出混有異物等而被判定為不合格的商品M 和試件P(圖4)，由分揀裝置30分揀出生產(chǎn)線。
試件P:
另一方面，將圖4 (a)所示的試件P適時(shí)投入上述傳送帶50進(jìn)行 搬送。試件P用于檢査X射線檢查裝置10的裝置狀態(tài)，如圖4 (a) 所示，例如在四角形的樹脂板Pb上粘有圓環(huán)狀的標(biāo)記Pl，在該標(biāo)記 Pl內(nèi)的圓形區(qū)域的中心粘有測試異物P2。
上述標(biāo)記P1，由例如厚的金屬板和金屬線等形成，以使利用線傳 感器22 (圖1)拍攝的標(biāo)記P1比商品M的X射線透射圖像的最暗部 分還要暗，從而易于實(shí)施后述的圖像處理。測試異物P2由有可能混入 商品M中的金屬箔或玻璃構(gòu)成。
設(shè)備構(gòu)成
如圖2 (a)所示，X射線檢査裝置IO包括例如由微機(jī)構(gòu)成的控制 部ll。上述X射線源21、線傳感器22、局部控制裝置25和觸摸屏26 等經(jīng)由未圖示的接口分別與上述控制部11相互連接。
上述局部控制裝置25控制上述傳送帶50的運(yùn)轉(zhuǎn)和分揀裝置30等 的動(dòng)作。
觸摸屏26例如在液晶屏幕那樣的顯示器屏幕上顯示X射線透射圖 像等各種信息，并且可以通過觸摸該顯示的一部分而進(jìn)行輸入和設(shè)定。 控制部ll:
上述控制部11包括CPU12和存儲(chǔ)器(存儲(chǔ)部)13。
上述CPU12包括以通常模式、測試模式和登錄模式使X射線檢査 裝置IO運(yùn)轉(zhuǎn)的運(yùn)轉(zhuǎn)控制部121。
通常模式是在由X射線檢查裝置10搬送的物品被判斷是商品M 時(shí)判定該商品M是否合格的模式。
測試模式是在由X射線檢查裝置10搬送的物品被判斷是試件P 時(shí)檢查X射線檢査裝置10的狀態(tài)的模式。登錄模式是存儲(chǔ)上述測試模式下使用的試件P的辨別基準(zhǔn)(X射 線透射圖像等)的模式。 存儲(chǔ)器13:
上述存儲(chǔ)器13包括圖像臨時(shí)存儲(chǔ)部13a、 NG圖像存儲(chǔ)部13b、第 一存儲(chǔ)部13c、第二存儲(chǔ)部13d和第三存儲(chǔ)部13e。
如圖3所示，在圖像臨時(shí)存儲(chǔ)部13a中臨時(shí)存儲(chǔ)X射線透射圖像， 該X射線透射圖像由來自線傳感器22的拍攝信號(hào)構(gòu)成。
在NG圖像存儲(chǔ)部13b中存儲(chǔ)被判定部12c判定為不合格的商品 M等的X射線透射圖像。
在第一存儲(chǔ)部13c中存儲(chǔ)由規(guī)定的第一閾值和標(biāo)記P1的形狀組成 的辨別基準(zhǔn)，該辨別基準(zhǔn)用于根據(jù)在上述登錄模式下由線傳感器22所 拍攝的X射線透射圖像進(jìn)行商品M和上述試件P的辨別。
在第二存儲(chǔ)部13d中存儲(chǔ)第二閾值，該第二閾值用于檢查在試件P 的X射線透射圖像中是否有規(guī)定的異物。
在第三存儲(chǔ)部13e中存儲(chǔ)第三閾值，該第三閾值用于判別在商品 M的X射線透射圖像中是否包含異物。
CPU12:
CPU12除了上述運(yùn)轉(zhuǎn)控制部121之外，還包括X射線圖像處理部 12a、辨別部12b、判定部12c、裝置檢查部12d和登錄部12e等。 X射線圖像處理部12a:
X射線圖像處理部12a根據(jù)圖1所示的物品在傳送帶50上搬送的 時(shí)機(jī)，按照接收順序連續(xù)處理來自上述線傳感器22的輸出，由此制成 圖3所示的X射線透射圖像，該X射線透射圖像具有與透射X射線的 量相對(duì)應(yīng)的明暗分布。還有，該圖中所示的輕點(diǎn)區(qū)域是試件P的樹脂 部分，陰影線所示的區(qū)域是測試異物P2，全涂黑的區(qū)域是標(biāo)記P1的圖 像。
X射線透射圖像
上述線傳感器22 (圖1)是將n個(gè)檢測元件Si (i-l n的自然數(shù)) 以大致直線狀排列而形成的。上述X射線透射圖像是將上述檢測元件 Si檢測出的透射X射線量按照時(shí)間序列在規(guī)定時(shí)間(Tm—Tl)所記錄 的多個(gè)像素構(gòu)成的圖像。因此，上述X射線透射圖像表示在由檢測元件Si和規(guī)定時(shí)刻Tj (j-l m的自然數(shù))組成的坐標(biāo)(Si， Tj)上。
在上述X射線透射圖像中，背景Bg被顯示得明亮，物品存在的 部分按照X射線的透射量被顯示得暗。例如，在圖3所示的試件P的 X射線透射圖像中，如以網(wǎng)點(diǎn)所示，樹脂板Pb部分被顯示得稍暗，而 標(biāo)記Pl部分被顯示得最暗。圖3的斜線所示的測試異物P2的檢測部 分與該測試異物P2相應(yīng)地被顯示得比上述樹脂板Pb暗而比標(biāo)記Pl 亮。將比上述標(biāo)記P1部分的X射線的透射量(檢測值)稍大的值設(shè)定 為上述第一閾值。 辨別部12b:
圖2 (a)所示的辨別部12b根據(jù)上述X射線透射圖像判別在傳送 帶50 (圖1)上搬送的物品是商品M還是試件P。辨別部12b通過將 照射到物品上的X射線的透射圖像(圖3)與從第一存儲(chǔ)部13c讀出 的上述辨別基準(zhǔn)相比較來進(jìn)行辨別。
辨別部12b從第一存儲(chǔ)部13c讀出第一閾值和標(biāo)記Pl的形狀，通 過判別在該X射線透射圖像中超過上述第一閾值的部分是否與從第一 存儲(chǔ)部13c讀出的形狀匹配，來進(jìn)行商品M和試件P的辨別。
辨別部12b在判斷X射線透射圖像的超過第一閾值的部分中存在 與上述形狀匹配的標(biāo)記P1時(shí)，將該物品判斷為試件P，并且，在與上 述形狀不匹配時(shí)，將該物品判斷為商品M。
商品M和試件P的辨別方法
作為判別X射線透射圖像的超過第一閾值的部分與從第一存儲(chǔ)部 13c讀出的形狀是否一致的方法，可以使用各種眾所周知的圖像匹配方 法，例如，從標(biāo)記P1部分的二值化后的面積和周長等特征來比較與X 射線透射圖像的超過第一閾值的部分是否一致的模板匹配方法或圖案 匹配方法等。
下面，作為上述圖像匹配的一個(gè)例子，對(duì)圖案匹配方式進(jìn)行簡單 的說明。
在上述第一存儲(chǔ)部13c中預(yù)先存儲(chǔ)有上述標(biāo)記P1的形狀，上述標(biāo) 記P1的形狀由在后述的登錄模式下登錄試件P時(shí)的X射線透射圖像中 提取超過上述第一閾值的部分并被二值化的圖像(以下，稱為"登錄 圖像")構(gòu)成。
9另一方面，辨別部12b在物品的X射線透射圖像中以上述第一閾 值為基準(zhǔn)對(duì)該X射線透射圖像進(jìn)行二值化，以上述像素單位對(duì)元件方 向S和時(shí)間序列方向T上的所有組合檢索與上述登錄圖像匹配的部分， 找出上述組合中上述登錄圖像與該X射線透射圖像的超過第一閾值的 部分最一致的位置。
之后，在上述最一致的位置中，對(duì)該X射線透射圖像的超過第一 閾值的部分與登錄圖像不一致的像素?cái)?shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得到兩個(gè)圖像的差異 量，在該差異量低于或超過規(guī)定的范圍時(shí)，辨別該物品是商品M。另 一方面，上述差異量在規(guī)定的范圍內(nèi)時(shí)，辨別該物品是試件P。
在上述辨別部12b進(jìn)行辨別時(shí)，圖4(a)的上述標(biāo)記Pl與圖4(b)、 4 (c)所示的標(biāo)記P1不同，其形成圓環(huán)狀即旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的形狀。因此， 不需要使上述登錄圖像旋轉(zhuǎn)來進(jìn)行比較的處理，所以，可以更有效地 進(jìn)行圖像匹配。
在辨別部12b將該物品辨別為商品M時(shí)，將CPU12設(shè)定為通常模 式。另一方面，在辨別部12b將該物品辨別為試件P時(shí)，將CPU12設(shè) 定為測試模式。
判定部12c:
在上述通常模式下，判定部12c根據(jù)該商品M的X射線透射圖像 判別是否有異物混入。判定部12c通過根據(jù)該X射線透射圖像判斷周 圍的部位是否存在亮度明顯不同的部位，來判別是否有異物混入或附 著于該商品M。 S卩，判定部12c從第三存儲(chǔ)部13e讀出第三閾值(檢 測異物的閾值)，在X射線透射圖像中存在超過該第三閾值的部分時(shí)， 判斷為該商品M中混入了異物。
裝置檢査部12d:
另一方面，在上述測試模式下，裝置檢查部12d對(duì)試件P中的測 試異物P2進(jìn)行判別。在測試模式下，裝置檢査部12d判斷在上述辨別 部12b中被識(shí)別的規(guī)定范圍(相當(dāng)于測試異物P2的部分)O內(nèi)的檢測 值是否超過從第二存儲(chǔ)部13d讀出的第二閾值，其中規(guī)定范圍O為圖 3所示的圓環(huán)狀標(biāo)記P1的坐標(biāo)的中心部分。
在標(biāo)記Pl的坐標(biāo)的上述中心部分的范圍O中超過第二閾值的檢 測值的像素?cái)?shù)為規(guī)定值的范圍內(nèi)的情況下，裝置檢查部12d判斷該X射線檢查裝置10處于能正常地判別該試件P的測試異物P2的正常狀 態(tài)。
另一方面，在上述中心部分的范圍O中超過第二閾值的檢測值的 像素?cái)?shù)在規(guī)定范圍之外時(shí)，裝置檢査部12d判斷該X射線檢查裝置10 不能正常地進(jìn)行異物檢査。
在根據(jù)裝置檢查部12d的判斷結(jié)果判斷X射線檢查裝置10在正常 地動(dòng)作時(shí)，控制部11將該信息顯示于觸摸屏26。另一方面，在裝置檢 査部12d判斷X射線檢查裝置10不能正常地進(jìn)行異物檢查時(shí)，使處于 異常狀態(tài)且需要對(duì)X射線檢査裝置IO進(jìn)行再設(shè)定的信息顯示于觸摸屏 26上。
登錄部12e:
登錄部12e根據(jù)上述登錄模式下拍攝的試件P的X射線透射圖像， 將上述辨別基準(zhǔn)和第二閾值分別存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部13c和第二存儲(chǔ)部 13d。
接著，對(duì)本系統(tǒng)的動(dòng)作進(jìn)行說明。 登錄模式-
首先，啟動(dòng)本系統(tǒng)后，操作員使用圖2 (a)的觸摸屏26進(jìn)行規(guī)定 的操作，將CPU12設(shè)定為登錄模式。之后，對(duì)試件P進(jìn)行拍攝，并根 據(jù)該X射線透射圖像，設(shè)定用于檢測圖3的標(biāo)記P1的第一閾值和由上 述登錄圖像構(gòu)成的標(biāo)記P1的形狀，并且設(shè)定用于檢測測試異物P2的 第二閾值。通過上述設(shè)定，將上述第一閾值與形狀組成的辨別基準(zhǔn)存 儲(chǔ)于第一存儲(chǔ)部13c，并且將第二閾值存儲(chǔ)于第二存儲(chǔ)部13d。
之后，將商品M搬送至傳送帶50，按每種商品，將X射線檢査裝 置IO對(duì)商品M進(jìn)行異物檢査用的第三閾值存儲(chǔ)于第三存儲(chǔ)部13e。
在進(jìn)行商品檢查的通常模式下，在商品M的搬送(生產(chǎn))中斷時(shí) 等，適時(shí)投入試件P。
關(guān)于試件P的投入，可以由操作者自行將試件P投入，也可以在 高速搬送商品M的情況下，使用圖2 (b)所示的試件P的投入裝置 40將試件P投入到相鄰的商品M之間。
作為投入試件P的時(shí)機(jī)，例如，在上游存在組合計(jì)量裝置1 (圖5) 的情況下，可以在不存在規(guī)定量的組合、在商品M的搬送線上的商品M中斷的時(shí)機(jī)投入試件P。
圖2 (a)的X射線圖像處理部12a根據(jù)線傳感器22 (圖l)在規(guī) 定的時(shí)機(jī)接受到的X射線L，將X射線透射圖像(圖3)存儲(chǔ)于圖像 臨時(shí)存儲(chǔ)部13a。
之后，辨別部12b從第一存儲(chǔ)部13c讀出辨別基準(zhǔn)，并根據(jù)該辨 別基準(zhǔn)來辨別X射線透射圖像的物品是商品M還是試件P。
艮P，辨別部12b從第一存儲(chǔ)部13c讀出第一閾值，并對(duì)超過上述 第一閾值的部分進(jìn)行是否與從第一存儲(chǔ)部13c讀出的形狀匹配的判別。
在辨別部12b判斷X射線透射圖像中存在與該形狀匹配的標(biāo)記Pl 的情況下，將該物品辨別為試件P，并將CPU12設(shè)定為測試模式。
另一方面，在不存在超過上述第一閾值的部分、或超過第一閾值 的部分與上述形狀不匹配的情況下，將該物品辨別為商品M，并將 CPU12設(shè)定為通常模式。
通常模式
當(dāng)CPU12被設(shè)定為通常模式時(shí)，判定部12c從第三存儲(chǔ)部13e讀 出第三閾值。在該商品M的X射線透射圖像中不存在超過上述第三閾 值的部分的情況下，判定部12c將該商品M判斷為沒有混入異物的合
格品o
另一方面，在上述X射線透射圖像中存在超過第三閾值的部分的 情況下，判定部12c將該商品M判斷為混入了異物的不合格品。判定 部12c將與作為該不合格品的商品M相對(duì)應(yīng)的分揀信號(hào)經(jīng)由局部控制 裝置25向分揀裝置30發(fā)送，并且，將拍攝該商品M得到的X射線透 射圖像存儲(chǔ)于NG圖像存儲(chǔ)部13b。分揀裝置30 —接收到上述分揀信 號(hào)，就將與該分揀信號(hào)對(duì)應(yīng)的不合格品商品M揀出生產(chǎn)線。
測試模式
當(dāng)CPU12被設(shè)定為測試模式時(shí)，裝置檢查部12d從第二存儲(chǔ)部13d 讀出第二閾值。裝置檢査部12d判別在該試件P的X射線透射圖像中 在圓環(huán)狀的標(biāo)記Pl的中心部分的規(guī)定范圍O中是否存在超過上述第二 閾值的部分。
在該X射線透射圖像中超過第二閾值的像素?cái)?shù)在規(guī)定范圍以內(nèi) 時(shí)，判斷為X射線檢查裝置10被設(shè)定為正常。上述情況下，CPU12將X射線檢查裝置10正常地動(dòng)作的信息顯示于觸摸屏26。
另一方面，在超過第二閾值的像素?cái)?shù)超過規(guī)定的范圍時(shí)，CPU12
將X射線檢查裝置IO處于沒有進(jìn)行正常的異物檢查的異常狀態(tài)且需要
對(duì)X射線檢查裝置10進(jìn)行再設(shè)定等的信息顯示于觸摸屏26。判定部
12c將試件P的X射線透射圖像存儲(chǔ)于NG圖像存儲(chǔ)部13b，并且通過
分揀裝置30將該試件P揀出生產(chǎn)線。
這樣，根據(jù)本發(fā)明，可以通過辨別部辨別出是商品M還是試件P，
因此，即使不停止商品M的流動(dòng)，也能夠通過放入試件P而自動(dòng)地轉(zhuǎn)
變?yōu)闇y試模式。
因此，與現(xiàn)有技術(shù)不同，本發(fā)明不必在將生產(chǎn)線暫時(shí)停止后將X 射線檢査裝置切換為測試模式，而且，能夠隨機(jī)地進(jìn)行X射線檢查裝 置的檢査，因此不會(huì)引起生產(chǎn)率的下降，且能夠顯著提高異物檢查的 可靠度。
另外，通過將試件P的X射線透射圖像存儲(chǔ)于NG圖像存儲(chǔ)部13b, 能夠留下X射線檢査裝置10的檢查歷史，因此，能夠容易地追究不合 格商品M的原因。此外，可以將NG圖像存儲(chǔ)部13b中存儲(chǔ)的X射線 透射圖像與該圖像被拍攝的日期時(shí)間相關(guān)聯(lián)地存儲(chǔ)于NG圖像存儲(chǔ)部 13b。
第二實(shí)施方式 圖5表示第二實(shí)施方式。
第二實(shí)施方式中，組合計(jì)量裝置(生產(chǎn)機(jī)器的一個(gè)例子)1中包括 隨時(shí)隨機(jī)地投入試件P的投入機(jī)200。
下面，對(duì)一般的組合計(jì)量裝置l進(jìn)行簡單的說明。
如圖5所示，搬送傳送帶100使作為被計(jì)量物的物品M下落到分 散部2中。此外，集聚少量或大量物品M后被裝袋而成為商品。
各供給槽3i使分散部2上的物品M落入設(shè)置在各供給槽3i的下 游的多個(gè)池料斗4i而進(jìn)行供給。在各池料斗4i中設(shè)有活門5i，臨時(shí)收 容并存放所接收的從上述各供給槽3i供給的物品M。在上述各池料斗 4i的下游設(shè)有計(jì)量漏斗6i。在各計(jì)量漏斗6i中設(shè)置有計(jì)量頭和活門8i， 該計(jì)量頭包括重量檢測器7i，該重量檢測器7i用于檢測從上述池料斗 4i向該計(jì)量漏斗6i投入的物品M的重量。在活門8i的下方設(shè)有大的
13收集槽9，通過組合由上述各重量檢測器7i檢測出的物品M的計(jì)量值， 使物品M的組合計(jì)量值為目標(biāo)值或接近目標(biāo)值，并使物品M下落到下 游的制袋包裝機(jī)(未圖示)等中。
在沒有被組合計(jì)量的物品時(shí)、或改變批量時(shí)等，上述投入機(jī)200 將試件向收集槽9排出。
這樣，通過將試件P投入X射線檢査裝置10上游的生產(chǎn)機(jī)器，能 夠使混入了試件P的商品M隨機(jī)地流入X射線檢査裝置中。
此外，作為試件P，只要標(biāo)記Pl被形成得使得能夠通過標(biāo)記Pl 確定異物P2的位置即可，例如，可以如圖4 (b)所示，標(biāo)記P1以圍 繞測試異物P2的方式分散，也可以如圖4 (c)所示地配置標(biāo)記Pl， 使其由以測試異物P2為中心的放射狀直線構(gòu)成。X射線透射圖像中的 標(biāo)記Pl的中心部分的范圍O的坐標(biāo)可以這樣確定例如，以第一閾值 為基準(zhǔn)，對(duì)該圖像進(jìn)行二值化后，以矩形分割提取標(biāo)記P1、求出該標(biāo) 記P1的坐標(biāo)，從由各標(biāo)記P1構(gòu)成的圖形的中心來確定。
另外，在檢測多種測試異物P2、 P2時(shí)，如圖4 (d)和圖4 (e) 所示，除了用于確定測試異物P2的位置的標(biāo)記P1，還可以配置與測試 異物P2的種類相對(duì)應(yīng)的第二標(biāo)記P3。第二標(biāo)記P3和該測試異物P2 被相互關(guān)聯(lián)地存儲(chǔ)于第一存儲(chǔ)部13c。
這樣，通過使用多種測試異物P2，能夠檢査是否能正常地檢測多 種測試異物P2。
如上所述，參照附圖對(duì)優(yōu)選的實(shí)施方式進(jìn)行了說明，但是本領(lǐng)域 技術(shù)人員看了本說明書后，在顯而易見的范圍內(nèi)很容易想到各種變更 和修改。
例如，可以設(shè)置兩組X射線源和線傳感器，對(duì)彼此不同的兩個(gè)剖 面進(jìn)行檢査，進(jìn)一步提高檢査的精度。
因此，這樣的變更及修改可以被認(rèn)為屬于由權(quán)利要求所確定的本 發(fā)明的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種X射線檢查裝置，用于一邊對(duì)物品進(jìn)行搬送一邊向所述物品照射X射線來對(duì)所述物品進(jìn)行檢查，包括搬送裝置，用于對(duì)所述物品進(jìn)行搬送；辨別裝置，用于辨別所述物品是試件還是商品；和運(yùn)轉(zhuǎn)控制裝置，在由所述辨別裝置辨別為所述物品是商品時(shí)，將X射線檢查裝置的運(yùn)轉(zhuǎn)設(shè)定為判定該商品是否合格的通常模式，在由所述辨別裝置辨別為所述物品是試件時(shí)，將X射線檢查裝置的運(yùn)轉(zhuǎn)設(shè)定為對(duì)X射線檢查裝置的狀態(tài)進(jìn)行檢查的測試模式。
2. 如權(quán)利要求1所述的X射線檢查裝置，其特征在于-所述辨別裝置，通過將照射到所述物品的X射線的透射圖像與規(guī)定的辨別基準(zhǔn)進(jìn)行比較，來進(jìn)行所述辨別。
3. 如權(quán)利要求2所述的X射線檢查裝置，其特征在于 還包括第一存儲(chǔ)部，其用于存儲(chǔ)所述規(guī)定的辨別基準(zhǔn)， 所述辨別裝置根據(jù)照射到所述物品的X射線的透射圖像和被存儲(chǔ)在所述第一存儲(chǔ)部的所述規(guī)定的辨別基準(zhǔn)來進(jìn)行所述辨別。
4. 如權(quán)利要求3所述的X射線檢査裝置，其特征在于 還包括實(shí)施登錄模式的登錄裝置，該登錄裝置用于從照射到試件的X射線的透射圖像獲得所述規(guī)定的辨別基準(zhǔn)，并將所述規(guī)定的辨別 基準(zhǔn)存儲(chǔ)在所述第一存儲(chǔ)部。
5. 如權(quán)利要求4所述的X射線檢查裝置，其特征在于 還包括第二存儲(chǔ)部，用于在所述登錄模式下存儲(chǔ)與設(shè)在所述試件中的異物相對(duì)應(yīng)的閾值，在所述測試模式下，根據(jù)存儲(chǔ)在所述第二存儲(chǔ)部中的閾值、和照 射到由所述辨別裝置辨別為試件的所述物品的X射線的透射圖像，對(duì) X射線檢查裝置的狀態(tài)進(jìn)行檢査。
6. 如權(quán)利要求l所述的X射線檢查裝置，其特征在于: 所述辨別裝置，根據(jù)搬送所述物品的時(shí)機(jī)進(jìn)行所述辨別。
7. —種生產(chǎn)系統(tǒng)，包括權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的X射線檢査裝置；和 被配置在所述X射線檢查裝置的上游的生產(chǎn)機(jī)器， 所述試件由所述生產(chǎn)機(jī)器投入。
全文摘要
本發(fā)明提供一種X射線檢查裝置(10)，包括傳送帶(50)、辨別部(12b)、判定部(12c)、運(yùn)轉(zhuǎn)控制部(121)，所述X射線檢查裝置一邊搬送物品一邊對(duì)物品照射X射線來對(duì)物品進(jìn)行檢查。傳送帶(50)用于搬送物品。辨別部(12b)用于辨別物品是試件還是商品。運(yùn)轉(zhuǎn)控制部(121)在由辨別部(12b)辨別物品是商品時(shí)被設(shè)定為對(duì)該商品是否合格進(jìn)行判定的通常模式，在由辨別部(12b)辨別物品是試件時(shí)，被設(shè)定為對(duì)X射線檢查裝置狀態(tài)進(jìn)行檢查的測試模式。由此，能夠?qū)射線檢查裝置的狀態(tài)進(jìn)行檢查而不停止商品的生產(chǎn)。
文檔編號(hào)G01N23/04GK101632014SQ200880008008
公開日2010年1月20日 申請(qǐng)日期2008年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月12日
發(fā)明者廣瀬修, 株本隆司 申請(qǐng)人:株式會(huì)社石田