專利名稱：一種訊號(hào)偵測(cè)器及其偵測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及訊號(hào)偵測(cè)，尤其涉及一種應(yīng)用于偵測(cè)電壓訊號(hào)環(huán)境中，可判斷出所輸
入的訊號(hào)的電壓位準(zhǔn)及/或頻率及/或零點(diǎn)及/或相位、以及是否為異常，并可輸出中斷訊號(hào)以供后續(xù)處理的訊號(hào)偵測(cè)器及其偵測(cè)方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中的電壓偵測(cè)電路含有模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路、定時(shí)器、以及微控制器MCU (Multipoint Control Unit)韌體。當(dāng)偵測(cè)電壓訊號(hào)，例如，市電訊號(hào)，是否為正常時(shí)，首先，在電壓偵測(cè)電路架構(gòu)中，將不斷的利用模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路對(duì)電壓訊號(hào)，例如，衰減及全波整流后的市電訊號(hào)，做取樣/轉(zhuǎn)換動(dòng)作，以監(jiān)測(cè)出該電壓訊號(hào)的位準(zhǔn)。接著，對(duì)每半周的該電壓訊號(hào)，進(jìn)行至少16次的取樣/轉(zhuǎn)換動(dòng)作；并以一方波訊號(hào)(例如，為市電頻率的方波訊號(hào))的正、負(fù)邊緣做為每個(gè)半周的起始訊號(hào)，在此，例如，每半周的該電壓訊號(hào)時(shí)間寬為8. 33ms (60Hz的市電)或10ms (50Hz的市電)。繼而，該電壓訊號(hào)的軌跡若連續(xù)的超出預(yù)設(shè)的上、下限，則視為電壓異常。進(jìn)而，不對(duì)的利用定時(shí)器對(duì)該方波訊號(hào)做轉(zhuǎn)換，以得知該電壓訊號(hào)(例如，衰減及全波整流后的市電訊號(hào))的頻率。最后，若該電壓訊號(hào)的頻率若連續(xù)的超出預(yù)設(shè)的上、下限(例如，50Hz士3Hz)，則視為頻率異常。 然而，在現(xiàn)有技術(shù)中的電壓偵測(cè)電路結(jié)構(gòu)中，由于模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路為非集成電路型式的電壓偵測(cè)的傳統(tǒng)電路的缺點(diǎn)在于，電路的穩(wěn)定度并不高，易受外在環(huán)境因素，例如，操作溫度的影響，而且，由于非為集成電路型式，因而，無法與其它集成電路整合，無法達(dá)成系統(tǒng)整合的目的，致使其應(yīng)用層面受到限制。 所以，對(duì)于電壓偵測(cè)電路而言，如果能以集成電路型式，而能偵測(cè)電壓訊號(hào)并判斷出電壓位準(zhǔn)(例如，110V/220V市電)及/或頻率(60Hz或50Hz市電)及/或零點(diǎn)及/或相位是否為異常，可輸出中斷訊號(hào)以供后續(xù)處理，并提高電路的穩(wěn)定度而不易受外在因素所影響，且能與其它集成電路整合，而達(dá)成系統(tǒng)整合的目的，乃是待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種訊號(hào)偵測(cè)器及其偵測(cè)方法，應(yīng)用于偵測(cè)電壓訊號(hào)環(huán)境中，本發(fā)明的訊號(hào)轉(zhuǎn)換器為集成電路的型式，本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器及其方法藉由所輸入的低壓方波訊號(hào)、以及由所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)予以轉(zhuǎn)換而來的數(shù)字訊號(hào)，而可判斷出所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)的電壓位準(zhǔn)及/或頻率及/或零點(diǎn)及/或相位、以及是否為異常，并可輸出中斷訊號(hào)以供后續(xù)處理。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種訊號(hào)偵測(cè)器及其偵測(cè)方法，應(yīng)用于偵測(cè)電壓訊號(hào)環(huán)境中，該訊號(hào)轉(zhuǎn)換器為集成電路的型式，可與其它集成電路整合，進(jìn)而提高系統(tǒng)的整合度。 本發(fā)明的再一目的在于提供一種訊號(hào)偵測(cè)器及其偵測(cè)方法，應(yīng)用于偵測(cè)電壓訊號(hào)環(huán)境中，可將該訊號(hào)偵測(cè)器整合進(jìn)微控制器MCU中。
根據(jù)以上所述的目的，本發(fā)明提供一種為集成電路型式的訊號(hào)偵測(cè)器，可與其它集成電路整合，例如，可將該訊號(hào)偵測(cè)器整合進(jìn)微控制器MCU中，進(jìn)而提高系統(tǒng)的整合度。該訊號(hào)偵測(cè)器包含模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊、電壓檢測(cè)模塊、零點(diǎn)模塊、頻率檢測(cè)模塊、以及緩存器模塊，在此，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊及/或電壓檢測(cè)模塊及/或零點(diǎn)模塊及/或頻率檢測(cè)模塊及/或緩存器模塊為集成電路模塊。 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊將所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)，予以轉(zhuǎn)換成數(shù)字訊號(hào)以供電壓檢測(cè)模塊判斷電壓位準(zhǔn)，在此，該低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)可為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特定類型，為說明起見，在此，該低壓訊號(hào)可為，例如，為經(jīng)衰減后的市電(電壓為110V/220V，而頻率為50Hz或60Hz)的訊號(hào)。
將低壓方波訊號(hào)輸入至零點(diǎn)模塊，零點(diǎn)模塊將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊號(hào)以供電壓檢測(cè)模塊、以及頻率檢測(cè)模塊使用，在此，該低壓方波訊號(hào)可為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特定類型，為說明起見，在此，該低壓方波訊號(hào)可為，例如，與經(jīng)衰減后或未經(jīng)衰減的高壓訊號(hào)(例如，市電)頻率相同的方波；該低壓方波訊號(hào)的高位準(zhǔn)為高壓訊號(hào)正半周，而該低壓方波訊號(hào)的低位準(zhǔn)則為高壓訊號(hào)負(fù)半周，該低壓方波訊號(hào)的上升邊緣/下降邊緣為高壓訊號(hào)電壓為零(零點(diǎn))的時(shí)間。 電壓檢測(cè)模塊根據(jù)由零點(diǎn)模塊而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)、以及由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路
ADC模塊而來的數(shù)字訊號(hào)，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市
電AC訊號(hào)是否為異常，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊。 頻率檢測(cè)模塊根據(jù)由零點(diǎn)模塊而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器所輸
入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)的頻率及/或零點(diǎn)及/或相位，并可將判斷出
的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊。 緩存器模塊儲(chǔ)存由電壓檢測(cè)模塊及/或由頻率檢測(cè)模塊而來可變的參數(shù)值，用以可隨時(shí)改變訊號(hào)偵測(cè)器的設(shè)定，若由電壓檢測(cè)模塊而來的判斷結(jié)果為電壓異常，及/或，若由頻率檢測(cè)模塊而來的判斷結(jié)果為頻率異常，則緩存器模塊將輸入中斷訊號(hào)至訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件，例如，中央處理器CPU，以讓外部組件進(jìn)行后續(xù)處理。 利用該訊號(hào)偵測(cè)器進(jìn)行其方法時(shí)，首先，進(jìn)行訊號(hào)輸入動(dòng)作；將低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)輸入至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊將低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字訊號(hào)并予以輸出，以供電壓檢測(cè)模塊判斷電壓位準(zhǔn)的用處，在此，該低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)可為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特定類型，為說明起見，在此，該低壓訊號(hào)可為，例如，為經(jīng)衰減后的市電(電壓為110V/220V，而頻率為50Hz或60Hz)的訊號(hào)；輸入低壓方波訊號(hào)至零點(diǎn)模塊，零點(diǎn)模塊將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊號(hào)以供電壓檢測(cè)模塊、以及頻率檢測(cè)模塊使用，在此，該低壓方波訊號(hào)可為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特定類型，為說明起見，在此，該低壓方波訊號(hào)可為，例如，與經(jīng)衰減后或未經(jīng)衰減的高壓訊號(hào)(例如，市電)頻率相同的方波；該低壓方波訊號(hào)的高位準(zhǔn)為高壓訊號(hào)正半周，而該低壓方波訊號(hào)的低位準(zhǔn)則為高壓訊號(hào)負(fù)半周，該低壓方波訊號(hào)的上升邊緣/下降邊緣為高壓訊號(hào)電壓為零(零點(diǎn))的時(shí)間。
接著，進(jìn)行訊號(hào)檢測(cè)動(dòng)作；電壓檢測(cè)模塊根據(jù)由零點(diǎn)模塊而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)、以及由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊而來的數(shù)字訊號(hào)，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)是否為異常，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存
5器模塊；及/或，頻率檢測(cè)模塊根據(jù)由零點(diǎn)模塊而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè) 器所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)的頻率及/或零點(diǎn)及/或相位，并可將 判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊。 進(jìn)而，進(jìn)行儲(chǔ)存檢測(cè)結(jié)果及/或可調(diào)整訊號(hào)偵測(cè)器的電壓偵測(cè)設(shè)定及/或輸出中 斷訊號(hào)的動(dòng)作；緩存器模塊將用以儲(chǔ)存來自于電壓檢測(cè)模塊及/或頻率檢測(cè)模塊的可變的 參數(shù)值，用以可隨時(shí)改變訊號(hào)偵測(cè)器的設(shè)定；若由電壓檢測(cè)模塊而來的判斷結(jié)果為電壓異 常，則緩存器模塊將輸出中斷訊號(hào)至訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件，例如，中央處理器CPU，以讓 外部組件進(jìn)行后續(xù)處理，在此，中斷訊號(hào)為電壓異常中斷訊號(hào)及/或電壓正常中斷訊號(hào)，例 如，市電異常中斷訊號(hào)及/或市電正常中斷訊號(hào)；及/或，若由頻率檢測(cè)模塊而來的判斷結(jié) 果為頻率異常，則緩存器模塊將輸入中斷訊號(hào)至訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件，例如，中央處理器 CPU,以讓外部組件進(jìn)行后續(xù)處理，在此，該中斷訊號(hào)用以表示電壓頻率異常，例如，市電頻 率異常。 本發(fā)明的有益效果在于訊號(hào)轉(zhuǎn)換器為集成電路的型式，從而提高電路的穩(wěn)定度而 不易受外在因素所影響，且能與其它集成電路整合，而達(dá)成系統(tǒng)整合的目的。


圖1為用以顯示說明本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器的模塊結(jié)構(gòu)、以及運(yùn)作情形的一系統(tǒng)示 意圖，; 圖2為用以顯示說明本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器的一實(shí)施例的模塊結(jié)構(gòu)、以及運(yùn)作情形 的示意圖； 圖3為用以顯示說明于圖2中的取樣情形的示意圖； 圖4為用以顯示說明根據(jù)圖3中的取樣情形所得出的市電AC波形、正常市電AC 上限電壓波形、以及正常市電AC下限電壓波形的一示意圖； 圖5為用以顯示說明利用本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器以進(jìn)行其方法的流程步驟的一流 程圖；以及 圖6為用以顯示說明利用本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器以進(jìn)行其方法的一實(shí)施例的流程 步驟的一流程圖。
具體實(shí)施例方式
圖1為一系統(tǒng)示意圖，用以顯示說明本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器的模塊結(jié)構(gòu)、以及運(yùn)作 情形。為集成電路型式的訊號(hào)偵測(cè)器1可與其它集成電路整合，例如，可將該訊號(hào)偵測(cè)器1 整合進(jìn)微控制器MCU中，進(jìn)而提高系統(tǒng)的整合度。如圖1所示，該訊號(hào)偵測(cè)器1包含模擬數(shù) 字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2、零點(diǎn)模塊3、電壓檢測(cè)模塊4、頻率檢測(cè)模塊5、以及緩存器模塊6，在 此，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2及/或零點(diǎn)模塊3及/或電壓檢測(cè)模塊4及/或頻率檢 測(cè)模塊5及/或緩存器模塊6為集成電路模塊。 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2將所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊 號(hào)(圖未標(biāo)出)，予以轉(zhuǎn)換成數(shù)字訊號(hào)(圖未標(biāo)出)以供電壓檢測(cè)模塊4判斷電壓位準(zhǔn)，在 此，該低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)可為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特定 類型，為說明起見，在此，該低壓訊號(hào)可為，例如，為經(jīng)衰減后的市電(電壓為110V/220V，而
6頻率為50Hz或60Hz)的訊號(hào)。 將低壓方波訊號(hào)(圖未標(biāo)出)輸入至零點(diǎn)模塊3，零點(diǎn)模塊3將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊 號(hào)(圖未標(biāo)出)以供電壓檢測(cè)模塊4、以及頻率檢測(cè)模塊5使用，在此，該低壓方波訊號(hào)可 為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特定類型，為說明起見，在此，該低壓方波訊號(hào)可為，例 如，與經(jīng)衰減后或未經(jīng)衰減的高壓訊號(hào)(例如，市電)頻率相同的方波；該低壓方波訊號(hào)的 高位準(zhǔn)為高壓訊號(hào)正半周，而該低壓方波訊號(hào)的低位準(zhǔn)則為高壓訊號(hào)負(fù)半周，該低壓方波 訊號(hào)的上升邊緣/下降邊緣為高壓訊號(hào)電壓為零(零點(diǎn))的時(shí)間。 電壓檢測(cè)模塊4根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)(圖未標(biāo)出)、以及由模擬 數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2而來的數(shù)字訊號(hào)(圖未標(biāo)出)，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器1所輸入的 低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)是否為異常，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存 于緩存器模塊6。 頻率檢測(cè)模塊5根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器 1所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)的頻率及/或零點(diǎn)及/或相位，并可將 判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊6。 緩存器模塊6儲(chǔ)存由電壓檢測(cè)模塊4及/或由頻率檢測(cè)模塊5而來可變的參數(shù) 值，用以可隨時(shí)改變訊號(hào)偵測(cè)器1的電壓訊號(hào)偵測(cè)設(shè)定，若由電壓檢測(cè)模塊4而來的判斷結(jié) 果為電壓異常，及/或，若由頻率檢測(cè)模塊5而來的判斷結(jié)果為頻率異常，則緩存器模塊6 將輸入中斷訊號(hào)(圖未標(biāo)出)至訊號(hào)偵測(cè)器1的外部組件(圖未標(biāo)出)，例如，中央處理器 CPU(圖未示出)，以讓外部組件進(jìn)行后續(xù)處理。 圖2為一示意圖，用以顯示說明本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器的一實(shí)施例的模塊結(jié)構(gòu)、以 及運(yùn)作情形。為集成電路型式的訊號(hào)偵測(cè)器1包含模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2、零點(diǎn)模塊 3、電壓檢測(cè)模塊4、頻率檢測(cè)模塊5、以及緩存器模塊6，在此，將未經(jīng)衰減的市電AC訊號(hào)輸 入至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2的輸入端21 。 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2將所輸入的市電AC訊號(hào)予以轉(zhuǎn)換成數(shù)字訊號(hào)AD_ OUT以供電壓檢測(cè)模塊4判斷電壓位準(zhǔn)；在此，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2根據(jù)由零點(diǎn)模 塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP而產(chǎn)生請(qǐng)求取樣信號(hào)(圖未標(biāo)出)，此請(qǐng)求取樣信號(hào)的發(fā)生時(shí) 點(diǎn)為對(duì)市電AC的每半周進(jìn)行取樣64次，亦即，取樣64點(diǎn)，如圖3中所示的，以便于后續(xù)能 以此64點(diǎn)的取樣結(jié)果而來判斷市電AC電壓正?；虍惓＃划?dāng)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2 中的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路次模塊22接收到請(qǐng)求取樣信號(hào)后，經(jīng)過一定的頻率脈沖數(shù)之后，模 擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路次模塊22會(huì)送出取樣完成信號(hào)(圖未標(biāo)出)，同時(shí)并送出取樣數(shù)值(數(shù)字 訊號(hào)ADJ)UT)，此時(shí)，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2會(huì)將此取樣數(shù)值(數(shù)字訊號(hào)AD_0UT)儲(chǔ) 存起來、并輸出給電壓檢測(cè)模塊使用。 將低壓方波訊號(hào)acfreq輸入至零點(diǎn)模塊3，零點(diǎn)模塊3將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP以 供電壓檢測(cè)模塊4、以及頻率檢測(cè)模塊5使用，在此，該低壓方波訊號(hào)acfreq為與經(jīng)衰減后 或未經(jīng)衰減的高壓訊號(hào)(市電AC)頻率相同的方波；該低壓方波訊號(hào)acfreq的高位準(zhǔn)為高 壓訊號(hào)(市電AC)正半周，而該低壓方波訊號(hào)acfreq的低位準(zhǔn)則為高壓訊號(hào)(市電AC)負(fù) 半周，該低壓方波訊號(hào)acfreq的上升邊緣/下降邊緣為高壓訊號(hào)(市電AC)電壓為零(零 點(diǎn))的時(shí)間；市電AC的零點(diǎn)訊號(hào)(零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP)為頻率檢測(cè)及電壓檢測(cè)的最基本的信 號(hào)，同時(shí)對(duì)于檢測(cè)結(jié)果的正確與否有絕對(duì)的關(guān)系，可以說是非常重要的控制信號(hào)。
電壓檢測(cè)模塊4根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP、以及由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換 電路ADC模塊2而來的數(shù)字訊號(hào)ADJ)UT，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器1所輸入的市電AC是否為 異常，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊6 ;電壓檢測(cè)模塊4根據(jù)由模擬數(shù) 字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2而來的數(shù)字訊號(hào)AD_0UT做為檢測(cè)的依據(jù)，由于每半周期取樣64點(diǎn)， 因而，可以得到市電AC的每半周的64點(diǎn)電壓波形，如圖3所示，同時(shí)，電壓檢測(cè)模塊4會(huì)產(chǎn) 生64點(diǎn)的理想電壓波形(圖未標(biāo)出)，再根據(jù)此理想電壓值(圖未標(biāo)出)而得到正常市電 AC電壓的上限值(圖未示出)及下限值(圖未示出)，因而，得到如圖4中所示的，64點(diǎn)的 正常市電AC上限電壓波形AC_UP、以及64點(diǎn)的正常市電AC下限電壓波形AC_D0WN，藉由市 電AC波形CAN、正常市電AC上限電壓波形AC_UP、以及正常市電AC下限電壓波形AC_D0WN 而可進(jìn)行市電AC電壓異常偵測(cè)。 市電AC電壓異常偵測(cè)以窗口為判斷標(biāo)準(zhǔn)，此窗口的大小可根據(jù)緩存器的設(shè)定來 選取，例如，選取60點(diǎn)或30點(diǎn)為此窗口的大小。例如，若窗口設(shè)定為50點(diǎn)大小，則第8點(diǎn) 到第57點(diǎn)會(huì)與取樣的電壓波形(數(shù)字訊號(hào)AD_OUT)與上限電壓波形AC_UP、以及下限電壓 波形AC—DOWN作比較。 當(dāng)取樣的電壓波形(數(shù)字訊號(hào)AD_OUT)比上限電壓波形AC_UP為大、且連續(xù)的點(diǎn) 數(shù)超過一定的數(shù)值，此數(shù)值可由緩存器模塊6選定，則此時(shí)的狀況為市電AC電壓過高，而為 市電異常的一種狀況，電壓檢測(cè)模塊4將發(fā)出vlt」nt中斷訊號(hào)至緩存器模塊，以便通知外 部組件(例如，CPU)進(jìn)行后續(xù)的處理。 當(dāng)取樣的電壓波形(數(shù)字訊號(hào)ADJ)UT)比下限電壓波形AC—DOWN為小、且連續(xù)的 點(diǎn)數(shù)超過一定的數(shù)值，此數(shù)值可由緩存器模塊6選定，則此時(shí)的狀況為市電AC電壓過低，亦 為市電異常的一種狀況，電壓檢測(cè)模塊4也將發(fā)出vlt」nt中斷訊號(hào)至緩存器模塊，以便通 知外部組件(例如，CPU)進(jìn)行后續(xù)的處理。 頻率檢測(cè)模塊5根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè) 器1所輸入的市電AC訊號(hào)的頻率及/或零點(diǎn)及/或相位，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并 儲(chǔ)存于緩存器模塊6 ;頻率檢測(cè)模塊5根據(jù)零點(diǎn)信號(hào)(零點(diǎn)控制訊號(hào)Z)而來計(jì)算市電AC的 頻率，其計(jì)算的方式為收到零點(diǎn)信號(hào)之后，會(huì)將計(jì)數(shù)器(圖未示出)歸零，之后，計(jì)數(shù)器將一 直遞增，直至再次接收到零點(diǎn)信號(hào)，則將計(jì)數(shù)器予以歸零，同時(shí)將計(jì)數(shù)器的值儲(chǔ)存起來。
由于系統(tǒng)的頻率脈沖為固定頻率，因此，可以將計(jì)數(shù)器的值予以換算成時(shí)間，例 如，若系統(tǒng)頻率為2微秒，當(dāng)計(jì)數(shù)器的值為5000時(shí)，則所換算所得到的時(shí)間為10毫秒，表示 半周期為10毫秒，而全周期則為20毫秒，所以所得到的市電AC的頻率為50Hz。
當(dāng)?shù)玫降念l率與理想頻率做比較時(shí)，若為過高或過低時(shí)則為頻率異常，而理想的 頻率可由緩存器模塊6來予以選取，可以是50Hz或是60Hz，當(dāng)檢測(cè)到頻率異常而為市電AC 異常狀況時(shí)，頻率檢測(cè)模塊5將發(fā)出frq」nt中斷訊號(hào)至緩存器模塊，以便通知外部組件 (例如，CPU)進(jìn)行后續(xù)的處理。 緩存器模塊6儲(chǔ)存由電壓檢測(cè)模塊4及/或由頻率檢測(cè)模塊5而來可變的參數(shù)值， 用以可隨時(shí)改變訊號(hào)偵測(cè)器1的電壓訊號(hào)偵測(cè)設(shè)定，可控制的參數(shù)值有，例如，市電AC電 壓型式110V或220V，市電AC頻率選擇為60Hz或50Hz ，市電AC意異常偵測(cè)的啟動(dòng)控制位 (圖未標(biāo)出)、各種異常中斷的控制位(圖未標(biāo)出)；若由電壓檢測(cè)模塊4而來的判斷結(jié)果 為vlt」nt中斷訊號(hào)表示為電壓異常，及/或，若由頻率檢測(cè)模塊5而來的判斷結(jié)果為frq_
8int中斷訊號(hào)表示為頻率異常，緩存器模塊6將輸入中斷訊號(hào)(圖未標(biāo)出)至訊號(hào)偵測(cè)器l 的外部組件(圖未標(biāo)出)，例如，中央處理器CPU(圖未示出)，以讓外部組件進(jìn)行后續(xù)處理。
圖3為一示意圖，用以顯示說明于圖2中的取樣情形。如圖3中所示的，模擬數(shù)字 轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2對(duì)市電AC的每半周進(jìn)行取樣64次，亦即，取樣64點(diǎn)，如圖3中所示的， 以便于后續(xù)能以此64點(diǎn)的取樣結(jié)果而來判斷市電AC電壓正常或異常。
圖4為一示意圖，用以顯示說明根據(jù)圖3中的取樣情形所得出的市電AC波形CAN、 正常市電AC上限電壓波形AC_UP、以及正常市電AC下限電壓波形AC_D0ffN。電壓檢測(cè)模塊 4根據(jù)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2而來的數(shù)字訊號(hào)AD_0UT做為檢測(cè)的依據(jù)，由于每半 周期取樣64點(diǎn)，因而，可以得到市電AC的每半周的64點(diǎn)電壓波形，如圖3中所示的，同時(shí)， 電壓檢測(cè)模塊4會(huì)產(chǎn)生64點(diǎn)的理想電壓波形(圖未標(biāo)出)，再根據(jù)此理想電壓值(圖未標(biāo) 出)而得到正常市電AC電壓的上限值(圖未示出)及下限值(圖未示出)。
如圖4所示，64點(diǎn)的正常市電AC上限電壓波形AC—UP、以及64點(diǎn)的正常市電AC 下限電壓波形AC—D0WN，藉由市電AC波形CAN、正常市電AC上限電壓波形AC_UP、以及正常 市電AC下限電壓波形AC_DOWN而可進(jìn)行市電AC電壓異常偵測(cè)。 圖5為一流程圖，用以顯示說明利用本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器以進(jìn)行其方法的流程步 驟。如圖5中所示的，首先，于步驟IOI，進(jìn)行訊號(hào)輸入動(dòng)作；模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2 將所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)(圖未標(biāo)出)，予以轉(zhuǎn)換成數(shù)字訊號(hào)AD— OUT以供電壓檢測(cè)模塊4判斷電壓位準(zhǔn)，在此，該低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)可 為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特定類型，為說明起見，在此，該低壓訊號(hào)可為，例如， 為經(jīng)衰減后的市電(電壓為110V/220V，而頻率為50Hz或60Hz)的訊號(hào)；將低壓方波訊號(hào) acfreq輸入至零點(diǎn)模塊3，零點(diǎn)模塊3將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP以供電壓檢測(cè)模塊4、以及頻 率檢測(cè)模塊5使用，在此，該低壓方波訊號(hào)acfreq可為任何型式的低壓訊號(hào)，而并不限于特 定類型，為說明起見，在此，該低壓方波訊號(hào)acfreq可為，例如，與經(jīng)衰減后或未經(jīng)衰減的 高壓訊號(hào)(例如，市電AC)頻率相同的方波；該低壓方波訊號(hào)acfreq的高位準(zhǔn)為高壓訊號(hào) 正半周，而該低壓方波訊號(hào)acfreq的低位準(zhǔn)則為高壓訊號(hào)負(fù)半周，該低壓方波訊號(hào)acfreq 的上升邊緣/下降邊緣為高壓訊號(hào)電壓為零(零點(diǎn))的時(shí)間；并進(jìn)到步驟102
于步驟102，進(jìn)行訊號(hào)檢測(cè)動(dòng)作；電壓檢測(cè)模塊4根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控 制訊號(hào)ZP、以及由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2而來的數(shù)字訊號(hào)AD_OUT，而可判斷出訊號(hào) 偵測(cè)器1所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)是否為異常，并可將判斷出的結(jié) 果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊6 ;及/或，頻率檢測(cè)模塊5根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn) 控制訊號(hào)ZP，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器1所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)的 頻率及/或零點(diǎn)及/或相位，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊6 ;并進(jìn)到 步驟103。 于步驟103，進(jìn)行儲(chǔ)存檢測(cè)結(jié)果及/或可調(diào)整訊號(hào)偵測(cè)器的電壓偵測(cè)設(shè)定及/或輸 出中斷訊號(hào)的動(dòng)作；緩存器模塊6儲(chǔ)存由電壓檢測(cè)模塊4及/或由頻率檢測(cè)模塊5而來可 變的參數(shù)值，用以可隨時(shí)改變訊號(hào)偵測(cè)器1的電壓訊號(hào)偵測(cè)設(shè)定，若由電壓檢測(cè)模塊4而來 的判斷結(jié)果為電壓異常，及/或，若由頻率檢測(cè)模塊5而來的判斷結(jié)果為頻率異常，則緩存 器模塊6將輸入中斷訊號(hào)(圖未標(biāo)出)至訊號(hào)偵測(cè)器1的外部組件(圖未標(biāo)出)，例如，中 央處理器CPU(圖未示出)，以讓外部組件進(jìn)行后續(xù)處理，在此，中斷訊號(hào)為電壓異常中斷訊號(hào)及/或電壓正常中斷訊號(hào)，例如，市電異常中斷訊號(hào)及/或市電正常中斷訊號(hào)；及/或，若由頻率檢測(cè)模塊而來的判斷結(jié)果為頻率異常，則緩存器模塊將輸入中斷訊號(hào)至訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件，例如，中央處理器CPU，以讓外部組件進(jìn)行后續(xù)處理，在此，該中斷訊號(hào)用以表示電壓頻率異常，例如，市電頻率異常。 圖6為一流程圖，用以顯示說明利用本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器以進(jìn)行其方法的一實(shí)施例的流程步驟。如圖6所示，首先，于步驟201，進(jìn)行訊號(hào)輸入、以及處理動(dòng)作；模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2將所輸入的市電AC訊號(hào)予以轉(zhuǎn)換成數(shù)字訊號(hào)AD_OUT以供電壓檢測(cè)模塊4判斷電壓位準(zhǔn)；在此，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP而產(chǎn)生請(qǐng)求取樣信號(hào)(圖未標(biāo)出)，此請(qǐng)求取樣信號(hào)的發(fā)生時(shí)點(diǎn)為對(duì)市電AC的每半周進(jìn)行取樣，以便于后續(xù)能以此取樣結(jié)果而來判斷市電AC電壓正?；虍惓＃划?dāng)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2中的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路次模塊22接收到請(qǐng)求取樣信號(hào)后，經(jīng)過一定的頻率脈沖數(shù)的后，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路次模塊22會(huì)送出取樣完成信號(hào)(圖未標(biāo)出)，同時(shí)并送出取樣數(shù)值(數(shù)字訊號(hào)ADJ)UT)，此時(shí)，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2會(huì)將此取樣數(shù)值(數(shù)字訊號(hào)ADJ)UT)儲(chǔ)存起來、并輸出給電壓檢測(cè)模塊使用；將低壓方波訊號(hào)acfreq輸入至零點(diǎn)模塊3，零點(diǎn)模塊3將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP以供電壓檢測(cè)模塊4、以及頻率檢測(cè)模塊5使用，在此，該低壓方波訊號(hào)acfreq為與經(jīng)衰減后或未經(jīng)衰減的高壓訊號(hào)(市電AC)頻率相同的方波；并進(jìn)到步驟202。 于步驟202，進(jìn)行訊號(hào)檢測(cè)動(dòng)作；電壓檢測(cè)模塊4根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP、以及由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2而來的數(shù)字訊號(hào)ADJ)UT，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器1所輸入的市電AC是否為異常，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊6 ;電壓檢測(cè)模塊4根據(jù)由模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊2而來的數(shù)字訊號(hào)AD_OUT做為檢測(cè)的依據(jù)，根據(jù)此理想電壓值(圖未標(biāo)出)而得到正常市電AC上限電壓波形AC—UP、以及正常市電AC下限電壓波形AC_DOWN，藉由市電AC波形CAN、正常市電AC上限電壓波形AC_UP、以及正常市電AC下限電壓波形AC—DOWN而可進(jìn)行市電AC電壓異常偵測(cè)；市電AC電壓異常偵測(cè)以窗口為判斷標(biāo)準(zhǔn)，此窗口的大小可根據(jù)緩存器的設(shè)定來選取，例如，選取60點(diǎn)或30點(diǎn)為此窗口的大小。例如，若窗口設(shè)定為50點(diǎn)大小，則第8點(diǎn)到第57點(diǎn)會(huì)與取樣的電壓波形(數(shù)字訊號(hào)ADJ)UT)與上限電壓波形AC—UP、以及下限電壓波形AC—DOWN作比較；當(dāng)取樣的電壓波形(數(shù)字訊號(hào)AD_OUT)比上限電壓波形AC_UP為大、且連續(xù)的點(diǎn)數(shù)超過一定的數(shù)值，此數(shù)值可由緩存器模塊6選定，則此時(shí)的狀況為市電AC電壓過高，而為市電異常的一種狀況，電壓檢測(cè)模塊4將發(fā)出vlt」nt中斷訊號(hào)至緩存器模塊，以便通知外部組件(例如，CPU)進(jìn)行后續(xù)的處理；當(dāng)取樣的電壓波形(數(shù)字訊號(hào)ADJ)UT)比下限電壓波形AC—DOffN為小、且連續(xù)的點(diǎn)數(shù)超過一定的數(shù)值，此數(shù)值可由緩存器模塊6選定，則此時(shí)的狀況為市電AC電壓過低，亦為市電異常的一種狀況，電壓檢測(cè)模塊4亦將發(fā)出vlt」nt中斷訊號(hào)至緩存器模±央，以便通知外部組件(例如，CPU)進(jìn)行后續(xù)的處理；頻率檢測(cè)模塊5根據(jù)由零點(diǎn)模塊3而來的零點(diǎn)控制訊號(hào)ZP，而可判斷出訊號(hào)偵測(cè)器1所輸入的市電AC訊號(hào)的頻率及/或零點(diǎn)及/或相位，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊6 ;頻率檢測(cè)模塊5根據(jù)零點(diǎn)信號(hào)(零點(diǎn)控制訊號(hào)Z)而來計(jì)算市電AC的頻率，其計(jì)算的方式為收到零點(diǎn)信號(hào)的后，會(huì)將計(jì)數(shù)器(圖未示出)歸零，的后，計(jì)數(shù)器將一直遞增，直至再次接收到零點(diǎn)信號(hào)，則將計(jì)數(shù)器予以歸零，同時(shí)將計(jì)數(shù)器的值儲(chǔ)存起來；當(dāng)?shù)玫降念l率與理想頻率做比較時(shí)，若為過高或過低時(shí)則為頻率異常，而理想的頻率可由緩存器模塊6來予以選取，可以是50Hz或是60Hz，當(dāng)檢測(cè)到頻率異常而為市電AC異常狀況時(shí)，頻率檢測(cè)模塊5將發(fā)出frq」nt中斷訊號(hào)至緩存器模塊，以便通知外部組件(例如，CPU)進(jìn)行后續(xù)的處理，并進(jìn)到步驟203。
于步驟203，進(jìn)行儲(chǔ)存檢測(cè)結(jié)果及/或可調(diào)整訊號(hào)偵測(cè)器的電壓偵測(cè)設(shè)定及/或輸出中斷訊號(hào)的動(dòng)作；緩存器模塊6儲(chǔ)存由電壓檢測(cè)模塊4及/或由頻率檢測(cè)模塊5而來可變的參數(shù)值，用以可隨時(shí)改變訊號(hào)偵測(cè)器1的電壓訊號(hào)偵測(cè)設(shè)定，可控制的參數(shù)值有，例如，市電AC電壓型式110V或220V，市電AC頻率選擇為60Hz或50Hz，市電AC意異常偵測(cè)的啟動(dòng)控制位(圖未標(biāo)出)、各種異常中斷的控制位(圖未標(biāo)出)；若由電壓檢測(cè)模塊4而來的判斷結(jié)果為vlt」nt中斷訊號(hào)表示為電壓異常，及/或，若由頻率檢測(cè)模塊5而來的判斷結(jié)果為frq」nt中斷訊號(hào)表示為頻率異常，緩存器模塊6將輸入中斷訊號(hào)(圖未標(biāo)出)至訊號(hào)偵測(cè)器1的外部組件(圖未標(biāo)出)，例如，中央處理器CPU(圖未示出)，以讓外部組件進(jìn)行后續(xù)處理。 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用以限定本發(fā)明的范圍；凡其它未脫離本發(fā)明所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾，均應(yīng)包含在下述的專利范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種訊號(hào)偵測(cè)器，應(yīng)用于偵測(cè)電壓訊號(hào)環(huán)境中，其特征在于，該訊號(hào)偵測(cè)器包含模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊，該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊將所輸入的訊號(hào)予以轉(zhuǎn)換成數(shù)字訊號(hào)；零點(diǎn)模塊，將低壓方波訊號(hào)輸入至該零點(diǎn)模塊，該零點(diǎn)模塊將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊號(hào)；電壓檢測(cè)模塊，該電壓檢測(cè)模塊接收來自于該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊的該數(shù)字訊號(hào)、以及接收來自于該零點(diǎn)模塊的該零點(diǎn)控制訊號(hào)，根該零點(diǎn)控制訊號(hào)、以及該數(shù)字訊號(hào)，而可判斷出該訊號(hào)偵測(cè)器所輸入的該訊號(hào)的電壓是否為異常；頻率檢測(cè)模塊，該頻率檢測(cè)模塊根據(jù)由該零點(diǎn)模塊而來的該零點(diǎn)控制訊號(hào)，而可判斷出該訊號(hào)偵測(cè)器所輸入的該訊號(hào)的頻率及/或零點(diǎn)及/或相位；以及緩存器模塊，該緩存器模塊儲(chǔ)存由該電壓檢測(cè)模塊及/或由該頻率檢測(cè)模塊而來的可變的參數(shù)值，用以改變?cè)撚嵦?hào)偵測(cè)器的設(shè)定。
2. 如權(quán)利要求1所述的訊號(hào)偵測(cè)器，其特征在于，該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊所輸入 的該訊號(hào)為低壓全波訊號(hào)。
3. 如權(quán)利要求1所述的訊號(hào)偵測(cè)器，其特征在于，該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊所輸入 的該訊號(hào)為市電。
4. 如權(quán)利要求1所述的訊號(hào)偵測(cè)器，其特征在于，該低壓方波訊號(hào)為與市電頻率相同 的方波。
5. 如權(quán)利要求1所述的訊號(hào)偵測(cè)器，其特征在于，由該電壓檢測(cè)模塊而來的判斷結(jié)果 為電壓異常，則該緩存器模塊將輸出中斷訊號(hào)至該訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件以進(jìn)行后續(xù)處理。
6. 如權(quán)利要求1所述的訊號(hào)偵測(cè)器，其特征在于，由該頻率檢測(cè)模塊而來的判斷結(jié)果 為頻率異常，則該緩存器模塊將輸出中斷訊號(hào)至該訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件以進(jìn)行后續(xù)處理。
7. 如權(quán)利要求2或3或4或5或6所述的訊號(hào)偵測(cè)器，其特征在于，所述訊號(hào)偵測(cè)器為 集成電路型式。
8. 如權(quán)利要求7所述的訊號(hào)偵測(cè)器，其特征在于，將該訊號(hào)偵測(cè)器整合進(jìn)微控制器MCU中。
9. 一種訊號(hào)偵測(cè)器的偵測(cè)方法，應(yīng)用于偵測(cè)電壓訊號(hào)環(huán)境中，其特征在于，該訊號(hào)偵測(cè) 器方法包含以下步驟將訊號(hào)輸入至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊，該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路ADC模塊將該訊號(hào)轉(zhuǎn) 換成數(shù)字訊號(hào)并予以輸出，以供電壓檢測(cè)模塊判斷電壓位準(zhǔn)；輸入低壓方波訊號(hào)至零點(diǎn)模 塊，該零點(diǎn)模塊將產(chǎn)生零點(diǎn)控制訊號(hào)以供該電壓檢測(cè)模塊、以及頻率檢測(cè)模塊使用；該電壓檢測(cè)模塊根據(jù)由該零點(diǎn)模塊而來的該零點(diǎn)控制訊號(hào)、以及由該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電 路ADC模塊而來的該數(shù)字訊號(hào)，而可對(duì)該訊號(hào)偵測(cè)器所輸入的該訊號(hào)電壓進(jìn)行判斷，并可 將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于緩存器模塊；及/或，該頻率檢測(cè)模塊根據(jù)由該零點(diǎn)模 塊而來的該零點(diǎn)控制訊號(hào)，而可對(duì)該訊號(hào)偵測(cè)器所輸入的該訊號(hào)的頻率及/或零點(diǎn)及/或 相位進(jìn)行判斷，并可將判斷出的結(jié)果予以輸出并儲(chǔ)存于該緩存器模塊；以及該緩存器模塊將用以儲(chǔ)存來自于該電壓檢測(cè)模塊及/或該頻率檢測(cè)模塊的可變的參 數(shù)值，用以可隨時(shí)改變?cè)撚嵦?hào)偵測(cè)器的設(shè)定。
10. 如權(quán)利要求9所述的訊號(hào)偵測(cè)器的偵測(cè)方法，其特征在于，該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路 ADC模塊所輸入的該訊號(hào)為低壓全波訊號(hào)。
11. 如權(quán)利要求9所述的訊號(hào)偵測(cè)器的偵測(cè)方法，其特征在于，該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換電路 ADC模塊所輸入的該訊號(hào)為市電。
12. 如權(quán)利要求9所述的訊號(hào)偵測(cè)器的偵測(cè)方法，其特征在于，該低壓方波訊號(hào)為與市 電頻率相同的方波。
13. 如權(quán)利要求9所述的訊號(hào)偵測(cè)器的偵測(cè)方法，其特征在于，由該電壓檢測(cè)模塊而來 的判斷結(jié)果為電壓異常，則該緩存器模塊將輸出中斷訊號(hào)至該訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件以進(jìn) 行后續(xù)處理。
14. 如權(quán)利要求9所述的訊號(hào)偵測(cè)器的偵測(cè)方法，其特征在于，由該頻率檢測(cè)模塊而來 的判斷結(jié)果為頻率異常，則該緩存器模塊將輸出中斷訊號(hào)至該訊號(hào)偵測(cè)器的外部組件以進(jìn) 行后續(xù)處理。
15. 如權(quán)利要求10或11或12或13或14所述的訊號(hào)偵測(cè)器的偵測(cè)方法，其特征在于， 所述訊號(hào)偵測(cè)器為集成電路型式。
16. 如權(quán)利要求15所述的訊號(hào)偵測(cè)器方法，其特征在于，將該訊號(hào)偵測(cè)器整合進(jìn)微控 制器MCU中。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種訊號(hào)偵測(cè)器及其偵測(cè)方法，應(yīng)用于偵測(cè)電壓訊號(hào)環(huán)境中，本發(fā)明的訊號(hào)偵測(cè)器及其方法藉由所輸入的低壓方波訊號(hào)、以及由所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)予以轉(zhuǎn)換而來的數(shù)字訊號(hào)，而可判斷出所輸入的低壓全波或半波訊號(hào)及/或市電AC訊號(hào)的電壓位準(zhǔn)及/或頻率及/或零點(diǎn)及/或相位、以及是否為異常，并可輸出中斷訊號(hào)以供后續(xù)處理。
文檔編號(hào)G01R19/165GK101788601SQ200910000958
公開日2010年7月28日 申請(qǐng)日期2009年1月23日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月23日
發(fā)明者曾定欽, 林樹嘉, 謝文岳 申請(qǐng)人:產(chǎn)晶集成電路股份有限公司