專利名稱：測試設備及測試方法
測試設備及測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測試設備及測試方法，特別是涉及一種電子器件的測試設 備及測試方法。
背景技術：
電子器件在出廠之前都要對其進行電性檢測，以確認功能完好。有的電 子器件本身是由多個子元件組成的，往往還需要對子元件單獨進行測試。以驅 動燈管的逆變器為例，其包括至少一個線圈，在出廠前除了要測試逆變器總體 性能之外，還要對線圈的阻抗進行測試?，F(xiàn)有的生產(chǎn)過程中是使用兩臺設備分 別測試線圈的阻抗和和逆變器的總體性能，這就需要兩個工位，人力成本高， 檢測耗時長。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種對電子器件及其子元件都能進行測 試的設備。本發(fā)明的一個目的是提供一種測試設備，其包括承載臺；相對所 述承載臺在接觸位與空置位之間移動的第一測試板；相對所述第一測試板在同 步位與分離位之間移動的第二測試板；啟動所述第一測試板測試信號的第一開 關；啟動所述第二測試板測試信號的第二開關；當所述第一測試板位于所述接 觸位且所述第二測試板位于所述同步位時，所述第二開關觸發(fā)；當所述第一測 試板位于所述接觸位且所述第二測試板位于所述分離位時，所述第一開關觸 發(fā)。
作為可選的技術方案，所述的第一開關或第二開關為行程開關，由所述第 二測試板抵觸觸發(fā)。
作為可選的技術方案，所述第一測試板或所述第二測試板的底面具有多個 測試探針。
作為可選的技術方案，所述的測試設備包括控制所述第一測試板在接觸 位與空置位之間移動的第一壓桿組件；控制所述第二測試板在同步位與分離位之間移動的第二壓桿組件。
作為可選的技術方案，所述第二測試板為線圈阻抗測試板；所述第一測試
板為逆變器功能測試板。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種電子器件測試方法，其包括
步驟l:提供上述的測試設備，并初始化所述第一測試板至所述空置位，
初始化所述第二測試板至所述同步位；
步驟2:放置待測器件在所述承載臺上；
歩驟3:移動所述第一測試板至所述接觸位，所述第二測試板保持在所述 同步位，以啟動所述第二測試板測試信號；
步驟4:移動所述第二測試板至所述分離位，以啟動所述第一測試板測試信號。
本發(fā)明的好處在于可以使用一臺設備對電子器件及其子元件進行測試，節(jié) 省人力和時間；并能避免兩項測試之間發(fā)生干擾，排除損壞器件的風險。


圖1是本發(fā)明一種實施方式的測試設備在一種使用狀態(tài)下的正視示意圖； 圖2是圖1中的測試設備在另一種使用狀態(tài)下的正視示意圖； 圖3是圖1中的測試設備在又一種使用狀態(tài)下的正視示意圖4是繪示了第一壓桿組件的圖1中的測試設備的右視示意圖； 圖5是繪示了第二壓桿組件的圖1中的測試設備的正視示意圖；。
具體實施方式
請參考圖1至圖3，圖1至圖3是本發(fā)明一種實施方式的測試設備在三種 使用狀態(tài)下的正視示意圖。本實施方式的測試設備包括承載臺80，用于承載 待測器件70;相對所述承載臺80在接觸位與空置位之間移動的第一測試板10， 如圖1所示的第一測試板相對承載臺80處于空置位，圖2和圖3中所示的第 一測試板相對承載臺80處于接觸位；相對所述第一測試板IO在同步位與分離 位之間移動的第二測試板20，如圖1和圖2所示的第二測試板20相對所述第 一測試板10處于同步位，圖3所示的第二測試板20相對所述第一測試板10 處于分離位；啟動所述第一測試板測試信號的第一開關31;啟動所述第二測試
4板測試信號的第二開關32;當所述第一測試板10位于接觸位且第二測試板20 位于同步位時，所述第二開關32觸發(fā)；當?shù)谝粶y試板IO位于接觸位且第二測
試板20位于分離位時，第一開關31觸發(fā)。在本實施方式中，第一開關31或 第二開關32為行程開關，由第二測試板20抵觸觸發(fā)。在圖2所示的工作狀態(tài) 下，第二測試板20抵觸觸發(fā)了第二開關32，這時測試信號產(chǎn)生器(未繪示) 通過線路(未繪示)向第二測試板提供測試信號，對待測器件70的子元件進 行測試。在圖3所示的工作狀態(tài)下，第二測試板抵觸觸發(fā)了第一開關31，這時 測試信號產(chǎn)生器通過線路向第一測試板提供測試信號，對待測器件70進行電 性測試。第一開關31和第二開關32分別控制第一測試板測試信號和第二測試 板測試信號的啟動，且由第二測試板在不同位置觸發(fā)啟動，保證了第一測試板 和第二測試板不會同時工作。對某些電子器件來說，同時測量器件功能(例如 逆變器功能)和子元件參數(shù)(例如線圈阻抗)會造成器件損壞，第一測試板和 第二測試板不會同時工作的好處在于可以避免這樣的意外。在其它實施方式 中，第一開關和第二開關可以是除行程開關之外的其它任何開關，只要其能夠 被在特定位置的第二測試板觸發(fā)即可。
在本實施方式中，第一測試板或第二測試板的底面具有多個測試探針60， 這是為與待測器件連接使用的，當?shù)谝粶y試板處于接觸位時，可以通過測試探 針與待測器件的測試點連接。當?shù)谝粶y試板處于接觸位、第二測試板處于同步 位時，第二測試板可以通過測試探針與待測的子元件連接。在其它實施方式中 可以是導電橡膠等其它實現(xiàn)導通的材料。
本實施方式的測試設備還包括控制所述第一測試板在接觸位與空置位之 間移動的第一壓桿組件(圖1至圖3中未繪示)。請再參考圖4，圖4是繪示了 第一壓桿組件的圖1中的測試設備的右視示意圖；第一壓桿組件包括定位在承 載臺80上的支撐柱41;定位在第一測試板10上的驅動柱42以及與支撐柱41 和驅動柱42分別鉸接的手柄43。通過上拉和下壓手柄43的A端，就可以使第 一測試板10上升和下降。另外測試設備還可以包括幾個定位在承載臺80上的 導引柱44，導引柱穿過第一測試板10的通孔(未繪示)，使第一測試板10在 上升和下降過程中不會發(fā)生水平移動。本實施方式的測試設備還包括控制所述 第二測試板20在同步位與分離位之間移動的第二壓桿組件(圖1至圖4中未 繪示)。第二壓桿組件包括定位在第一測試板10上的支撐柱51;定位在第二測 試板20上的驅動柱52以及與支撐柱51和驅動柱52分別鉸接的手柄53。通過
5上拉和下壓手柄53的B端，就可以使第二測試板20相對第一測試板10上升 和下降。壓桿組件的結構有很多種，在此不一一列舉，而且在其它實施方式中， 可以使用任何現(xiàn)有技術的升降裝置來實現(xiàn)第一測試板和第二測試板的升降，而 不限于使用壓桿組件。
本發(fā)明一種實施方式的電子器件測試方法，其包括
步驟l:提供如圖1至圖3所示的本發(fā)明一種實施方式的測試設備，并如
圖1所示初始化所述第一測試板10至所述空置位，初始化所述第二測試板20
至所述同步位；
步驟2:如圖1所示放置待測器件在所述承載臺80上；
步驟3:如圖2所示，移動所述第一測試板10至接觸位，所述第二測試板
20保持在同步位，以啟動所述第二測試板20的測試信號；
步驟4:移動所述第二測試板20至所述分離位，以啟動所述第一測試板
io的測試信號。
權利要求
1. 一種測試設備，其特征在于包括承載臺；相對所述承載臺在接觸位與空置位之間移動的第一測試板；相對所述第一測試板在同步位與分離位之間移動的第二測試板；啟動所述第一測試板測試信號的第一開關；啟動所述第二測試板測試信號的第二開關；當所述第一測試板位于所述接觸位且所述第二測試板位于所述同步位時，所述第二開關觸發(fā)；當所述第一測試板位于所述接觸位且所述第二測試板位于所述分離位時，所述第一開關觸發(fā)。
2. 根據(jù)權利要求1所述的測試設備，其特征在于所述的第一開關或第二開關 為行程開關，由所述第二測試板抵觸觸發(fā)。
3. 根據(jù)權利要求1所述的測試設備，其特征在于所述第一測試板或所述第二 測試板的底面具有多個測試探針。
4. 根據(jù)權利要求1所述的測試設備，其特征在于包括 控制所述第一測試板在接觸位與空置位之間移動的第一壓桿組件； 控制所述第二測試板在同步位與分離位之間移動的第二壓桿組件。
5. 根據(jù)權利要求1所述的測試設備，其特征在于所述第二測試板為線圈阻抗 測試板；所述第一測試板為逆變器功能測試板。
6. —種電子器件測試方法，其特征在于包括步驟l:提供根據(jù)權利要求1所述的測試設備，并初始化所述第一測試板 至所述空置位，初始化所述第二測試板至所述同步位； 步驟2:放置待測器件在所述承載臺上；步驟3:移動所述第一測試板至所述接觸位，所述第二測試板保持在所述 同步位，以啟動所述第二測試板測試信號；步驟4:移動所述第二測試板至所述分離位，以啟動所述第一測試板測試信號。
全文摘要
一種測試設備及測試方法，涉及電子器件的測試設備及測試方法領域。涉及顯示裝置領域。本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種對電子器件及其子元件都能進行測試的設備。本發(fā)明的測試設備包括承載臺；相對所述承載臺在接觸位與空置位之間移動的第一測試板；相對所述第一測試板在同步位與分離位之間移動的第二測試板；啟動所述第一測試板測試信號的第一開關；啟動所述第二測試板測試信號的第二開關；當所述第一測試板位于所述接觸位且所述第二測試板位于所述同步位時，所述第二開關觸發(fā)；當所述第一測試板位于所述接觸位且所述第二測試板位于所述分離位時，所述第一開關觸發(fā)。
文檔編號G01R31/00GK101487867SQ20091000632
公開日2009年7月22日 申請日期2009年2月3日 優(yōu)先權日2009年2月3日
發(fā)明者畢紅波, 王張勁, 石愛明 申請人:蘇州達方電子有限公司