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      一種六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法

      文檔序號:6153187閱讀:571來源:國知局
      專利名稱:一種六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種電力及環(huán)保領(lǐng)域氣體含量測量方法,具體說是涉及一種六 氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法。
      背景技術(shù)
      SF6氣體化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,是一種高電氣強度的氣體絕緣介質(zhì),具有很好的滅 弧和絕緣性能,故被廣泛地應(yīng)用在高壓變電站的電力設(shè)備中,如SFe高壓斷路器、 SF6封閉組合電器(GIS)等。當(dāng)GIS設(shè)備內(nèi)的SF6氣體發(fā)生泄漏,將使SFe氣 體的濃度和壓力降低,導(dǎo)致其滅弧和絕緣能力降低,設(shè)備的安全運行得不到保 證,嚴(yán)重時將產(chǎn)生重大供電事故。此外,SF6氣體無色、無味,人的感官無法識 別,而且其比重比空氣大, 一旦泄漏將排斥空氣并沉積在室內(nèi)地表上方,對進 入開關(guān)室工作人員的人身安全造成很大威脅。我國《電業(yè)安全工作規(guī)程》特別 規(guī)定,在相關(guān)場所必須安裝02和SF6檢測報警裝置。
      目前用于SF6氣體泄露檢測的方法主要有(l)負(fù)電暈放電探測法;(2)紫 外線電離法;(3)聲波檢測法;(4)紅外成像檢測法;(5)光譜吸收檢測法。 其中光譜吸收檢測法測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、靈敏度高、成本較紅外 成像檢測法低,適合于大范圍的在線實時檢測。實用新型專利(ZL 200620034423.6)發(fā)明了六氟化硫智能環(huán)境監(jiān)控系統(tǒng)及其六氟化硫氣體激光探測 琴,提出了一種SF6氣體激光探測器,包括激光管、采樣室、采樣通道、光電傳 感器;專利(申請?zhí)?00410103239.8)公開了一種六氟化硫(SF6)氣體檢測 方法,通過紅外光源照射樣品池,在被測處的另一邊設(shè)有光電探測器,通過光 電探測器給出紅外光譜強度的變化量,即可獲得被測處SF6的含量狀況??傮w來看,上述發(fā)明均采用了一個激光(紅外)光源, 一個探測器,利用SF6氣體對特
      定光譜的吸收特性服從朗伯-比爾(Lambert-Beer),以獲取其含量。但由于普通 激光器輸出的光譜功率穩(wěn)定性差,難以進一步提高設(shè)備的測量精度及穩(wěn)定性。 專利(申請?zhí)?00610040630.7)公開了一種基于激光光譜法的高靈敏SF6大范 圍監(jiān)測儀,安裝有一個電機驅(qū)動的斬波器,斬波器為一表面鍍有金屬膜的轉(zhuǎn)盤, 轉(zhuǎn)盤上有缺口,激光光束經(jīng)轉(zhuǎn)盤上金屬膜反射到達其中一個光強探測器,激光 光束經(jīng)轉(zhuǎn)盤上缺口到達另一個光強探測器。雖然采用了兩個光強探測器以提高 測量精度,但監(jiān)測儀的構(gòu)造較復(fù)雜。因此,針對結(jié)構(gòu)簡單、測量精度高的SF6 氣體濃度測量方法為主的研發(fā),實現(xiàn)開關(guān)室環(huán)境的實時監(jiān)測,對于保障SF6設(shè)備 的安全運行乃至電網(wǎng)的正常運轉(zhuǎn)具有十分重要意義。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明目的在于提供一種六氟化硫(SF6)濃度的雙光路激光測量裝置及測 量方法,不需要復(fù)雜的結(jié)構(gòu),能進一步提高光譜吸收法的測量精度,克服了現(xiàn) 有光譜吸收檢測法存在的不足。
      為達到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案和措施是
      裝置由C02激光器、原始功率測量光強探測器、空氣輸送泵、SF6氣體濃度 測量光強探測器、氣體分析室、光學(xué)全反射鏡片器B、光學(xué)半波鏡片器、光學(xué)全 反射鏡片器A構(gòu)成,C02激光器發(fā)出的激光光束通過光學(xué)全反射鏡片器B、光 學(xué)半波鏡片器、光學(xué)全反射鏡片器A將器件相連。測量時,C02激光器發(fā)出的 激光光束,經(jīng)過光學(xué)全反射鏡片器B全反射后,進入光學(xué)半波鏡片器,半波鏡 片器將激光器射出的光束分為兩束, 一束到達原始功率測量光強探測器,作為 激光器發(fā)射的原始功率測量,另一束到達SF6氣體濃度測量光強探測器,作為 SF6氣體濃度測量。所述的光學(xué)全反射鏡片器B內(nèi)有光學(xué)全反射鏡片B,與C02激光器發(fā)出的
      入射激光光束呈45。設(shè)置;
      所述的光學(xué)全反射鏡片器A內(nèi)設(shè)有光學(xué)全反射鏡片A,與入射激光光束呈 45°設(shè)置;
      所述的光學(xué)半波鏡片器內(nèi)有半波鏡片,與入射激光光束呈45。設(shè)置。
      所述的測量時,C02激光器發(fā)出的激光光束,經(jīng)過光學(xué)全反射鏡片B全反 射后,進入光學(xué)半波鏡片器,設(shè)置于其中的半波鏡片,將激光器射出的光束分 為兩束。 一束到達第一個原始功率測量光強探測器,作為激光器發(fā)射的原始功 率測量,另一束到達SF6氣體濃度測量光強探測器,作為SF6氣體濃度測量。通 過空氣輸送泵讓開關(guān)室內(nèi)抽樣的空氣流過氣體分析室,若空氣中無SF6氣體或由 于激光器輸出的光譜功率不穩(wěn)定,第一個探測器輸出的信號減去第二個光強探 測器輸出的信號為零;若空氣中有SF6氣體,第一個探測器輸出的信號減去第二 個光強探測器輸出的信號不為零,從而實現(xiàn)SF6氣體的高精度測量,消除了激光 器輸出的光譜功率變化的影響。
      本發(fā)明的有益效果是采用了光學(xué)半波鏡片將激光器射出的光束分為兩束, 不需要復(fù)雜的結(jié)構(gòu);采用雙光強探測器構(gòu)差分信號輸出,消除了激光器輸出的 光譜功率變化對測量精度的影響。具有結(jié)構(gòu)簡單,測量精度高,工作穩(wěn)定可靠。


      圖1是本發(fā)明所述的結(jié)構(gòu)示意圖。
      具體實施例方式
      下面將結(jié)合附圖1,詳細(xì)敘述本發(fā)明的具體結(jié)構(gòu)和實施例。
      圖〗中,1是C02激光器,其波長為10.6函,功率為5W; 2是原始功率測
      量光強探測器,主要是探測不含SF6氣體的空氣指標(biāo)以及C02激光器1輸出的光譜功率實時值;3是空氣輸送泵,能夠?qū)㈤_關(guān)室內(nèi)抽樣的空氣送入氣體分析室;
      4是SF6氣體濃度測量光強探測器;5是氣體分析室;6是光學(xué)全反射鏡片器B;
      7是光學(xué)全反射鏡片B, C02激光器1發(fā)出的激光光束以45°的入射角經(jīng)光學(xué)全
      反射鏡片B進行全反射;8是光學(xué)半波鏡片器;9是光學(xué)半波鏡片;10是光學(xué)全 及射鏡片器A; ll是光學(xué)全反射鏡片A。
      C02激光器1產(chǎn)生的光束經(jīng)光學(xué)全反
      射鏡片A 11到達光學(xué)半波鏡片9后分出兩束光束, 一束到達原始功率測量光強 探測器2,另一束經(jīng)光學(xué)全反射鏡片B 7經(jīng)氣體分析室5到達SF6氣體濃度測量 光強探測器4。
      測量時,啟動本裝置,原始功率測量光強探測器2輸出的探測空氣指標(biāo)與 SF6氣體濃度測量光強探測器4的輸出探測指標(biāo)相減,如果差值為"0",說明開 關(guān)室內(nèi)空氣不含SF6氣體;如果差值不為"0",說明開關(guān)室內(nèi)空氣含有SF6氣體。 為消除C02激光器1輸出的光譜功率變化的影響,原始功率測量光強探測器2 可探測CCM敫光器1輸出的光譜功率實時值,將該實時值與SF6氣體濃度測量 光強探測器4實時值相減,進而排除了 C02激光器1輸出的光譜功率不穩(wěn)定的 影響。
      權(quán)利要求
      1、一種六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法,其特征是裝置由CO2激光器、原始功率測量光強探測器、空氣輸送泵、SF6氣體濃度測量光強探測器、氣體分析室、光學(xué)全反射鏡片器B、光學(xué)半波鏡片器、光學(xué)全反射鏡片器A構(gòu)成,CO2激光器發(fā)出的激光光束通過光學(xué)全反射鏡片器B、光學(xué)半波鏡片器、光學(xué)全反射鏡片器A將器件相連;測量時,CO2激光器發(fā)出的激光光束,經(jīng)過光學(xué)全反射鏡片器B全反射后,進入光學(xué)半波鏡片器,半波鏡片器將激光器射出的光束分為兩束,一束到達原始功率測量光強探測器,作為激光器發(fā)射的原始功率測量,另一束到達SF6氣體濃度測量光強探測器,作為SF6氣體濃度測量。
      2、 按照權(quán)利要求1所述的六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法,其 特征是所述的光學(xué)全反射鏡片器B內(nèi)有光學(xué)全反射鏡片B,與C02激光器發(fā) 出的入射激光光束呈45°設(shè)置。
      3、 按照權(quán)利要求l所述的六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法,其 特征是所述的光學(xué)全反射鏡片器A內(nèi)有光學(xué)全反射鏡片A,與入射激光光束 呈45°設(shè)置。
      4、 按照權(quán)利要求1所述的六氟化硫濃度的雙光路激光測量裝置及測量方法,其 特征是所述的光學(xué)半波鏡片器內(nèi)有半波鏡片,與入射激光光束呈45。設(shè)置。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種六氟化硫濃度的雙光路激光測量方法。裝置由CO<sub>2</sub>激光器、原始功率測量光強探測器、空氣輸送泵、SF<sub>6</sub>氣體濃度測量光強探測器、氣體分析室、光學(xué)全反射鏡片器B、光學(xué)半波鏡片器、光學(xué)全反射鏡片器A構(gòu)成,光束通過光學(xué)全反射鏡片器B、光學(xué)半波鏡片器、光學(xué)全反射鏡片器A將器件相連。測量時,激光光束,經(jīng)過光學(xué)全反射鏡片器B全反射后,進入光學(xué)半波鏡片器,半波鏡片器將激光器射出的光束分為兩束,一束到達原始功率測量光強探測器,作為激光器發(fā)射的原始功率測量,另一束到達SF<sub>6</sub>氣體濃度測量光強探測器,作為SF<sub>6</sub>氣體濃度測量。采用本發(fā)明裝置,結(jié)構(gòu)簡單,消除了激光器輸出的光譜功率變化對測量精度的影響。
      文檔編號G01N21/39GK101609043SQ200910111670
      公開日2009年12月23日 申請日期2009年5月6日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月6日
      發(fā)明者健 關(guān), 宇 盧, 燕 吳, 吳允平, 吳進營, 李汪彪, 霞 林, 蘇偉達, 蔡聲鎮(zhèn), 陳錦凱 申請人:福建師范大學(xué)
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