專利名稱：一種檢測裝置及面板的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種應(yīng)用于面板的測試裝置，特別涉及一種可以疊合接合的 面板測試裝置。
背景技術(shù)：
一般業(yè)界(顯示器模塊供貨商)所提供給系統(tǒng)廠(例如手機(jī)組裝商)的顯示 器模塊，通常都會以軟性電路板做為連接器，因此該系統(tǒng)廠則配合的采用插 槽以供軟性電路板插接。
然而，由于顯示器模塊供貨商在產(chǎn)品出廠前，會先于內(nèi)部進(jìn)行一連串的 品質(zhì)測試以確保產(chǎn)品(顯示器模塊)的品質(zhì)。在這一連串的品質(zhì)測試中，均需 要將顯示器模塊與測試系統(tǒng)連接，而需多次進(jìn)行拔插的動作。但因顯示器模 塊的軟性電路板與測試系統(tǒng)的拔插的動作，常因拔插施力不當(dāng)，使得軟性電 路板發(fā)生形變和電路損壞，進(jìn)而造成顯示器模塊的畫面顯示不正常。
此外，另一種為采用扎針結(jié)構(gòu)做為連接器的測試系統(tǒng)，此種連接器會直 接造成軟性電路板上的損傷，也會造成顯示器模塊畫面的顯示不正常。
因此為了避免顯示器模塊的軟性電路板因拔插次數(shù)過多而損壞，進(jìn)而造 成顯示器模塊畫面顯示不正常的現(xiàn)象，提出本發(fā)明，以降低顯示器模塊的損 壞率。

發(fā)明內(nèi)容
以下僅通過具體實(shí)施例，且佐以附圖作詳細(xì)的說明，以使本領(lǐng)域技術(shù)人 員能對于本發(fā)明的各項(xiàng)功能、特點(diǎn)，有更進(jìn)一步的了解與認(rèn)識。
根據(jù)本發(fā)明的第一方向，提出一種檢測裝置，用以檢測一面板。面板包 括一第一電路板，其中第一電路板上包括多個接腳，其中測試裝置包括一第 二電路板及壓合件。第二電路板包括一本體、多個測試墊、多個測試電路及 多個導(dǎo)電元件。本體具有一第一表面及一第二表面。多個測試墊設(shè)置于第一
4表面上，且所述測試墊分別對應(yīng)所述接腳設(shè)置。多個測試電路對應(yīng)所述測試 墊設(shè)置于第二表面上。多個導(dǎo)電元件貫穿設(shè)置于本體中，用以使所述測試電 路與所述測試墊電性連接。壓合件對應(yīng)此第二電路板的所述測試墊設(shè)置，用 以使第一電路板及第二電路板疊合后緊密接合。當(dāng)?shù)谝浑娐钒瀵B合于第二電 路板時，所述測試電路經(jīng)由所述導(dǎo)電元件、測試墊與所述接腳電性連接。
根據(jù)本發(fā)明的第二方向，提出一種面板的檢測方法。面板的檢測方法包 括下列步驟。提供一面板，面板包括一第一電路板，且第一電路板包括多個
接腳；提供具有一第二電路板的一檢測裝置，且第二電路板包括多個測試墊， 其中所述測試墊對應(yīng)所述接腳設(shè)置；疊合第一電路板及第二電路板，以使所 述測試墊與所述接腳電性連接；以及置放一壓合件于第一電路板及第二電路 板的疊合處，以使第一電路板與第二電路板緊密接合。
通過本發(fā)明的應(yīng)用于面板的測試裝置，可通過測試裝置的測試墊直接與 面板的接腳接觸耦接，直接進(jìn)行測試，不需插拔。如此一來，即可有效降低 在測試中因多次插拔的面板毀壞率，降低成本。


圖1A示出了本發(fā)明較佳實(shí)施例的測試裝置及面板的上視圖； 圖1B示出了將圖1A中的測試裝置及面板疊合的上視圖； 圖1C示出了依照圖1B中剖面線1C-1C的剖面圖； 圖2示出了將圖1A中第二電路板置放于固定元件的上視圖；以及 圖3示出了置放第一電路板于圖2的第二電路板的上視圖。
其中，附圖標(biāo)記說明如下:
Wl,w2:寬度100:面板
110:第一電路板112:接腳
120:顯示屏幕200:測試裝置
202:本體210:第二電路板
210a:第一定位孔212:測試墊
214:第一表面215:第二表面
216:測試電路218:導(dǎo)電元件
220:壓合件230:固定元件232:平板 234:定位板 236:第一定位柱
232a:凹槽 234a:螺絲 238:第二定位柱
具體實(shí)施例方式
請參閱圖1A及圖1B，圖1A示出了本發(fā)明較佳實(shí)施例的測試裝置及面 板的上視圖，圖1B示出了將圖1A中的測試裝置及面板疊合的上視圖。測試 裝置200用以測試一面板100，而面板100包括一第一電路板110，且第一 電路板110上具有多個接腳(pin)112。本實(shí)施例的測試裝置200包括一第二 電路板210及一壓合件220(示出于圖1B中)。第二電路板210包括多個測試 墊212，且所述測試墊212分別對應(yīng)第一電路板110的接腳112設(shè)置，其中 當(dāng)?shù)谝浑娐钒?10與第二電路板210疊合時，接腳112會與測試墊212電性 耦接。于本實(shí)施例中，面板100的第一電路板110為軟性電路板，且接腳112 也可為常見的金手指結(jié)構(gòu)。本實(shí)施的測試裝置200通過第二電路板210與面 板100的第一電路板110連接，以使面板100與測試裝置200電性連接以進(jìn) 行測試，進(jìn)而使顯示屏幕120顯示測試結(jié)果。于本實(shí)施例中，于第一電路板 110及第二電路板210疊合后，也可以設(shè)置一壓合件220于第二電路板210 上(如圖1B)，以使第一電路板110及第二電路板210疊合后緊密接合。
請?jiān)賲⒄請D1A，于此實(shí)施例中，測試墊212的形狀例如為圓形，且所 述測試墊212的直徑w2略小于接腳112的寬度wl ，以使測試墊212能完全 與接腳112密合。比如說，當(dāng)接腳112的寬度wl為0.33毫米(mm)時，測試 墊212的寬度w2例如為0.3毫米(mm)。
接著，請參照圖1B及圖1C，圖1C示出了依照圖1B中剖面線1C-1C 的剖面圖。于本實(shí)施例中，壓合件220較佳地可以活動式的方式設(shè)置，并且 對應(yīng)設(shè)置于測試墊212上。如此一來，便能通過壓合件220的重量增加接腳 112與測試墊212之間的緊密度，而使第一電路板110可與第二電路板210 疊合后緊密接合。
請參照圖1C，本實(shí)施例中第二電路板210包括一本體202、多個測試墊 212、多個測試電路216、多個導(dǎo)電元件218。本體202具有一第一表面214、 第二表面215。前述的測試墊212設(shè)置于第一表面214 。多個電路216設(shè)置于第二表面215上，所述測試電路216與測試裝置200的測試系統(tǒng)(未示出) 連接，用以傳遞測試系統(tǒng)的測試信號。此外，再通過導(dǎo)電元件218貫穿設(shè)置 于本體202中，使所述測試電路216與對應(yīng)的測試墊212電性連接。如此一 來，由測試系統(tǒng)傳出的測試信號便能經(jīng)由測試電路216、導(dǎo)電元件218、測 試墊212、接腳112傳遞到面板100。于本實(shí)施例中，導(dǎo)電元件218例如可 為金屬導(dǎo)線、導(dǎo)電塊或其它可用于導(dǎo)電的元件。另外，本實(shí)例采用環(huán)狀的測 試墊212，在實(shí)施情況下，當(dāng)然也可為其它形狀，如圓形或方形。
接著，請參照圖2，其示出了將圖1A中第二電路板置放于固定元件的 上視圖。于本實(shí)施例中，測試裝置200較佳地還包括一固定元件230，該固 定元件230用以固定第二電路板210，以利測試的進(jìn)行。這是由于，在實(shí)際 的操作上，測試人員會測試成千上萬片的面板，因此將第二電路板210固定 于固定元件230后，測試人員僅需替換第一電路板UO(未示出)，如此可大 量減少測試人員的工作。
于本實(shí)施例中，固定元件230較佳地包括一平板232、 一定位板234、 一第一定位柱236、 一第二定位柱238。平板232具有一凹槽232a，此凹槽 232a用以置放第二電路板210及第一電路板1 IO(請參照圖3)，其中凹槽232a 對應(yīng)疊合后的第一電路板110及第二電路板210的形狀設(shè)置，以使疊合后的 第一電路板110及第二電路板210能緊密置放于凹槽232a中。如此一來， 便能避免第一電路板110及第二電路板210在凹槽232a中搖晃。
于本實(shí)施例中，第一定位柱236例如為兩個，設(shè)置于平板232的凹槽232a 中。此外，第二電路板210對應(yīng)所述第一定位柱236具有兩個第一定位孔 210a(也可同時參照圖lA)。如此一來，當(dāng)?shù)诙娐钒?10經(jīng)由第一定位孔210a 套接于第一定位柱236上時，第二電路板210便能固定于平板232的凹槽232a 中，以避免第二電路板210于XY方向移動。另外，定位板234用以固定己 置放于凹槽232a中的第二電路板210，該定位板234可以通過螺絲234a鎖 固于平板232上。特別的是，當(dāng)定位板234固定第二電路板210后，此定位 板234會恰巧裸露出第二電路板210的測試墊212。
接著，請參照圖3，其示出了置放第一電路板于圖2的第二電路板的上 視圖。于本實(shí)施例中，固定元件230還包括兩個第二定位柱238，所述第二 定位柱238設(shè)置于凹槽232a中。第二定位柱238分別對應(yīng)設(shè)置于第二電路
7板210的一測試墊212的兩側(cè)(如圖2所示)，以使第一電路板110置放于凹 槽232a中時，所述第二定位柱238會位于第一電路板110的兩側(cè)。
另外，由于定位板234的位置會恰巧使第二電路板210裸露出測試墊 212(如圖3)，因此當(dāng)?shù)谝浑娐钒?10的頂端抵觸到定位板234時，第一電路 板110的接腳112(因位于另一面，并不會顯示于圖3中)便會與第二電路板 210的測試墊212疊合。此外，再通過第二定位柱238的輔助，調(diào)整第一電 路板110位于第二定位柱238之間。因此，測試人員只要先將第一電路板110 置放于凹槽232a中，將第一電路板110推到抵觸到定位板234且位于兩個 第二定位柱238間，便可使第一電路板IIO于X方向及Y方向同時定位。 接著，再通過壓合件220(未示出于圖3中)使第一電路板110及第二電路板 210緊密接合，即可使接腳112及測試墊212電性耦接。
另外，由于接腳112及測試墊212采用接觸的方式電性連接，所以在替 換面板100測試時，僅需移走面板IOO，不需插拔。因此，通過本實(shí)施例的 測試裝置200進(jìn)行面板IOO的測試，可避免因多次測試而造成第一電路板110 的毀壞，降低面板100損壞率。
綜合以上所述，本發(fā)明的應(yīng)用于面板的測試裝置，可通過測試裝置的測 試墊直接與面板的接腳接觸耦接，直接進(jìn)行測試，不需插拔。如此一來，即 可有效降低在測試中因多次插拔的面板毀壞率，降低成本。
以上為本發(fā)明所舉的實(shí)施例，僅為便于說明而設(shè)，不能以此限制本案的 保護(hù)范圍，即凡所附權(quán)利要求書所限定的范圍所為的各種變換設(shè)計，均應(yīng)包 含在本發(fā)明的保護(hù)范圍中。
權(quán)利要求
1.一種檢測裝置，用以檢測一面板，該面板包括一第一電路板，其中該第一電路板上包括多個接腳，其中該測試裝置包括一第二電路板，包括一本體，具有一第一表面及一第二表面多個測試墊，設(shè)置于該第一表面上，且所述多個測試墊分別對應(yīng)所述多個接腳設(shè)置；多個測試電路，對應(yīng)所述多個測試墊設(shè)置于該第二表面上；及多個導(dǎo)電元件，貫穿設(shè)置于該本體中，用以使所述多個測試電路與所述多個測試墊電性連接；以及一壓合件，對應(yīng)該第二電路板的所述多個測試墊設(shè)置，用以使該第一電路板及該第二電路板疊合后緊密接合；其中，當(dāng)該第一電路板疊合于該第二電路板時，所述多個測試電路經(jīng)由所述多個導(dǎo)電元件、所述多個測試墊與所述多個接腳電性連接。
2. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，還包括一固定元件，用以固定該第二電路板，其中該固定元件包括一平板，具有一凹槽，該凹槽用以置放該第二電路板及該第一電路板，其中該凹槽對應(yīng)疊合后的該第一電路板及該第二電路板的形狀設(shè) 置，以使疊合后的該第一電路板及該第二電路板能置放于該凹槽中。
3. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其中該固定元件還包括 至少一第一定位柱，設(shè)置于該平板的該凹槽中。
4. 如權(quán)利要求3所述的測試裝置，其中該第二電路板還具有 至少一第一定位孔，對應(yīng)該第一定位柱設(shè)置于該本體上，由此使該第二電路板經(jīng)由該第一定位孔套接于該第一定位柱而固定于該凹槽中。
5. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，其中該固定元件還包括-一定位板，用以固定已置放于該凹槽中的該第二電路板，其中當(dāng)該第一 電路板抵觸到該定位板時，該第一電路板的所述多個接腳會與該第二電路板 的所述多個測試墊疊合。
6. 如權(quán)利要求2所述的測試裝置，且該固定元件還包括兩個第二定位柱，分別對應(yīng)已置放于凹槽中的該第二電路板的所述多個 測試墊的兩側(cè)設(shè)置于該凹槽中，以使該第一電路板置放于該凹槽中時，所述 兩個第二定位柱位于該第一電路板的兩側(cè)。
7. 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中所述多個測試墊的形狀為環(huán)形。
8. 如權(quán)利要求7所述的測試裝置，其中所述多個測試墊的直徑小于該接 腳的寬度。
9. 一種面板的檢測方法，包括提供一面板，該面板包括一第一電路板，且該第一電路板包括多個接腳；提供具有一第二電路板的一檢測裝置，且該第二電路板包括多個測試 墊，其中所述多個測試墊對應(yīng)所述多個接腳設(shè)置；疊合該第一電路板及該第二電路板，以使所述多個測試墊與所述多個接 腳電性連接；以及置放一壓合件于該第一電路板及該第二電路板的疊合處，以使該第一電 路板與該第二電路板緊密接合。
10. 如權(quán)利要求9所述檢測方法，還包括 提供一固定元件，且該固定元件包括一具有一凹槽的平板； 置放該第二電路板于該凹槽中；設(shè)置一定位板于該第二電路板上，用以使該第二電路板固定于該凹槽 中，并且使該第二電路板的所述多個測試墊裸露；置放該第一電路板于該第二電路板上，并使該第一電路板抵觸到該定位 板，以使所述多個接腳與所述多個測試墊疊合。
11. 如權(quán)利要求10所述檢測方法，該第二電路板具有至少一第一定位 孔，其中置放該第二電路板于該凹槽的步驟包括經(jīng)由該第一定位孔套接該第二電路板于該固定元件的一第一定位柱上。
12. 如權(quán)利要求10所述檢測方法，該固定元件包括多個第二定位柱，其 中置放該第一電路板的步驟包括調(diào)整該第一電路板，以使該第一電路板位于所述多個第二定位柱之間。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢測裝置及面板的檢測方法。檢測裝置用以檢測面板，該檢測裝置包括第二電路板及壓合件。第二電路板包括本體、多個測試墊、多個測試電路及多個導(dǎo)電元件。本體具有第一表面和第二表面。多個測試墊設(shè)置于本體的第一表面上，且所述測試墊分別對應(yīng)面板的多個接腳設(shè)置。多個測試電路對應(yīng)所述測試墊設(shè)置于本體的第二表面上。多個導(dǎo)電元件貫穿設(shè)置于該本體中以使測試電路與測試墊電性連接。壓合件對應(yīng)第二電路板的測試墊設(shè)置，用以使面板的第一電路板及第二電路板疊合后緊密接合。當(dāng)?shù)谝浑娐钒瀵B合于第二電路板時，所述測試電路經(jīng)由所述導(dǎo)電元件、測試墊與所述接腳電性連接。本發(fā)明可有效降低在測試中因多次插拔的面板毀壞率，可降低成本。
文檔編號G01R31/00GK101666839SQ200910141058
公開日2010年3月10日 申請日期2009年5月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月1日
發(fā)明者蕭安廷, 邱建瑋 申請人:統(tǒng)寶光電股份有限公司