專利名稱：光棒檢測方法及該檢測機臺的制作方法
光棒檢測方法及該檢測機臺
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明所屬的技術(shù)領(lǐng)域涉及發(fā)光二極管，特別是一種關(guān)于光棒檢測方法及該檢測 機臺。
背景技術(shù)：
現(xiàn)行的光棒(LED light bar)是由多顆發(fā)光二極管(以下簡稱LED)串聯(lián)或并聯(lián) 所構(gòu)成，其常用的位置編排法是以每串聯(lián)成組的LED相間穿插的方式排序，以避免各組發(fā) 光組件的LED亮度分布不均而影響液晶顯示器的呈色效果。一條常見的光棒1如

圖1所示，包含有電路板2及裝置于電路板2上的例如60顆 LED 301 360，且在本例中，60顆LED 301 360被分成六組彼此并聯(lián)的串行。為便于說 明，在此將每串10顆LED 301 360的串行稱為一組發(fā)光組件3，且每一組發(fā)光組件3彼 此循序排列，亦即，位于電路板2上排列順序是第1顆LED301屬第1組，第2顆LED302屬 第2組，至第7顆LED307重新為第1組而與第1顆LED301串接、第8顆LED308重新為第
2組而與第2顆LED302串接......，以此類推。六組發(fā)光組件3致能輸入端各自獨立，但
另一端則共享連接至同一接地端接點，而視需求決定致能的輸入端點。為確保每條制造出廠的光棒都不致因為操作人員的身體或機械上所累積的靜電 放電而損壞，目前的光棒均需額外接受「靜電沖擊」(ElectrostaticDischarge，簡稱ESD) 檢測，以例如4000伏特、甚至8000伏特的電壓，在極短的時間(例如IOns)內(nèi)將靜電荷迅 速釋放，在受測組件上造成急速的單一脈沖，并隨后量測受測元件是否受損；而根據(jù)以往的 經(jīng)驗，光棒受靜電沖擊若有受損，則較常發(fā)生的情況，是使得某一組或某幾組串接LED顆粒 中，位于最端部的一顆至三顆發(fā)生損壞。即使每顆LED 301 360均經(jīng)封裝測試確定為良品，仍有可能在焊接于電路板2 上而構(gòu)成整條光棒1的過程中，遭受例如靜電沖擊、制造過程或其它意外問題而損壞，而且 損壞的情況并非僅有單一形式包括短路、斷路、或其它雖未短路或斷路，但在致能時無法 發(fā)光或發(fā)光強度不足與不穩(wěn)定等。傳統(tǒng)的漏電流檢測法雖然可以在LED301 360分別獨 立時，檢測出個別顆粒是否已遭靜電損壞，但由于LED301 360元件在光棒1中已被串聯(lián) 焊接，而無法分辨出串接的發(fā)光組件3中，是否有部分顆粒異常。此外，如表1及圖2所示，五顆LED分別接受ImA至20mA的順向電流致能，并度量 且記錄導(dǎo)通時的順向電壓。其中，元件A的曲線代表多數(shù)無瑕疵LED顆粒電壓-電流測量 結(jié)果，元件B、C、D、E則為刻意由遭靜電損壞的發(fā)光組件中取下、已知有問題的LED顆粒。
權(quán)利要求
一種光棒檢測方法，是經(jīng)由一光棒檢測機臺檢驗待測光棒，該光棒包括電路板及至少一組包括多個設(shè)置于該電路板上且彼此串接的發(fā)光二極管的發(fā)光組件，且該至少一組發(fā)光組件是可受預(yù)定致能訊號致能而發(fā)光，其中該機臺包括一組用以承載并固定該待測光棒的承載裝置；供致能該待測光棒的發(fā)光組件的致能裝置；電氣連結(jié)供檢測該致能裝置輸入至該組發(fā)光組件電流數(shù)據(jù)、及跨越該組發(fā)光組件電壓數(shù)據(jù)的檢測裝置；及儲存有該待測光棒的標(biāo)準(zhǔn)電流 電壓數(shù)據(jù)，并供接收來自該檢測裝置電流及電壓訊號的處理裝置，該檢測方法包括下列步驟a)當(dāng)該組發(fā)光組件是受該致能裝置導(dǎo)電連接時，以遠(yuǎn)低于該致能訊號的微小測試訊號提供給該組發(fā)光組件并接收來自該檢測裝置感測的電流及電壓訊號；b)比較該電流及電壓訊號與該標(biāo)準(zhǔn)電流 電壓數(shù)據(jù)間的偏差；及c)當(dāng)該偏差達(dá)預(yù)定門坎則加以標(biāo)記及/或警示。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，其中該待測光棒具有多組發(fā)光組件，且 該方法更包括當(dāng)該步驟b)將該組發(fā)光組件的感測電流與電壓數(shù)據(jù)與該標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓數(shù) 據(jù)比對后，更換受測發(fā)光組件并重復(fù)上述步驟a)至b)的步驟，直到檢測完所有該待測光棒 的上述發(fā)光組件的步驟d)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，其中該檢測機臺更包括光學(xué)傳感 器，且該檢測方法更包括在該步驟b)比較該感測電流及電壓數(shù)據(jù)符合該標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓數(shù) 據(jù)后，以該致能訊號致能該至少一組發(fā)光組件，并由該光學(xué)傳感器接收該發(fā)光組件所發(fā)光 束而將轉(zhuǎn)換為電訊號輸出至該處理裝置的步驟e)。
4.如權(quán)利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，更包括在步驟a)前，對該待測光棒 施加靜電沖擊的步驟f)。
5.一種光棒檢測機臺，是用以檢驗至少一個待測光棒，該光棒包括電路板及至少一組 包括多個設(shè)置于該電路板上且彼此串接的發(fā)光二極管的發(fā)光組件，且該至少一組發(fā)光組件 是可受預(yù)定致能訊號致能而發(fā)光，其中該機臺包括一組用以承載并固定該至少一個待測光棒的承載裝置；一組供致能該至少一個待測光棒的至少一組發(fā)光組件的致能裝置；電氣連結(jié)供檢測該致能裝置輸入至該組發(fā)光組件電流數(shù)據(jù)、及跨越該組發(fā)光組件電壓 數(shù)據(jù)的檢測裝置；及儲存有該待測光棒的標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓數(shù)據(jù)，并供接收來自該檢測裝置電流及電壓訊號 的處理裝置。
6.如權(quán)利要求5所述的機臺，其特征在于，更包括供檢測該至少一組發(fā)光組件受致能 所發(fā)光束、并轉(zhuǎn)換為電訊號輸出至該處理裝置的光學(xué)傳感器。
7.如權(quán)利要求5所述的機臺，其特征在于，更包括供施加靜電沖擊至該待測光棒的高 壓放電裝置。
8.如權(quán)利要求5所述的機臺，其特征在于，其中該光棒包括有多個發(fā)光組件，且該致能 裝置包括供選擇電性連接上述發(fā)光組件之一的切換開關(guān)。
9.如權(quán)利要求5所述的機臺，其特征在于，其中該機臺更包括有依檢測結(jié)果給予標(biāo)記 及/或發(fā)出警示的提示裝置。
10.如權(quán)利要求5、6、7、8或9所述的機臺，其特征在于，其中該致能裝置包括電流源。
11.如權(quán)利要求5、6、7、8或9所述的機臺，其特征在于，其中該檢測裝置包括檢流計及 電壓計。
全文摘要
本發(fā)明是揭示一種利用LED順向電流特性而快速檢測光棒(LED lightbar)的方法及該檢測機臺。該方法是提供待測光棒的發(fā)光組件一個微小測試訊號并檢測該順向壓降以及電流變化。該機臺則包含承載裝置、致能裝置、檢測裝置及指令各裝置或部分運作并比較所測得的電流電壓訊號的處理裝置。
文檔編號G01R31/02GK101957406SQ20091015756
公開日2011年1月26日 申請日期2009年7月14日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月14日
發(fā)明者劉衍慶, 張敏宏, 鄭光哲, 陳正雄 申請人:致茂電子(蘇州)有限公司