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      具有可伸縮的絕緣套筒的測試導(dǎo)線探針的制作方法

      文檔序號:6155797閱讀:292來源:國知局
      專利名稱:具有可伸縮的絕緣套筒的測試導(dǎo)線探針的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明通常涉及測試工具導(dǎo)線探針,尤其涉及一個(gè)或多個(gè)關(guān)于具有可調(diào)整長度的
      探針針尖的測試探針的實(shí)施例。
      背景技術(shù)
      測試工具,例如萬用表、電壓表、示波器等、用于測量各種電子設(shè)備中的電參數(shù)。圖1示例了典型的測試工具100。測試工具100具有測試探針102,該探針耦合至測試工具100的輸入/輸出104。測試探針102具有測試導(dǎo)線106,該測試導(dǎo)線具有耦合至測試工具100的輸入/輸出104的第一端部108以及耦合至探針體112的第二端部110。探針體112包括針尖114,其耦合至將要測量或測試的設(shè)備(未示出)的測試點(diǎn)(未示出)。本領(lǐng)域技術(shù)人員將清楚的是,第二測試探針(未示出),例如接地接頭,可以耦合至輸入/輸出105。
      通常,不同長度的測試探針針尖用于不同的測試應(yīng)用中。在過去,為了滿足不同長度探針針尖的需求,各種具有不同探針針尖長度的測試探針組件與測試工具一起使用。例如,使用者可以具有兩套測試探針, 一套探針具有較長長度的探針針尖,另一套具有較短的探針針尖。滿足不同長度探針的需求的另一種方法是使用可從探針手柄或主體上移除的探針針頭。因此,不用替換整個(gè)探針組件,只要替換探針針尖。然而,這些解決方案都要求使用者不得不管理兩套測試探針,或者整個(gè)測試探針組件或者測試探針針尖。通常,測試探針位于阻塞的位置,并且當(dāng)切換不同的探針時(shí),具有多個(gè)測試探針或探針針尖可能導(dǎo)致對使用者的問題。例如,使用者可能在攜帶額外的探針時(shí)有困難,或裝置可能將使用者置于麻煩的境地,以致更換探針困難。此外,因?yàn)橛蟹珠_的測試探針,使用者可能會(huì)將探針放錯(cuò)位置、掉落或遺失,以致當(dāng)需要時(shí),不能獲得適當(dāng)?shù)奶结樆蛱结樶樇狻?然而,最近,測試探針已經(jīng)被設(shè)計(jì)得帶探針針尖,該探針針尖在探針手柄或主體內(nèi)可滑動(dòng)。因此,當(dāng)需要不同長度探針針尖時(shí),不用替換整個(gè)探針組件,探針針尖滑入或滑出探針體,并且以所需的長度鎖止在適當(dāng)?shù)奈恢?。例如,?dāng)需要更長的探針針尖時(shí),可以松開將探針針尖固定在探針體內(nèi)的鎖止機(jī)構(gòu),以使得探針針尖能自由地在探針體內(nèi)移動(dòng)。使用者可以隨后滑動(dòng)探針針尖,以使得探針針尖的更大部分從探針體暴露,并且將探針針尖鎖止在適當(dāng)?shù)奈恢?。因此,不用替換探針組件或探針針尖,單個(gè)探針針尖可以用作變長度的探針針尖。當(dāng)需要長的探針長度時(shí),探針針尖滑出探針體,以使得更多的探針針尖從探針體延伸。當(dāng)需要短的探針長度時(shí),一些暴露的探針針尖滑回到探針體內(nèi),以使得更少的探針針尖從探針體延伸。因此,單個(gè)探針針尖提供多功能性,并且使用者不需要攜帶具有不同長度的探針。 近來,已經(jīng)開發(fā)了安全標(biāo)準(zhǔn),以限制暴露的探針針尖的長度。尤其,國際電子技術(shù)委員會(huì)(IEC),在技術(shù)委員會(huì)(TC66)的指導(dǎo)下,形成涉及稱之為IEC-61010-031的測試探針的測試和測量裝置的安全標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了對各種測試應(yīng)用的測試探針針尖的需要。例如,安全標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)說明了在工業(yè)應(yīng)用中使用的探針的暴露金屬針尖的長度,稱之為種類III(CAT III)與種類IV(CAT IV)安裝,在長度上必須小于4mm。低能量應(yīng)用的探針針尖,例如在家庭應(yīng)用或種類II(CAT II)安裝中使用的,在長度上必須小于18mm。具有在長度上有18mm暴露金屬的探針針尖非常重要,因?yàn)檫@使得使用者易于將探針針尖插入標(biāo)準(zhǔn)壁插座內(nèi)以快速和精確地測量,這用4mm的探針針尖是不可能的。對于存在高能的工業(yè)應(yīng)用(CAT III與CAT IV),減少的4mm的探針針尖對于輔助降低電弧風(fēng)險(xiǎn)與電弧閃光危險(xiǎn)是非常重要的,這在CAT II環(huán)境中不成問題。 因此,當(dāng)使用上述可滑動(dòng)的探針針尖時(shí),使用者將不知道探針針尖的暴露長度是否處于指定的長度以滿足安全標(biāo)準(zhǔn),除非每次在探針針尖的暴露長度上進(jìn)行測量,調(diào)整探針針尖長度。這需要使用者攜帶測量工具,并且導(dǎo)致耗費(fèi)時(shí)間的第二步驟。盡管使用者可以暴露一部分探針針尖,該部分探針針尖明顯少于以上論述的安全標(biāo)準(zhǔn)所需的,并且不必進(jìn)行測量,大部分應(yīng)用需要在安全標(biāo)準(zhǔn)之下允許的整個(gè)量。例如,在家庭應(yīng)用中,使用者需要探針針尖非常接近18mm的最大長度,因?yàn)槠湓试S使用者將探針針尖插入標(biāo)準(zhǔn)壁插座內(nèi)。
      因此,需要具有可調(diào)整長度的探針針尖的測試探針,該測試探針標(biāo)引預(yù)定長度。此外,需要可調(diào)整的探針針尖,該探針針尖向使用者傳達(dá)暴露的探針針尖的長度。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的實(shí)施例指向與測試和測量裝置使用的測試探針,并且更具體地,一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例涉及具有探針針尖的測試探針,該探針針尖具有對至少兩個(gè)位置可標(biāo)引的長度。在本發(fā)明的一方面中,測試探針包括具有主區(qū)段與第一端部的導(dǎo)體元件,第一端部由導(dǎo)電針尖限定。測試探針進(jìn)一步包括圍繞導(dǎo)體元件的主區(qū)段的一部分的絕緣元件。測試探針進(jìn)一步包括定位于絕緣元件與導(dǎo)體元件之間的絕緣套筒。絕緣套筒可以被機(jī)械地耦合至絕緣元件,以使得絕緣套筒相對于導(dǎo)體元件軸向運(yùn)動(dòng)。 在本發(fā)明的另一方面中,測試探針包括在第一端部處具有開口的絕緣元件。絕緣元件的內(nèi)表面包括至少一個(gè)突起。測試探針進(jìn)一步包括定位于絕緣元件的開口中的絕緣套筒。絕緣套筒具有至少一個(gè)槽,其與至少一個(gè)突起中的相應(yīng)的一個(gè)對齊。測試探針進(jìn)一步包括從絕緣套筒的第一端部延伸的導(dǎo)體元件。導(dǎo)體元件具有限定第一端部的導(dǎo)電針尖。
      本發(fā)明的另一方面包括用于調(diào)整從絕緣元件暴露的探針針尖的長度的方法。該方法包括提供從測試探針延伸的絕緣套筒的第一長度,并且通過測試探針中的物理特性,從第一長度至第二長度改變絕緣套筒從測試探針延伸的長度。第二長度為距第一長度的特定距離。


      圖1為根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的測試工具的示意圖。
      圖2A為根據(jù)本發(fā)明的-一個(gè)實(shí)施例的測試探針的示意圖。圖2B為根據(jù)本發(fā)明的-一個(gè)實(shí)施例的測試探針的示意圖。圖3A為根據(jù)本發(fā)明的-一個(gè)實(shí)施例的測試探針的橫截面示意圖。圖3B為根據(jù)本發(fā)明的-一個(gè)實(shí)施例的測試探針的橫截面示意圖。圖4A為根據(jù)本發(fā)明的-一個(gè)實(shí)施例的絕緣套筒的等角示意圖。圖4B為根據(jù)本發(fā)明的-一個(gè)實(shí)施例的絕緣套筒的等角示意圖。圖5A為根據(jù)本發(fā)明的-一個(gè)實(shí)施例的探針體的頂部分的等角示意圖。
      圖5B為根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的探針體的頂部分的橫截面示意圖。
      圖5C為根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的探針體的頂部分的示意圖。
      具體實(shí)施例方式
      本發(fā)明的實(shí)施例指向與測試和測量裝置使用的測試探針,并且更具體地,一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例涉及具有探針針尖的測試探針,該探針針尖具有對至少兩個(gè)位置可標(biāo)引的長度。在某些實(shí)施例中,測試探針包括標(biāo)引多個(gè)位置的可伸縮絕緣套筒??梢允褂脵C(jī)械系統(tǒng)、光學(xué)系統(tǒng)、或其任何組合來標(biāo)引絕緣套筒。以下列出一些細(xì)節(jié),以提供對本發(fā)明的實(shí)施例的足夠理解。然而,對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言,應(yīng)該清楚的是,本發(fā)明的各種實(shí)施例可以在沒有
      這些特定細(xì)節(jié)的情況下實(shí)施。 圖2A與2B為根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的測試探針200的示意圖。圖2A與2B中的測試探針200包括探針針尖202與探針體204。探針針尖202由導(dǎo)電材料制成,并且被配置成設(shè)置得與電設(shè)備(未示出)的測試點(diǎn)(未示出)電通信。探針體204由絕緣材料制成。探針體204與探針針尖202被配置成耦合于測試導(dǎo)線。測試導(dǎo)線被配置成耦合于測試工具(未示出)的輸入/輸出。 探針體204包括手柄部分206與頂部分208。手柄部分206可以被耦合于測試導(dǎo)線。頂部分208可以包括鼻端210、護(hù)指件212、以及頸圈214或其任何組合。頂部分208的頸圈214被機(jī)械地耦合于探針體204的手柄部分206。該耦合可以是壓配合、卡扣配合、螺紋耦合或任何其他已知或以后開發(fā)的機(jī)械耦合。絕緣套筒216被定位于探針體204中,并且從頂部分208的鼻端210延伸。然而,如果頂部分208僅包括頸圈214,絕緣套筒會(huì)從頸圈214直接延伸。絕緣套筒216由絕緣材料制成。探針針尖202從絕緣套筒216延伸。在某些實(shí)施例中,探針針尖202在探針體204內(nèi)保持固定。然而,絕緣套筒216從探針體204可延伸和可縮回。 在圖2A中,絕緣套筒216被縮入探針體204的頂部分208內(nèi)。在圖2B中,絕緣套筒216從探針體204的頂部分208延伸,從而絕緣套筒216圍繞探針針尖202的一部分。正如從圖2A與2B可見的,當(dāng)絕緣套筒216被縮入探針體204的頂部分208內(nèi)時(shí)比當(dāng)絕緣套筒216從探針體204的頂部分208中延伸時(shí),暴露出更多的探針針尖202。
      當(dāng)探針體204的頂部分208相對于手柄部分206被旋轉(zhuǎn)時(shí),絕緣套筒216從頂部分208的鼻端210延伸和縮回。通過在第一方向上旋轉(zhuǎn)頂部分208,絕緣套筒216從頂部分208延伸。相反,通過在沿第二方向上旋轉(zhuǎn)頂部分208,例如第一方向的相反方向,絕緣套筒216縮入探針體204內(nèi)。此外,在圖2A與2B示出的實(shí)施例中,探針體204的頂部分208的頸圈214可以包括開口 220。開口 220可以與標(biāo)記221對齊,以傳達(dá)暴露的探針針尖202的長度或種類等級,該種類等級是在以上論述的安全標(biāo)準(zhǔn)下合格的探針針尖202的長度。例如,當(dāng)絕緣套筒216如圖2A所示被完全縮入探針體204內(nèi)時(shí),標(biāo)記221可以與第一標(biāo)記對齊,并且當(dāng)絕緣套筒216如圖2B所示被完全從探針體204中延伸時(shí),標(biāo)記221可以與第二標(biāo)記對齊。因此,標(biāo)記221向使用者傳達(dá)從絕緣套筒216延伸的探針針尖202的長度。該標(biāo)記221可以是可視元件或物理元件。標(biāo)記221可以指示該長度被評估的種類等級或暴露的探針針尖202的實(shí)際長度。 圖3A與3B為根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的測試探針300的橫截面示意圖,該測試
      6探針300包括測試探針針尖202、絕緣套筒216、頂部分208、以及探針體的手柄部分206。探針體的頂部分208包括鼻端210、護(hù)指件212、以及參照圖2A與2B描述的頸圈214。在該實(shí)施例中,頂部分208的內(nèi)表面包括兩個(gè)突起或銷222與224。絕緣套筒包括兩條螺旋線226與228,其在該實(shí)施例中示出為沿著絕緣套筒216的表面的切槽(cut outs)。頂部分208的內(nèi)表面上的突起222與224被定位成,當(dāng)頂部分208在第一方向上被旋轉(zhuǎn)時(shí),突起222與224通過沿各個(gè)螺旋線226與228的移動(dòng)來引導(dǎo)絕緣套筒216的運(yùn)動(dòng),因此,使得絕緣套筒216如圖3A中的測試探針300中示出的從探針的頂部分208延伸。當(dāng)探針的頂部分208再次被旋轉(zhuǎn)時(shí),銷222與224引導(dǎo)絕緣套筒216的運(yùn)動(dòng),使得絕緣套筒216如圖3B所示的縮入探針的頂部分208內(nèi)。圖3A與3B中的實(shí)施例示出了具有兩個(gè)銷的頂部分。然而,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)該清楚的是,頂部分可以具有僅一個(gè)銷或多于兩個(gè)的銷,以引導(dǎo)絕緣套筒的運(yùn)動(dòng)。在一個(gè)實(shí)施例中,如果頂部分具有一個(gè)銷,那么絕緣套筒可以具有一個(gè)螺旋線。在一個(gè)實(shí)施例中,頂部分208可以在相同的方向上旋轉(zhuǎn),以延伸和縮回探針針尖202。在另一實(shí)施例中,頂部分208可以在第一方向上旋轉(zhuǎn),以延伸探針針尖202,和在相反方向上旋轉(zhuǎn),以縮回探針針尖202。 圖4A為根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的絕緣套筒217的等角示意圖。絕緣套筒217被設(shè)計(jì)成與單個(gè)銷一起使用。絕緣套筒217包括具有主區(qū)段230、第一端部232、以及第二端部234的螺旋線226。螺旋線226的第一端部232具有第一定位槽或第一鎖止位置236,并且螺旋線226的第二端部234具有第二定位槽或第二鎖止位置238。當(dāng)銷被定位于第一或第二定位槽236與238時(shí),銷被移動(dòng)出螺旋線226的主區(qū)段230。尤其,當(dāng)銷被定位于第一或第二定位槽236與238時(shí),絕緣套筒217被閉鎖在相對于探針的合適位置中。圖4B為根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的絕緣套筒216的等角示意圖。絕緣套筒216包括兩個(gè)螺旋線226與228。每個(gè)螺旋線226與228均具有主區(qū)段230、螺旋線的第一端部232、螺旋線的第二端部234、第一定位槽236與第二定位槽238。 現(xiàn)參照圖3A, 3B與4B來說明將絕緣套筒216從第一位置217移動(dòng)至第二位置219。在圖3A中,銷222與224被閉鎖在各自的第二定位槽238中。當(dāng)銷222與224被閉鎖在第二定位槽238中時(shí),絕緣套筒216被完全延伸,并且絕緣從探針體的頂部分208延伸的探針針尖202的一部分。因此,探針針尖202的暴露長度為從絕緣套筒216延伸的長度。為了使得絕緣套筒216縮入探針體的頂部分208內(nèi),旋轉(zhuǎn)力可以應(yīng)用于頂部分208,以使得銷222與224進(jìn)入螺旋線226與228的各自的第二端部234。 一旦銷222與224被定位于螺旋線226與228的第二端部234內(nèi),探針體的頂部分208可以被進(jìn)一步旋轉(zhuǎn),以使得銷222與224引導(dǎo)絕緣套筒216沿螺旋線226與228的主區(qū)段230移動(dòng)。當(dāng)銷222與224沿各自螺旋線226與228的主區(qū)段230從第二端部238移動(dòng)至第一端部232時(shí),絕緣套筒216縮入探針體的頂部分208。銷222與224沿螺旋線226與228的各自的主區(qū)段230移動(dòng),直至銷222與224到達(dá)螺旋線226與228的第一端部232。在螺旋線226與228的第一端部232處,當(dāng)頂部分208被進(jìn)一步旋轉(zhuǎn)時(shí),銷222與224被定位于第一定位槽236中。當(dāng)銷被定位于第一定位槽中時(shí),絕緣套筒被完全縮入探針內(nèi)。 將銷222與224從第一定位槽移動(dòng)至螺旋線的第一端部所需的旋轉(zhuǎn)力通常大于將銷沿螺旋線的主區(qū)段移動(dòng)所需的旋轉(zhuǎn)力。相似地,將銷從第二定位槽移動(dòng)至螺旋線的第二端部所需的旋轉(zhuǎn)力通常大于將銷沿螺旋線的主區(qū)段移動(dòng)所需的旋轉(zhuǎn)力。因此,當(dāng)銷被定位于第一定位槽或第二定位槽時(shí),絕緣套筒被鎖止在各自的位置內(nèi)。 圖5A為圖3A與3B中所示的頂部分208的等角示意圖。圖5B為圖5A中的頂部分的橫截面示意圖。圖5C為圖5A中的頂部分的示意圖。在該實(shí)施例中,如在圖5B與5C中最清楚的示出的,頂部分208包括兩個(gè)銷222與224。如上所述,兩個(gè)銷222與224被配置得定位成使得它們與絕緣套筒216上的螺旋線226與228對齊。此外,頂部分208進(jìn)一步包括與標(biāo)記對齊的開口 220。標(biāo)記傳達(dá)暴露的探針針尖202的長度或種類等級,該種類等級是在以上論述的安全標(biāo)準(zhǔn)下合格的探針針尖202的長度。例如,在一個(gè)實(shí)施例中,當(dāng)絕緣套筒216完全從鼻端210延伸,以使得銷222與224被定位于第一定位槽236中時(shí),第一標(biāo)記可以與開口 220對齊。相反,當(dāng)絕緣套筒216被縮入鼻端210內(nèi),以使得銷222與224被定位于第二定位槽238中時(shí),第二標(biāo)記可以與開口 220對齊。第一與第二標(biāo)記可以被定位于任意合適的設(shè)備上,該設(shè)備可操作地與開口 220對齊。在一個(gè)實(shí)施例中,標(biāo)記被定位于探針體204的一部分上。在另一個(gè)實(shí)施例中,標(biāo)記被定位于絕緣套筒216的一部分上。如上所述的,每個(gè)標(biāo)記向使用者指示是何種類等級,該種類等級評定探針針尖的暴露部分的長度。
      雖然已經(jīng)參照公開的實(shí)施例描述了本發(fā)明,但本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知道的是,在不脫離本發(fā)明的精神與范圍的情況下,可以在形式與細(xì)節(jié)上進(jìn)行改變。例如,絕緣套筒可以標(biāo)引多個(gè)位置。絕緣套筒可以具有通過如上所述的第一主螺旋線耦合在一起的第一與第二定位槽,還有通過第二主螺旋線耦合至第二定位槽的第三定位槽。因此,當(dāng)銷被定位于第三定位槽中時(shí),絕緣套筒能夠閉鎖在第三位置內(nèi)。第三位置會(huì)使探針針尖的第三長度從探針體的頂部分延伸。此外,絕緣套筒可以延伸至第三位置,在該第三位置中,絕緣套筒完全覆蓋探針針尖。另外,任何傳達(dá)方式均可以被用于向使用者傳達(dá)探針針尖或絕緣套筒已經(jīng)被標(biāo)引,例如可視元件、音頻元件、或標(biāo)記部分上的凸起的表面,使用者可以感受該標(biāo)記部分上的凸起的表面,以確定暴露的探針針尖的長度或種類等級??梢允褂脤⒔^緣套筒閉鎖到特定位置中的任何方法。這種修改對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是很可能的。因此,本發(fā)明僅由所附權(quán)利要求來限定。
      權(quán)利要求
      一種測試探針,包括導(dǎo)體元件,具有主區(qū)段與第一端部,所述第一端部由導(dǎo)電針尖限定;絕緣元件,圍繞所述導(dǎo)體元件的所述主區(qū)段的一部分;以及絕緣套筒,定位于所述絕緣元件與所述導(dǎo)體元件之間,所述絕緣套筒機(jī)械地耦合于所述絕緣元件,以使得所述絕緣套筒相對于所述導(dǎo)體元件軸向運(yùn)動(dòng)。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試探針,其中,所述機(jī)械耦合包括所述絕緣元件的內(nèi)表面 上的突起,所述突起與所述絕緣套筒上的槽對齊。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試探針,其中,旋轉(zhuǎn)所述絕緣元件,使得所述突起將所述絕 緣套筒從第一位置移動(dòng)至第二位置。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試探針,其中,所述槽具有在第一端部處的第一凹槽以及 在第二端部處的第二凹槽。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試探針,其中,當(dāng)所述突起被定位于所述第一凹槽或所述 第二凹槽中時(shí),需要比當(dāng)所述突起被定位于所述槽中時(shí)更大的力,來相對于所述絕緣套筒 旋轉(zhuǎn)所述絕緣元件。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試探針,其中,所述絕緣元件具有與第二絕緣元件上的標(biāo) 記部分對齊的開口 ,所述標(biāo)記部分描述了從所述絕緣套筒的端部暴露的所述導(dǎo)體元件的長 度,或從所述絕緣套筒的端部暴露的所述導(dǎo)體元件的長度的種類安全等級。
      7. —種測試探針,包括絕緣元件,具有在第一端部處的開口 ,所述絕緣元件的內(nèi)表面包括至少一個(gè)突起; 絕緣套筒,定位于所述絕緣元件的開口內(nèi),所述絕緣套筒具有至少一個(gè)槽,該槽與至少一個(gè)突起中的相應(yīng)的一個(gè)對齊;導(dǎo)體元件,從所述絕緣套筒的第一端部延伸,所述導(dǎo)體元件具有限定第一端部的導(dǎo)電針尖。
      8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試探針,其中,相對于所述絕緣套筒旋轉(zhuǎn)所述絕緣元件,以 使得所述絕緣套筒相對于所述導(dǎo)體元件滑動(dòng)。
      9. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試探針,其中,所述至少一個(gè)槽為螺旋線。
      10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試探針,其中,所述螺旋線包括在第一端部處的第一凹槽 與在第二端部處的第二凹槽。
      11. 根據(jù)權(quán)利要求io所述的測試探針,其中,當(dāng)所述至少一個(gè)突起被定位于所述各自的第一或第二凹槽內(nèi)時(shí),所述絕緣套筒相對于所述導(dǎo)體元件鎖定。
      12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試探針,其中,當(dāng)所述至少一個(gè)突起被定位于所述第一 凹槽中時(shí),所述導(dǎo)體元件的第一長度從所述絕緣套筒延伸,并且,當(dāng)所述至少一個(gè)突起被定 位于所述第二凹槽中時(shí),所述導(dǎo)體元件的第二長度從所述絕緣套筒暴露,所述第一長度距 所述第二長度特定的距離。
      13. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試探針,其中,所述絕緣元件包括標(biāo)記部分,該標(biāo)記部分 描述了當(dāng)所述突起被定位于所述第一定位槽中時(shí),從所述絕緣套筒延伸的所述導(dǎo)體元件的 特征。
      14. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試探針,其中,所述絕緣元件包括標(biāo)記部分,該標(biāo)記部分 描述了當(dāng)所述突起被定位于所述第一定位槽中時(shí),從所述絕緣套筒暴露的所述導(dǎo)體元件的長度的種類等級。
      15. —種用于調(diào)節(jié)從測試探針中的絕緣套筒暴露的探針針尖的長度的方法,包括 提供從所述測試探針延伸的所述絕緣套筒的第一長度;禾口將從所述測試探針延伸的所述絕緣套筒的長度從所述第一長度改變至第二長度,所述 第一與第二長度由所述測試探針中的物理特性來確定。
      16. 根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中,改變從所述測試探針延伸的所述絕緣套筒的長度的動(dòng)作包括改變從所述絕緣套筒暴露的所述探針針尖的長度。
      17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,進(jìn)一步包括指示從所述絕緣套筒暴露的所述探針針 尖的長度小于特定長度。
      18. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,進(jìn)一步包括指示從所述絕緣材料暴露的所述探針針 尖的長度滿足特定應(yīng)用的需求。
      19. 根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法,其中,改變從所述測試探針延伸的所述絕緣套筒的 長度的動(dòng)作包括相對于第二絕緣材料旋轉(zhuǎn)第一絕緣材料,以使得所述絕緣套筒相對于所述 探針針尖軸向地移動(dòng)。
      20. 根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法,其中,改變從所述測試探針延伸的所述絕緣套筒的 長度的所述測試探針中的物理特性包括在所述第一絕緣材料的內(nèi)表面上的突起,所述突起 沿所述第二絕緣材料的外表面上的螺旋線行進(jìn)。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及具有可標(biāo)引的探針針尖的測試探針。在一個(gè)實(shí)施例中,絕緣套筒從測試探針延伸,并且圍繞暴露的探針針尖的一部分。絕緣套筒相對于探針針尖可移動(dòng),并且可以標(biāo)引至少兩個(gè)位置。例如,絕緣套筒鎖止入第一位置,以提供從絕緣套筒暴露的探針針尖的第一長度,并且絕緣套筒鎖止入第二位置,以提供從絕緣套筒暴露的探針針尖的第二長度。
      文檔編號G01R1/067GK101788574SQ20091017102
      公開日2010年7月28日 申請日期2009年8月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月22日
      發(fā)明者S·C·彼得里克 申請人:弗盧克公司
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