專利名稱：量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種誤差計(jì)算系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系 統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
示值就是由量測(cè)儀器所指示的被量測(cè)值。量測(cè)儀器的示值誤差是量測(cè)器具指示出 來(lái)的量測(cè)值與被量測(cè)值的實(shí)際數(shù)值之差，它是量測(cè)儀器最主要的計(jì)量特性之一，本質(zhì)上反 映了量測(cè)儀器準(zhǔn)確度的大小。示值誤差大，則其準(zhǔn)確度低；示值誤差小，則其準(zhǔn)確度高?，F(xiàn)使用的精密影像量測(cè)儀器的量測(cè)精度較普通量具量測(cè)準(zhǔn)確，但其仍然存在量測(cè) 誤差，因此，需要量測(cè)出儀器的示值誤差做精度補(bǔ)償以達(dá)到較高的精度等級(jí)。目前，量測(cè)儀 器示值誤差的量測(cè)都是工作人員自己編寫程序進(jìn)行量測(cè)，沒有統(tǒng)一的操作流程，操作過(guò)程 繁瑣，容易出錯(cuò)。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)，可以使量測(cè)儀器根 據(jù)設(shè)置的參數(shù)自動(dòng)進(jìn)行量測(cè)，并快速得到量測(cè)儀器的示值誤差。此外，還有必要提供一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，可以使量測(cè)儀器根據(jù)設(shè)置 的參數(shù)自動(dòng)進(jìn)行量測(cè)，并快速得到量測(cè)儀器的示值誤差。一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)，運(yùn)行于量測(cè)儀器中，所述量測(cè)儀器包括存儲(chǔ)設(shè) 備，該系統(tǒng)包括設(shè)置模塊，用于設(shè)置量測(cè)儀器的量測(cè)參數(shù)，所述量測(cè)參數(shù)包括量測(cè)方向、量 測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)；獲取模塊，用于從存儲(chǔ)設(shè)備中獲取所量測(cè)的線紋尺在各量測(cè)距離限定 的刻度處的刻度誤差及線紋尺的零點(diǎn)刻度；調(diào)整模塊，用于調(diào)整所量測(cè)的線紋尺的方向，使 所量測(cè)的線紋尺與所設(shè)置的量測(cè)方向平行；量測(cè)模塊，用于控制量測(cè)儀器根據(jù)所設(shè)置的量 測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)進(jìn)行量測(cè)，并將量測(cè)結(jié)果存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備；及計(jì)算模塊，用于根據(jù)線紋尺 在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差和量測(cè)結(jié)果，計(jì)算量測(cè)儀器在各量測(cè)距離的示值誤 差，并所述示值誤差存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備。—種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，適用于量測(cè)儀器中，所述量測(cè)儀器包括存儲(chǔ)設(shè) 備，該方法包括步驟設(shè)置量測(cè)儀器的量測(cè)參數(shù)，所述量測(cè)參數(shù)包括量測(cè)方向、量測(cè)距離及 量測(cè)選項(xiàng)；從存儲(chǔ)設(shè)備中獲取所量測(cè)的線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差及線 紋尺的零點(diǎn)刻度；調(diào)整所量測(cè)的線紋尺的方向，使所量測(cè)的線紋尺與所設(shè)置的量測(cè)方向平 行；控制量測(cè)儀器根據(jù)所設(shè)置的量測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)進(jìn)行量測(cè)，并將量測(cè)結(jié)果存儲(chǔ)至存儲(chǔ) 設(shè)備；及根據(jù)線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差和量測(cè)結(jié)果，計(jì)算量測(cè)儀器在 各量測(cè)距離的示值誤差，并所述示值誤差存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明所提供的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)及方法，可以使量 測(cè)儀器根據(jù)設(shè)置的參數(shù)自動(dòng)進(jìn)行量測(cè)，并快速得到量測(cè)儀器的示值誤，操作簡(jiǎn)單方便，提高 了工作效率。


圖1為本發(fā)明量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境示意圖。圖2為圖1中示值誤差量測(cè)系統(tǒng)的功能模塊圖。圖3為本發(fā)明量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法較佳實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施例方式參閱圖1所示，是本發(fā)明量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境示意 圖。所述示值誤差量測(cè)系統(tǒng)10運(yùn)行于量測(cè)儀器1中。所述量測(cè)儀器1可以是精密影像量 測(cè)儀器或其它任意適用的具備數(shù)據(jù)處理功能的量測(cè)儀器。所述量測(cè)儀器1還包括存儲(chǔ)設(shè)備 12及處理器14。所述存儲(chǔ)設(shè)備12用于存儲(chǔ)測(cè)試相關(guān)參數(shù)、測(cè)試結(jié)果以及示值誤差量測(cè)系統(tǒng)10的 計(jì)算機(jī)化程序代碼。存儲(chǔ)設(shè)備12可以是量測(cè)儀器1內(nèi)置的存儲(chǔ)器，也可以是量測(cè)儀器1外 接的存儲(chǔ)器。所述處理器14執(zhí)行示值誤差量測(cè)系統(tǒng)10的計(jì)算機(jī)化程序代碼，對(duì)量測(cè)儀器的示 值誤差進(jìn)行快速量測(cè)。參閱圖2所示，是圖1中示值誤差量測(cè)系統(tǒng)10的功能模塊圖。所述示值誤差量測(cè) 系統(tǒng)10包括輸入模塊100、判斷模塊102、設(shè)置模塊104、獲取模塊106、調(diào)整模塊108、量測(cè) 模塊110及計(jì)算模塊112。本發(fā)明所稱的模塊是完成一特定功能的計(jì)算機(jī)程序段，比程序更 適合于描述軟件在計(jì)算機(jī)中的執(zhí)行過(guò)程，因此在本發(fā)明以下對(duì)軟件描述中都以模塊描述。所述輸入模塊100用于輸入示值誤差量測(cè)系統(tǒng)10的參數(shù)修改密碼。所述判斷模塊102用于判斷所述輸入的參數(shù)修改密碼正確。若所述輸入的參數(shù)修 改密碼與存儲(chǔ)設(shè)置12中所保存的參數(shù)修改密碼相同，則判斷模塊102判斷所述輸入的參數(shù) 修改密碼正確，進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面；若所述輸入的參數(shù)修改密碼與存儲(chǔ)設(shè)置12中所保存的 參數(shù)修改密碼不相同，則判斷模塊102判斷所述輸入的參數(shù)修改密碼不正確，提示用戶參 數(shù)修改密碼輸入錯(cuò)誤。所述設(shè)置模塊104用于設(shè)置量測(cè)儀器1的量測(cè)參數(shù)。在本實(shí)施例中，所述設(shè)置模 塊104提供參數(shù)設(shè)置界面，以供使用者進(jìn)行量測(cè)參數(shù)的設(shè)置。在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，所 述設(shè)置模塊104自動(dòng)進(jìn)行量測(cè)參數(shù)的設(shè)置，也就是說(shuō)，在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，所述輸入 模塊100及判斷模塊102非必要。所述量測(cè)參數(shù)包括，但不限于，量測(cè)方向、量測(cè)距離、量測(cè) 選項(xiàng)及所量測(cè)的線紋尺的類型。在本實(shí)施例中，所述量測(cè)方向包括四個(gè)量測(cè)方向，分別為量測(cè)作業(yè)坐標(biāo)系的X軸 方向，Y軸方向，與X軸成45度角的方向及與X軸成135度角的方向。所述量測(cè)方向?yàn)閄軸 方向時(shí)，即將線紋尺沿X軸方向擺放進(jìn)行量測(cè)；所述量測(cè)方向?yàn)閅軸方向時(shí)，即將線紋尺沿 Y軸方向擺放進(jìn)行量測(cè)；所述量測(cè)方向?yàn)榕cX軸成45度角的方向時(shí)，即將線紋尺沿與X軸 成45度角的方向擺放進(jìn)行量測(cè)；所述量測(cè)方向?yàn)榕cX軸成135度角的方向時(shí)，即將線紋尺 沿與X軸成135度角的方向擺放進(jìn)行量測(cè)。所述量測(cè)距離是指線紋尺上的量測(cè)距離。所述量測(cè)距離的設(shè)置可以參照J(rèn)IS B7440標(biāo)準(zhǔn)，也可以自定義。例如按照J(rèn)IS B7440標(biāo)準(zhǔn)，量測(cè)距離分別為總行程的十分之一，五分之一，五分之二，五分之三及五分之四，若總行程為300mm，則量測(cè)距離分別為 30mm，60mm，120mm，180mm，及240mm。若選擇自定義設(shè)置量測(cè)距離，且將量測(cè)距離的間隔設(shè) 置為 10mm，則量測(cè)距離分別為 10mm，20mm，30mm，40mm，50mm，60mm，70mm，80mm，90mm，100mm, 110mm,120mm,130mm,140mm,150mm,160mm,170mm,180mm,190mm,200mm,210mm,220mm, 230mm,240mm,250mm,260mm,270mm,280mm,290mm,300mm。在本實(shí)施例中，所述量測(cè)選項(xiàng)包括執(zhí)行次數(shù)、暫停時(shí)間、自動(dòng)調(diào)整光源及線紋尺指 定長(zhǎng)度。所述執(zhí)行次數(shù)是指循環(huán)量測(cè)的次數(shù)，例如，若量測(cè)距離分別為30mm，60mm，120mm， 180mm,及240mm，當(dāng)設(shè)置執(zhí)行次數(shù)為1時(shí)，該系統(tǒng)在量測(cè)距離為30mm，60mm, 120mm, 180mm,及 240mm處進(jìn)行一次量測(cè)；當(dāng)設(shè)置執(zhí)行次數(shù)為2時(shí)，該系統(tǒng)在量測(cè)距離為30mm，60mm，120mm， 180mm,及240_處進(jìn)行一次量測(cè)后，再分別在量測(cè)距離為30mm，60mm, 120mm, 180mm,及 240mm處進(jìn)行第二次量測(cè)。所述暫停時(shí)間是指對(duì)每一量測(cè)距離進(jìn)行量測(cè)所需的時(shí)間，例如 1秒。所述自動(dòng)調(diào)整光源是指自動(dòng)調(diào)整光源至最佳狀態(tài)。所述線紋尺指定長(zhǎng)度是指線紋尺 的總長(zhǎng)度。所述線紋尺的類型包括刻度下對(duì)齊線紋尺和刻度上對(duì)齊線紋尺。所述刻度下對(duì) 齊線紋尺是指線紋尺的下部刻度長(zhǎng)度對(duì)齊，量測(cè)儀器在量測(cè)時(shí)以線紋尺的下部刻度進(jìn)行量 測(cè)；所述刻度上對(duì)齊線紋尺是指線紋尺的上部刻度長(zhǎng)度對(duì)齊，量測(cè)儀器在量測(cè)時(shí)以線紋尺 的上部刻度進(jìn)行量測(cè)。所述獲取模塊106用于從存儲(chǔ)設(shè)備12中獲取所量測(cè)的線紋尺在各量測(cè)距離限定 的刻度處的刻度誤差。所述線紋尺的誤差是指線紋尺的刻度誤差，例如在線紋尺刻度為 IOmm處的誤差為+0. 0012mm,在線紋尺刻度為20mm處的誤差為-0. 0018mm,在線紋尺刻度為 30mm處的誤差為+0. 002mm。所述獲取模塊106還用于獲取所量測(cè)的線紋尺上的零點(diǎn)刻度。所述調(diào)整模塊108用于調(diào)整所量測(cè)的線紋尺的方向，使所量測(cè)的線紋尺與所設(shè)置 的量測(cè)方向平行。所述量測(cè)模塊110用于控制量測(cè)儀器1根據(jù)所設(shè)置的量測(cè)參數(shù)進(jìn)行量測(cè)，并將量 測(cè)結(jié)果存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備12中。所述計(jì)算模塊112用于根據(jù)線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差和 量測(cè)結(jié)果，計(jì)算量測(cè)儀器1在各量測(cè)距離的示值誤差，并所述示值誤差存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備 12中。例如若量測(cè)距離為30mm，該線紋尺在30mm刻度處的誤差為+0. 002mm，量測(cè)模塊 110對(duì)該量測(cè)距離的量測(cè)結(jié)果為30. 0012mm,則量測(cè)儀器1在該量測(cè)距離的示值誤差為 30mm+0. 002mm-30. 0012mm = 0. 0008mm。參閱圖3所示，是本發(fā)明量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法較佳實(shí)施例的流程圖。步驟S10，輸入模塊100輸入量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)10的參數(shù)修改密碼。步驟S12，判斷模塊102判斷所述輸入的參數(shù)修改密碼正確。若所述輸入的參數(shù)修 改密碼與存儲(chǔ)設(shè)置12中所保存的參數(shù)修改密碼相同，則判斷模塊102判斷所述輸入的參數(shù) 修改密碼正確，進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置界面；若所述輸入的參數(shù)修改密碼與存儲(chǔ)設(shè)置12中所保存的 參數(shù)修改密碼不相同，則判斷模塊102判斷所述輸入的參數(shù)修改密碼不正確，提示用戶參 數(shù)修改密碼輸入錯(cuò)誤。步驟S14，設(shè)置模塊104設(shè)置量測(cè)參數(shù)。所述量測(cè)參數(shù)包括，但不限于，量測(cè)方向、量測(cè)距離、量測(cè)選項(xiàng)及所量測(cè)的線紋尺的類型。在本實(shí)施例中，所述量測(cè)方向包括四個(gè)量 測(cè)方向，分別為量測(cè)作業(yè)坐標(biāo)系的X軸方向，Y軸方向，與X軸成45度角的方向及與X軸成 135度角的方向。所述量測(cè)距離是指線紋尺上的量測(cè)距離。所述量測(cè)距離的設(shè)置可以參照 JIS B7440標(biāo)準(zhǔn)，也可以自定義。所述量測(cè)選項(xiàng)包括執(zhí)行次數(shù)、暫停時(shí)間、自動(dòng)調(diào)整光源及線 紋尺指定長(zhǎng)度。所述暫停時(shí)間是指對(duì)每一量測(cè)距離進(jìn)行量測(cè)所需的時(shí)間。所述自動(dòng)調(diào)整光 源是指自動(dòng)調(diào)整光源至最佳狀態(tài)。所述線紋尺指定長(zhǎng)度是指線紋尺的總長(zhǎng)度。所述線紋尺 的類型包括刻度下對(duì)齊線紋尺和刻度上對(duì)齊線紋尺。所述刻度下對(duì)齊線紋尺是指線紋尺的 下部刻度長(zhǎng)度對(duì)齊，在量測(cè)時(shí)以線紋尺的下部刻度進(jìn)行量測(cè)；所述刻度上對(duì)齊線紋尺是指 線紋尺的上部刻度長(zhǎng)度對(duì)齊，在量測(cè)時(shí)以線紋尺的上部刻度進(jìn)行量測(cè)。步驟S16，獲取模塊106從存儲(chǔ)設(shè)備12中獲取所量測(cè)的線紋尺在各量測(cè)距離限定 的刻度處的刻度誤差。例如在線紋尺刻度為IOmm處的儀器誤差為+0.0012mm，在線紋尺 刻度為20mm處的儀器誤差為-0. 0018mm，在線紋尺刻度為30mm處的儀器誤差為+0. 002mm。步驟S18，獲取模塊106獲取所量測(cè)的線紋尺上的零點(diǎn)刻度。步驟S20，調(diào)整模塊108調(diào)整所量測(cè)的線紋尺的方向，使所量測(cè)的線紋尺與所設(shè)置 的量測(cè)方向平行。步驟S22，量測(cè)模塊110控制量測(cè)儀器1根據(jù)所設(shè)置的量測(cè)參數(shù)進(jìn)行量測(cè)，并將量 測(cè)結(jié)果存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備12中。步驟S24，計(jì)算模塊112根據(jù)線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差和 量測(cè)結(jié)果，計(jì)算量測(cè)儀器1在各量測(cè)距離的示值誤差，并所述示值誤差存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備 12中。例如若量測(cè)距離為30mm，該線紋尺在30mm刻度處的誤差為+0. 002mm，量測(cè)模塊 110對(duì)該量測(cè)距離的量測(cè)結(jié)果為30. 0012mm,則量測(cè)儀器1在該量測(cè)距離的示值誤差為 30mm+0. 002mm-30. 0012mm = 0. 0008mm。以上實(shí)施方式僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照以上較佳實(shí)施方 式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案 進(jìn)行修改或等同替換都不應(yīng)脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1. 一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)，運(yùn)行于量測(cè)儀器中，所述量測(cè)儀器包括存儲(chǔ)設(shè)備， 其特征在于，該系統(tǒng)包括設(shè)置模塊，用于設(shè)置量測(cè)儀器的量測(cè)參數(shù)，所述量測(cè)參數(shù)包括量測(cè)方向、量測(cè)距離及量 測(cè)選項(xiàng)；獲取模塊，用于從存儲(chǔ)設(shè)備中獲取所量測(cè)的線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度 誤差及線紋尺的零點(diǎn)刻度；調(diào)整模塊，用于調(diào)整所量測(cè)的線紋尺的方向，使所量測(cè)的線紋尺與所設(shè)置的量測(cè)方向 平行；量測(cè)模塊，用于控制量測(cè)儀器根據(jù)所設(shè)置的量測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)進(jìn)行量測(cè)，并將量測(cè) 結(jié)果存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備；及計(jì)算模塊，用于根據(jù)線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差和量測(cè)結(jié)果，計(jì)算 量測(cè)儀器在各量測(cè)距離的示值誤差，并所述示值誤差存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備。
2.如權(quán)利要求1所述的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括 輸入模塊，用于輸入量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)的參數(shù)修改密碼；判斷模塊，用于判斷所述輸入的參數(shù)修改密碼是否正確； 其中所述設(shè)置模塊在所述輸入的參數(shù)修改密碼正確時(shí)，提供參數(shù)設(shè)置界面以進(jìn)行量測(cè)參數(shù) 的設(shè)置。
3.如權(quán)利要求1所述的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)，其特征在于，所述量測(cè)方向包括X 軸方向，Y軸方向，與X軸成45度角的方向及與X軸成135度角的方向。
4.如權(quán)利要求1所述的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)，其特征在于，所述量測(cè)選項(xiàng)包括 執(zhí)行次數(shù)、暫停時(shí)間、自動(dòng)調(diào)整光源及線紋尺指定長(zhǎng)度。
5.如權(quán)利要求1所述的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)，其特征在于，所述量測(cè)參數(shù)還包 括線紋尺的類型，線紋尺的類型包括刻度下對(duì)齊線紋尺和刻度上對(duì)齊線紋尺。
6. 一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，所述量測(cè)儀器包括存儲(chǔ)設(shè)備，其特征在于，該方法 包括步驟設(shè)置量測(cè)儀器的量測(cè)參數(shù)，所述量測(cè)參數(shù)包括量測(cè)方向、量測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)； 從存儲(chǔ)設(shè)備中獲取所量測(cè)的線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差及線紋尺 的零點(diǎn)刻度；調(diào)整所量測(cè)的線紋尺的方向，使所量測(cè)的線紋尺與所設(shè)置的量測(cè)方向平行； 控制量測(cè)儀器根據(jù)所設(shè)置的量測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)進(jìn)行量測(cè)，并將量測(cè)結(jié)果存儲(chǔ)至存儲(chǔ) 設(shè)備；及根據(jù)線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差和量測(cè)結(jié)果，計(jì)算量測(cè)儀器在各量 測(cè)距離的示值誤差，并所述示值誤差存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備。
7.如權(quán)利要求6所述的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，其特征在于，該方法還包括步驟 輸入量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)的參數(shù)修改密碼。判斷所述輸入的參數(shù)修改密碼正確。
8.如權(quán)利要求6所述的的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，其特征在于，所述量測(cè)方向包 括X軸方向，Y軸方向，與X軸成45度角的方向及與X軸成135度角的方向。
9.如權(quán)利要求6所述的的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，其特征在于，所述量測(cè)選項(xiàng)包 括執(zhí)行次數(shù)、暫停時(shí)間、自動(dòng)調(diào)整光源及線紋尺指定長(zhǎng)度。
10.如權(quán)利要求6所述的的量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，其特征在于，所述量測(cè)參數(shù)還 包括線紋尺的類型，線紋尺的類型包括刻度下對(duì)齊線紋尺和刻度上對(duì)齊線紋尺。
全文摘要
一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算方法，適用于量測(cè)儀器中，所述量測(cè)儀器包括存儲(chǔ)設(shè)備，該方法包括步驟設(shè)置量測(cè)儀器的量測(cè)參數(shù)，所述量測(cè)參數(shù)包括量測(cè)方向、量測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)；從存儲(chǔ)設(shè)備中獲取所量測(cè)的線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差及線紋尺的零點(diǎn)刻度；調(diào)整所量測(cè)的線紋尺的方向，使所量測(cè)的線紋尺與所設(shè)置的量測(cè)方向平行；控制量測(cè)儀器根據(jù)所設(shè)置的量測(cè)距離及量測(cè)選項(xiàng)進(jìn)行量測(cè)，并將量測(cè)結(jié)果存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備；及根據(jù)線紋尺在各量測(cè)距離限定的刻度處的刻度誤差和量測(cè)結(jié)果，計(jì)算量測(cè)儀器在各量測(cè)距離的示值誤差，并所述示值誤差存儲(chǔ)至存儲(chǔ)設(shè)備。本發(fā)明還提供一種量測(cè)儀器示值誤差計(jì)算系統(tǒng)。
文檔編號(hào)G01D18/00GK101995268SQ200910305889
公開日2011年3月30日 申請(qǐng)日期2009年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月21日
發(fā)明者張旨光, 張江紅, 薛曉光, 袁忠奎, 陳賢藝 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司