專利名稱：測試組件與應(yīng)用其的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種測試組件與應(yīng)用其的測試裝置，且特別是有關(guān)于一種在單一接觸部 具有多個尖端的測試組件與應(yīng)用其的測試裝置。
背景技術(shù)：
多媒體社會的急速進(jìn)步多半受惠于半導(dǎo)體組件或顯示裝置的飛躍性進(jìn)步。就顯示器而言 ，具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu)越特性的顯示面板(liquid crystal display, LCD)已逐漸成為市場的主流。
在顯示面板制造的程序中最后會進(jìn)行點燈檢査與外觀檢査。點燈檢査是用接觸探針 (Contact Probe)在基板端子端進(jìn)行電氣連接，施予驅(qū)動訊號使液晶產(chǎn)生動作，以檢査面板 的顯示狀態(tài)。 一般而言，檢査項目有點缺陷、線缺陷、云紋(mura)缺陷(例如色云紋、亮度 云紋等)等。
以顯示面板的制程來說，通常會將顯示面板中與各畫素單元對應(yīng)連接的訊號線以分組的 方式外拉至顯示面板周邊對應(yīng)的檢測接墊上。在檢測過程中，使用特定的檢査設(shè)備利用探針 單元(probe unit)分別電性連接顯示面板上的檢測接墊以及一具有驅(qū)動芯片的可撓式印刷 電路板，并藉由壓觸于檢測接墊上的探針單元傳遞驅(qū)動芯片上的檢測訊號至每一畫素單元內(nèi) ，以對顯示面板的畫素、訊號線等進(jìn)行斷線檢査及色相檢査。
然而，在上述的檢測方法中，可撓式印刷電路板上的線路容易被探針單元鑿穿，造成該 可撓式印刷電路板上的線路發(fā)生斷路而報廢。另一方面，在運(yùn)轉(zhuǎn)一段時間后，壓觸于顯示面 板的檢測接墊上的探針單元容易受到磨損，因而無法使探針單元確實地壓觸在檢測接墊上， 如此一來，將會導(dǎo)致受測組件特性產(chǎn)生變化，造成檢測結(jié)果的誤判。此外，上述的習(xí)知探針 單元的兩端分別僅設(shè)置一單獨(dú)的尖端，因此在探針單元的尖端損耗之后則需更換整組的探針 單元，致使檢測成本提高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種測試組件，其能大幅延長測試組件的使用壽命。 本發(fā)明提供一種測試裝置，其具有優(yōu)異的檢測精準(zhǔn)度以及能夠降低成本。 本發(fā)明提出一種測試組件，適用于一顯示面板的一點燈測試裝置中，此測試組件包括一主體部以及二接觸部。測試組件藉由主體部固定于點燈測試裝置上。二接觸部分別自主體部的兩端沿著一第一方向延伸，且每一接觸部的端部具有多個尖端，每一接觸部的尖端具有不同的高度。
本發(fā)明提供一種測試裝置，其適用于檢測一顯示面板的點燈測試，且測試裝置具有如上述的測試組件。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的接觸部彼此呈點對稱排列。在本發(fā)明的一實施例中，上述的尖端之間的間距彼此相等。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的每一接觸部自主體部的兩端沿著第一方向延伸，并在每一接觸部的端部以主體部為軸沿一第二方向彎折，構(gòu)成尖端，其中上述的第二方向例如是順時針方向或是逆時針方向。更進(jìn)一步而言，每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，且在每一接觸部中，主尖端的彎折角度大于預(yù)備尖端的彎折角度。
在本發(fā)明的一實施例中，在每一接觸部中，上述的尖端的高度為往鄰近主體部的方向而逐漸增大。舉例而言，每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，主尖端位于每一接觸部鄰近主體部的端部上，而預(yù)備尖端位于每一接觸部遠(yuǎn)離主體部的端部上，且每一接觸部的主尖端的長度大于預(yù)備尖端的長度。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的測試裝置更可以進(jìn)一步包括一檢測訊號芯片組，檢測訊號芯片組包括一可撓式印刷電路板以及一檢測訊號芯片，可撓式印刷電路板具有多條訊號走線，且檢測訊號芯片的訊號經(jīng)由對應(yīng)的訊號走線以及測試組件傳遞至顯示面板的檢測接墊上
在本發(fā)明的一實施例中，上述的每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，測試組件以其中的一接觸部的主尖端而與可撓式印刷電路板上的其中的一訊號走線連接。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，測試組件以其中的一接觸部的預(yù)備尖端而與可撓式印刷電路板上具有斷線的訊號走線連接。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的測試裝置更包括一固定軸，主體部具有沿著第一方向排列的多個孔洞，固定軸穿設(shè)于孔洞中以維持測試組件的精度。
基于上述，本發(fā)明的測試組件利用在每一接觸部上設(shè)置多個具有不同高度的尖端，可以適用于多種型態(tài)的測試裝置中，并且這些接觸部可以以簡便的反轉(zhuǎn)方式而彼此調(diào)換，如此一來，測試組件的使用壽命可以大幅的提升。
為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式作詳細(xì)說明如下。


圖1繪示本發(fā)明 一實施例的測試設(shè)備示意圖
圖2A與圖2B分別繪示本發(fā)明一實施例中測試組件反轉(zhuǎn)前后的示意圖。 圖3繪示本發(fā)明另一實施例的測試組件示意圖，其中相同構(gòu)件以相同符號表示。 圖4繪示本發(fā)明另一實施例的測試裝置示意圖，其中相同構(gòu)件以相同符號表示。 圖5A 圖5C繪示本發(fā)明 一實施例的測試組件的使用流程示意圖。
主要組件符號說明
200、 200' 、 400、 500、 700A、 700B、 700C:測試組件
210、 510:主體部
220、 220A、 220B:接觸部
222:尖端
222M:主尖端
222Y:預(yù)備尖端
230:檢測訊號芯片組
232:檢測訊號芯片
234:可撓式印刷電路板
236:訊號走線
240:顯示面板
242:檢測接墊
300、 600:測試裝置
610:固定軸
d:尖端的間距
Dl:第一方向
D2:第二方向
F:固定處
h:高度差
0:斷線
S:檢測訊號
eM、 eY:彎折角度
具體實施例方式
圖l繪示本發(fā)明一實施例的測試設(shè)備示意圖，其中測試組件適用于一顯示面板的一點燈測試裝置中。請參照圖l，測試組件200包括一主體部210以及位于主體部210兩端的二接觸部220。測試組件200藉由主體部210固定于點燈測試的測試裝置300上，其中測試組件200與測試裝置300的間的固定處例如圖中標(biāo)示F處，而固定的方式將于下文中敘述。此外，接觸部220A以及接觸部220B例如分別是與檢測訊號芯片組230以及顯示面板240的檢測接墊242連接，而檢測訊號芯片組230包括一可撓式印刷電路板234以及一檢測訊號芯片232。如圖1所示，測試組件200的二接觸部220分別自主體部210的兩端沿著一第一方向D1延伸。特別的是，每一接觸部220的端部具有多個尖端222，且每一接觸部220的尖端222具有不同的高度。
詳細(xì)來說，由于每一接觸部220的端部具有多個尖端222，因此在一實施例中，當(dāng)測試組件200與受測物的顯示面板240或是訊號源的檢測訊號芯片232之間是多點接觸時，由于接觸點位可以較多，如此一來，可以降低傳遞訊號途徑中的阻抗，并且減少訊號衰減的問題，藉此可以提高檢測的精確度。
此外，在本實施例的每一接觸部220中，尖端222的高度為往鄰近該主體部210的方向而逐漸增大，其中基于檢測精確度以及維護(hù)時效的考慮，每一接觸部220的尖端222之間的高度差h例如實質(zhì)上為5微米。舉例而言，每一接觸部220的尖端222包括一主尖端222M以及至少一預(yù)備尖端222Y，其中預(yù)備尖端222Y的數(shù)量可為1以上的正整數(shù)，本發(fā)明并不以此為限。
主尖端222M位于每一接觸部220鄰近主體部210的端部上，而預(yù)備尖端222Y位于每一接觸部220遠(yuǎn)離主體部210的端部上，且每一接觸部220的主尖端222M的長度大于預(yù)備尖端222Y的長度。在實際的運(yùn)作機(jī)制中，當(dāng)測試組件200與受測物的顯示面板240或是訊號源的檢測訊號芯片232之間是單點接觸時，主尖端222M因長時間使用磨耗后，預(yù)備尖端222Y可以直接備位而作為訊號傳遞的途徑。如此一來，在本實施例中，測試組件200中每一接觸部220的使用壽命可以加倍。并且，在本實施例中，尖端222之間的間距d彼此相等，因此在組裝時不需特定限制測試組件200的擺放方向，操作簡易，可以縮短測試組件200的組裝時間，提高設(shè)備的稼動率。
此外，測試組件200上的二接觸部220例如彼此呈點對稱排列。更詳細(xì)而言，測試組件200上的二接觸部220自主體部210的兩端沿著該第一方向D1延伸后，并在每一接觸部220的端部例如以該主體部210為軸，每一接觸部220沿一第二方向D2彎折，而構(gòu)成本實施例的主尖端222M以及預(yù)備尖端222Y，其中主尖端222M的彎折角度8 M大于預(yù)備尖端222Y的彎折角度8 Y。在本實施例中，第二方向D2例如是順時針方向，在其它實施例中，第二方向D2也可以是逆時針方向。換言之，對于測試組件200而言，本實施例的二接觸部220的尖端222是以第一方向 Dl為基準(zhǔn)，往同一個順時針方向作彎折，如此一來，當(dāng)本實施例的測試組件200反轉(zhuǎn)之后， 亦即順時針旋轉(zhuǎn)180度，測試組件200反轉(zhuǎn)的型態(tài)仍如反轉(zhuǎn)前的型態(tài)，因此實務(wù)上，測試組件 200的二接觸部220彼此可以代換使用。
舉例而言，圖2A與圖2B分別繪示本發(fā)明一實施例中測試組件反轉(zhuǎn)前后的示意圖。如圖2A 與2B所示，由于測試組件200的二接觸部220彼此呈點對稱排列，因此反轉(zhuǎn)前的測試組件200 與反轉(zhuǎn)后的測試組件200'的型態(tài)相同。換言之，當(dāng)長時間使用后，測試組件200上的接觸部 220A與接觸部220B在反轉(zhuǎn)后也可以分別與顯示面板240的檢測接墊242以及檢測訊號芯片232 連接。如此一來，由于測試組件200中的二接觸部220彼此可代換使用，因此測試組件200的 使用壽命可以再度加倍。
圖3繪示本發(fā)明另一實施例的測試組件示意圖，其中相同構(gòu)件以相同符號表示。如圖3所 示，在本實施例的測試組件400中，每一接觸部220的端部具有三個尖端222，因此，對于本 實施例的測試組件400中的每一接觸部220而言，使用壽命可以增為單根尖端222的三倍。在 本實施例中，藉此每一接觸部220的尖端222的間距d彼此相等的設(shè)計，除了可以大幅縮短測 試組件400的組裝時間，提高設(shè)備的稼動率之外，對于生產(chǎn)線而言，使用者較精確地預(yù)估機(jī) 臺維護(hù)的周期，兼顧檢測精確率以及產(chǎn)出量。
圖4繪示本發(fā)明另一實施例的測試裝置示意圖，其中相同構(gòu)件以相同符號表示。請參照 圖4，測試組件500的主體部510具有沿著該第一方向D1排列的多個孔洞520，如圖中繪示的二 孔洞520。且如圖4所示，測試裝置600更包括一組固定軸610，而此組固定軸610藉由穿設(shè)于 此二孔洞520中以調(diào)整并維持該測試組件500的精度。
實務(wù)上，在進(jìn)行顯示面板的點燈測試中，可以利用一檢測訊號芯片組230作為檢測訊號 源，如圖4所示。檢測訊號芯片組230具有檢測訊號芯片232以及可撓式印刷電路板234，其中 可撓式印刷電路板234具有多條訊號走線236。在進(jìn)行檢測制程時，檢測訊號芯片232的檢測 訊號S經(jīng)由對應(yīng)的訊號走線236以及測試組件200傳遞至該顯示面板240的檢測接墊242上。換 句話說，測試組件500的接觸部220A作為檢測訊號S輸入端，藉以接收來自檢測訊號S芯片組 230的檢測訊號S，而測試組件500的接觸部220B作為檢測訊號S輸出端，藉以將檢測訊號S芯 片組230的檢測訊號S輸出至顯示面板240的檢測接墊242中。
圖5A 圖5C繪示本發(fā)明一實施例的測試組件的使用流程示意圖。如圖5A所示，當(dāng)使用新 品的測試組件700A作為訊號傳遞介質(zhì)時，每一測試組件700A是以主尖端222M而與可撓式印刷 電路板234上對應(yīng)的訊號走線236連接。接著，如圖5B所示，在經(jīng)一段時間運(yùn)轉(zhuǎn)后，即使可撓試組件700B鑿穿，造成可撓式印刷電路板234上的訊號走線236發(fā)生斷線0，但由于預(yù)備尖端222Y相較于主尖端222M位于較外端，因此檢測訊號芯片232的檢測訊號S仍可經(jīng)由對應(yīng)的訊號走線236以及測試組件700B傳遞至該顯示面板240上。換言之，在此種情形下，測試組件700B以一接觸部220的預(yù)備尖端222Y而與可撓式印刷電路板234上具有斷線0的訊號走線236連接。當(dāng)然，當(dāng)測試組件700C的單側(cè)接觸部220以磨耗而無法使用時，維修人員可以直接反轉(zhuǎn)測試組件700C后，繼續(xù)維持測試設(shè)備的正常使用，如圖5C所示。
綜上所述，本發(fā)明的測試組件以及測試裝置至少具有以下優(yōu)點的全部或一部份
1. 利用在每一接觸部上設(shè)置多個具有不同高度的尖端，可以適用于多種型態(tài)的測試裝置中，并且這些接觸部可以利用簡便的反轉(zhuǎn)方式而彼此調(diào)換，測試組件的使用壽命可以大幅的提升。
2. 在一實施例中，藉由等間距地設(shè)計尖端的設(shè)置位置，在組裝時不需特定限制測試組件的擺放方向，操作簡易，可以縮短測試組件的組裝時間，提高設(shè)備的稼動率。
3. 在一實施例中，藉由等間距地設(shè)計每一接觸部的尖端，使用者較精確地預(yù)估機(jī)臺維護(hù)的周期，兼顧檢測精確率以及產(chǎn)出量。
雖然本發(fā)明已以實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動與潤飾，故本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的申請專利范圍所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種測試組件，應(yīng)用于一測試裝置中，其特征在于包括一主體部，其中該測試組件藉由該主體部固定于該測試裝置上；以及二接觸部，分別自該主體部的兩端沿著一第一方向延伸，且每一接觸部的端部具有多個尖端，每一接觸部的該些尖端具有不同的高度。
2 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試組件，其特征在于其中該些接觸部彼此呈點對稱排列；所述尖端之間的間距彼此相等。
3 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試組件，其特征在于其中每一接觸部自主體部的兩端沿著該第一方向延伸，并在每一接觸部的端部以該主體部為軸沿一第二方向彎折，構(gòu)成該些尖端；所述的第二方向為順時針方向或逆時針方向。
4 根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試組件，其特征在于其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，且在每一接觸部中，該主尖端的彎折角度大于該預(yù)備尖端的彎折角度。
5 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試組件，其特征在于其中在每一接觸部中，該些尖端的高度為往鄰近該主體部的方向而逐漸增大。
6 根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試組件，其特征在于其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，該主尖端位于每一接觸部鄰近該主體部的端部上，而該預(yù)備尖端位于每一接觸部遠(yuǎn)離該主體部的端部上，且每一接觸部的該主尖端的長度大于該預(yù)備尖端的長度。
7 一種測試裝置，其特征在于包括一測試組件，其中該測試組件包括一主體部，其中該測試組件藉由該主體部固定于一測試裝置上；二接觸部，分別自該主體部的兩端沿著一第一方向延伸，且每一接觸部的端部具有多個尖端，每一接觸部的該些尖端具有不同的高度；以及一檢測訊號芯片組，該檢測訊號芯片組包括一可撓式印刷電路板以及一檢測訊號芯片，該可撓式印刷電路板具有多條訊號走線，且該檢測訊號芯片的訊號經(jīng)由對應(yīng)的該些訊號走線以及該測試組件傳遞至該顯示面板的檢測接墊上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，該測試組件以其中的一該些接觸部的主尖端而與該可撓式印刷電路板上的其中的一該些訊號走線連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試裝置，其特征在于其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預(yù)備尖端，該測試組件以其中的一該些接觸部的預(yù)備尖端而與該可撓式印刷電路板上具有斷線的該些訊號走線連接。
10.根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試裝置，其特征在于更包括一固定軸，該主體部具有沿著該第一方向排列的多個孔洞，該固定軸穿設(shè)于該些孔洞中以維持該測試組件的精度。
全文摘要
本發(fā)明提供一種測試組件，適用于一顯示面板的一點燈測試裝置中，其中測試組件包括一主體部以及二接觸部。測試組件藉由主體部固定于點燈測試裝置上。二接觸部分別自主體部的兩端沿著一第一方向延伸，且每一接觸部的端部具有多個尖端，每一接觸部的尖端具有不同的高度。另外，本發(fā)明亦提出一種測試裝置。因此，上述的測試組件以及測試裝置能夠大幅延長使用壽命、提高檢測精度，以及節(jié)省成本。
文檔編號G01R31/02GK101672863SQ20091030881
公開日2010年3月17日 申請日期2009年10月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月26日
發(fā)明者俞善佑, 李道銘, 梁信雄, 溫元昌 申請人:華映光電股份有限公司;中華映管股份有限公司