專利名稱：一種crt玻錐定位塊高度測量儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于測量技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種CRT玻錐定位塊高度測量儀。
背景技術(shù)：
CRT玻錐是顯像管的重要組成部件之一，在玻錐生產(chǎn)領(lǐng)域，需要對玻屏(熒光屏)與玻錐裝配過程的定位基準(zhǔn)點(diǎn)(定位塊)進(jìn)行研磨。每一枚產(chǎn)品上有三個定位塊。為保證加工精度要求，需對每一個定位塊的高度尺寸進(jìn)行檢測。目前國內(nèi)同行的做法是用深度卡尺，測量定位塊研磨面至基準(zhǔn)面之間的高度，由于測量產(chǎn)品是玻璃制品，除了尺寸測量精度外還要保證測量過程中產(chǎn)品不能出現(xiàn)劃傷等現(xiàn)象的發(fā)生，這樣在測量上就增加了一定的難度，同時卡尺測量時測量點(diǎn)容易產(chǎn)生偏差，進(jìn)而對于尺寸控制上產(chǎn)生影響。

發(fā)明內(nèi)容為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種CRT玻錐定位塊高度測量儀，具有測量快捷、準(zhǔn)確、方便的特點(diǎn)。 為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種CRT玻錐定位塊高度測量儀，包括有基座l，基座1上設(shè)置有百分表2，百分表2的一側(cè)設(shè)有表頭3，基座1的一側(cè)設(shè)有對準(zhǔn)基點(diǎn)5，基座1上、百分表2與表頭3之間設(shè)有百分表基準(zhǔn)調(diào)整點(diǎn)4。[0005] 所述的表頭3與對準(zhǔn)基點(diǎn)5上下處于垂直位置。 本實(shí)用新型由于只需將待測量的產(chǎn)品放置在平臺上，定位塊研磨面與平臺呈垂直狀態(tài)，再將此測量工具對準(zhǔn)要測量的定位塊，此時百分表上的讀數(shù)即是該定位塊的高度，具有測量快捷、準(zhǔn)確、方便的特點(diǎn)。

圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。[0008] 圖2是本實(shí)用新型的俯視圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作進(jìn)一步詳細(xì)說明。 參見圖1、2，一種CRT玻錐定位塊高度測量儀，包括有基座l，基座1上設(shè)置有百分
表2，基座1的一側(cè)設(shè)有表頭3，基座1上、百分表2與表頭3之間設(shè)有百分表基準(zhǔn)調(diào)整點(diǎn)4。
所述的表頭3與對準(zhǔn)基點(diǎn)5上下處于垂直位置。 本實(shí)用新型的工作原理是 測量前，先需對測量工具進(jìn)行校零，即百分表2的表頭3與對準(zhǔn)基點(diǎn)5上下在同一垂直位置上，百分表2讀數(shù)調(diào)至零位；將該測量工具放置在測量平臺上，下端面與平臺自然帖緊；然后將被測量產(chǎn)品放置在平臺上，產(chǎn)品封接面朝下，再將此測量工具對準(zhǔn)要測量的定位塊，此時百分表2上的讀數(shù)即是該定位塊的高度。
權(quán)利要求一種CRT玻錐定位塊高度測量儀，包括有基座(1)，其特征在于，基座(1)上設(shè)置有百分表(2)，百分表(2)的一側(cè)設(shè)有表頭(3)，基座1的一側(cè)設(shè)有對準(zhǔn)基點(diǎn)(5)，基座(1)上、百分表(2)與表頭(3)之間設(shè)有百分表基準(zhǔn)調(diào)整點(diǎn)(4)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種CRT玻錐定位塊高度測量儀，其特征在于，所述的表頭(3)與對準(zhǔn)基點(diǎn)(5)上下處于垂直位置。
專利摘要一種CRT玻錐定位塊高度測量儀，包括有基座1，基座1上設(shè)置有百分表2，基座1的一側(cè)設(shè)有表頭3，基座1上、百分表2與表頭3之間設(shè)有百分表基準(zhǔn)調(diào)整點(diǎn)4，只需將待測量的產(chǎn)品放置在平臺上，產(chǎn)品封接面朝下，再將此測量工具對準(zhǔn)要測量的定位塊，此時百分表上的讀數(shù)即是該定位塊的高度，具有測量快捷、準(zhǔn)確、方便的特點(diǎn)。
文檔編號G01B5/02GK201449235SQ20092003365
公開日2010年5月5日 申請日期2009年6月23日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月23日
發(fā)明者齊世文 申請人:彩虹集團(tuán)電子股份有限公司