專利名稱：測試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種測試治具，特別是涉及一種提供獨立環(huán)境以對服務(wù)器等電子
器件的外接卡進(jìn)行運行測試的測試治具。
背景技術(shù)：
由于電子產(chǎn)品日趨微型化及多功能化，連帶使得功能強(qiáng)大的電子產(chǎn)品經(jīng)常要經(jīng)過 多種測試以確保其性能達(dá)到最佳，因此各類測試治具在電子產(chǎn)品的研發(fā)及生產(chǎn)過程中尤不 可缺；對每一種電子產(chǎn)品而言，均有一定的運行環(huán)境條件要求，因此，在研發(fā)階段的測試中， 即需對電子產(chǎn)品進(jìn)行相對應(yīng)的環(huán)境測試，例如將需進(jìn)行測試的電子產(chǎn)品置在所提供的測 試治具中運行，通過該測試治具模擬該電子產(chǎn)品所需的測試條件，例如模擬溫度、濕度或震 動的測試條件，并使該測試條件能夠維持一段時間，以便檢測該電子產(chǎn)品是否符合安規(guī)要 求。 所述的電子產(chǎn)品例如為服務(wù)器中的各式外接卡，若欲檢測該電子產(chǎn)品是否符合要 求，則必須提供一罩覆在該服務(wù)器上的測試治具，而在該測試治具內(nèi)提供一適應(yīng)該待檢測 的電子產(chǎn)品的測試環(huán)境，以便進(jìn)行該電子產(chǎn)品的運行檢測，進(jìn)而判斷該電子產(chǎn)品是否符合 安規(guī)要求。然而，若該外接卡與該服務(wù)器運行的環(huán)境不同，則會發(fā)生因測試的進(jìn)行而使該外 接卡或該服務(wù)器無法正常運行的不利影響，甚至損壞該待測試的外接卡或該服務(wù)器。 舉例而言，若該測試的外接卡為插設(shè)在服務(wù)器中的磁碟陣列卡(raid card)，且該 磁碟陣列卡的允許工作溫度范圍為_1(TC 6(TC，而該插置磁碟陣列卡的服務(wù)器的允許工 作溫度范圍為_5°C 40°C。此時，若該測試治具要對該磁碟陣列卡進(jìn)行測試時，則需要提 供溫度范圍為_10°C 6(TC的測試環(huán)境，但是，服務(wù)器會因該測試治具所提供的測試溫度 超過其所能負(fù)荷而無法正常運行，進(jìn)而影響該磁碟陣列卡的測試準(zhǔn)確性，更嚴(yán)重地還會損 壞該服務(wù)器。 因此，現(xiàn)有測試治具并不能對與服務(wù)器不同工作條件的外接卡進(jìn)行運行檢測，更
不能同時對插設(shè)在該服務(wù)器中的不同工作條件的多個外接卡進(jìn)行運行測試。 再者，現(xiàn)有測試治具提供一固定檢測高度，也就是現(xiàn)有測試治具僅能對特定高度
的電子產(chǎn)品進(jìn)行運行檢測，因而若待檢測的電子產(chǎn)品的高度大于該測試治具所提供的檢測
高度時，則現(xiàn)有測試治具將會因高度規(guī)格的不符而無法對該電子產(chǎn)品進(jìn)行運行測試。 因此，如何克服現(xiàn)有技術(shù)中的種種問題，實已成目前急欲解決的問題。

實用新型內(nèi)容鑒于所述現(xiàn)有技術(shù)的種種缺陷，本實用新型的一 目的是提供一種有效提高測量準(zhǔn) 確度的測試治具。 本實用新型的另一目的是提供一種有效提升對于不同規(guī)格電子器件的外接卡的 適應(yīng)性的測試治具。 為達(dá)到所述及其他目的，本實用新型提供一種電子器件測試治具，其提供獨立環(huán)境以對電子器件的外接卡進(jìn)行運行測試，該測試治具包括測試治具本體，具有底板、設(shè)在 該底板周圍的多個側(cè)板、及設(shè)在該多個側(cè)板上且與該底板相對的頂板，通過該底板、側(cè)板及 頂板的結(jié)合得以構(gòu)成一測試環(huán)境，該底板具有穿設(shè)部，從而使該電子器件得以進(jìn)入該測試 環(huán)境中，該多個側(cè)板的一個具有入風(fēng)口 ，且在該入風(fēng)口的對向側(cè)板上具有出風(fēng)口 ，而該入風(fēng) 口至該出風(fēng)口的方向定義為第一方向，該多個側(cè)板的一個具有電線通口，供通過電線，從而 使該電子器件的外接卡通過該電線與該電子器件電性連接；以及測量器，設(shè)在該測試治具 本體上，并具有穿設(shè)進(jìn)入該測試環(huán)境中且與該電子器件相面對的測量端，該測量端至該電 子器件的方向定義為垂直該第一方向的第二方向。 在本實用新型的一實施例中，該多個側(cè)板中與該具有電線通口的側(cè)板兩相對端相 鄰的側(cè)板還具有第一軌道，弓I導(dǎo)該具有電線通口的側(cè)板相對于該測試治具本體運動。該第 一方向為該測試環(huán)境中的氣體流動方向。該測量器設(shè)在該多個側(cè)板中與該電子器件的外接 卡相面對的一側(cè)板上，其中，設(shè)有該測量器的側(cè)板具有測量器通口，穿設(shè)該測量器的測量端 進(jìn)入該測試環(huán)境中。 在本實用新型的另一實施例中，該多個側(cè)板中與該具有電線通口的側(cè)板兩相對端 相鄰的側(cè)板還具有第一軌道，引導(dǎo)該具有電線通口的側(cè)板相對于該測試治具本體運動。該 多個側(cè)板中與該底板兩相對端相鄰的側(cè)板還具有第二軌道，引導(dǎo)該底板相對于該測試治具 本體運動。 在本實用新型的再一實施例中，該測量器為風(fēng)速計或溫度計。該穿設(shè)部為卡槽。該
測試治具還包括風(fēng)扇，設(shè)在該入風(fēng)口上。測試治具還包括環(huán)境測試機(jī)，與該入風(fēng)口相連接，
其中，該環(huán)境測試機(jī)為恒溫環(huán)境測試機(jī)、恒濕環(huán)境測試機(jī)或恒風(fēng)速環(huán)境測試機(jī)。 本實用新型的測試治具是提供一獨立的測試環(huán)境以對電子器件的外接卡進(jìn)行運
行測試，該測試治具包括具有多個側(cè)板的測試治具本體、以及測量器。其中，該測量器具有
穿設(shè)進(jìn)入該測試環(huán)境中且與該電子器件的外接卡相面對的測量端，以在最接近該電子器件
的外接卡的位置進(jìn)行測量，從而有效提高測量準(zhǔn)確度。 另外，本實用新型的測試治具提供一獨立的測試環(huán)境，所以得以對與服務(wù)器等電 子器件上的不同工作條件的外接卡進(jìn)行運行檢測，且若提供多個本實用新型的測試治具， 也可同時對插設(shè)在該電子器件上的不同工作條件的多個外接卡進(jìn)行運行測試。再者，本實 用新型的測試治具的測試治具本體的部分側(cè)板設(shè)置有軌道，以因應(yīng)不同規(guī)格的電子器件更 換不同形式的側(cè)板，從而有效提升對于不同規(guī)格電子器件的適應(yīng)性。 據(jù)上可知，本實用新型的測試治具能夠有效克服現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺陷而具高度 產(chǎn)業(yè)利用價值。

圖1為本實用新型的一實施例的測試治具的構(gòu)造示意圖； 圖2為本實用新型的一實施例的測試治具的測試治具本體的構(gòu)造示意圖； 圖3為圖2的測試治具的測試治具本體的俯視圖； 圖4為本實用新型的一實施例的測試治具的測試治具本體的設(shè)置狀態(tài)示意圖；以 及 圖5為本實用新型的另一實施例的測試治具的測試治具本體的設(shè)置狀態(tài)示意圖。
4[0022] 附圖符號說明 1 外接卡 2 測試治具 21 測試治具本體 211 第一側(cè)板 2111入風(fēng)口 2121出風(fēng)口 2122電線通口 212第二側(cè)板 213第三側(cè)板 214第四側(cè)板 2143測量器通口 2131， 2141， 2132， 2142 軌道 215 頂板 216 底板 2161穿設(shè)部 22 風(fēng)扇 3 測量器 31 測量端 4 電線 5 環(huán)境測試機(jī) 6 風(fēng)管 S 環(huán)境 D1、D2方向
具體實施方式以下通過特定的具體實施例說明本實用新型的實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本 說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本實用新型的其他優(yōu)點及功效。 首先需要注意的是，本實用新型所提供的附圖均為簡化的示意圖，其僅以示意方 式說明本實用新型的基本構(gòu)造，因此其僅顯示與本實用新型有關(guān)的構(gòu)成，且所顯示的構(gòu)成 并非以實際實施時的數(shù)目、形狀、及尺寸比例繪制，其實際實施時的數(shù)目、形狀及尺寸比例 為一種選擇性的設(shè)計，且其構(gòu)成布局形態(tài)可能更為復(fù)雜。 請參閱圖1至圖3，為繪制本實用新型的一實施例的電子器件測試治具的示意圖。 本實施例的測試治具2是通過風(fēng)管6與環(huán)境測試機(jī)5相連接，以提供獨立環(huán)境以對服務(wù)器 等電子器件的外接卡1進(jìn)行運行測試，較佳地，是提供特定溫度、風(fēng)速、濕度及/或壓力的測 試環(huán)境，以對該外接卡l進(jìn)行運行測試，所以該環(huán)境測試機(jī)5可依情況選擇為恒溫環(huán)境測試 機(jī)、恒濕環(huán)境測試機(jī)或恒風(fēng)速環(huán)境測試機(jī)等，但不以此為限。其中，該外接卡1為在服務(wù)器 (圖未示)上運行的各式外接卡，但也不以此為限，且該測試治具2至少包括測試治具本體 21、以及測量器3。[0049] 如圖所示，測試治具本體21具有底板216，環(huán)設(shè)在該底板213四周的第一、第二、第 三及第四側(cè)板211、212、213、214，與設(shè)在所述側(cè)板211、212、213、214上且與該底板216相對 的頂板215，通過所述底板216、側(cè)板211、212、213、214及頂板215的結(jié)合得以構(gòu)成一測試 環(huán)境S。該底板216具有穿設(shè)部2161，在本實施例中該穿設(shè)部2161為卡槽，從而使該外接 卡1得以進(jìn)入該測試環(huán)境S中而進(jìn)行運行測試，該第一側(cè)板211具有入風(fēng)口 2111 ，該入風(fēng)口 2111是通過該風(fēng)管6與該環(huán)境測試機(jī)5相連接，且該入風(fēng)口 2111還設(shè)置風(fēng)扇22，以有效控 制該入風(fēng)口 2111的入風(fēng)量至適當(dāng)。 在本實施例中，該入風(fēng)口 2111的對向側(cè)板上設(shè)置有出風(fēng)口 2121，如此設(shè)置使由該 入風(fēng)口 2111進(jìn)入該測試環(huán)境S中的氣體得以由該出風(fēng)口 2121離開，也就是能夠有效減少 該測試治具本體21中的風(fēng)阻，在此所述的對向側(cè)板是指第二側(cè)板212，但不以此為限，在本 實用新型的其它實施例中，該入風(fēng)口 2111與該出風(fēng)口 2121也可依情況而設(shè)置在該測試治 具本體21的其它位置上。且如圖l及圖3所示，本實施例的入風(fēng)口 2111至出風(fēng)口 2121的 方向定義為第一方向Dl，而該第一方向Dl為該測試環(huán)境S中的氣體流動方向。 另外，該第二側(cè)板212上還具有電線通口 2122，用于通過電線4，從而使該外接卡 1得以通過該電線4與該電子器件(圖未示)電性連接。 如圖2及圖3所示，該測量器3設(shè)置在該測試治具本體21的第四側(cè)板214上，并 具有穿設(shè)進(jìn)入該測試環(huán)境S中且與該外接卡1相面對的測量端31 ，但不以此為限，在本實用 新型的其它實施例中，該測量器3也可設(shè)置在該測試治具本體21的其它位置上，例如也可 設(shè)置在第一、第二、第三側(cè)板211、212、213或頂板215上。 在本實施例中，該第四側(cè)板214具有約略1公分直徑的測量器通口 2143，以通過該 測量器通口 2143，而穿設(shè)該測量器3的測量端31進(jìn)入該測試環(huán)境S中，且該測量端31至該 外接卡1的方向定義為垂直該第一方向Dl的第二方向D2，從而使該測量器3能在最接近該 外接卡1的位置進(jìn)行測量，而取得有關(guān)該外接卡1的測量參數(shù)，進(jìn)而提高該測試治具2的測 試準(zhǔn)確度。 請一并參閱圖4，為繪制本實用新型的一實施例的電子器件測試治具的測試治具 本體的設(shè)置狀態(tài)示意圖，如圖所示，該第三側(cè)板213與該第四側(cè)板214分別具有第一軌道
2131、 2141，該軌道2131、2141是用以引導(dǎo)該第二側(cè)板212相對于該測試治具本體21運動， 所以得以使該電線4離開或進(jìn)入該電線通口 2122，從而使該電線4與該外接卡1的電性連 接更為容易，且還可因應(yīng)不同規(guī)格的電子器件更換不同形式的第二側(cè)板212，從而提升本實 用新型的測試治具對于不同規(guī)格電子器件的適應(yīng)性。 另外，該第三側(cè)板213與該第四側(cè)板214分別具有第二軌道2132、2142，該軌道
2132、 2142是用以引導(dǎo)該底板216相對于該測試治具本體21運動，以便因應(yīng)不同規(guī)格的電 子器件更換不同形式的底板216，從而提升本實用新型的測試治具對于不同規(guī)格電子器件 的適應(yīng)性。如圖所示，該第二側(cè)板212是朝著A的方向運動而形成該測試環(huán)境S，且該底板 216是朝著B的方向運動而形成該測試環(huán)境S。 再請一并參閱圖5，為繪制本實用新型的一實施例的測試治具的測試治具本體的 設(shè)置狀態(tài)示意圖。若待檢測的電子器件的高度大于測試治具所能提供的檢測高度時，則將 原先不符需求的底板(圖未示)通過該第二軌道2132、2142朝著相反于B的方向移出該測 試治具本體21，并朝著B的方向置換上另一不同高度規(guī)格的底板216，使本實用新型的測試治具2對于不同高度規(guī)格的電子器件的適應(yīng)性能有效提升。 綜上所述，本實用新型的測試治具提供一獨立測試環(huán)境以對電子器件的外接卡進(jìn) 行運行測試，該測試治具包括具有多個側(cè)板的測試治具本體、以及測量器。其中，該測量器 具有穿設(shè)進(jìn)入該測試環(huán)境中且與該電子器件的外接卡相面對的測量端，以在最接近該電子 器件的外接卡的位置進(jìn)行測量，從而有效提高測量準(zhǔn)確度。 另外，本實用新型的測試治具提供一獨立的測試環(huán)境，所以得以對與服務(wù)器等電 子器件的不同工作條件的外接卡進(jìn)行運行檢測，且若提供多個本實用新型的測試治具，也 可同時對插設(shè)在該電子器件上的不同工作條件的多個外接卡進(jìn)行運行測試。再者，本實用 新型的測試治具的測試治具本體的部分側(cè)板設(shè)置有軌道，以因應(yīng)不同規(guī)格的電子器件更換 不同形式的側(cè)板，從而有效提升對于不同規(guī)格電子器件的適應(yīng)性。 據(jù)上可知，本實用新型的測試治具能夠有效克服現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺陷而具高度 產(chǎn)業(yè)利用價值。 所述實施例是用以例示性說明本實用新型的原理及其功效，而非用在限制本實用 新型。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員均可在不違背本實用新型的精神及范疇下，對所述實施例進(jìn)行 修改。因此本實用新型的權(quán)利保護(hù)范圍，應(yīng)以權(quán)利要求書的范圍為依據(jù)。
權(quán)利要求一種測試治具，提供獨立環(huán)境以對電子器件的外接卡進(jìn)行運行測試，其特征在于，該測試治具包括測試治具本體，具有底板、設(shè)在該底板周圍的多個側(cè)板、及設(shè)在該多個側(cè)板上且與該底板相對的頂板，通過該底板、側(cè)板及頂板的結(jié)合得以構(gòu)成一測試環(huán)境，該底板具有穿設(shè)部，從而使該電子器件的外接卡得以進(jìn)入該測試環(huán)境中，該多個側(cè)板的一個具有入風(fēng)口，且在該入風(fēng)口的對向側(cè)板上具有出風(fēng)口，而該入風(fēng)口至該出風(fēng)口的方向定義為第一方向，該多個側(cè)板的一個具有電線通口，供通過電線，從而使該電子器件的外接卡通過該電線與該電子器件電性連接；以及測量器，設(shè)在該測試治具本體上，并具有穿設(shè)進(jìn)入該測試環(huán)境中且與該電子器件的外接卡相面對的測量端，該測量端至該電子器件的外接卡的方向定義為垂直該第一方向的第二方向。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，其特征在于該多個側(cè)板中與該具有電線通口的 側(cè)板兩相對端相鄰的側(cè)板還具有第一軌道，引導(dǎo)該具有電線通口的側(cè)板相對于該測試治具 本體運動。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，其特征在于該多個側(cè)板中與該底板兩相對端相 鄰的側(cè)板還具有第二軌道，引導(dǎo)該底板相對于該測試治具本體運動。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，其特征在于該第一方向為該測試環(huán)境中的氣體 流動方向。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，其特征在于該測量器設(shè)在該多個側(cè)板中與該電 子器件的外接卡相面對的一側(cè)板上。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試治具，其特征在于設(shè)有該測量器的側(cè)板具有測量器通 口 ，穿設(shè)該測量器的測量端進(jìn)入該測試環(huán)境中。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，其特征在于該測量器為風(fēng)速計或溫度計。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，其特征在于該穿設(shè)部為卡槽。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，還包括風(fēng)扇，設(shè)在該入風(fēng)口上。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具，還包括環(huán)境測試機(jī)，與該入風(fēng)口相連接。
專利摘要一種測試治具，提供一獨立測試環(huán)境以對電子器件的外接卡進(jìn)行運行測試，該測試治具包括具有多個側(cè)板的測試治具本體、以及測量器。其中，該測量器具有穿設(shè)進(jìn)入該測試環(huán)境中且與該電子器件的外接卡相面對的測量端，以在最接近該電子器件的外接卡的位置進(jìn)行測量，從而有效提高測量準(zhǔn)確度。另外，該測試治具本體的部分側(cè)板設(shè)置有軌道，以因應(yīng)不同規(guī)格的電子器件更換不同形式的側(cè)板，從而有效提升對于不同規(guī)格電子器件的適應(yīng)性。所以，本實用新型的測試治具能夠有效克服現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺陷而具有高度產(chǎn)業(yè)利用價值。
文檔編號G01R31/00GK201464496SQ20092007804
公開日2010年5月12日 申請日期2009年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月9日
發(fā)明者陳志豐, 黃敏 申請人:英業(yè)達(dá)科技有限公司;英業(yè)達(dá)股份有限公司