專利名稱：用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種鋰離子電池測量裝置，特別涉及一種用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的筒易測量裝置。
背景技術(shù)：
目前，二次鋰離子電池被廣泛的應(yīng)用于生活和生產(chǎn)的多個領(lǐng)域，由于鋰離子電池的使用安全性要求較高，通常在制作過程中，電池本體上都設(shè)有安全裝置，方型鋰離子電池殼的刻痕就是一種應(yīng)用廣泛的有效的安全裝置。當(dāng)電池發(fā)生了內(nèi)短路，過充電或其他濫用情況下，電池內(nèi)部能量急劇釋放，反應(yīng)產(chǎn)氣使內(nèi)部氣壓增加，當(dāng)氣壓升高達到安全裝置的承受極限時，安全裝置開啟，釋放能量，降低內(nèi)壓，從而達到防止電池爆炸的目的。
對于同一種方型鋰離子電池殼而言，刻痕深度決定著電池所能承受的極
限壓力值，刻痕深度越淺，所能承受的壓力越大；刻痕深度越深，所能承受的壓力越小。若刻痕深度過淺，當(dāng)電池發(fā)生內(nèi)短路時安全裝配無法及時開啟，導(dǎo)致電池爆炸。若刻痕深度過深，可能會影響電池的外觀，電池殼內(nèi)部變形量可能會對極組產(chǎn)生擠壓，或者在電池正常使用過程中發(fā)生開啟漏液，增加安全隱患。
由于電池殼的刻痕深度非常小， 一般在0 0.3mm之間，普通的測量工具無法接觸到狹窄的刻痕底部，很難精確的測量。本實用新型公開了一種可快速準(zhǔn)確測量刻痕深度的方法，其原理是通過調(diào)節(jié)顯孩i鏡的焦距來確定螺旋測微器外殼的位置，與電池殼表面和刻痕底部分別對焦，得到的焦距位移差值即是顯微鏡主體的位移差值，可用螺旋測微器測量，測量數(shù)據(jù)的差值即是刻痕深度值。使用本實用新型裝置進行刻痕深度值測量，操作方便簡單，測量精度比傳統(tǒng)的直接測量方式精度要高，而且，測試過程中并不直接接觸樣品，保持了樣品的原始性狀。
因此，提供一種結(jié)構(gòu)筒單,、設(shè)計合理、應(yīng)用筒便的用于鋰離子方型電池
3鋁殼刻痕深度的筒易測量裝置是該領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)著手解決的問題之一。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在子克服上述不足之處，提供一種結(jié)構(gòu)筒單、應(yīng)用簡便的用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置。
為實現(xiàn)上述目的本實用新型所采用的技術(shù)方案是 一種用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置，其特征在于該裝置包括顯微鏡底座、顯微鏡樣品臺、顯孩t鏡固定旋4丑、顯微鏡調(diào)焦旋鈕、顯凝L鏡主體、螺旋測微器、支架；所述支架垂直設(shè)置于顯微鏡底座一端，顯微鏡樣品臺平行置于顯微鏡底座上，顯微鏡主體通過支架上橫梁，對應(yīng)設(shè)置于顯微鏡樣品臺上方，所述螺旋測微器同軸置于顯孩t鏡主體上方；顯微鏡底座前端設(shè)有支柱，其右側(cè)設(shè)有定位顯微鏡主體的顯微鏡固定旋鈕，對應(yīng)顯孩吏鏡主體設(shè)有顯微鏡調(diào)焦旋鈕。
本實用新型的有益效果是該裝置采用不直接接觸電池殼刻痕的方法進行測量，保持樣品的原始性狀，不會因為測量而使樣品遭到破壞。同時，也克服了測量目標(biāo)小不易直接測量的弊端，通過顯微鏡調(diào)焦放大，使所得的測試結(jié)果更加精確。且本裝置可反復(fù)使用，對環(huán)境友好，使用本裝置測試時簡單快捷，檢測準(zhǔn)確可靠。

圖l是本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖中1顯微鏡底座，2顯微鏡樣品臺，3顯微鏡固定旋鈕，4顯微鏡調(diào)焦旋鈕，5顯微鏡主體，6螺旋測微器，7支架，8支柱。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖和較佳實施例，對依據(jù)本實用新型提供的具體實施方式
、結(jié)構(gòu)、特征詳述如下
參見圖1， 一種用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置，其特征在于該裝置包括顯微鏡底座1、顯微鏡樣品臺2、顯微鏡固定旋鈕3、顯微鏡調(diào)焦旋鈕4、顯微鏡主體5、螺旋測微器6、支架7;所述支架7垂直設(shè)置于顯微鏡底座1 一端，顯微鏡樣品臺2平行置于顯微鏡底座1上，顯微鏡主體5通過支架7上橫梁，對應(yīng)設(shè)置于顯微鏡樣品臺2上方，所述螺旋測微器6
4同軸置于顯微鏡主體5上方；顯微鏡底座1前端設(shè)有支柱8，其右側(cè)設(shè)有定位顯微鏡主體5的顯微鏡固定旋鈕3,對應(yīng)顯微鏡主體5設(shè)有顯微鏡調(diào)焦旋鈕4。
測量時，將樣品電池殼放在顯微鏡樣品臺2上，調(diào)節(jié)顯孩么鏡調(diào)焦旋鈕4，與電池殼表面對焦，然后用位于支架7上的螺旋測微器6測量顯微鏡主體5頂部距離，得測量數(shù)值L1;用相同的方法再與電池殼刻痕底部對焦，用螺旋測微器6測量顯微鏡主體5頂部距離，得到測量數(shù)值L2;將L1減去L2，得到的差值即是電池殼刻痕的深度值。使用該裝置進行刻痕深度值測量，操作簡單快捷，測量精度高。
上述參照實施例對該用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置進行的詳細描述，是說明性的而不是限定性的；因此在不脫離本實用新型總體構(gòu)思下的變化和修改，應(yīng)屬本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置，其特征在于該裝置包括顯微鏡底座、顯微鏡樣品臺、顯微鏡固定旋鈕、顯微鏡調(diào)焦旋鈕、顯微鏡主體、螺旋測微器、支架；所述支架垂直設(shè)置于顯微鏡底座一端，顯微鏡樣品臺平行置于顯微鏡底座上，顯微鏡主體通過支架上橫梁，對應(yīng)設(shè)置于顯微鏡樣品臺上方，所述螺旋測微器同軸置于顯微鏡主體上方；顯微鏡底座前端設(shè)有支柱，其右側(cè)設(shè)有定位顯微鏡主體的顯微鏡固定旋鈕，對應(yīng)顯微鏡主體設(shè)有顯微鏡調(diào)焦旋鈕。
專利摘要本實用新型涉及一種用于鋰離子方型電池鋁殼刻痕深度的簡易測量裝置，包括支架，所述支架垂直設(shè)置于顯微鏡底座一端，顯微鏡樣品臺平行置于顯微鏡底座上，顯微鏡主體通過支架上橫梁，對應(yīng)設(shè)置于顯微鏡樣品臺上方，所述螺旋測微器同軸置于顯微鏡主體上方；顯微鏡底座前端設(shè)有支柱，其右側(cè)設(shè)有定位顯微鏡主體的顯微鏡固定旋鈕，對應(yīng)顯微鏡主體設(shè)有顯微鏡調(diào)焦旋鈕。該裝置是調(diào)節(jié)顯微鏡的焦距，與電池殼表面對焦，然后用位于支架上的螺旋測微器測量顯微鏡主體頂部距離，得測量數(shù)值L1；用相同的方法再與電池殼刻痕底部對焦，用螺旋測微器測量顯微鏡主體頂部距離，得到測量數(shù)值L2；將L1減去L2，得差值即是電池殼刻痕的深度值。該裝置操作簡單，測量精確。
文檔編號G01B11/22GK201413129SQ20092009704
公開日2010年2月24日 申請日期2009年6月9日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月9日
發(fā)明者敏 劉, 張聯(lián)忠 申請人:天津力神電池股份有限公司