專利名稱：一種太陽能電池芯片測(cè)試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種太陽能電池芯片測(cè)試電路。
(二)
背景技術(shù)：
最近太陽能電池芯片的需求量不斷增加，對(duì)于40X40、 50X50等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格小芯片的需求量更是不斷增長(zhǎng)。小芯片的測(cè)試根據(jù)不同的應(yīng)用會(huì)有不同的要求，在生產(chǎn)中需要進(jìn)行調(diào)整，有時(shí)測(cè)試需要變換參數(shù)，因此測(cè)試工序是影響生產(chǎn)速度的很重要的工序，但是現(xiàn)有的太陽能電池芯片測(cè)試電路無法實(shí)現(xiàn)測(cè)試參數(shù)的調(diào)整。
(三) 發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有太陽能電池芯片的上述不足，本實(shí)用新型提供一種可設(shè)置多個(gè)不同測(cè)試參數(shù)的太陽能電池芯片測(cè)試電路。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題的技術(shù)方案是 一種太陽能電池芯片測(cè)試電路，包括測(cè)試主電路上的測(cè)試端子、電壓表以及電流表，還包括并聯(lián)的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路、開路電壓測(cè)試電路；所述的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路上接有可調(diào)電阻器，所述的定負(fù)載測(cè)試電路上接有定值電阻，所述的電壓表接在所述可調(diào)電阻器和定值電阻的兩端；所述可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路、開路電壓測(cè)試電路的一端并接至測(cè)試主電路，另一端為檔位開關(guān);所述的測(cè)試主電路上設(shè)有轉(zhuǎn)換開關(guān)，所述的轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路、開路電壓測(cè)試電路的檔位開關(guān)接通從而使可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路與測(cè)試主電路形成通路、使短路電流測(cè)試電路與測(cè)試主電路形成短路、使開路電壓測(cè)試電路與測(cè)試主電路形成開路；還包括一繼電器，所述的短路電流測(cè)試電路接在所述繼電器的常閉觸點(diǎn)上，所述開路電壓測(cè)試電路接在所述繼電器的常開觸點(diǎn)上。
進(jìn)一步，所述的定負(fù)載測(cè)試電路包括并聯(lián)的第一定負(fù)載測(cè)試電路
和第二定負(fù)載測(cè)試電路，所述的第一定負(fù)載測(cè)試電路上接有第一定值
電阻，所述的第二定負(fù)載測(cè)試電路上接有第二定值電阻；所述的可調(diào)
負(fù)載測(cè)試電路上的可調(diào)電阻器包括粗調(diào)電阻器和細(xì)調(diào)電阻器。
本實(shí)用新型設(shè)置不同檔位測(cè)試，實(shí)現(xiàn)可調(diào)負(fù)載的測(cè)試、定負(fù)載的
測(cè)試、開路電壓的測(cè)試和短路電流的測(cè)試，其中通過繼電器實(shí)現(xiàn)開路電壓測(cè)試和短路電流測(cè)試的快速切換在負(fù)載開路的情況，使開路電壓測(cè)試電路接在繼電器的常開觸點(diǎn)，短路電流測(cè)試電路接在繼電器的常閉觸點(diǎn)，其測(cè)試開路電壓值；在短路情況下，使短路電流測(cè)試電路接在繼電器的常閉觸點(diǎn)，開路電壓測(cè)試電路接在繼電器的常開觸點(diǎn)，其測(cè)試短路電流值。
本實(shí)用新型的有益效果在于設(shè)置了不同的檔位測(cè)試，可根據(jù)多個(gè)不同參數(shù)的測(cè)量；通過介入可調(diào)負(fù)載，實(shí)現(xiàn)不同應(yīng)用環(huán)境下的負(fù)載模擬。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。參照?qǐng)D1， 一種太陽能電池芯片測(cè)試電路，包括測(cè)試主電路上的測(cè)
試端子l、電壓表2以及電流表3，還包括并聯(lián)的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路4、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路5、開路電壓測(cè)試電路6;所述的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路4上接有可調(diào)電阻器，所述的定負(fù)載測(cè)試電路上接有定
值電阻，所述的電壓表2接在所述可調(diào)電阻器和定值電阻的兩端；所述
可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路4、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路5、開路電壓測(cè)試電路6的一端并接至測(cè)試主電路，另一端為檔位開關(guān)；所述的測(cè)試主電路上設(shè)有轉(zhuǎn)換開關(guān)7，所述的轉(zhuǎn)換開關(guān)7與所述可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路4、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路5、開路電壓測(cè)試電路6的檔位開關(guān)接通從而使可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路4、定負(fù)載測(cè)試電路與測(cè)試主電路形成通路、使短路電流測(cè)試電路5與測(cè)試主電路形成短路、使開路電壓測(cè)試電路6與測(cè)試主電路形成開路；還包括一繼電器8，所述的短路電流測(cè)試電路5接在所述繼電器8的常閉觸點(diǎn)上，所述開路電壓測(cè)試電路6接在所述繼電器8的常開觸點(diǎn)上。
本實(shí)施例中，所述的定負(fù)載測(cè)試電路包括并聯(lián)的第一定負(fù)載測(cè)試電路9和第二定負(fù)載測(cè)試電路10，所述的第一定負(fù)載測(cè)試電路9上接有第一定值電阻，所述的第二定負(fù)載測(cè)試電路10上接有第二定值電阻;所述的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路上的可調(diào)電阻器包括粗調(diào)電阻器11和細(xì)調(diào)電阻器12。
本實(shí)用新型設(shè)置不同檔位測(cè)試，實(shí)現(xiàn)可調(diào)負(fù)載的測(cè)試、定負(fù)載的測(cè)試、開路電壓的測(cè)試和短路電流的測(cè)試，其中通過繼電器8實(shí)現(xiàn)開路電壓測(cè)試和短路電流測(cè)試的快速切換在負(fù)載開路的情況，使開路電壓測(cè)試電路接在繼電器的常開觸點(diǎn)，短路電流測(cè)試電路接在繼電器的常閉觸點(diǎn)，其測(cè)試開路電壓值；在短路情況下，使短路電流測(cè)試電路接在繼電器的常閉觸點(diǎn)，開路電壓測(cè)試電路接在繼電器的常開觸點(diǎn)，其測(cè)試短路電流值。
權(quán)利要求1.一種太陽能電池芯片測(cè)試電路，包括測(cè)試主電路上的測(cè)試端子、電壓表以及電流表，其特征在于還包括并聯(lián)的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路、開路電壓測(cè)試電路；所述的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路上接有可調(diào)電阻器，所述的定負(fù)載測(cè)試電路上接有定值電阻，所述的電壓表接在所述可調(diào)電阻器和定值電阻的兩端；所述可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路、開路電壓測(cè)試電路的一端并接至測(cè)試主電路，另一端為檔位開關(guān)；所述的測(cè)試主電路上設(shè)有轉(zhuǎn)換開關(guān)，所述的轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路、開路電壓測(cè)試電路的檔位開關(guān)接通從而使可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路與測(cè)試主電路形成通路、使短路電流測(cè)試電路與測(cè)試主電路形成短路、使開路電壓測(cè)試電路與測(cè)試主電路形成開路；還包括一繼電器，所述的短路電流測(cè)試電路接在所述繼電器的常閉觸點(diǎn)上，所述開路電壓測(cè)試電路接在所述繼電器的常開觸點(diǎn)上。
2. 如權(quán)利要求1所述的太陽能電池芯片測(cè)試電路，其特征在于 所述的定負(fù)載測(cè)試電路包括并聯(lián)的第一定負(fù)載測(cè)試電路和第二定負(fù)載 測(cè)試電路，所述的第一定負(fù)載測(cè)試電路上接有第一定值電阻，所述的 第二定負(fù)載測(cè)試電路上接有第二定值電阻；所述的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路上的可調(diào)電阻器包括粗調(diào)電阻器和細(xì)調(diào) 電阻器。
專利摘要一種太陽能電池芯片測(cè)試電路，包括測(cè)試主電路上的測(cè)試端子、電壓表以及電流表，還包括并聯(lián)的可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路、定負(fù)載測(cè)試電路、短路電流測(cè)試電路、開路電壓測(cè)試電路；可調(diào)負(fù)載測(cè)試電路上接有可調(diào)電阻器，定負(fù)載測(cè)試電路上接有定值電阻，電壓表接在可調(diào)電阻器和定值電阻的兩端；還包括一繼電器，短路電流測(cè)試電路接在繼電器的常閉觸點(diǎn)上，開路電壓測(cè)試電路接在繼電器的常開觸點(diǎn)上。本實(shí)用新型設(shè)置了不同的檔位測(cè)試，可根據(jù)多個(gè)不同參數(shù)的測(cè)量；通過介入可調(diào)負(fù)載，實(shí)現(xiàn)不同應(yīng)用環(huán)境下的負(fù)載模擬。
文檔編號(hào)G01R31/28GK201408247SQ20092012062
公開日2010年2月17日 申請(qǐng)日期2009年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月21日
發(fā)明者孫龍學(xué) 申請(qǐng)人:孫龍學(xué)