專利名稱：鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及集成光學(xué)器件的性能測試領(lǐng)域，具體指的是一種具有無需斷電的 軟啟動功能的鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀。
背景技術(shù)：
鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器又稱鈮酸鋰集成光波導(dǎo)，是利用電光晶體的Pockels效應(yīng)，通 過外加電場改變波導(dǎo)的折射率來實現(xiàn)相位調(diào)制。半波電壓表征調(diào)制器的相位調(diào)制能力，是 鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器最重要的性能指標(biāo)之一，所以大多數(shù)公司為此制作了不同形式的測試儀 器。但是在整個測試過程中，不同形式的測試儀器都必須要用到一個共同的器件SLD光源。 在通常情況下，半波電壓測試儀在一次上電后只能測試一支鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器，如果要測 試第另一支鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器則需要斷電后重新上電使其再次穩(wěn)定閉環(huán)后才能得到測試 結(jié)果，并且在這個過程中SLD光源作為一個精密部件多次點亮關(guān)閉后會出現(xiàn)一定的衰退， 而在測試多個鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器時可能需要連續(xù)多次開關(guān)電，這將大大折損整個測試系統(tǒng) 的壽命。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是根據(jù)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，提供一種鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器 半波電壓測試儀，增設(shè)一外置軟啟動按鈕，能快速讓鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器的半波電壓測試儀 實現(xiàn)多次測量而無需斷電的軟啟動方式，提高工作效率的同時還能大大提高儀器的使用壽 命。本實用新型的實現(xiàn)由以下技術(shù)方案完成一種鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀，包括一 SLD光源，SLD光源把光信號通過 一耦合器送到被測鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器，耦合器同時把由鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器回來的光引向光 探測器，再經(jīng)過前級放大濾波電路、A/D轉(zhuǎn)換芯片，由FPGA芯片將信號進(jìn)行解調(diào)，最后經(jīng)過 A/D轉(zhuǎn)換芯片、后放電路接入鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器輸入端，構(gòu)成閉環(huán)回路，該測試儀還包括一 外接的軟啟動按鈕，所述軟啟動按鈕連接FPGA芯片，對FPGA內(nèi)核進(jìn)行選通。上述軟啟動按鈕為高、低電平選擇開關(guān)，軟啟動開關(guān)打為低電平時，F(xiàn)PGA芯片內(nèi)核 中整個程序進(jìn)入重起順序，所有軟件模塊的變量賦初值，并關(guān)閉整個閉環(huán)回路，可更換被測 鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器，軟啟動開關(guān)打為高電平時，F(xiàn)PGA內(nèi)核將被選通，經(jīng)過10ms的延時程序， 再驅(qū)動整個測試儀系統(tǒng)再次進(jìn)入閉環(huán)工作狀態(tài)。本實用新型的優(yōu)點是，在不影響整個系統(tǒng)集成度的情況下，在外部接一個簡潔的 選通按鈕，通過手動選擇軟啟動方式控制FPGA內(nèi)核的復(fù)位與否，讓鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波 電壓測試儀能實現(xiàn)多次測量而無需物理斷電，提高工作效率、延長儀器使用壽命。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀原理圖；[0009]圖2是本實用新型鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀原理圖。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖與具體實施方式
對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述當(dāng)鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀多次測量時，為避免儀器內(nèi)部的光源在多次 物理上電中的沖擊退化，本實用新型設(shè)計的鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀具有的軟啟 動功能，是一種基于FPGA核心的指令控制模式，實現(xiàn)程序控制內(nèi)核復(fù)位代替硬件上電重啟 的功能。當(dāng)外部一組鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器的半波電壓測試完畢后，通過外接的一個按鈕對 內(nèi)部FPGA內(nèi)核進(jìn)行選通，當(dāng)按鈕打為低電平時，整個程序進(jìn)入重起順序，把所有的軟件模 塊中的變量賦初值并在此時關(guān)閉整個閉環(huán)回路，此時更換被測波導(dǎo)，在鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器 的兩個接線腿上將無電平輸出，可以安全操作，當(dāng)按鈕打為高電平時，F(xiàn)PGA內(nèi)核將被選通， FPGA開始工作新一輪的閉環(huán)測試工作。如圖1、圖2所示，本實施例中整個測試系統(tǒng)由光路和電路兩部分組成，光路運用 光纖環(huán)形干涉儀的原理，首先由光源(1)通過2*2耦合器(2)把光送到被測的鈮酸鋰光學(xué) 調(diào)制器(3)，同時把由鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器(3)回來的光引向光探測器(5)。鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制 器(3)的輸出分支連接到光纖環(huán)中(4)，此時在鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器的兩個輸入端上加上一 個由后放電路(12)放大調(diào)制信號，探測器(5)輸出的信號，通過前級放大同時對信號進(jìn)行 濾波(6)，A/D(7)轉(zhuǎn)換芯片高速地將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，F(xiàn)PGA(8)為整個數(shù)字系統(tǒng)的核 心，當(dāng)FPGA(8)得到由A/D(7)轉(zhuǎn)換芯片輸出的數(shù)字量后把信號進(jìn)行解調(diào)，整個系統(tǒng)進(jìn)行閉 環(huán)工作完成一次鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器的半波電壓測試，按下軟啟動開關(guān)(9)打為低電平，整 個程序進(jìn)入重起順序，把所有的軟件模塊中的變量賦初值并在此時關(guān)閉整個閉環(huán)回路，此 時就可以更換被測波導(dǎo)，當(dāng)再次按下軟啟動開關(guān)(9)打為高電平后經(jīng)過10ms的延時程序就 又把所有的寄存器放開，重新給出調(diào)制波形驅(qū)動整個系統(tǒng)再次進(jìn)入閉環(huán)。
權(quán)利要求一種鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀，包括一SLD光源，SLD光源把光信號通過一耦合器送到被測鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器，鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器的輸出分支連接到光纖環(huán)形干涉儀中，耦合器同時把由鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器回來的光引向光探測器，把光信號變成電信號，再經(jīng)過前級放大濾波電路、A/D轉(zhuǎn)換芯片，由FPGA芯片將信號進(jìn)行解調(diào)，最后經(jīng)過主D/A轉(zhuǎn)換芯片、后放電路放大后形成調(diào)制信號接入鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器輸入端，構(gòu)成閉環(huán)回路，其特征在于還包括一外接的軟啟動按鈕，所述軟啟動按鈕連接所述FPGA芯片，對FPGA內(nèi)核進(jìn)行選通。
2.如權(quán)利要求1所述的一種鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀，其特征在于所述軟啟 動按鈕為高、低電平選擇開關(guān)，軟啟動開關(guān)打為低電平時，F(xiàn)PGA芯片內(nèi)核中整個程序進(jìn)入 重起順序，所有軟件模塊的變量賦初值，并關(guān)閉整個閉環(huán)回路，可更換被測鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制 器，軟啟動開關(guān)打為高電平時，F(xiàn)PGA內(nèi)核將被選通，驅(qū)動整個測試儀系統(tǒng)再次進(jìn)入閉環(huán)工作 狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀，其特征在于所述軟啟 動開關(guān)打為高電平，系統(tǒng)再次進(jìn)入閉環(huán)工作狀態(tài)前，經(jīng)過10ms的延時程序。
專利摘要本實用新型涉及集成光學(xué)器件的性能測試領(lǐng)域，具體指的是一種具有無需斷電的軟啟動功能的鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀。該測試儀包括一外接的軟啟動按鈕，所述軟啟動按鈕連接FPGA芯片，對FPGA內(nèi)核進(jìn)行選通。軟啟動按鈕為高、低電平選擇開關(guān)，軟啟動開關(guān)打為低電平時，F(xiàn)PGA芯片內(nèi)核中整個程序進(jìn)入重起順序，所有軟件模塊的變量賦初值，并關(guān)閉整個閉環(huán)回路，可更換被測鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器，軟啟動開關(guān)打為高電平時，F(xiàn)PGA內(nèi)核將被選通。本實用新型的優(yōu)點是，通過手動選擇軟啟動方式控制FPGA內(nèi)核的復(fù)位與否，讓鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓測試儀能實現(xiàn)多次測量而無需物理斷電，提高工作效率、延長儀器使用壽命。
文檔編號G01R19/25GK201583588SQ20092021494
公開日2010年9月15日 申請日期2009年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月31日
發(fā)明者吳海林, 王浩, 虞翔 申請人:上海亨通光電科技有限公司