專利名稱：滑套式刻線深度量規(guī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種刻線深度量規(guī)，具體地說是一種用于測量工件內(nèi)孔深度的滑 套式刻線深度量規(guī)。
背景技術(shù)：
目前對于工件孔的深度的測量，普遍采用的形式之一的是用量棒形式的量規(guī)進(jìn)行 檢測，見圖1。對于圖1中待測孔6的檢測，目前采用圖中的刻線深度量規(guī)檢測。檢測時，將 量棒1插入孔底，通過人眼觀察待測孔6端面相對于量棒1上的兩條深度上界限刻線3和 下界限刻線4的位置來判斷深度是否合格的。這種量規(guī)存在很多不足對于內(nèi)孔，一般情況 下，它基本上都有孔口倒角或者圓角。端面的孔口尺寸都要大于內(nèi)孔，其孔口邊緣就會遠(yuǎn)離 量棒1的刻線。這樣，人眼觀察待測孔6端面相對于量棒1上的上界限刻線3和下界限刻 線4的位置時，就不便于比對。對于大型零件上的孔(特別是斜孔)，操作者有時就必須歪 著頭來瞄準(zhǔn)觀察，既不準(zhǔn)確，也不方便。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的是孔口邊緣與量規(guī)的刻線對比不方便的問題，提供一種滑 套式刻線深度量規(guī)。本實(shí)用新型為解決上述技術(shù)問題的不足，所采用的技術(shù)方案是滑套式刻線深度 量規(guī)，包括帶有刻線的量棒，在量棒上還設(shè)有滑套。所述的滑套，其上下兩個端面為平面。所述的量棒上刻有上界限刻線和下界限刻線。所述的量棒頂端設(shè)有手柄。本實(shí)用新型的有益效果是通過增加一個標(biāo)準(zhǔn)厚度的過渡滑套，將檢測位置由孔 口轉(zhuǎn)換為滑套的上端面，滑套的上孔口邊緣專門做成無倒角或者圓角的形式，這樣，滑套上 孔口與量棒緊密貼合。人眼觀察過渡滑套上端面相對于量棒上的兩條測量刻線位置就既準(zhǔn) 確，又方便。不受被測內(nèi)孔的孔口倒角或圓角的影響。尤其是對于深孔和空間受限制不便 觀察的孔，可以通過加長滑套的引出，很方便地進(jìn)行檢測。
圖1是原有刻線深度量規(guī)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中標(biāo)記1、量棒，2、滑套，3、上界限刻線，4、下界限刻線，5、手柄，6、待測孔。
具體實(shí)施方式
如圖2所示，滑套式刻線深度量規(guī)，包括帶有刻線的量棒1，在量棒1上還設(shè)有滑套2?；?的上下兩個端面為平面，滑套2的上孔口邊緣與量棒貼合。將滑套2厚度設(shè)定為一個標(biāo)準(zhǔn)值，量棒1的上界限刻線3和下界限刻線4的設(shè)置位置分別調(diào)整為孔深的上下限 與滑套2厚度的和。檢測時，將量棒1插入待測孔6孔底后，再將標(biāo)準(zhǔn)厚度的滑套2的下端 面貼緊孔口端面，人眼觀察滑套2的上端面相對于量棒1上的上界限刻線3和下界限刻線 4的位置來判斷待測孔6的深度是否合格的。在所述的量棒頂端設(shè)置手柄，方便手持測量。對于深孔和空間受限制不便觀察的孔，可以加大滑套2的厚度，將觀測面引出，以 便于觀測。若將量棒上的刻線設(shè)置成標(biāo)準(zhǔn)長度刻線，也可用于測量孔的深度值。
權(quán)利要求滑套式刻線深度量規(guī)，包括帶有刻線的量棒(1)，其特征在于在量棒(1)上還設(shè)有滑套(2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滑套式刻線深度量規(guī)，其特征在于所述的滑套(2)，其上下 兩個端面為平面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滑套式刻線深度量規(guī)，其特征在于所述的量棒(1)上刻有 上界限刻線⑶和下界限刻線(4)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滑套式刻線深度量規(guī)，其特征在于所述的量棒(1)頂端設(shè) 有手柄(5)。
專利摘要滑套式刻線深度量規(guī)，用于測量工件內(nèi)孔深度。包括帶有刻線的量棒，在量棒上還設(shè)有滑套。所述的滑套，其上下兩個端面為平面。所述的量棒上刻有上界限刻線和下界限刻線。所述的量棒頂端設(shè)有手柄。通過增加一個標(biāo)準(zhǔn)厚度的過渡滑套，將檢測位置由孔口轉(zhuǎn)換為滑套的上端面，滑套上孔口與量棒緊密貼合。人眼觀察過渡滑套上端面相對于量棒上的兩條測量刻線位置就既準(zhǔn)確，又方便。不受被測內(nèi)孔的孔口倒角或圓角的影響。
文檔編號G01B5/18GK201569399SQ20092029838
公開日2010年9月1日 申請日期2009年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月29日
發(fā)明者張陽 申請人:力邦測控設(shè)備(洛陽)有限公司