專利名稱：檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種檢測裝置，且特別是有關(guān)于一種用以檢測物體的平整度的檢 測裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有測量物體平整度的技術(shù)不外乎是以塞規(guī)或是以三次元量測儀進行。前者需 要先行在待測物上確定一個基準平面，之后再于待測點上逐一用塞規(guī)以試誤法逐次進行測 量。然此舉不但在測量的過程中需花費較長的時間，且所測量的范圍也僅限于待測物的邊 緣，一旦待測物的面積較大，便無法對待測物的中央部分進行測量，其所測量到的數(shù)值的離 散程度較大，因而無法得到較準確的測量值。另外，若以三次元量測儀進行平整度測量，雖能確保所量測的數(shù)值較上述方式精 確。然而，此等設(shè)備的花費較為昂貴，且需先行制作承靠治具，方能將待測物裝設(shè)在三次元 量測儀的量測平臺上。如此一來，當待測物的外型尺寸變更，則勢必需另行制作承靠治具， 進而使花費在承靠治具上的制作過程及成本大幅增加。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種檢測裝置，用以方便地檢測物體的平整度。本發(fā)明的一實施例提出一種檢測裝置，用以檢測一物體的平整度。檢測裝置包括 一平臺、一第一測量單元、一連接件以及一第二測量單元。物體適于裝設(shè)在平臺上。第一測 量單元立設(shè)于平臺上且包括一第一千分尺。連接件裝設(shè)于第一千分尺尚且與第一千分尺同 步移動。第二測量單元包括一滑動件與一第二千分尺?；瑒蛹刹鹦兜伛罱佑谶B接件。第 二千分尺裝設(shè)于滑動件上?；瑒蛹逵蛇B接件而隨著第一千分尺同步移動。作為優(yōu)選的方案在本發(fā)明的一實施例中，上述的滑動件具有一凹槽，滑動件通過凹槽與連接件相 嵌合，且滑動件相對連接件可移動，以調(diào)整第二千分尺相對于第一千分尺的距離。在本發(fā)明的一實施例中，上述的滑動件還具有一基準面，朝向平臺，此基準面用以 歸零第一千分尺與第二千分尺。在本發(fā)明的一實施例中，上述的連接件與滑動件的至少其中之一為一磁性元件。在本發(fā)明的一實施例中，上述的平臺包括一基座與一托盤。第一測量單元立設(shè)于 基座上。托盤可移動地組裝于基座上，而物體適于裝設(shè)于托盤上。在本發(fā)明的一實施例中，上述的平臺更包括一調(diào)整器，組裝于基座上并連接托盤， 調(diào)整器用以調(diào)整托盤相對于基座的距離。在本發(fā)明的一實施例中，上述的第一測量單元還包括一支撐臂，連接于基座。第 一千分尺裝設(shè)于支撐臂上?；谏鲜?，在本發(fā)明的上述實施例中，檢測裝置藉由連接件與滑動件之間的配合， 而使兩個千分尺得以整合在一起，進而藉由調(diào)整此兩個千分尺之間的相對距離與利用滑動
3件的基準面，而讓使用者得以方便地藉由檢測裝置測量物體的平整度。


圖1是本發(fā)明一實施例的--種檢測裝置的示意圖。
圖2是圖1的檢測裝置于歸零狀態(tài)的示意圖。
圖3是圖1的檢測裝置于測量凹形待測物的示意圖。
圖4是圖1的檢測裝置于測量凸形待測物的示意圖。
圖5是圖1的檢測裝置于測量凹凸形待測物的示意圖。
圖中
100 檢測裝置110 平臺
112 基座114 托盤
116 調(diào)整器120 第一測量單元
122 第一千分尺122a 套管
122b 旋鈕122c、144a 測頭
124 支撐臂130 連接件
140 第二測量單元142 滑動件
142a 凹槽142b 基準面
144 第二千分尺200、300、400 待測物
具體實施例方式為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式 作詳細說明如下。圖1是本發(fā)明一實施例的一種檢測裝置的示意圖。請參考圖1，在本實施例中，檢 測裝置100用以檢測一物體的平整度，此檢測裝置100包括一平臺110、一第一測量單元 120、一連接件130以及一第二測量單元140。物體適于裝設(shè)在平臺110上。第一測量單元 120立設(shè)于平臺110上，且第一測量單元120包括一第一千分尺122。連接件130裝設(shè)于第 一千分尺122上，且連接件130與第一千分尺122同步移動。在本實施例中，連接件130例如是一個環(huán)狀柱體，其套設(shè)在第一千分尺122的一套 管12 上。當使用者旋轉(zhuǎn)第一千分尺122的一旋鈕122b時，連接件130會隨著第一千分 尺122的套管12 而相對于平臺110上下地移動。但本實施例并未限制連接件130的外 型及其與第一千分尺122之間的連接結(jié)構(gòu)，任何能讓連接件130隨著第一千分尺122進行 同步移動(包含旋轉(zhuǎn)與上下移動)的，皆可適用于本實施例。第二測量單元140包括一滑動件142與一第二千分尺144，其中第二千分尺144裝 設(shè)于滑動件142上。滑動件142可拆卸地耦接于連接件130，且滑動件142藉由連接件130 而隨著第一千分尺122同步移動?；谏鲜?，本發(fā)明藉由相互耦接的連接件130與滑動件142而使第一千分尺122 與第二千分尺144整合在一起，其中裝設(shè)在滑動件142上的第二千分尺144得以隨著第 一千分尺122同步移動。因此，使用者能藉由調(diào)整第一千分尺122與第二千分尺144之間 的相對距離而順利地測量到物體的平整度。
再加以詳述如下，在本實施例中，滑動件142具有一凹槽142a，滑動件142通過凹 槽14 與連接件130相嵌合，且滑動件142相對連接件130可移動。再者，滑動件142與連 接件130的至少其中之一為磁性元件。據(jù)此，連接件130便能藉由磁性而嵌合于凹槽14 內(nèi)的任一位置，因而使用者能自由地調(diào)整第一千分尺122與第二千分尺144之間的相對距 離后，再藉由磁性將滑動件142與連接件130接合在一起。此舉并進而使檢測裝置100的 檢測范圍不會受限于待測物的外觀尺寸。另外，當滑動件142與連接件130藉由磁性而連接在一起時，使用者藉由第一千分 尺122便能讓滑動件142與其上的第二千分尺144隨著第一千分尺122旋轉(zhuǎn)與上下移動， 此舉亦讓檢測裝置100得以適用于不同表面輪廓的待測物。但本實施例并未限定連接件 130與滑動件142之間的連接結(jié)構(gòu)，于本發(fā)明另一未繪示的實施例中，連接件與滑動件亦可 以齒接的方式進行連接。此外，在本實施例的檢測裝置中，平臺110包括一基座112、一托盤114以及一調(diào) 整器116，而第一測量單元120還包括一支撐臂124，第一千分尺122裝設(shè)于支撐臂IM上。 藉此，第一千分尺122藉由支撐臂IM連接至基座112上。托盤114可移動地組裝在基座 112上，待測物適于裝設(shè)在托盤114上，且托盤114可依據(jù)待測物的外型而隨之變換。調(diào)整 器116裝設(shè)于基座112上并連接托盤114，調(diào)整器116可藉由一升降結(jié)構(gòu)(未繪示)，其例 如是螺桿結(jié)構(gòu)而與托盤114相互連接，進而調(diào)整托盤114相對于基座112的距離，以使待測 物順利地裝設(shè)在托盤114上并方便使用者操作第一測量單元120與第二測量單元140。以下僅以數(shù)個實施例說明檢測裝置100測量待測物的平整度，但本發(fā)明并未以這 些實施例為限。圖2是圖1的檢測裝置于歸零狀態(tài)的示意圖。請參考圖2，在此值得注意的是，在 本實施例中，滑動件142還具有面向平臺110的一基準面142b，藉由調(diào)整第一千分尺122的 測頭122c與第二千分尺144的測頭14 與此基準面142b共平面，并使第一千分尺122與 第二千分尺144上的刻度調(diào)整至零。藉此，便能藉由此基準面142b將第一千分尺122與第 二千分尺144進行歸零。圖3是圖1的檢測裝置于測量凹形待測物的示意圖。請參考圖3，在本實施例中， 先將第一千分尺122歸零，接著旋轉(zhuǎn)第二千分尺144至一待測物200的表面，此時第二千分 尺144上的刻度即為此凹形待測物200的平整度。圖4是圖1的檢測裝置于測量凸形待測物的示意圖。請參考圖4，在本實施例中， 調(diào)整第一千分尺122并使其帶動滑動件142向下，直到滑動件142的基準面142b接觸待測 物300。此時第一千分尺122的刻度即為凸形待測物300的平整度。圖5是圖1的檢測裝置于測量凹凸形待測物的示意圖。請參考圖5，在本實施例中， 先行調(diào)整第一千分尺122，使其帶動滑動件142向下直到其基準面142b接觸待測物400。接 著，再調(diào)整第二千分尺144，直到第二千分尺144接觸待測物400。據(jù)此，第一千分尺122與 第二千分尺144的刻度差值即為此凹凸形待測物400的平整度。上述圖3至圖5的實施例 僅繪示本發(fā)明的部分實施方式，設(shè)計者可依據(jù)上述的測量原則而對不同表面輪廓的待測物 進行測量。綜上所述，本發(fā)明藉由滑動件與連接件的相互搭配，而使第一千分尺與第二千分 尺整合于檢測裝置上。此舉讓使用者利用滑動件可拆卸的特性，通過調(diào)整第一千分尺與第二千分尺之間的相對距離，而順利地測量物體的平整度。再者，滑動件還具有基準面，除用 以作為第一千分尺與第二千分尺的歸零基準面外，于量測多種不同表面輪廓的物體時，藉 由第一千分尺、第二千分尺與基準面之間的高度差距，而能使檢測裝置無須受限于物體的 外觀尺寸，進而達到量測各種物體的表面平整度的目的。 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用來限定本發(fā)明的實施范圍。任何 所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作各種的更動與 潤飾，因此發(fā)明的保護范圍當視權(quán)利要求書所界定范圍為準。
權(quán)利要求
1.一種檢測裝置，用以檢測一物體的平整度，其特征在于，該檢測裝置包括一平臺，該物體適于裝設(shè)于該平臺上；一第一測量單元，立設(shè)于該平臺上；一連接件，設(shè)置于該第一測量單元上；以及一第二測量單元，藕接于該連接件。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述的第一測量單元包括一第一千分 尺，該連接件裝設(shè)于該第一千分尺上，且該連接件與該第一千分尺同步移動。
3.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述的第二測量單元包括一滑動件，可拆卸地耦接于該連接件，且該滑動件藉由該連接件而隨著該第一千分尺 同步移動；以及一第二千分尺，裝設(shè)于該滑動件上。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述的滑動件具有一凹槽，該滑動件通 過該凹槽與該連接件相嵌合，且該滑動件相對該連接件可移動，以調(diào)整該第二千分尺相對 于該第一千分尺的距離。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述的滑動件還具有一基準面，面向該 平臺，該基準面用以歸零該第一千分尺與該第二千分尺。
6.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述的連接件與滑動件至少其中之一 為一磁性元件。
7.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述的平臺包括一基座，該第一測量單元立設(shè)于該基座上；以及一托盤，可移動地組裝于該基座上，而該物體適于裝設(shè)于該托盤上。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述的平臺更包括一調(diào)整器，組裝于該 基座上并連接該托盤，該調(diào)整器用以調(diào)整該托盤相對于該基座的距離。
9.如權(quán)利要求7所述的檢測裝置，其特征在于，所述的第一測量單元還包括一支撐臂， 連接于該基座，該第一千分尺裝設(shè)于該支撐臂上。
全文摘要
本發(fā)明是揭露一種檢測裝置，用以檢測物體的平整度。檢測裝置包括平臺、第一測量單元、連接件以及第二測量單元。物體適于裝設(shè)在平臺上。第一測量單元立設(shè)于平臺上且包括第一千分尺。連接件裝設(shè)于第一千分尺尚且與第一千分尺同步移動。第二測量單元包括滑動件與第二千分尺?；瑒蛹刹鹦兜伛罱佑谶B接件。第二千分尺裝設(shè)于滑動件上。滑動件藉由連接件而隨著第一千分尺同步移動。
文檔編號G01B5/28GK102116602SQ20101002246
公開日2011年7月6日 申請日期2010年1月6日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月6日
發(fā)明者熊偉 申請人:英華達(上海)科技有限公司