專利名稱：電路板的信號測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種除錯(debug)裝置，且特別涉及一種電路板的信號測試裝置。
背景技術(shù)：
一般來說，計算機或服務器所使用的主板(motherboard)都需要通過上電時序 (power sequence)的驗證，以便于確定主板是否可以正常使用。因此上電時序的測試項目對于測試工程師進行主板測試來說十分重要。另外，就電源開啟程序這個測試項目來說，主要是用來驗證主板在電源開啟 (power-on)時，主板上的各個待測電壓的電壓準位是否正確，以及各個待測電壓間的電壓邏輯準位轉(zhuǎn)態(tài)的時間點是否正確。而若是各個待測電壓的電壓準位正確以及各個待測電壓間的電壓邏輯準位轉(zhuǎn)態(tài)的時間點正確，表示主板可以正常使用；若是各個待測電壓的電壓準位不正確以及各個待測電壓間的電壓邏輯準位轉(zhuǎn)態(tài)的時間點不正確，表示主板不能正常使用。測試工程師檢查主板上的待測電壓通常是利用萬用電表檢查逐一檢測主板上有無供電電壓異?；蚴抢檬静ㄆ鳈z查主板上有無異常的Reset信號。最后，再根據(jù)上述所檢測出的異常電壓或信號分析相關(guān)電路并找出問題點。由于需測試的電壓與信號(例如主板上的工作電壓、Power Good/Reset信號)很多，若依序一個一個量測上述待測電壓與信號將耗費許多時間成本，而造成測試效率降低。 而且，待測電壓及信號繁多且復雜，使得測試工程師容易忘記測試順序而需要重新量測，如此也會浪費過多的測試時間，而讓測試效果變差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是提供一種電路板的信號測試裝置，借以有效地減少電路板的測試時間，以提高測試效率。本發(fā)明提出一種電路板的信號測試裝置，包括連接接口、檢測模塊與顯示單元。連接接口連接至所述電路板，以接收并傳輸所述電路板的多個測試信號。檢測模塊連接至連接接口，接收并檢測所述電路板的多個測試信號，以產(chǎn)生檢測信號，其中，所述檢測信號根據(jù)所述檢測模塊檢測出所述電路板的多個測試信號其中之一發(fā)生異常而產(chǎn)生。顯示單元連接至所述檢測模塊，接收并顯示所述檢測信號。在本發(fā)明的一實施例中，所述電路板的信號測試裝置進一步包括電平轉(zhuǎn)換電路， 其連接于所述連接接口與所述檢測模塊之間，用以轉(zhuǎn)換所述電路板的多個測試信號的電平。在本發(fā)明的一實施例中，所述檢測模塊包括查表，其具有所述電路板的多個測試信號與所述檢測信號的對應關(guān)系。在本發(fā)明的一實施例中，所述電路板的信號測試裝置進一步包括數(shù)據(jù)輸入接口， 其連接至所述檢測模塊，用以接收并傳輸更新數(shù)據(jù)，以更新所述查表的數(shù)據(jù)。
在本發(fā)明的一實施例中，所述連接接口為32比特的連接接口。在本發(fā)明的一實施例中，所述檢測模塊包括復雜可程序邏輯裝置(complex programmable logic deVice，CPLD)0在本發(fā)明的一實施例中，所述顯示單元為8比特發(fā)光二極管的顯示器。在本發(fā)明的一實施例中，所述電路板為主板。本發(fā)明通過信號測試裝置接收電路板的所有測試信號，而所有測試信號可經(jīng)過檢測模塊進行檢測后，一旦檢測出某一信號發(fā)生異常(也即檢測模塊沒有接收到上述信號) 時，則檢測模塊會產(chǎn)生檢測信號給顯示單元，以顯示出檢測信號。如此一來，使用者(測試工程師)不需要逐一對電路板(主板)上的測試端進行測試信號的量測，可通過顯示單元所顯示的信息，而快速的找到造成上述信號發(fā)生異常的電路，進而加快電路板的測試速度及效率。為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式作詳細說明如下。


圖1為本發(fā)明一實施例的電路板的信號測試裝置方塊圖。附圖標記說明100 信號測試裝置；110:連接接口；120 檢測模塊；130 顯示單元；140 電平轉(zhuǎn)換單元；150:數(shù)據(jù)輸入接口；180:電路板。
具體實施例方式圖1為本發(fā)明一實施例的電路板的信號測試裝置方塊圖。在本實施例中，電路板 180為一計算機的主板(motherboard)。請參照圖1，信號測試裝置100包括連接接口 110、 檢測模塊120與顯示單元130。連接接口 110連接至電路板180，用以接收所述電路板180的多個測試信號。在本實施例中，連接接口 110例如為32比特的連接接口。也就是說，連接接口 110可以接收電路板180的測試信號為32個，但本實施例不限于此，使用者可視電路板180所需進行的測試信號的數(shù)量而增加或減少連接接口 110的比特數(shù)。另外，在本實施例中，測試信號包括電路板(主板)180上的所有電壓，例如工作電壓、重置(reset)信號及電源良好(power good) 信號等。檢測模塊120連接至連接接口 110，用以接收并檢測所述電路板180的多個測試信號，以產(chǎn)生檢測信號。其中，檢測信號根據(jù)檢測模塊120檢測出電路板180的某一個測試信號發(fā)生異常(例如檢測模塊120未接收到電路板180的某一個測試信號)而產(chǎn)生。在本實施例中，檢測模塊120可以包括復雜可編程邏輯裝置(complex programmable logicdevice,CPLD)。另外，檢測模塊120包括一查表，此查表具有電路板180的測試信號與檢測信號的對應關(guān)系。而檢測模塊120檢測出電路板180的某一個測試信號發(fā)生異常時，會根據(jù)查表而產(chǎn)生對應的檢測信號給顯示單元130。顯示單元130連接至檢測模塊120，用以接收并顯示檢測信號，以便告知使用者電路板180的哪一個測試信號發(fā)生異常，而使用者便可通過顯示單元130所顯示的信息，而快速的找到致使上述測試信號發(fā)生異常的電路，并進行狀況排除，使得電路板180可再次進行正常的操作。在本實施例中，顯示單元130例如為8比特發(fā)光二極管的顯示器，因此顯示單元130可以顯示“00000000” “11111111”的信息，而使用者便可透過上述的信息而找到電路板180發(fā)生異常的原因。如此一來，便可加快電路板180的測試速度。以下，將列舉一例并搭配表1來說明信號測試裝置100的操作。表1為本實施例的電路板180的測試信號與檢測模塊120的檢測信號(顯示單元130所顯示的信息)的對應關(guān)系表。表 權(quán)利要求
1.一種電路板的信號測試裝置，其特征在于，包括一連接接口，連接所述電路板，以接收并傳輸所述電路板的多個測試信號；一檢測模塊，連接至所述連接接口，接收并檢測所述電路板的多個測試信號，以產(chǎn)生一檢測信號，其中，所述檢測信號根據(jù)所述檢測模塊檢測出所述電路板的多個測試信號其中之一發(fā)生異常而產(chǎn)生；以及一顯示單元，連接至所述檢測模塊，接收并顯示所述檢測信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板的信號測試裝置，其特征在于，所述電路板的信號測試裝置進一步包括一電平轉(zhuǎn)換電路，連接于所述連接接口與所述檢測模塊之間，用以轉(zhuǎn)換所述電路板的多個測試信號的電平。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板的信號測試裝置，其特征在于，所述檢測模塊包括一查表，其具有所述電路板的多個測試信號與所述檢測信號的對應關(guān)系。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電路板的信號測試裝置，其特征在于，所述電路板的信號測試裝置進一步包括一數(shù)據(jù)輸入接口，連接至所述檢測模塊，用以接收并傳輸一更新數(shù)據(jù)，以更新所述查表的數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板的信號測試裝置，其特征在于，所述連接接口為32比特的連接接口。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板的信號測試裝置，其特征在于，所述檢測模塊包括一復雜可程序邏輯裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板的信號測試裝置，其特征在于，所述顯示單元為8比特發(fā)光二極管的顯示器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路板的信號測試裝置，其特征在于，所述電路板為一主板。
全文摘要
本發(fā)明提出一種電路板的信號測試裝置，包括連接接口、檢測模塊與顯示單元。連接接口連接至所述電路板，以接收并傳輸所述電路板的多個測試信號。檢測模塊連接至連接接口，接收并檢測所述電路板的多個測試信號，以產(chǎn)生檢測信號，其中，所述檢測信號根據(jù)所述檢測模塊檢測出所述電路板的多個測試信號其中之一發(fā)生異常而產(chǎn)生。顯示單元連接至所述檢測模塊，接收并顯示所述檢測信號。借此，可有效地減少電路板的測試時間，以提高測試效率。
文檔編號G01R31/3183GK102193064SQ20101013453
公開日2011年9月21日 申請日期2010年3月16日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月16日
發(fā)明者陳志豐, 黃乾坤 申請人:英業(yè)達股份有限公司