專利名稱：通用序列總線端口測試裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測試裝置，特別涉及一種用以測試通用序列總線端口的供電規(guī)范的測試裝置。
背景技術：
目前所使用的電子設備，大多皆配置有通用序列總線端口。通用序列總線端口是用以連接電子設備的外部裝置的一種串行端口總線。通用序列總線端口尤其被廣泛地使用在計算機上，但也可以用在機頂盒(Set top box)和游戲機上。通用序列總線端口可用以使得電子設備與其便攜裝置(Universal Serial BusDevice，USB設備)之間可直接交換數(shù)據(jù)。當使用者把USB設備連接至電子設備的通用序列總線端口后，電子設備首先先檢測USB設備是否已成功連接在通用序列總線端口上。若已成功連接，然后電子設備才能夠進行與USB設備之間的數(shù)據(jù)交換，進而實現(xiàn)USB設備的功能。因此，為了驗證電子設備的通用序列總線端口能夠正常工作，在電子設備出廠檢驗與日常維護時，測試者或使用者需要進行測試通用序列總線端口的質(zhì)量問題的動作。一般而言，通用序列總線端口的規(guī)范，要求其供電電壓不能超過5. 25伏特。因此， 在正常操作的情況之下，通用序列總線端口提供的電壓介于4. 75至5. 25伏特之間，并且通用序列總線端口的輸出電流不超過500毫安(mA)。所以，在測試通用序列總線端口傳輸數(shù)據(jù)的性能是否正常時，通常會通過帶有USB 插頭的鼠標、鍵盤、游戲桿、打印機或移動硬盤等設備來完成。在測試過程中，可把上述的 USB設備插入通用序列總線端口，再經(jīng)由電子設備的測試程序查看是否有檢測到該USB設備的存在，接著才檢測該USB設備是否能夠正常工作。然而，此種測試方式存在有一問題 當電子設備包括多個通用序列總線端口時，測試者需逐一把USB設備分別插入每一個通用序列總線端口上。此一程序不但增加了測試過程的復雜度，也使得測試時間過長且效率過低。此外，為了檢驗通用序列總線端口的供電電壓與電流是否符合規(guī)范，測試者還必須在上述用以測試通用序列總線端口傳輸數(shù)據(jù)的性能是否正常的USB設備外，額外設置其它可用以檢測電壓、電流的測試裝置。所以，此項動作同時也增加了通用序列總線端口的測試成本。

發(fā)明內(nèi)容
基于上述現(xiàn)有技術存在有測試成本與測試復雜度的問題，本發(fā)明提出一種通用序列總線端口測試裝置，用以測試一電子設備的一通用序列總線端口。通用序列總線端口測試裝置，包括一電流檢測器、一電壓比較器、一模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器、一微控制器以及一負載電路。電流檢測器，可用以檢測產(chǎn)生于通用序列總線端口的一輸出電流并且產(chǎn)生對應于輸出電流的一模擬比較電壓。電壓比較器，可用以根據(jù)模擬比較電壓與一參考電壓輸出一指示信號。模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器，可用以連接電流檢測器與通用序列總線端口，以將模擬比較電壓與產(chǎn)生于通用序列總線端口的一模擬輸出電壓轉換成一數(shù)字比較電壓與一數(shù)字輸出電壓。微控制器，可用以接收產(chǎn)生于通用序列總線端口的一差分信號、數(shù)字比較電壓與數(shù)字輸出電壓。負載電路，可用以連接于通用序列總線端口測試裝置的一輸出接點、電壓比較器與微控制器之間。并且，負載電路可用以根據(jù)微控制器與指示信號形成導通狀態(tài)和關閉狀態(tài)其中之一。本發(fā)明的功效在于，根據(jù)本發(fā)明的一實施例所揭露的通用序列總線端口測試裝置，不僅可完成對通用序列總線端口的基本傳輸類型的測試，還可同時達到對其供電規(guī)范 (輸出電壓與輸出電流)的測試功能。以下結合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的限定。


圖1為根據(jù)本發(fā)明的一-實施例的通用序列總線端口測試:
圖2為根據(jù)本發(fā)明的一-實施例的電流檢測器的示意圖3為根據(jù)本發(fā)明的一-實施例的輸入信號單元的示意圖
圖4為根據(jù)本發(fā)明的一-實施例的顯示狀態(tài)單元的示意圖
圖5為根據(jù)本發(fā)明的一-實施例的通訊轉換電路的示意圖
圖6為根據(jù)本發(fā)明的一-實施例的負載電路的示意圖。
其中，附圖標記
10通用序列總線端口
100電流檢測器
102電流監(jiān)測單元
104監(jiān)測電阻
200電壓比較器
300模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器
400微控制器
500負載電路
600電可擦拭可編程只讀存儲器
700輸入信號單元
800顯示狀態(tài)單元
900通訊轉換電路
910靜態(tài)隨機存取存儲器
VBUS輸出端
D+雙絞線正端
D-雙絞線負端
GND接地端
VCC電源
Va模擬輸出電壓
I0輸出電流
Vdif差分信號
V ac模擬比較電壓
Vr輸出接點
V f * ref參考電壓
Vind指示信號
Vd數(shù)字輸出電壓
Vdc數(shù)字比較電壓
S1開關組件
R6輸入電阻
Vs第一輸出電壓
ν err錯誤信號
D1發(fā)光二極管
R5顯示電阻
U1電路組件
C1第一電容
C2第二電容
C3第三電容
C4第四電容
C5第五電容
Jl第一輸出器
J2第二輸出器
1第一接腳
2第二接腳
3第三接腳
4第四接腳
5第五接腳
6第六接腳
7第七接腳
8第八接腳
9第九接腳
10第十接腳
11第十一接腳
Ri第一電阻
R2第二電阻
R3第三電阻
R4第四電阻
Qi第一晶體
Q2第二晶體
Q3第三晶體
Q4第四晶體
Rid負載電阻
LDO穩(wěn)壓器
具體實施例方式下面結合附圖對本發(fā)明的結構原理和工作原理作具體的描述請參閱圖1，為根據(jù)本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置。此種通用序列總線端口測試裝置可用以測試一電子設備的通用序列總線端口 10。此通用序列總線端口測試裝置包括一電流檢測器100、一電壓比較器200、一模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300、一微控制器400以及一負載電路500。通用序列總線端口 10包括有四端點，分別為輸出端VBUS、雙絞線正端D+、雙絞線負端D-與接地端GND。其中，接地端GND用以接地。輸出端VBUS可用以輸出通用序列總線端口 10的一模擬輸出電壓Va與一輸出電流I。，并且輸出端VBUS可用以連接USB設備。 雙絞線正端D+與雙絞線負端D-可用以提供一差分信號Vdif，并且差分信號Vdif可用以驅動USB設備，例如通用序列總線端口測試裝置。如圖1所示，電流檢測器100連接于通用序列總線端口 10、負載電路500、模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300與電壓比較器200之間。電流檢測器100可用以檢測通用序列總線端口 10的輸出電流I。，并且根據(jù)輸出電流I0輸出一模擬比較電壓va。。其中，模擬比較電壓Va。相應于輸出電流I0 當輸出電流I0小于500毫安時，其相應的模擬比較電壓va。會介于0伏特至1伏特之間。而當輸出電流I0大于500毫安時，其相應的模擬比較電壓Va。會介于1伏特至2伏特之間。電流檢測器100的詳細示意圖，請參閱圖2。根據(jù)本發(fā)明的一實施例，電流檢測器 100包括一電流監(jiān)測單元102與一監(jiān)測電阻104。其中，電流監(jiān)測單元102包括多個接腳，這些接腳可分別用以連接接地GND、一電源VCC、通用序列總線端口 10的輸出端VBUS、一輸出接點VK、電壓比較器200與模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300。監(jiān)測電阻104連接于通用序列總線端口 10的輸出端VBUS與輸出接點Vk之間。電流監(jiān)測單元102可用以根據(jù)監(jiān)測電阻104兩端的壓降與監(jiān)測電阻104的電阻值，計算出通用序列總線端口 10的輸出電流I。。電流監(jiān)測單元102可包括有六個接腳，但值得一提的是，凡可達到電流監(jiān)測功能的單元組件并不局限于接腳數(shù)目為六個。為了清楚說明，于此是以接腳數(shù)目為六的電流監(jiān)測單元102揭示如上。電壓比較器200的正輸入端連接于電流檢測器100與模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300的接點。電壓比較器200的負輸入端連接一參考電壓Vref，其中參考電壓為1伏特。電壓比較器200的輸出端連接負載電路500。借此連接關系，電壓比較器200可用以接收模擬比較電壓Va。、比較模擬比較電壓Va。與參考電壓Vref并且輸出一指示信號Vind。其中，指示信號Vind可用以控制負載電路500的導通狀態(tài)。當模擬比較電壓Va。介于1伏特至2伏特之間時，指示信號Vind為高電位。反之，當模擬比較電壓Va。介于0伏特至1伏特之間時，指示信號Vind為低電位。模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300的輸入端可用以連接通用序列總線端口 10的輸出端 VBUS與電流檢測器100。借此連接關系，模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300可用以讀取模擬輸出電壓Va與模擬比較電壓Va。。由于模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300可用以轉換模擬信號成數(shù)字信號。因此，模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300可用以輸出一數(shù)字輸出電壓Vd與一數(shù)字比較電壓Vd。。其中，數(shù)字輸出電壓 Vd相應于模擬輸出電壓Va，數(shù)字比較電壓Vd。相應于模擬比較電壓Va。。模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300的輸出端可用以連接一電可擦拭可編程只讀存儲器 (Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory)600 與微控制器 400。其中， 電可擦拭可編程只讀存儲器600可用以暫存模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300的記憶狀態(tài)，且微控制器400可用以讀取相應于通用序列總線端口 10的模擬輸出電壓Va的數(shù)字輸出電壓VD。微控制器400的輸入端可用以連接通用序列總線端口 10的雙絞線正端D+、雙絞線負端D-與模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300。借此連接關系，微控制器400可用以接收差分信號 Vdif、通用序列總線端口 10的數(shù)字輸出電壓Vd與數(shù)字比較電壓Vd。。微控制器400還可借由數(shù)字比較電壓Vd。而回推得到通用序列總線端口 10的輸出電流I。。所以，根據(jù)本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置可借由上述的機構連結與原理，用以測試通用序列總線端口 10的數(shù)字輸出電壓Vd與輸出電流I。。此外，微控制器400還可用于連接于一輸入信號單元700與負載電路500之間，其作動關系如圖3所示。輸入信號單元700包括一開關組件S1與一輸入電阻&。其中，開關組件S1連接于微控制器400與一第一輸出電壓Vs之間。輸入電阻&的一端連接于微控制器400與開關組件S1的接點，輸入電阻&的另一端接地。于此，第一輸出電壓Vs可為3. 3 伏特。當開關組件S1被關閉時，微控制器400借由輸入信號單元700被強制連接至第一輸出電壓Vs。因此微控制器400借此產(chǎn)生一低電位的錯誤信號Vot并且微控制器400可借由錯誤信號Vett控制負載電路500。由于負載電路500借由電流檢測器100連接于通用序列總線端口 10，故當開關組件S1被關閉時，微控制器400借由低電位的錯誤信號Vm強制使得負載電路500導通。在此情況下，通用序列總線端口 10的輸出電流I。超過500毫安，并且電流檢測器100輸出的模擬比較電壓Va。介于1伏特至2伏特之間。因此，電壓比較器200輸出的指示信號Vind為高電位。于是，負載電路500接著被強制關閉。所以，電壓比較器200可因此達到保護本發(fā)明的一實施例所揭露的通用序列總線端口測試裝置的目的。根據(jù)本發(fā)明的一實施例的微控制器400的輸出端，還可用以連接一顯示狀態(tài)單元800、一通訊轉換電路900與一靜態(tài)隨機存取存儲器(Static RandomAccess Memory, SRAM)910。其中，靜態(tài)隨機存取存儲器910可用以儲存微控制器400的記憶數(shù)據(jù)。
如圖4所示，顯示狀態(tài)單元800包括一發(fā)光二極管D1與一顯示電阻&。發(fā)光二極管D1連接于微控制器400與顯示電阻&之間。顯示電阻&的一端連接發(fā)光二極管D1，顯示電阻&的另一端連接第一輸出電壓Vs。當本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置連接至通用序列總線端口 10并且微控制器400接收到差分信號Vdif時，發(fā)光二極管D1 會發(fā)光。所以，顯示狀態(tài)單元800可借此顯示微控制器400與通用序列總線端口 10的連接狀態(tài)。接著，請同時參閱圖1與圖5，其中圖5是為根據(jù)本發(fā)明的一實施例的通訊轉換電路900。通訊轉換電路900連接微控制器400，并且可用以轉換微控制器400的輸出接口。 如本發(fā)明的一實施例，通訊轉換電路900可以是一通訊轉換芯片(MAX3232)。通訊轉換芯片 (MAX3232)的內(nèi)部構造為圖5所示通訊轉換電路900包括一電路組件仏、一第一電容C1、一第二電容C2、一第三電容 C3、一第四電容C4、一第五電容C5、一第一輸出器J1與一第二輸出器J2。其中，電路組件U1連接微控制器400。第一電容C1連接于電路組件U1的第一接腳1與第二接腳2之間。第二電容C2連接于電路組件U1的第三接腳3與第四接腳4之間。第三電容C3連接于電路組件仏的第五接腳5與接地之間。第四電容C4連接于電路組件仏的第六接腳6與接地之間。第五電容C5連接于電路組件仏的第七接腳7與接地之間。第一輸出器J1連接電路組件U1的第八接腳8、第九接腳9與接地。第二輸出器J2連接電路組件仏的第十接腳10、第十一接腳11與接地。其中，根據(jù)本發(fā)明的一實施例，第五接腳5可連接第一輸出電壓Vs，以供給電路組件U1電源。并且第一輸出器J1與第二輸出器J2皆為通用異步收發(fā)傳輸器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，UART)。通訊轉換電路900可用以轉換微控制器400 的輸出TTL接口至RS-232接口。借由通訊轉換電路900的接口轉換功能，本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置可用于與電子設備的其它串口通訊。請參閱圖6，是為根據(jù)本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置的負載電路500。負載電路500包括一第一電阻札、一第二電阻&、一第三電阻R3、一第四電阻R4、一第一晶體管A、一第二晶體管( 、一第三晶體管( 、一第四晶體管A與一負載電阻Rld。其中，第一晶體管A的基極連接電壓比較器200且第一晶體管A的源極接地。第二晶體管A的基極連接微控制器400且第二晶體管A的源極接地。第一電阻R1連接于電壓比較器200與第一晶體管A的基極的接點。第二電阻&連接于微控制器400與第二晶體管％的基極的接點。第三晶體管A的基極連接第二晶體管％的漏極且第三晶體管( 的源極接地。第四晶體管A的基極連接第一晶體管A的漏極且第四晶體管A的源極連接第三晶體管A的漏極。第三電阻R3，連接于第三晶體管A的基極與第二晶體管A的漏極的接點。第四電阻R4，連接于第四晶體管A的基極與第一晶體管A的漏極的接點。負載電阻I ld，連接于輸出接點Vk與第四晶體管A的漏極的間。根據(jù)本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置，其中可在第一電阻R1與第二電阻&的浮接的一端各施以3. 3伏特的電壓值，在第三電阻R3與第四電阻R4的浮接的一端各施以5伏特的電壓值。本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置，如1圖所示，更可于輸出接點Vk 連接一穩(wěn)壓器LD0。其中，穩(wěn)壓器LDO可用以降壓。根據(jù)本發(fā)明的一實施例，由于穩(wěn)壓器LDO 系通過電流檢測器100與通用序列總線端口 10連接。因此穩(wěn)壓器LDO可用以使得通用序列總線端口 10的模擬輸出電壓Va降轉成較低的電壓輸出，以供電子設備的其它串口使用。 根據(jù)本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置，穩(wěn)壓器LDO可用以降轉5伏特的電壓并且輸出3. 3伏特的電壓。此外，本發(fā)明的一實施例的微控制器400可為生產(chǎn)于Cypress公司的FX2LP系列， 型號為CY7C68013A的EZ-USB芯片。此芯片是一種帶有用以連接電子設備的通用序列總線端口的接口的高性能芯片。在芯片上主要包括有USB2. 0收發(fā)器、數(shù)據(jù)處理引擎與一個增強型的8051處理核心。其余單元組件我們并不在此贅述。由于微控制器400是為一種結合數(shù)據(jù)處理引擎的高性能芯片，因此微控制器400 不僅能夠用以實現(xiàn)上述檢測通用序列總線端口 10的輸出電壓與輸出電流的功能，還可用以測試通用序列總線端口 10所需具備的四種傳輸類型控制傳輸、中斷傳輸、批量傳輸與同步傳輸。其中，當通用序列總線端口測試裝置與通用序列總線端口 10成功連接并可被電子設備正確識別時，可視為控制傳輸功能正常。當電子設備經(jīng)由通用序列總線端口 10傳送一中斷信號至通用序列總線端口測試裝置后，電子設備若能在限制時間內(nèi)收到通用序列總線端口測試裝置的響應訊息，則可視為中斷傳輸功能正常。當電子設備經(jīng)由通用序列總線端口 10傳送一數(shù)據(jù)信號至通用序列總線端口測試裝置后，若電子設備能夠收到一自通用序列總線端口測試裝置回傳的信號，且該信號的內(nèi)容等同于發(fā)送時的數(shù)據(jù)信號時，可視為批量傳輸功能正常。同步傳輸?shù)囊蠹摧^寬松，只要通用序列總線端口測試裝置能夠完成與電子設備間信號的傳送與接收，則可視為同步傳輸功能正常。為此，本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置，不僅可借由微控制器400 完成上述四種傳輸類型的測試，還可通過本發(fā)明的一實施例的通用序列總線端口測試裝置所包括的電流檢測器100、電壓比較器200、模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器300、微控制器400以及負載電路500完成對通用序列總線端口 10的供電規(guī)范(輸出電壓與輸出電流)的測試功能。當然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領域的技術人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明所附的權利要求的保護范圍。
權利要求
1.一種通用序列總線端口測試裝置，用以測試一電子設備的一通用序列總線端口，其特征在于，該通用序列總線端口測試裝置包括一電流檢測器，用以檢測產(chǎn)生于該通用序列總線端口的一輸出電流以產(chǎn)生對應的一模擬比較電壓；一電壓比較器，用以根據(jù)該模擬比較電壓與一參考電壓輸出一指示信號； 一模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器，連接該電流檢測器與該通用序列總線端口，以將該模擬比較電壓與產(chǎn)生于該通用序列總線端口的一模擬輸出電壓轉換成一數(shù)字比較電壓與一數(shù)字輸出電壓；一微控制器，用以接收產(chǎn)生于該通用序列總線端口的一差分信號、該數(shù)字比較電壓與該數(shù)字輸出電壓；以及一負載電路，連接于該通用序列總線端口測試裝置的一輸出接點、該電壓比較器與該微控制器之間，該負載電路用以根據(jù)該微控制器與該指示信號形成導通狀態(tài)和關閉狀態(tài)其中之一。
2.根據(jù)權利要求1所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，還包括至少一輸入信號單元，各該輸入信號單元連接該微控制器，并且用以產(chǎn)生一錯誤信號， 以致使該微控制器根據(jù)該錯誤信號控制該負載電路。
3.根據(jù)權利要求2所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，各該輸入信號單元包括一開關組件，連接于該微控制器與一第一輸出電壓之間；以及一輸入電阻，該輸入電阻的一端連接于該微控制器與該開關組件的接點，該輸入電阻的另一端接地。
4.根據(jù)權利要求1所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，還包括至少一顯示狀態(tài)單元，各該顯示狀態(tài)單元連接該微控制器，用以顯示該微控制器與該通用序列總線端口的連接狀態(tài)。
5.根據(jù)權利要求4所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，各該顯示狀態(tài)單元包括一發(fā)光二極管，連接該微控制器；以及一顯示電阻，連接在該發(fā)光二極管相對于該微控制器的另一端和一第一輸出電壓之間。
6.根據(jù)權利要求1所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，該電流檢測器包括一電流監(jiān)測單元，連接至接地、一電源、該通用序列總線端口、該輸出接點、該電壓比較器與該模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器；以及一監(jiān)測電阻，連接于該通用序列總線端口與該輸出接點之間。
7.根據(jù)權利要求1所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，該負載電路包括 一第一晶體管，該第一晶體管的基極連接該電壓比較器且該第一晶體管的源極接地； 一第二晶體管，該第二晶體管的基極連接該微控制器且該第二晶體管的源極接地；一第一電阻，連接于該電壓比較器與該第一晶體管的基極的接點； 一第二電阻，連接于該微控制器與該第二晶體管的基極的接點；一第三晶體管，該第三晶體管的基極連接該第二晶體管的漏極且該第三晶體管的源極接地；一第四晶體管，該第四晶體管的基極連接該第一晶體管的漏極且該第四晶體管的源極連接該第三晶體管的漏極；一第三電阻，連接于該第三晶體管的基極與該第二晶體管的漏極的接點； 一第四電阻，連接于該第四晶體管的基極與該第一晶體管的漏極的接點；以及一負載電阻，連接于該輸出接點與該第四晶體管的漏極之間。
8.根據(jù)權利要求1所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，還包括一通訊轉換電路，連接該微控制器，以轉換該微控制器的輸出接口。
9.根據(jù)權利要求8所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，該通訊轉換電路包括一電路組件，連接該微控制器；一第一電容，連接于該電路組件的一第一接腳與一第二接腳之間； 一第二電容，連接于該電路組件的一第三接腳與一第四接腳之間； 一第三電容，連接于該電路組件的一第五接腳與接地之間； 一第四電容，連接于該電路組件的一第六接腳與接地之間； 一第五電容，連接于該電路組件的一第七接腳與接地之間； 一第一輸出器，連接該電路組件的一第八接腳、一第九接腳與接地；以及一第二輸出器，連接該電路組件的一第十接腳、一第十一接腳與接地。
10.根據(jù)權利要求9所述的通用序列總線端口測試裝置，其特征在于，該第一輸出器與該第二輸出器為通用異步收發(fā)傳輸器。
全文摘要
一種通用序列總線端口測試裝置，可用以測試一電子設備的一通用序列總線端口。通用序列總線端口測試裝置包括一電流檢測器、一電壓比較器、一模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器、一微控制器與一負載電路。電流檢測器用以檢測通用序列總線端口的一輸出電流。電壓比較器用以輸出一指示信號，并且可借由指示信號保護負載電路。模擬數(shù)字數(shù)據(jù)轉換器用以轉換模擬信號并且輸出數(shù)字信號。微控制器用以讀取通用序列總線端口的輸出電壓、輸出電流與測試其四種基本傳輸功能。此種測試裝置不僅可完成通用序列總線端口的基本傳輸功能測試，還兼具測試其供電規(guī)范的功能。
文檔編號G01R19/25GK102207899SQ20101015139
公開日2011年10月5日 申請日期2010年3月31日 優(yōu)先權日2010年3月31日
發(fā)明者元哲璋, 陳玄同, 黃偉 申請人:英業(yè)達股份有限公司