專利名稱：觸摸屏測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)及方法，尤其涉及一種觸摸屏測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：
觸摸屏具有堅固耐用、反應(yīng)速度快、節(jié)省空間、易于交流等許多優(yōu)點(diǎn)。利用這種技術(shù)，我們用戶只要用手指輕輕地碰計算機(jī)顯示屏上的圖符或文字就能實(shí)現(xiàn)對計算機(jī)主機(jī)的操作，從而使人機(jī)交互更為直截了當(dāng)，這種技術(shù)大大方便了那些不懂電腦操作的用戶。然而，觸摸屏在出廠前必須要檢測它的耐用程度，即觸摸屏的耐磨性能。目前的觸摸屏劃傷測試機(jī)在測試觸摸屏?xí)r，該測試機(jī)的筆頭在沒有執(zhí)行劃傷測試前可能因用力過大而接觸觸摸屏，造成對觸摸屏的損害，使得觸摸屏測試難以繼續(xù)進(jìn)行。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種觸摸屏測試系統(tǒng)，可以減少對觸摸屏表面的沖擊， 精確測量觸摸屏的耐磨度。還有必要提供一種觸摸屏測試方法，可以減少對觸摸屏表面的沖擊，精確測量觸摸屏的耐磨度。一種觸摸屏測試系統(tǒng)，運(yùn)行于觸摸屏測試設(shè)備中，該觸摸屏測試設(shè)備包括運(yùn)動軸， 該運(yùn)動軸上安裝有音圈馬達(dá)和筆頭，該系統(tǒng)包括接收模塊，用于接收用戶設(shè)置的音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭測試觸摸屏的測試前參數(shù)和測試參數(shù)，該測試前參數(shù)包括用筆頭接近觸摸屏需要到達(dá)的理想位置坐標(biāo)值；控制模塊，用于根據(jù)用戶設(shè)置的測試前參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭接近待測的觸摸屏；讀取模塊，用于讀取筆頭達(dá)到的實(shí)際位置的坐標(biāo)值；判斷模塊，用于當(dāng)筆頭到達(dá)的實(shí)際位置的坐標(biāo)值與用戶設(shè)置的理想位置坐標(biāo)值的差值不在允許的范圍內(nèi)時，判定該筆頭接觸到所述待測的觸摸屏；及所述控制模塊，還用于當(dāng)所述筆頭接觸到所述待測的觸摸屏?xí)r，根據(jù)測試參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭對待測的觸摸屏進(jìn)行測試?！N觸摸屏測試方法，該方法包括如下步驟(a)接收用戶設(shè)置的音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭測試觸摸屏的測試前參數(shù)和測試參數(shù)，該測試前參數(shù)包括用筆頭接近觸摸屏需要到達(dá)的理想位置坐標(biāo)值；(b)根據(jù)用戶設(shè)置的測試前參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭接近待測的觸摸屏；(C)讀取筆頭達(dá)到的實(shí)際位置的坐標(biāo)值；(d)當(dāng)筆頭到達(dá)的實(shí)際位置的坐標(biāo)值與用戶設(shè)置的理想位置坐標(biāo)值的差值在允許的范圍內(nèi)時，循環(huán)執(zhí)行步驟(b)至步驟(d)，或當(dāng)筆頭到達(dá)的實(shí)際位置的坐標(biāo)值與用戶設(shè)置的理想位置坐標(biāo)值的差值不在允許的范圍內(nèi)時，判定該筆頭接觸到所述待測的觸摸屏；及(e)當(dāng)所述筆頭接觸到所述待測的觸摸屏?xí)r，根據(jù)測試參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭對觸摸屏進(jìn)行測試。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述觸摸屏測試系統(tǒng)及方法，可以對待測觸摸屏的耐磨度進(jìn)行精確測試，本發(fā)明良好地控制了筆頭接觸待測觸摸屏的力度和速度，采用軟著陸技術(shù)，避免了因施力過大對觸摸屏表面的沖擊。


圖1是本發(fā)明觸摸屏測試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境示意圖。圖2是圖1中觸摸屏測試系統(tǒng)100的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明觸摸屏測試方法較佳實(shí)施例的作業(yè)流程圖。主要元件符號說明
權(quán)利要求
1.一種觸摸屏測試系統(tǒng)，運(yùn)行于觸摸屏測試設(shè)備中，該觸摸屏測試設(shè)備包括運(yùn)動軸，該運(yùn)動軸上安裝有音圈馬達(dá)和筆頭，其特征在于，該系統(tǒng)包括接收模塊，用于接收用戶設(shè)置的音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭測試觸摸屏的測試前參數(shù)和測試參數(shù)，該測試前參數(shù)包括用筆頭接近觸摸屏需要到達(dá)的理想位置坐標(biāo)值；控制模塊，用于根據(jù)用戶設(shè)置的測試前參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭接近待測的觸摸屏；讀取模塊，用于讀取筆頭達(dá)到的實(shí)際位置的坐標(biāo)值；判斷模塊，用于當(dāng)筆頭到達(dá)的實(shí)際位置的坐標(biāo)值與用戶設(shè)置的理想位置坐標(biāo)值的差值不在允許的范圍內(nèi)時，判定該筆頭接觸到所述待測的觸摸屏；及所述控制模塊，還用于當(dāng)所述筆頭接觸到所述待測的觸摸屏?xí)r，根據(jù)測試參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭對待測的觸摸屏進(jìn)行測試。
2.如權(quán)利要求1所述的觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，所述接收模塊，還用于接收用戶設(shè)置的音圈馬達(dá)的理想輸出力，及所述控制模塊，還用于輸入所述理想輸出力給音圈馬達(dá)， 控制該音圈馬達(dá)根據(jù)該理想輸出力驅(qū)動筆頭按壓一個壓力傳感器。
3.如權(quán)利要求2所述的觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括校正模塊，用于當(dāng)壓力傳感器感測到的實(shí)際輸出力與理想輸出力的差值不在允許的誤差范圍內(nèi)時，根據(jù)該實(shí)際輸出力和理想輸出力計算所述音圈馬達(dá)的補(bǔ)償值，并利用該補(bǔ)償值對該音圈馬達(dá)進(jìn)行補(bǔ) mte ο
4.如權(quán)利要求1所述的觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試前參數(shù)還包括筆頭接近待測的觸摸屏?xí)r的理想輸出力和移動速度。
5.如權(quán)利要求1所述的觸摸屏測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試參數(shù)包括筆頭的水平工作范圍、測試方式、筆頭的抬筆高度以及該筆頭在該觸摸屏上執(zhí)行測試時所使用的力的大小，該測試方式包括點(diǎn)擊、寫字及繪圖。
6.一種觸摸屏測試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟(a)接收用戶設(shè)置的音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭測試觸摸屏的測試前參數(shù)和測試參數(shù)，該測試前參數(shù)包括用筆頭接近觸摸屏需要到達(dá)的理想位置坐標(biāo)值；(b)根據(jù)用戶設(shè)置的測試前參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭接近待測的觸摸屏；(c)讀取筆頭達(dá)到的實(shí)際位置的坐標(biāo)值；(d)當(dāng)筆頭到達(dá)的實(shí)際位置的坐標(biāo)值與用戶設(shè)置的理想位置坐標(biāo)值的差值在允許的范圍內(nèi)時，循環(huán)執(zhí)行步驟(b)至步驟(d)，或當(dāng)筆頭到達(dá)的實(shí)際位置的坐標(biāo)值與用戶設(shè)置的理想位置坐標(biāo)值的差值不在允許的范圍內(nèi)時，判定該筆頭接觸到所述待測的觸摸屏；及(e)當(dāng)所述筆頭接觸到所述待測的觸摸屏?xí)r，根據(jù)測試參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭對觸摸屏進(jìn)行測試。
7.如權(quán)利要求6所述的觸摸屏測試方法，其特征在于，于步驟(a)之前還包括 接收用戶設(shè)置的音圈馬達(dá)的理想輸出力；輸入所述理想輸出力給音圈馬達(dá)，控制該音圈馬達(dá)根據(jù)該理想輸出力驅(qū)動筆頭按壓一個壓力傳感器；當(dāng)壓力傳感器感測到的實(shí)際輸出力與理想輸出力的差值不在允許的誤差范圍內(nèi)時，根據(jù)該實(shí)際輸出力和理想輸出力計算所述音圈馬達(dá)的補(bǔ)償值，并利用該補(bǔ)償值對該音圈馬達(dá)進(jìn)行補(bǔ)償；及當(dāng)壓力傳感器感測到的實(shí)際輸出力與理想輸出力的差值在允許的誤差范圍內(nèi)時，執(zhí)行步驟(a)。
8.如權(quán)利要求6所述的觸摸屏測試方法，其特征在于，所述測試前參數(shù)還包括筆頭接近待測的觸摸屏?xí)r的理想輸出力和移動速度。
9.如權(quán)利要求6所述的觸摸屏測試方法，其特征在于，所述測試參數(shù)包括筆頭的水平工作范圍、測試方式、筆頭的抬筆高度以及該筆頭在該觸摸屏上執(zhí)行測試時所使用的力的大小，該測試方式包括點(diǎn)擊、寫字及繪圖。
全文摘要
一種觸摸屏測試方法，包括接收用戶設(shè)置的音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭測試觸摸屏的測試前參數(shù)和測試參數(shù)，該測試前參數(shù)包括用筆頭接近觸摸屏需要到達(dá)的理想位置坐標(biāo)值；根據(jù)測試前參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭接近待測的觸摸屏；讀取筆頭達(dá)到的實(shí)際位置的坐標(biāo)值；當(dāng)筆頭到達(dá)的實(shí)際位置的坐標(biāo)值與用戶設(shè)置的理想位置坐標(biāo)值的差值不在允許的范圍內(nèi)時，判定該筆頭接觸到所述待測的觸摸屏；及當(dāng)所述筆頭接觸到所述待測的觸摸屏?xí)r，根據(jù)測試參數(shù)控制音圈馬達(dá)驅(qū)動筆頭對待測的觸摸屏進(jìn)行測試。另外本發(fā)明還提供了一種觸摸屏測試系統(tǒng)，利用本發(fā)明，可以對觸摸屏進(jìn)行精確測試。
文檔編號G01N3/56GK102235954SQ20101015201
公開日2011年11月9日 申請日期2010年4月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月21日
發(fā)明者李術(shù)生, 謝玉華, 黃登聰 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司