專利名稱：一種芯片測試的方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及芯片的自動測試設備，特別是涉及一種芯片測試的方法和裝置。
背景技術：
ATE (Automatic Test Equipment,自動測試設備)，是一種通過計算機控制來進行器件、電路板和芯片測試的設備。其通過計算機編程取代人工勞動，自動化的完成測試序列。ATE可分為以下幾種類型數(shù)字測試系統(tǒng)、線性器件測試系統(tǒng)、模擬測試系統(tǒng)、存儲器測試系統(tǒng)、板測試系統(tǒng)、混合信號測試系統(tǒng)、S0C(SyStem on Chip，在一個芯片內集成一個完整的系統(tǒng))測試系統(tǒng)。ATE的開發(fā)是從簡單器件、低管腳數(shù)、低速測試系統(tǒng)(10MHZ，64pinS)到中等數(shù)量管腳、中速測試系統(tǒng)GOMHz，256pins)到高管腳數(shù)、高速(超過IOOMHz，1024pins)并最終過渡到現(xiàn)在的SoC測試系統(tǒng)(lOMpin，超過400MHz，并具備模擬、存儲器測試能力)。未來的測試系統(tǒng)測試速度將超過1. 6GHz，時序精度在幾百納秒范圍內，并將數(shù)字、模擬、存儲器和RF測試能力集成于一臺測試系統(tǒng)。這樣一臺測試系統(tǒng)的成本將非常高，因此需要使用一臺或多臺測試工作臺進行并行的器件測試。為了降低測試成本，芯片中將加入自測試電路。 同時基于減少測試系統(tǒng)成本的考慮，模塊化的測試系統(tǒng)將取代通用的測試系統(tǒng)。一般的ATE可以由帶一定內存深度的一組通道，一系列時序發(fā)生器及多個電源組成。這些資源是通過負載板把信號激勵到芯片插座上的芯片管腳，ATE測試系統(tǒng)每個管腳有獨立的測試資源。測試時候，每個管腳有對應的輸入或輸出信號，并由這些信號構成測試向量，進行不同芯片功能的測試。目前器件速度已經達到1.6GHz，管腳數(shù)達到1024，所有的電路都集成到單個芯片。因此由針對管腳的測試向量構成的測試向量源文件體積特別大，甚至超過數(shù)G bytes, 用普通文件編輯器來修改里面的參數(shù)時會力不從心，通常耗時巨大，因此，ATE在進行測試向量源文件的修改和配置時，耗費了大量的時間和資源，造成了測試效率低下。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種芯片測試的方法和裝置，能夠節(jié)省ATE的資源提高測試效率，解決現(xiàn)有技術測試向量源文件耗費了大量的時間和資源，測試效率低下的技術問題。為了實現(xiàn)上述目的，一方面，提供了一種芯片測試的方法，用于自動測試設備，包括如下步驟讀取所述自動測試設備的存儲器中的測試向量源文件，顯示所述測試向量源文件中的管腳描述信息的列表；通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述 fn息；保存修改后的測試向量源文件；
通過所述自動測試設備運行所述修改后的測試向量源文件來進行芯片測試。優(yōu)選地，上述的方法中，所述通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息的步驟之前還包括通過所述源文件編輯器的波形修改模塊修改所述測試向量源文件的測試向量波形。優(yōu)選地，上述的方法中，所述通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息的步驟之前還包括通過所述源文件編輯器的模式修改模塊修改所述測試向量源文件的操作碼模式。優(yōu)選地，上述的方法中，所述通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息的步驟之前還包括如果所述操作碼模式為普通模式，則把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例還提供了一種芯片測試的裝置，用于自動測試設備，包括讀取和顯示模塊，用于讀取所述自動測試設備的存儲器中的測試向量源文件，顯示所述測試向量源文件中的管腳描述信息的列表；源文件編輯器，包括刪除模塊，所述刪除模塊用于刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息；保存和執(zhí)行模塊，用于保存修改后的測試向量源文件，并通過所述自動測試設備運行所述修改后的測試向量源文件來進行芯片測試。優(yōu)選地，上述的裝置中，所述源文件編輯器還包括波形修改模塊，用于修改所述測試向量源文件的測試向量波形。優(yōu)選地，上述的裝置中，所述源文件編輯器還包括模式修改模塊，用于修改所述測試向量源文件的操作碼模式。優(yōu)選地，上述的裝置中，所述模式修改模塊還用于如果所述操作碼模式為普通模式，則把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行。本發(fā)明至少存在以下技術效果1)通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息，從而這些描述信息對應的管腳不再占用自動測試設備的測試資源，自動測試設備可以騰出更多的測試管腳資源，從而自動測試設備可以同時對更多的芯片進行測試，提高了測試效率。2)刪除沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息，大大壓縮了測試向量源文件的大小，減少了運行測試向量源文件時的內存消耗，提高了運行速度；3)可以通過波形修改模塊根據用戶輸入的名稱自動修改所述測試向量源文件的測試向量波形，從而使用戶方便的修改這一重要參數(shù)；4)可以通過模式修改模塊，修改所述測試向量源文件的操作碼模式，從而使用戶方便的修改這一重要參數(shù)。5)在操作碼模式為普通模式時候，模式修改模塊自動把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行，因為普通模式兩行才可以組成一個完整波形周期，所以這種自動修改能避免出錯。6)本發(fā)明不但提高了自動測試設備的測試效率，還能讓測試工程師對其中一些重要參數(shù)進行快速準確的修改，從而能夠大大減少芯片樣品的制作時間，縮短芯片測試程序的開發(fā)周期。


圖1為本發(fā)明實施例提供的方法的步驟流程圖；圖2為本發(fā)明實施例提供的編輯測試向量源文件的步驟流程圖；圖3為本發(fā)明實施例提供的裝置的結構圖。
具體實施例方式為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合附圖對具體實施例進行詳細描述。圖1為本發(fā)明實施例提供的方法的步驟流程圖；如圖所示，本發(fā)明實施例提供一種芯片測試的方法，用于自動測試設備，其中，包括如下步驟步驟101，讀取所述自動測試設備的存儲器中的測試向量源文件，顯示所述測試向量源文件中的管腳描述信息的列表；步驟102，通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息；步驟103，保存修改后的測試向量源文件，并通過所述自動測試設備運行所述修改后的測試向量源文件來進行芯片測試，從而省去測試中所述沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息所占用的資源。所述步驟102之前還包括通過所述源文件編輯器的波形修改模塊修改所述測試向量源文件的測試向量波形；通過所述源文件編輯器的模式修改模塊修改所述測試向量源文件的操作碼模式。其中，如果所述操作碼模式為普通模式，則把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行。
圖2為本發(fā)明實施例提供的方法的編輯測試向量源文件的步驟流程圖；如圖所示，編輯測試向量源文件的過程如下步驟201，源文件編輯器等待修改數(shù)據；步驟202，用戶按下“保存”按鍵？是則執(zhí)行步驟203，否則返回步驟201 ；步驟203，用戶修改測試向量源文件的tset name (波形名稱)，波形修改模塊根據 tset name修改測試向量源文件的測試向量波形；步驟204，用戶修改測試向量源文件的opcode mode (操作碼模式)，模式修改模塊根據opcode mode修改所述測試向量源文件的操作碼模式，其中如果opcode mode為 normal (普通)模式，把測試矢量設置為偶數(shù)行；步驟205，通過刪除模塊刪除不需要的pin (管腳描述信息)，根據用戶輸入修改管腳的名稱，并可以對管腳的排列順序進行排列；步驟206，修改后的測試向量源文件寫入新文件，結束。可見，本發(fā)明能夠針對測試工程師關心的參數(shù)快速修改，其具有以下功能
1)可以快速修改測試向量源文件的tset name, opcode mode。2)刪除不需要的輸出管腳，并且能阻止刪除包含輸入周期的管腳；3)能對管腳的排列順序進行排列；4)修改管腳的名稱5)如果opcode mode為normal (普通)模式，把測試矢量設置為偶數(shù)行。本發(fā)明實施例還提供一種芯片測試的裝置，用于自動測試設備，其包括讀取和顯示模塊310，用于讀取所述自動測試設備的存儲器中的測試向量源文件，顯示所述測試向量源文件中的管腳描述信息的列表；源文件編輯器320，包括刪除模塊321，所述刪除模塊用于刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息；保存和執(zhí)行模塊330，用于保存修改后的測試向量源文件，并通過所述自動測試設備運行所述修改后的測試向量源文件來進行芯片測試，從而省去測試中所述沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息所占用的資源。所述源文件編輯器還包括波形修改模塊322，用于修改所述測試向量源文件的測試向量波形；模式修改模塊323，用于修改所述測試向量源文件的操作碼模式，如果所述操作碼模式為普通模式，則把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行。由上可知，本發(fā)明實施例具有以下優(yōu)勢1)通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息，從而這些描述信息對應的管腳不再占用自動測試設備的測試資源，自動測試設備可以騰出更多的測試管腳資源，從而自動測試設備可以同時對更多的芯片進行測試，提高了測試效率。2)刪除沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息，大大壓縮了測試向量源文件的大小，減少了運行測試向量源文件時的內存消耗，提高了運行速度；3)可以通過波形修改模塊根據用戶輸入的名稱自動修改所述測試向量源文件的測試向量波形，從而使用戶方便的修改這一重要參數(shù)；4)可以通過模式修改模塊，修改所述測試向量源文件的操作碼模式，從而使用戶方便的修改這一重要參數(shù)。5)在操作碼模式為普通模式時候，模式修改模塊自動把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行，因為普通模式兩行才可以組成一個完整波形周期，所以這種自動修改能避免出錯。6)本發(fā)明不但提高了自動測試設備的測試效率，還能讓測試工程師對其中一些重要參數(shù)進行快速準確的修改，從而能夠大大減少芯片樣品的制作時間，縮短芯片測試程序的開發(fā)周期。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。
權利要求
1.一種芯片測試的方法，用于自動測試設備，其特征在于，包括如下步驟讀取所述自動測試設備的存儲器中的測試向量源文件，顯示所述測試向量源文件中的管腳描述信息的列表；通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息；保存修改后的測試向量源文件；通過所述自動測試設備運行所述修改后的測試向量源文件來進行芯片測試。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息的步驟之前還包括通過所述源文件編輯器的波形修改模塊修改所述測試向量源文件的測試向量波形。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息的步驟之前還包括通過所述源文件編輯器的模式修改模塊修改所述測試向量源文件的操作碼模式。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息的步驟之前還包括如果所述操作碼模式為普通模式，則把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行。
5.一種芯片測試的裝置，用于自動測試設備，其特征在于，包括讀取和顯示模塊，用于讀取所述自動測試設備的存儲器中的測試向量源文件，顯示所述測試向量源文件中的管腳描述信息的列表；源文件編輯器，包括刪除模塊，所述刪除模塊用于刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息；保存和執(zhí)行模塊，用于保存修改后的測試向量源文件，并通過所述自動測試設備運行所述修改后的測試向量源文件來進行芯片測試。
6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述源文件編輯器還包括 波形修改模塊，用于修改所述測試向量源文件的測試向量波形。
7.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述源文件編輯器還包括 模式修改模塊，用于修改所述測試向量源文件的操作碼模式。
8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述模式修改模塊還用于如果所述操作碼模式為普通模式，則把所述測試向量源文件中的測試矢量設置為偶數(shù)行。
全文摘要
本發(fā)明提供一種芯片測試的方法和裝置，所述方法用于自動測試設備，包括如下步驟讀取所述自動測試設備的存儲器中的測試向量源文件，顯示所述測試向量源文件中的管腳描述信息的列表；通過源文件編輯器的刪除模塊刪除所述列表中沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息；保存修改后的測試向量源文件；通過所述自動測試設備運行所述修改后的測試向量源文件來進行芯片測試，從而省去測試中所述沒有實際輸入或輸出的管腳描述信息所占用的資源。本發(fā)明能夠節(jié)省ATE的資源提高測試效率，解決現(xiàn)有技術測試向量源文件耗費了大量的時間和資源，測試效率低下的技術問題。
文檔編號G01R31/28GK102236068SQ20101016535
公開日2011年11月9日 申請日期2010年4月30日 優(yōu)先權日2010年4月30日
發(fā)明者胡偉鋒 申請人:無錫中星微電子有限公司