專利名稱:天線測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種天線測(cè)試治具。
背景技術(shù):
天線作為移動(dòng)通信的關(guān)鍵組件之一,在研發(fā)過程中或出廠前均需要進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)中的天線測(cè)試過程如下將一待測(cè)天線放置至屏蔽箱內(nèi),該待測(cè)天線的饋點(diǎn)通過導(dǎo)線或電纜線電連接至天線測(cè)試裝置,如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等。然而此種測(cè)試方法,一臺(tái)測(cè)試裝置一次只能測(cè)試一個(gè)待測(cè)天線,測(cè)試效率低。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,有必要提供一種提高測(cè)試效率的天線測(cè)試治具。一種天線測(cè)試治具,其包括一測(cè)試件、一支撐件和一承載件。該測(cè)試件上設(shè)置若干探針、若干轉(zhuǎn)接口和一滑塊,每一轉(zhuǎn)接口與一對(duì)應(yīng)的探針電連接;該支撐件上設(shè)置一卡塊; 該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽,該滑塊滑動(dòng)設(shè)置在該滑槽內(nèi),該卡塊滑動(dòng)設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。一種天線測(cè)試治具,其包括一測(cè)試件、一支撐件和一承載件。該測(cè)試件上設(shè)置若干探針和若干轉(zhuǎn)接口,每一轉(zhuǎn)接口與一對(duì)應(yīng)的探針電連接;該測(cè)試件滑動(dòng)設(shè)置在該承載件上, 該支撐件設(shè)置在該承載件上用于放置待測(cè)天線。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的天線測(cè)試治具可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)天線,節(jié)省了測(cè)試時(shí)間,提高了天線測(cè)試效率。
圖1是本發(fā)明一較佳實(shí)施方式的天線測(cè)試治具的分解示意圖;圖2是圖1所示的天線測(cè)試治具的組裝示意圖。主要元件符號(hào)說明天線測(cè)試治具 100測(cè)試件11頂面111轉(zhuǎn)接口112第一側(cè)面113卡合部114第二側(cè)面115探針117滑塊119支撐件13第一表面13具體實(shí)施例方式請(qǐng)參閱圖1,本發(fā)明一較佳實(shí)施方式的天線測(cè)試治具100包括一測(cè)試件11、一支撐件13和一承載件15。該測(cè)試件11和該支撐件13均滑動(dòng)設(shè)置于該承載件15上。該測(cè)試件11整體大致呈一矩形狀,其包括一頂面111及分別與該頂面111垂直連接的一第一側(cè)面113和一第二側(cè)面115。該第一側(cè)面113與該第二側(cè)面115相對(duì)設(shè)置。該頂面111上設(shè)置一卡合部114,用于與外部自動(dòng)化升降裝置(如氣缸等)卡合連接。該測(cè)試件11的與該頂面111相對(duì)的底面上設(shè)置若干探針117。該第一側(cè)面113上開設(shè)若干轉(zhuǎn)接口 112,每一轉(zhuǎn)接口 112的內(nèi)壁上均設(shè)置一與一探針117電連接的導(dǎo)電觸點(diǎn)(圖未示)。每一轉(zhuǎn)接口 112與一探針117相對(duì)應(yīng)。該第二側(cè)面115上設(shè)置一條狀滑塊119。在本實(shí)施例中,該轉(zhuǎn)接口 112與該探針117的數(shù)量均為4個(gè)。該支撐件13大致呈一矩形板狀,其包括一第一表面131和一第二表面133。該第一表面131與該第二表面133相對(duì)設(shè)置。該第二表面133上設(shè)置一條狀卡塊135。該承載件15包括一基板151和一與該基板151垂直設(shè)置的一滑動(dòng)部155。該滑動(dòng)部155包括一與該基板151垂直的一配合面157,該配合面157上開設(shè)一滑槽159。該滑槽 159的形狀與該滑塊119相對(duì)應(yīng)。該基板151上平行間隔設(shè)置二條型凸塊153,該二間隔凸 ±夬153之間形成了一導(dǎo)向槽152。該導(dǎo)向槽152的形狀和該卡塊135相對(duì)應(yīng)。請(qǐng)結(jié)合參閱圖2,該天線測(cè)試治具100的組裝過程如下將該滑塊119滑入該滑槽159中。該滑槽159與該滑塊119的卡合較緊,無外力作用于該測(cè)試件11時(shí),該滑塊119與該滑槽159卡合固定;當(dāng)外部自動(dòng)化升降裝置對(duì)該測(cè)試件11施加外力時(shí),該滑塊119在該滑槽159內(nèi)滑動(dòng)。將若干待測(cè)天線20放置在該第一表面131上,使該卡塊135滑入該導(dǎo)向槽152內(nèi)。該若干待測(cè)天線20與該若干探針117 —一對(duì)位。如此,完成該天線測(cè)試治具100的組裝。該天線測(cè)試治具100工作時(shí),首先將該卡合部114與外部自動(dòng)化升降裝置(如氣紅等)卡合連接,每一轉(zhuǎn)接口 112通過電纜線連接至天線測(cè)試裝置,如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等。 然后在該天線測(cè)試治具100外圍套設(shè)屏蔽箱或者圍設(shè)鍍有吸波材料的屏蔽板,啟動(dòng)該外部自動(dòng)化升降裝置。該測(cè)試件11在該外部自動(dòng)化升降裝置的作用下沿該滑槽159滑動(dòng),該若干探針117與該若干待測(cè)天線20的饋點(diǎn)21 —一點(diǎn)接。該待測(cè)天線20的測(cè)試數(shù)據(jù)通過該
133 135 15
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155
157
159 20 21
表面
件
部面
第二卡塊承載基板導(dǎo)向: 凸塊滑動(dòng). 配合滑槽天線饋點(diǎn)探針117、該轉(zhuǎn)接口 112傳送至天線測(cè)試裝置。本發(fā)明的天線測(cè)試治具100結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,組裝方便,且可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)天線,節(jié)省了測(cè)試時(shí)間,提高了天線測(cè)試效率??梢岳斫?,該測(cè)試件11也可以在人工作用下滑動(dòng)。可以理解,該轉(zhuǎn)接口 112可以設(shè)置在該測(cè)試件11的任一表面上,只需方便與天線測(cè)試裝置連接即可。可以理解,該凸塊153可以省略,在該基板151上直接開設(shè)該導(dǎo)向槽152??梢岳斫?,該探針117和該轉(zhuǎn)接口 112的數(shù)量不限于本實(shí)施例中的數(shù)量,可以根據(jù)需要相應(yīng)的增加或減少。
權(quán)利要求
1.一種天線測(cè)試治具,其特征在于該天線測(cè)試治具包括一測(cè)試件、一支撐件和一承載件,該測(cè)試件上設(shè)置若干探針、若干轉(zhuǎn)接口和一滑塊,每一轉(zhuǎn)接口與一對(duì)應(yīng)的探針電連接;該支撐件上設(shè)置一卡塊;該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽,該滑塊滑動(dòng)設(shè)置在該滑槽內(nèi),該卡塊滑動(dòng)設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該承載件包括一基板和一與該基板垂直設(shè)置的一滑動(dòng)部,該滑動(dòng)部上開設(shè)該滑槽,該基板上開設(shè)該導(dǎo)向槽。
3.如權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該承載件包括一基板和一與該基板垂直設(shè)置的一滑動(dòng)部,該滑動(dòng)部上開設(shè)該滑槽,該基板上平行間隔設(shè)置二條型凸塊,該二間隔凸塊之間形成該導(dǎo)向槽。
4.如權(quán)利要求2或3所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該支撐件包括一用于放置待測(cè)天線的第一表面和一與該第一表面相對(duì)設(shè)置的第二表面,該卡塊設(shè)置在該第二表面上。
5.如權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該測(cè)試件包括相對(duì)設(shè)置的一第一側(cè)面、一第二側(cè)面和一底面,該第一側(cè)面上開設(shè)該若干轉(zhuǎn)接口,該滑塊設(shè)置在該第二側(cè)面上,該若干探針設(shè)置在該底面上。
6.如權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該測(cè)試件上設(shè)置一卡合部,該卡合部用于與外部自動(dòng)化升降裝置卡合連接。
7.如權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該探針和該轉(zhuǎn)接口的個(gè)數(shù)為4。
8.一種天線測(cè)試治具,其特征在于該天線測(cè)試治具包括一測(cè)試件、一支撐件和一承載件,該測(cè)試件上設(shè)置若干探針和若干轉(zhuǎn)接口,每一轉(zhuǎn)接口與一對(duì)應(yīng)的探針電連接;該測(cè)試件滑動(dòng)設(shè)置在該承載件上,該支撐件設(shè)置在該承載件上用于放置待測(cè)天線。
9.如權(quán)利要求8所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該測(cè)試件上設(shè)置一滑塊,該支撐件上設(shè)置一卡塊;該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽,該滑塊滑動(dòng)設(shè)置在該滑槽內(nèi),該卡塊滑動(dòng)設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。
10.如權(quán)利要求9所述的天線測(cè)試治具,其特征在于該承載件包括一基板和一與該基板垂直設(shè)置的一滑動(dòng)部,該滑動(dòng)部上開設(shè)該滑槽,該基板上開設(shè)該導(dǎo)向槽。
全文摘要
本發(fā)明提供一種天線測(cè)試治具,其包括一測(cè)試件、一支撐件和一承載件。該測(cè)試件上設(shè)置若干探針、若干轉(zhuǎn)接口和一滑塊,每一轉(zhuǎn)接口與一對(duì)應(yīng)的探針電連接;該支撐件上設(shè)置一卡塊;該承載件上開設(shè)一滑槽和一導(dǎo)向槽,該滑塊滑動(dòng)設(shè)置在該滑槽內(nèi),該卡塊滑動(dòng)設(shè)置在該導(dǎo)向槽內(nèi)。本發(fā)明的天線測(cè)試治具可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)天線,提高了天線測(cè)試效率。
文檔編號(hào)G01R29/00GK102262186SQ20101018595
公開日2011年11月30日 申請(qǐng)日期2010年5月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月28日
發(fā)明者姚穎, 張歌, 李展, 熊鄴 申請(qǐng)人:深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司