專利名稱：印刷電路板測試輔助設(shè)備和印刷電路板測試輔助方法
技術(shù)領(lǐng)域：
這里討 論的實(shí)施例涉及印刷電路板測試輔助設(shè)備、印刷電路板測試輔助方法和計(jì) 算機(jī)可讀信息記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
對于用于電子設(shè)備的印刷電路板來說，高密度安裝(其中要安裝的電子器件的數(shù) 目增大)已得到發(fā)展，且印刷電路板被微型化，等等。隨著高密度安裝的進(jìn)步，電流的路徑已變得復(fù)雜，因而布線中的阻抗失配或串?dāng)_ (crosstalk)的問題等等變得很容易發(fā)生。因此，對于這種高密度安裝的印刷電路板，需要 更先進(jìn)的電路設(shè)計(jì)。對于這種其上執(zhí)行高密度安裝的印刷電路板，可以執(zhí)行確認(rèn)布線結(jié)構(gòu)的工作。然 而，由于工作量很大，因此已提出了輔助設(shè)計(jì)者的各種設(shè)備。例如，已提出了一種計(jì)算適當(dāng) 的布線結(jié)構(gòu)的設(shè)備、一種具有要用于測量的布線圖案(wiring pattern)的印刷電路板，等寸。[專利文獻(xiàn)1]日本早期公開專利申請No.2001-331539[專利文獻(xiàn)2]日本早期公開專利申請No.2001-217508在上述高密度安裝中，用于確認(rèn)印刷電路板上的布線結(jié)構(gòu)等的工作量進(jìn)一步變 大，并且成本和時(shí)間因此變得相當(dāng)可觀。因此，在制造了印刷電路板之后，可能難以對所有 布線執(zhí)行測試以實(shí)際證明印刷電路板和設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)之間的匹配。然而，還未提出一種高效地輔助將在制造了高密度安裝印刷電路板之后執(zhí)行的實(shí) 際測量測試的設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容
因此，這些實(shí)施例的一個(gè)目的是提供一種印刷電路板測試輔助設(shè)備、印刷電路板 測試輔助方法和計(jì)算機(jī)可讀信息記錄介質(zhì)，其用于高效地輔助將在制造了高密度安裝印刷 電路板之后執(zhí)行的實(shí)際測量測試。本公開的一個(gè)實(shí)施例是一種輔助形成在印刷電路板中的布線圖案的測試的印刷 電路板測試輔助設(shè)備。該印刷電路板測試輔助設(shè)備包括第一數(shù)據(jù)庫，該第一數(shù)據(jù)庫以使得 指示出布線圖案的屬性和位置的屬性信息和位置信息與布線圖案相關(guān)聯(lián)的方式，存儲屬性 信息和位置信息；第二數(shù)據(jù)庫，該第二數(shù)據(jù)庫存儲位置信息和尺寸信息，該位置信息和尺寸 信息指示出存在于設(shè)在印刷電路板中的實(shí)心圖案(solid pattern)中的圖案移除區(qū)域的位 置和尺寸；第三數(shù)據(jù)庫，該第三數(shù)據(jù)庫存儲劣化程度信息，該劣化程度信息指示出相對于布 線圖案和圖案移除區(qū)域之間的位置關(guān)系以及圖案移除區(qū)域的尺寸的、布線圖案中的信號特 性的劣化程度；輸入部分，該輸入部分用來輸入布線圖案的屬性信息；劣化程度處理部分， 該劣化程度處理部分基于與輸入到輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的布線圖案的位置信息、圖 案移除區(qū)域的位置信息和尺寸信息、以及劣化程度信息，來獲得與輸入到輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的布線圖案中的信號特性的劣化程度；以及提取處理部分，該提取處理部分從 已被劣化程度處理部分獲得了劣化程度的布線圖案中提取劣化程度等于或大于預(yù)定程度 的布線圖案以用于實(shí)際測量測試。


圖1圖示出應(yīng)用了實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的立體 圖；圖2圖示了粗略圖示計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10的主體部分(body part) 11的配置的框圖；圖3A和3B圖示了利用實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備對其執(zhí)行計(jì)算以輔助 印刷電路板的測試的電子設(shè)備，其中圖3A圖示了電子設(shè)備的立體透視圖，圖3B圖示了電子 設(shè)備中包括的印刷電路板；圖4圖示了利用實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備對其執(zhí)行計(jì)算以輔助印刷 電路板的測試的印刷電路板的結(jié)構(gòu)的立體分解圖；圖5A至5C圖示了實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備所使用的CAD數(shù)據(jù)的一 個(gè)示例；圖6圖示了實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備的功能框圖；圖7圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中布線圖案和實(shí)心圖案(solid pattern)移除區(qū)域之間的位置關(guān)系的分類結(jié)果的一個(gè)示例；圖8圖示了存儲在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備的數(shù)據(jù)庫20中的特性阻 抗增大特性；圖9圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中對其計(jì)算特性阻抗劣化程度 的寬度方向上的范圍；圖10圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中存在于對其計(jì)算特性阻抗 劣化程度的范圍中的實(shí)心圖案移除區(qū)域的面積計(jì)算方法；圖11以表格形式圖示了圖10的判定結(jié)果；圖12圖示了受圖10中所示的實(shí)心圖案移除區(qū)域影響的布線圖案的特性阻抗；圖13圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于輔助印刷電路板的測 試的計(jì)算處理的流程圖；圖14A和14B圖示了實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中的分級結(jié)果和提取結(jié) 果；圖15圖示了這樣一種狀態(tài)其中針對在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中連 接到被確定為具有高特性阻抗劣化程度的No. 3、No. 1和No. 5的布線圖案6的信號過孔9A 以及最近的GND過孔9B設(shè)置了通過絲網(wǎng)印刷形成的標(biāo)記；圖16A和16B圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中計(jì)算實(shí)心圖案移除 區(qū)域8的面積的另一種方法；圖17A和17B圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中從測量點(diǎn)到實(shí)心圖 案移除區(qū)域8的信號傳播時(shí)間的計(jì)算方法；圖18圖示了布線圖案6B、6C和實(shí)心圖案移除區(qū)域8A之間的位置關(guān)系的一個(gè)示例 的立體圖19以平面圖方式圖示了圖18中所示的布線圖案6B、6C和實(shí)心圖案移除區(qū)域8A 之間的位置關(guān)系；圖20圖示了實(shí)施例2中的印刷電路板測試輔助設(shè)備的功能框圖；圖21圖示了在實(shí)施 例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于計(jì)算串?dāng)_區(qū)域的每單 位面積的串?dāng)_強(qiáng)度的每單位面積噪聲的表格；圖22圖示了在實(shí)施例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度的校正 系數(shù)的表格；圖23圖示了在實(shí)施例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度的串?dāng)_ 區(qū)域的面積計(jì)算方法；圖24以表格形式圖示了圖23的判定結(jié)果以及布線圖案之間的距離的提取結(jié)果； 以及圖25A和25B圖示了在實(shí)施例3的印刷電路板測試輔助設(shè)備中計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度時(shí)的 分級結(jié)果和提取結(jié)果。
具體實(shí)施例方式下面，將描述應(yīng)用了根據(jù)本發(fā)明的印刷電路板測試輔助設(shè)備、印刷電路板測試輔 助方法和計(jì)算機(jī)可讀信息記錄介質(zhì)的實(shí)施例。[實(shí)施例1]圖1圖示出應(yīng)用了實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的立體 圖。圖1中所示的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10包括主體部分11、顯示器12、鍵盤13、鼠標(biāo)14和調(diào)制解調(diào) 器15。主體部分11內(nèi)置有CPU(中央處理單元)、HDD(硬盤驅(qū)動器)、盤驅(qū)動器等等。顯 示器12充當(dāng)顯示部分，其響應(yīng)于主體部分11給出的指令而在顯示屏12A上顯示分析結(jié)果 等等。顯示器12例如可以是液晶顯示監(jiān)視器。鍵盤13充當(dāng)用于將各類信息輸入到計(jì)算機(jī) 系統(tǒng)10的輸入部分。鼠標(biāo)14充當(dāng)用于在顯示器12的顯示屏12A上指定任意位置的輸入 部分。調(diào)制解調(diào)器15用于訪問外部數(shù)據(jù)庫等，并下載存儲在另一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的程序等。用于使得計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10具有輔助印刷電路板的測試的功能的印刷電路板測試輔 助程序(印刷電路板測試輔助程序軟件或工具)被存儲在諸如盤17等的便攜式記錄介質(zhì) 中，或者被利用諸如調(diào)制解調(diào)器15之類的通信裝置從另一計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的記錄介質(zhì)16下載， 并因而被輸入到計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10并被編譯。印刷電路板測試輔助程序使得計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10(即，后面將描述的CPU 21)作為印 刷電路板測試輔助設(shè)備而操作，該印刷電路板測試輔助設(shè)備具有輔助印刷電路板的測試的 功能。印刷電路板測試輔助程序例如可以存儲在諸如盤17之類的計(jì)算機(jī)可讀信息記錄介 質(zhì)中。計(jì)算機(jī)可讀信息記錄介質(zhì)并不限于諸如盤17之類的便攜式記錄介質(zhì)、IC卡存儲器、 諸如軟盤(floppy，注冊商標(biāo))之類的磁盤、磁光盤、CD-ROM等等，而是可以是各種類型的記 錄介質(zhì)中的任何一種，從經(jīng)由調(diào)制解調(diào)器15或用于LAN等的通信裝置連接的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)可 以對所述各種類型的記錄介質(zhì)進(jìn)行訪問。圖2是粗略圖示出計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10的主體部分11中的配置的框圖。主體部分11 包括處理器(CPU) 21、包括RAM、R0M等的存儲器部分22、用于盤17的盤驅(qū)動器23以及硬盤驅(qū)動器(HDD) 24，它們利用總線20連接在一起。在實(shí)施例1中，顯示器12、鍵盤13和鼠標(biāo) 14利用總線20與CPU 21相連。然而，這些部分可以直接與CPU 21相連?？商娲?，顯示 器12可以利用處理輸入/輸出圖像數(shù)據(jù)的已知圖形接口(未示出)與CPU 21相連。
在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10中，鍵盤13和鼠標(biāo)14充當(dāng)印刷電路板測試輔助設(shè)備的輸入部 分。顯示器12充當(dāng)印刷電路板測試輔助設(shè)備的顯示部分，其在顯示屏12A上顯示由印刷電 路板測試輔助功能獲得的計(jì)算結(jié)果。CPU 21至少充當(dāng)劣化程度處理部分和提取處理部分， 劣化程度處理部分基于存儲在第一數(shù)據(jù)庫中的布線圖案的屬性信息和位置信息以及存儲 在第二數(shù)據(jù)庫中的圖案移除區(qū)域的位置信息來獲得布線圖案中的信號特性的劣化程度，提 取處理部分從多個(gè)布線圖案(這些布線圖案的劣化程度已由劣化程度處理部分獲得)中提 取劣化程度等于或大于預(yù)定程度的布線圖案。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)10并不限于具有圖1和2中所示的配置，而是可以添加各種已知裝 置，或者可以替代使用。圖3A、3B圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中對其執(zhí)行用于輔助印刷 電路板的測試的的計(jì)算的電子設(shè)備。圖3A圖示了電子設(shè)備的立體透視圖，圖3B圖示了電 子設(shè)備中包括的印刷電路板。在實(shí)施例1中，作為電子設(shè)備的一個(gè)示例，示出了蜂窩電話終 端1。如圖3A所示，顯示部分3和操作部分4被設(shè)在蜂窩電話終端1的外殼2的外表面 上。在外殼2的內(nèi)部，如虛線所示容納了印刷電路板5。外殼2由樹脂或金屬制成，并且具有用于設(shè)置顯示部分3和操作部分4的開口。顯 示部分3例如可以是液晶顯示面板，其具有顯示字符、數(shù)字、圖像等的功能。操作部分4包 括用于選擇蜂窩電話終端1的功能的各種選擇鍵以及0-9數(shù)字鍵。注意，蜂窩電話終端1 可包括諸如近場通信裝置(紅外線通信裝置、用于電子貨幣等的通信裝置)或相機(jī)之類的 輔助設(shè)備。圖3B中所示的印刷電路板5例如由FR4(玻璃構(gòu)造基底環(huán)氧樹脂)基板制成，并 且作為對銅箔進(jìn)行圖案化的結(jié)果，在表面5A上形成有布線圖案6。布線圖案6充當(dāng)用于傳 輸各種信號(用于驅(qū)動電子設(shè)備)的傳輸路徑。布線圖案6因而例如是利用使用抗蝕劑的 刻蝕處理來圖案化的。具有利用蜂窩電話終端1執(zhí)行的通信功能的IC(集成電路)、存儲你器等等電連接 至IJ布線圖案6，所述通信功能例如是電話會話、電子郵件、因特網(wǎng)等。在用作印刷電路板5的FR4基板中，一般而言，層壓了多個(gè)絕緣層，并且在層壓結(jié) 構(gòu)的最上層表面上和層壓結(jié)構(gòu)的最下層表面上的各個(gè)絕緣層之間(層間)設(shè)置了圖案化的 銅箔。因此，用于執(zhí)行通信(例如電話會話、電子郵件、因特網(wǎng)等)的布線和電路不僅可 以形成在層壓結(jié)構(gòu)的最上層表面上，還可以形成在各層之間(層間)并且/或者形成在層 壓結(jié)構(gòu)的最下層表面上。另外，印刷電路板5并不限于FR4，并且任何其他基板都可以用作印刷電路板5，只 要基板由電介質(zhì)制成、可以在其上形成布線圖案6、并且可以在其上安裝電路即可。另外，布線圖案6并不限于由銅(Cu)制成的布線圖案。任何其他金屬都可以用于 布線圖案6，只要該金屬具有低功率損耗和高導(dǎo)電率即可，例如鋁(Al)等等。
形成在印刷電路板5中的布線圖案6的CAD(計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì))數(shù)據(jù)被存儲在圖 2所示的HDD 24中。注意，在印刷電路板5中，實(shí)際上多個(gè)層被層壓在一起，并且還形成有用于 GND(地)和電源的實(shí)心圖案。其細(xì)節(jié)將在下面參考圖4描述。圖4圖示了利用實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備對其執(zhí)行計(jì)算以輔助印刷 電路板的測試的印刷電路板的立體分解圖。圖4中所示的印刷電路板5具有五層結(jié)構(gòu)。印刷電路板5包括布線圖案6和實(shí)心 圖案7。在圖4所示的印刷電路板5中，布線圖案6和實(shí)心圖案7被形成在任何電介質(zhì)層 5a至5e上。電介質(zhì)層5a至5e由任意的核心材料和粘附層制成。布線圖案6是具有用于傳輸信號的預(yù)定形狀的布 線或圖案。實(shí)心圖案7被形成為 平面，被保持在地電位并充當(dāng)返回路徑。因此，布線圖案6和實(shí)心圖案7被設(shè)計(jì)為使得布線 圖案6中的信號特性是令人滿意的(典型地，獲得阻抗匹配(例如50Ω))。圖4在印刷電路板5的五層相分離的狀態(tài)下圖示了印刷電路板5，這五層是最上電 介質(zhì)層5a、第二電介質(zhì)層5b、第三電介質(zhì)層5c、第四電介質(zhì)層5d和第五電介質(zhì)層5e。在電 介質(zhì)層5c上，形成有布線圖案6。在電介質(zhì)層5b和5d上，分別形成有實(shí)心圖案7。在形成 在電介質(zhì)層5d上的實(shí)心圖案7中，形成有實(shí)心圖案移除區(qū)域8(8A、8B)。實(shí)心圖案移除區(qū) 域8A和8B是實(shí)心圖案7中移除了實(shí)心圖案7以例如使層間布線穿過的區(qū)域。注意，在下 面的描述中，標(biāo)號8被用于在實(shí)心圖案移除區(qū)域8A和8B不被區(qū)分的情況下表示實(shí)心圖案 移除區(qū)域。另外，在印刷電路板5中，形成有信號過孔9A和GND (地)過孔9B。信號過孔9A 穿過電介質(zhì)層5a和5b，并且連接到電介質(zhì)層5c上的布線圖案6。用于驅(qū)動電子設(shè)備的各 種信號被從電介質(zhì)層5a上的信號過孔9A輸入。GND過孔9B被形成為穿過電介質(zhì)層5a至 5e,并且連接到電介質(zhì)層5b和5d上的各個(gè)實(shí)心圖案7。作為電介質(zhì)層5a上的GND過孔9B 被接地的結(jié)果，電介質(zhì)層5b和5d上的各個(gè)實(shí)心圖案7被保持在地電位。這里，為了說明的方便，從圖4中省略了形成在電介質(zhì)層5a和5e上的布線圖案6。 然而，實(shí)際上，在印刷電路板5中，其上形成有布線圖案6 (被用作信號線等)的層和其上形 成有實(shí)心圖案7的層被交替地層壓。另外，盡管圖4圖示了被保持在地電位的實(shí)心圖案7，但是除了被保持在地電位的 實(shí)心圖案7以外，印刷電路板5還可包括用于電源的實(shí)心圖案，其被保持在預(yù)定的正電位或 負(fù)電位。另外，最下電介質(zhì)層5e可以不被包括在圖4所示的印刷電路板5中，因而，布線圖 案6可以形成在電介質(zhì)層5d的相反一側(cè)上。注意，將參考圖5A、5B和5C描述圖4中所示的X軸方向和Y軸方向上的坐標(biāo)。圖5A-5C圖示了實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備所用的CAD數(shù)據(jù)的一個(gè)示 例。CAD數(shù)據(jù)包括印刷電路板5中包括的每層的尺寸、形成在印刷電路板5中的過孔等的位 置和尺寸、形成在印刷電路板5中的各個(gè)布線圖案的層號、信號類型、數(shù)據(jù)速率、介電常數(shù)、 電導(dǎo)率、布線寬度、銅箔厚度(布線厚度)、層間距離、布線高度、起點(diǎn)坐標(biāo)、終點(diǎn)坐標(biāo)，等等。印刷電路板5的CAD數(shù)據(jù)被存儲在圖2所示的HDD 24中。圖5A中所示的表格對應(yīng)于第一數(shù)據(jù)庫，其中布線圖案6的標(biāo)識符、層號、信號名稱、數(shù)據(jù)速率、介電常數(shù)、布線寬度、布線厚度、層間距離、起點(diǎn)坐標(biāo)和終點(diǎn)坐標(biāo)被關(guān)聯(lián)在一 起，如圖5A所示。信號名稱指示出布線圖案6所傳輸?shù)男盘柕男盘栴愋停⑶冶话ㄔ诘?一數(shù)據(jù)庫中作為指示出布線圖案6的屬性的屬性信息的一個(gè)示例。布線寬度、布線厚度、層 間距離、布線高度、起點(diǎn)坐標(biāo)和終點(diǎn)坐標(biāo)被包括在第一數(shù)據(jù)庫中作為布線圖案6的位置信 息的一個(gè)示例。注意，層間距離指實(shí)心圖案7之間的距離。S卩，在圖4中，層間距離指示出 電介質(zhì)層5b和5d上的各實(shí)心圖案7之間的距離。布線高度指布線圖案6相對于實(shí)心圖案 7的高度。在圖4中，布線高度指示出電介質(zhì)層5c上的布線圖案6相對于電介質(zhì)層5d上的 實(shí)心圖案7的高度。圖5B中所示的表格對 應(yīng)于第二數(shù)據(jù)庫，其中實(shí)心圖案移除區(qū)域的標(biāo)識符、層號、 直徑和中心坐標(biāo)被關(guān)聯(lián)在一起。實(shí)心圖案移除區(qū)域的標(biāo)識符、層號、直徑和中心坐標(biāo)指示出 形成在實(shí)心圖案7中的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的位置信息和尺寸信息的一個(gè)示例。圖5C中所示的表格對應(yīng)于第四數(shù)據(jù)庫，其中過孔的標(biāo)識符、層號、連接目的地、直 徑和中心坐標(biāo)被關(guān)聯(lián)在一起。過孔的標(biāo)識符、層號、連接目的地、直徑和中心坐標(biāo)指示出形 成在各電介質(zhì)層上的信號過孔9A和GND過孔9B的位置信息的一個(gè)示例。圖5C中所示的 連接目的地指相應(yīng)的信號類型或GND。注意，設(shè)置了表示存儲在HDD 24中的劣化程度信息的數(shù)據(jù)作為第三數(shù)據(jù)庫。劣化 程度信息將在后面參考圖8描述。圖5A中所示的起點(diǎn)坐標(biāo)和終點(diǎn)坐標(biāo)的X坐標(biāo)值和Y坐標(biāo)值、圖5B中所示的中心 坐標(biāo)的X坐標(biāo)值和Y坐標(biāo)值以及圖5C中所示的中心坐標(biāo)的X坐標(biāo)值和Y坐標(biāo)值，指示出圖 4中所示的X軸和Y軸上的坐標(biāo)。圖5A中所示具有標(biāo)識符No. 1至No. 3的布線圖案指示出圖4中所示形成在電介 質(zhì)層5c上的布線圖案6。具有信號名稱“dataOOl”的數(shù)據(jù)信號被發(fā)送到布線圖案6。圖5B中所示標(biāo)識符No. 1和No. 2的實(shí)心圖案移除區(qū)域指示出圖4中所示形成在 電介質(zhì)層5d上的實(shí)心圖案移除區(qū)域8A和8B。圖5C中所示標(biāo)識符No. 1的過孔指示出圖4中所示的信號過孔9A，并且標(biāo)識符 No. 2的過孔指示出圖4中所示的GND過孔9B。如圖4所示，布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8A、8B靠近在一起。至于該位置關(guān) 系，從圖5A和5B中所示的坐標(biāo)值也可看出，No. 1的布線圖案6和No. 1的實(shí)心圖案移除區(qū) 域(8A)靠近在一起，并且No. 3的布線圖案6和No. 2的實(shí)心圖案移除區(qū)域(8B)靠近在一 起。由于布線圖案布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8A、8B這樣靠近在一起，因此在布 線圖案6中可能發(fā)生特性阻抗失配的狀態(tài)。這種阻抗失配可能導(dǎo)致信號特性劣化。由于實(shí)心圖案移除區(qū)域而在布線圖案6中發(fā)生信號特性劣化的情況是這樣一種 情況，其中在圖4所示的印刷電路板5中，實(shí)心圖案移除區(qū)域8A、8B存在于電介質(zhì)層5c、電 介質(zhì)層5b或電介質(zhì)層5d(它是與其上形成有布線圖案6的電介質(zhì)層5c相同的層，且電介 質(zhì)層5b是電介質(zhì)層5c上方的一層，電介質(zhì)層5d是電介質(zhì)層5c下方的一層)中，并且布線 圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8A、8B以平面圖方式靠近在一起。實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備為了在制造了印刷電路板5之后的實(shí)際測 量測試中提高工作效率而通過計(jì)算獲得了具有大的特性阻抗劣化程度的布線圖案。在計(jì)算特性阻抗劣化程度時(shí)，相對于布線圖案6在寬度方向上的范圍被確定。至于寬度方向上范 圍的確定，后面將參考圖9進(jìn)行描述。這里，首先將參考圖6描述實(shí)施例1中印刷電路板測 試輔助設(shè)備的配置。
圖6是圖示實(shí)施例1中印刷電路板測試輔助設(shè)備的功能的功能框圖。圖2中所示 的CPU 21通過執(zhí)行存儲在HDD 24中的印刷電路板測試輔助程序來實(shí)現(xiàn)這些功能塊。由CPU 21實(shí)現(xiàn)的功能塊包括設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)讀取部分211、條件創(chuàng)建部分212、實(shí)心圖案 移除區(qū)域檢測部分213、面積計(jì)算部分214、劣化程度計(jì)算部分215、提取處理部分216、分級 處理部分217、過孔提取部分218、處理結(jié)果顯示部分219和管理部分220。 設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)讀取部分211讀取存儲在HDD 24中的CAD數(shù)據(jù)。條件創(chuàng)建部分212基于經(jīng)由鍵盤13或鼠標(biāo)14輸入的條件來創(chuàng)建用于計(jì)算下面描 述的特性阻抗劣化程度的條件。作為輸入條件，可列舉的例如有由布線圖案6傳輸?shù)男盘?的信號類型、用于計(jì)算特性阻抗劣化程度的寬度方向上的范圍、為了分級而用于提取的阻 抗的閾值，等等。實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213基于圖5A中所示的布線圖案6的X坐標(biāo)和Y坐 標(biāo)以及圖5B中所示的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)，來以平面圖方式對實(shí)心圖案 移除區(qū)域8相對于布線圖案6的位置關(guān)系進(jìn)行分類，并創(chuàng)建分類結(jié)果。其細(xì)節(jié)將在后面參 考圖7描述。面積計(jì)算部分214利用由條件創(chuàng)建部分212創(chuàng)建的經(jīng)布線圖案6傳輸?shù)男盘柕男?號類型(信號名稱)來提取作為目標(biāo)的布線圖案6，并計(jì)算在平面圖方式下存在于寬度方向 上的范圍內(nèi)的實(shí)心圖案移除區(qū)域的面積，以用于計(jì)算特性阻抗劣化程度。劣化程度計(jì)算部分215利用由實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213分類的布線圖案6 和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的位置關(guān)系以及由面積計(jì)算部分214計(jì)算的實(shí)心圖案移除區(qū)域 8的面積，來計(jì)算作為計(jì)算目標(biāo)的布線圖案6的特性阻抗劣化程度。提取處理部分216從劣化程度計(jì)算部分215已對其獲得了劣化程度的多個(gè)布線圖 案中提取劣化程度等于或大于預(yù)定程度的布線圖案。分級處理部分217執(zhí)行布線圖案6的分級，并創(chuàng)建數(shù)據(jù)，在該數(shù)據(jù)中，根據(jù)距特性 阻抗的目標(biāo)值(50 Ω )的偏移大小按降序?qū)Σ季€圖案6分類。過孔提取處理部分218提取連接到經(jīng)分級處理部分217分級的布線圖案6的信號 過孔9Α和與信號過孔9Α最近的GND過孔9Β。作為這樣提取信號過孔9Α和GND過孔9Β的 結(jié)果，提取了信號過孔9Α的位置和GND過孔9Β的位置。作為從圖5C所示的第四數(shù)據(jù)庫中 提取信號過孔9Α的結(jié)果，識別出連接到經(jīng)分級處理部分217分級的布線圖案6的信號過孔 9Α，其具有與布線圖案6的信號名稱相同的連接目的地。作為從圖5C所示的第四數(shù)據(jù)庫中 提取與這樣提取的信號過孔9Α的位置最近的GND過孔9Β的結(jié)果，識別出最近的GND過孔 9Β。處理結(jié)果顯示部分219在圖1所示的顯示器12的顯示屏12Α上顯示由分級處理部 分217分級的布線圖案6的數(shù)目，以及由過孔提取處理部分218提取的信號過孔9Α和GND 過孔9Β的位置。顯示內(nèi)容將在后面描述。管理部分220管理HDD 24中數(shù)據(jù)的存儲。接下來，將描述實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中布線圖案和實(shí)心圖案移除區(qū)域之間的位置關(guān)系的確定。該位置關(guān)系的確定是由實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213 (見 圖6)執(zhí)行的。圖7圖示了實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中布線圖案和實(shí)心圖案移除區(qū)域 之間的位置關(guān)系的分類結(jié)果的一個(gè)示例。實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213基于圖5A中所示的布線圖案6的X坐標(biāo)和Y坐 標(biāo)以及圖5B中所示的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)，來以平面圖方式對實(shí)心圖案 移除區(qū)域 8相對于布線圖案6的位置進(jìn)行分類。另外，除了以平面圖方式對位置關(guān)系的分類以外，實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213 還判定實(shí)心圖案移除區(qū)域8是存在于與布線圖案6相同的層中，還是存在于其上的一層中， 還是存在于其下的一層中(即，實(shí)心圖案移除區(qū)域和布線圖案是否不被通過兩層或更多層 而彼此分隔)。具體而言，實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213計(jì)算指示出圖5A中所示的布線圖案6 的相應(yīng)區(qū)間的起點(diǎn)和終點(diǎn)的X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)與圖5B中所示的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的X坐 標(biāo)和Y坐標(biāo)之間的X-Y坐標(biāo)中的位置關(guān)系，并因而以平面圖方式對實(shí)心圖案移除區(qū)域8相 對于布線圖案6的位置進(jìn)行分類。在平面圖方式下實(shí)心圖案移除區(qū)域8相對于布線圖案6 的位置是按以下方式中的任何一種來分類的在布線的一側(cè)上、在布線的兩側(cè)上、或者在布 線的緊鄰上方或緊鄰下方。另外，實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213判定通過從圖5A所示的布線圖案6的層號 中減去圖5B所示的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的層號而獲得的值是否是0、+1、-1中的任何一個(gè)。 在該值等于或大于+2或者等于或小于_2的情況下，預(yù)期在布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū) 域8之間存在另一實(shí)心圖案7。因此，預(yù)期在對其執(zhí)行了判定的布線圖案6和實(shí)心圖案移除 區(qū)域8之間不存在信號特性劣化的關(guān)系。通過執(zhí)行判定，實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213對布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū) 域8之間的位置關(guān)系進(jìn)行分類，并創(chuàng)建指示出圖7中所示的分類結(jié)果的數(shù)據(jù)。圖8圖示了存儲在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備的數(shù)據(jù)庫20中的特性阻 抗增大特性。指示出增大特性的數(shù)據(jù)被用于計(jì)算特性阻抗劣化程度，并指示出相對于布線 圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的位置關(guān)系的、實(shí)心圖案移除區(qū)域8的每單位面積的特 性阻抗增大(劣化)。指示出圖8中所示的增大特性的數(shù)據(jù)是一種形式的劣化程度信息，其 指示出相對于布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的位置關(guān)系以及實(shí)心圖案移除區(qū)域8 的尺寸的、布線圖案6中的信號特性的劣化程度，并且被存儲在HDD24中作為第三數(shù)據(jù)庫。布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的位置關(guān)系是按以下三種模式中的任何一 種來分類的即(A)實(shí)心圖案移除區(qū)域8存在于緊鄰在布線圖案6上方或下方的位置中； (B)實(shí)心圖案移除區(qū)域8存在于布線圖案6的兩側(cè)上；以及(C)實(shí)心圖案移除區(qū)域8僅存 在于布線圖案6的一側(cè)上(見圖7)。注意，布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的以下 這種位置關(guān)系，即預(yù)期在布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間不存在信號特性劣化的關(guān) 系，并不包括在上述三種模式(A)、(B)和(C)中。假定布線圖案的理想特性阻抗是50 Ω。 結(jié)果，因?yàn)樘匦宰杩故涑潭劝茨Ｊ?C)、(B)和(A)的所述順序增大，所以圖8中所示的特 性具有增大系數(shù)(特性的斜率)，使得位置關(guān)系(A)中的特性阻抗最高，并且特性阻抗按位 置關(guān)系⑶和(C)的所述順序減小。
實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備基于存在于被確定為用于計(jì)算特性阻抗 劣化程度的范圍的范圍內(nèi)的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積以及實(shí)心圖案移除區(qū)域8相對于布 線圖案6的位置關(guān)系，來計(jì)算布線圖案6中的特性阻抗劣化程度。圖9圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于計(jì)算特性阻抗劣化程度 的寬度方向上的范圍。圖9以放大方式圖示了圖4所示的形成在電介質(zhì)層5c上的布線圖 案6和形成在電介質(zhì)層5d中的實(shí)心圖案移除區(qū)域8A之間的位置關(guān)系，以及用于計(jì)算特性 阻抗劣化程度的寬度方向上的范圍(即，對其執(zhí)行計(jì)算的寬度方向上的范圍)。
在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中，在預(yù)先確定了對其執(zhí)行計(jì)算的寬度方 向上的范圍之后計(jì)算特性阻抗劣化程度。對其執(zhí)行計(jì)算的寬度方向上的范圍是經(jīng)由參數(shù)輸入部分10(見圖1)輸入的。例如，假定寬度方向上的范圍被輸入為布線圖案6的布線寬度(0.1mm)的40倍 (4. Omm) ο如圖9所示，與布線圖案6靠近的實(shí)心圖案移除區(qū)域8A的部分8a(填充有網(wǎng)點(diǎn)) 在平面圖方式下被包括在距布線圖案64. Omm的范圍(寬度方向上的范圍)內(nèi)。在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中，獲得了由實(shí)心圖案移除區(qū)域8A的部分 8a引起的布線圖案6中的特性阻抗劣化程度(或特性阻抗改變量)，該部分8a被包括在對 其執(zhí)行計(jì)算的寬度方向上的范圍中。通過這樣確定特性阻抗劣化程度，可以掌握對布線圖 案6的信號特性的影響。圖10圖示了計(jì)算實(shí)心圖案移除區(qū)域的一部分的面積的方法，該部分存在于實(shí)施 例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備對其計(jì)算特性阻抗劣化程度的寬度方向上的范圍中。實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213檢測實(shí)心圖案移除區(qū)域8的該部分，該部分被包 括在對其計(jì)算特性阻抗劣化程度的寬度方向上的范圍中，并且面積計(jì)算部分214基于實(shí)心 圖案移除區(qū)域檢測部分213的檢測結(jié)果來計(jì)算實(shí)心圖案移除區(qū)域8的該部分。在實(shí)心圖案移除區(qū)域8的該部分的檢測和計(jì)算中，從對其計(jì)算特性阻抗劣化程度 的布線圖案6的起點(diǎn)到終點(diǎn)，包括在寬度方向上的范圍中的區(qū)域被劃分為具有預(yù)定面積的 方形網(wǎng)格。然后，布線圖案6被劃分為長度分別等于網(wǎng)格的側(cè)邊的區(qū)間，并且針對每個(gè)網(wǎng)格 判定是否存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8。在對于每個(gè)網(wǎng)格是否存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8的判定中，當(dāng)在網(wǎng)格的至少一部分 中存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8時(shí)，確定在網(wǎng)格中存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8。S卩，確定在網(wǎng)格中 不存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8的情況是在網(wǎng)格中根本不存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8的情況。在 圖10中，“Y”表示在網(wǎng)格的至少一部分中存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8的狀態(tài)(下文中簡稱為 “存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8”)，并且“N”表示在網(wǎng)格中根本不存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8的狀 態(tài)(下文中簡稱為“不存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8”)。注意，網(wǎng)格的邊長例如被確定為由下式(1)所指示出的值(網(wǎng)格的邊長)=(上升時(shí)間)X(傳輸路徑中的傳播速度)/(任何劃分 數(shù))··· (1)這里，網(wǎng)格的邊長被確定為0. 5mm,并且因此，布線圖案6在長度方向上被劃分為 各自具有0. 5mm的區(qū)間，并且面積計(jì)算部分214針對每個(gè)區(qū)間計(jì)算實(shí)心圖案移除區(qū)域8的 面積。
網(wǎng)格的四個(gè)角的各自坐標(biāo)中具有最小值的坐標(biāo)被用作標(biāo)識網(wǎng)格的坐標(biāo)。在圖10 的示例中，網(wǎng)格的左下頂點(diǎn)的坐標(biāo)值被用作用于標(biāo)識網(wǎng)格的坐標(biāo)。在圖10的示例中，對于包括在X = 28. 5至31. 5且Y = 20. 0至22. 0的范圍中的 網(wǎng)格，針對在X軸方向上按每0. 5mm劃分的每個(gè)區(qū)間判定在網(wǎng)格中是否存在實(shí)心圖案移除 區(qū)域8。注意，在圖10中，“Y”指示出對于該網(wǎng)格確定存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8，而“N”指 示出對于該網(wǎng)格確定不存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8。另外，對于布線圖案6的每個(gè)區(qū)間，“Y”的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的總面積(圖10 中的實(shí)心圖案移除區(qū)域(mm2))根據(jù)“Y”的網(wǎng)格數(shù)目是如下值對于X = 28. 5至29. 0的 范圍是0. 5mm2 ；對于X = 29. 0至29. 5的范圍是0. 5mm2 ；對于X = 29. 5至30. 0的范圍是 0. 5mm2 ；對于X = 30. 0至30. 5的范圍是0. 5mm2 ；對于X = 30. 5至31. 0的范圍是0. 5mm2 ； 對于X = 31. 0至31. 5的范圍是0. 25mm2。
圖11以表格形式圖示了圖10的判定結(jié)果。如圖11所示，對于存在實(shí)心圖案移除區(qū)域(“Y”)的網(wǎng)格，賦予標(biāo)志“1”，而對于 不存在實(shí)心圖案移除區(qū)域(“N”)的網(wǎng)格，賦予標(biāo)志“0”。該標(biāo)志被劣化程度計(jì)算部分215 用來計(jì)算特性阻抗劣化程度。在圖10所示的判定結(jié)果中，布線圖案6的每個(gè)區(qū)間的“Y”網(wǎng)格的總面積被計(jì)算為 每個(gè)區(qū)間指示出存在實(shí)心圖案移除區(qū)域(“Y”)的標(biāo)志“1”的數(shù)目被乘以網(wǎng)格的單位面積 (0. 25mm2)的結(jié)果。圖12圖示了受圖10所示的實(shí)心圖案移除區(qū)域8影響的布線圖案6的特性阻抗。 圖12的特性阻抗是由劣化程度計(jì)算部分215基于圖8中所示的特性和圖10的判定結(jié)果計(jì) 算出的。如上所述，劣化程度計(jì)算部分215利用圖8中所示的特性和圖10的判定結(jié)果來計(jì) 算布線圖案6的特性阻抗。布線圖案6的每區(qū)間的布線圖案特性阻抗是從下式(2)獲得的(特性阻抗)=(增大系數(shù))X(該區(qū)間的實(shí)心圖案移除區(qū)域的面積(mm2)) X (偏 離值)··· (2)這里，“增大系數(shù)”是圖8所示的特性㈧、⑶和(C)中任何一個(gè)的增大系數(shù)。“實(shí) 心圖案移除區(qū)域的面積(mm2) ”是圖10和圖12中所示的“實(shí)心圖案移除區(qū)域的面積(mm2) ”。 “偏離值(offsetvalue) ”被確定為50 Ω。在如圖10和圖12所示在布線圖案6的一側(cè)上存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8Α時(shí)，使用 圖8的特性(C)(根據(jù)圖8，增大系數(shù)=2/0. 5 = 4)對于X = 28. 5至29. 0是52 Ω (即， 4X0. 5+50 = 52)；對于 X = 29. 0 至 29. 5 是 52Ω ；對于 X = 29. 5 至 30. 0 是 52 Ω ；對于 X = 30. 0 至 30. 5 是 52 Ω ；對于 X = 30. 5 至 31. 0 是 52 Ω ；對于 X = 31. 0 至 31. 5 是 51 Ω (即， 4X0. 25+50 = 51)，如圖12中的“阻抗”所示。因而，獲得了每個(gè)區(qū)間的布線圖案6的特性阻抗。劣化程度計(jì)算部分215從布線圖案6的起點(diǎn)到終點(diǎn)執(zhí)行上述操作，對各個(gè)區(qū)間的 值進(jìn)行積分，并且獲得從起點(diǎn)到終點(diǎn)的布線圖案6的特性阻抗。之后，劣化程度計(jì)算部分 215計(jì)算布線圖案6的特性阻抗與目標(biāo)值(50 Ω )的差異(偏移)。接下來，將描述在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于輔助印刷電路板的測試的計(jì)算方法。下面，將在以下條件下進(jìn)行描述其中用于使得圖1中所示的計(jì)算機(jī)系統(tǒng) 10充當(dāng)具有用于輔助印刷電路板的測試的計(jì)算功能的印刷電路板測試輔助設(shè)備的印刷電 路板測試輔助程序被存儲在圖2所示的HDD 24中。圖13圖示了指示出在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于輔助對印刷電 路板的測試的計(jì)算的流程圖。圖13中所示的計(jì)算是通過CPU21執(zhí)行實(shí)施例1中的印刷電 路板測試輔助程序而實(shí) 現(xiàn)的。當(dāng)開始計(jì)算時(shí)，CPU 21讀取存儲在HDD 24中的CAD數(shù)據(jù)(步驟Si)。S卩，CPU 21 的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)讀取部分211讀取圖5A、5B和5C中所示的CAD數(shù)據(jù)。接下來，CPU 21創(chuàng)建用于計(jì)算特性阻抗劣化程度的條件(步驟S2)。S卩，基于經(jīng)由 鍵盤13或鼠標(biāo)14輸入的條件，CPU 21的條件創(chuàng)建部分212創(chuàng)建用于計(jì)算特性阻抗劣化程 度的條件。作為這樣輸入的條件，可列舉例如以下內(nèi)容由布線圖案6傳輸?shù)男盘柕男盘栴?型、用于計(jì)算特性阻抗劣化程度的寬度方向上的范圍、在為了分級而執(zhí)行提取時(shí)所使用的 阻抗的閾值，等等。接下來，CPU 21以平面圖方式對實(shí)心圖案移除區(qū)域8相對于布線圖案6的位置關(guān) 系進(jìn)行分類，并創(chuàng)建指示出分類結(jié)果的數(shù)據(jù)(步驟S3)。BP, CPU 21的實(shí)心圖案移除區(qū)域檢 測部分213基于圖5A中所示的布線圖案6的X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)以及圖5B中所示的實(shí)心圖案 移除區(qū)域8的X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)，來創(chuàng)建由圖7的分類表指示出的數(shù)據(jù)。CPU 21根據(jù)由條件創(chuàng)建部分212創(chuàng)建的經(jīng)布線圖案6傳輸?shù)男盘柕男盘栴愋蛠?提取對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案6，并計(jì)算在平面圖方式下存在于對其計(jì)算特性阻抗劣化程 度的寬度方向上的范圍內(nèi)的實(shí)心圖案移除區(qū)域的面積(即，實(shí)施例中圖10和圖12所示的 實(shí)心圖案移除區(qū)域的面積(mm2))(步驟S4)。該處理是由CPU 21的面積計(jì)算部分214執(zhí)行 的。接下來，CPU 21基于由實(shí)心圖案移除區(qū)域檢測部分213分類的布線圖案6和實(shí)心 圖案移除區(qū)域8之間的位置關(guān)系以及由面積計(jì)算部分214計(jì)算的實(shí)心圖案移除區(qū)域的面 積，來計(jì)算對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案6的特性阻抗劣化程度(步驟S5)。該處理是由CPU 21 的劣化程度計(jì)算部分215執(zhí)行的。CPU 21從劣化程度計(jì)算部分215對其計(jì)算了特性阻抗劣化程度的多個(gè)布線圖案 6中提取特性阻抗劣化程度等于或大于預(yù)定程度的布線圖案6 (步驟S6)。該處理是由CPU 21的提取處理部分216執(zhí)行的。接下來，CPU 21對布線圖案6分級(步驟S7)。在分級中，CPU 21創(chuàng)建數(shù)據(jù)，其中 根據(jù)特性阻抗與目標(biāo)值(50 Ω )的差異(偏移)按降序?qū)Σ季€圖案6分類。該處理是由CPU 21的分級處理部分217執(zhí)行的。接下來，CPU 21提取連接到在步驟S7中分級的布線圖案6的信號過孔9A和與信 號過孔9A最近的GND過孔9B (步驟S8)。該處理是由CPU 21的過孔提取處理部分218執(zhí) 行的。在處理中，從圖5C所示的第四數(shù)據(jù)庫中提取出信號名稱與布線圖案6的信號名稱相 同的信號過孔9A，并且從圖5C所示的第四數(shù)據(jù)庫中還提取出與所提取的信號過孔9A的位 置最近的GND過孔9B。接下來，CPU 21在圖1所示的顯示器12的顯示屏12A上顯示由分級處理部分217 執(zhí)行的分級的結(jié)果以及由過孔提取處理部分218提取的信號過孔9A和GND過孔9B(步驟S9)。該處理是由CPU 21的處理結(jié)果顯示部分219執(zhí)行的，并且圖14A和14B中所示的分 級結(jié)果和提取結(jié)果被顯示在顯示器12的顯示屏12A上。因而，由CPU 21執(zhí)行的用于計(jì)算特性阻抗劣化程度的一系列處理完成。圖14A和14B圖示了由實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備提供的分級結(jié)果和 提取結(jié)果。圖14A和14B中的分級結(jié)果和提取結(jié)果圖示了由分級處理部分217提供的分級 結(jié)果和由過孔提取處理部分218提供的提取結(jié)果。圖14A圖示了來自第一至第五等級的No. 10、15、25、64和52的布線圖案6的分級 結(jié)果，以及分別連接到布線圖案No. 10、15、25、64和52的信號過孔9A的提取結(jié)果。注意， 在圖14A的示例中，特性阻抗的判定標(biāo)準(zhǔn)被確定為25 Ω，并且在這種情況下，特性阻抗等于 或大于判定標(biāo)準(zhǔn)的布線圖案是No. 10、15和25的三個(gè)布線圖案6。
圖14Β圖示了與No. 10、15和25的三個(gè)布線圖案最近的GND過孔9Β的提取結(jié)果。管理部分220將指示出圖14Α和14Β中所示的分級結(jié)果和提取結(jié)果的數(shù)據(jù)存儲在 HDD 24 中。圖15圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中對于分別連接到No. 10,15 和25的布線圖案6 (它們被確定為具有較高等級的特性阻抗劣化程度)的信號過孔9A和 最近的GND過孔9B設(shè)置有通過絲網(wǎng)印刷形成的標(biāo)記(如圖15中的“SILK”所示)的狀態(tài)。最近的GND過孔9B位于離連接到No. 10、15和25的布線圖案6 (被確定為具有較 高等級的特性阻抗劣化程度)的信號過孔9A最近的位置處。最近的GND過孔9B是由CPU 21的過孔提取處理部分218基于圖5A和5C中所示的位置數(shù)據(jù)而提取的。通過這樣對提取處理部分216已根據(jù)由分級處理部分217提供的指示出分級結(jié)果 的數(shù)據(jù)確定為具有等于或大于判定標(biāo)準(zhǔn)的特性阻抗劣化程度的布線圖案6提供通過絲網(wǎng) 印刷形成的標(biāo)記，可以很容易在制造了印刷電路板5之后對印刷電路板5執(zhí)行實(shí)際測量測 試時(shí)識別出具有大的特性阻抗劣化程度的布線圖案6。因而，通過實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備，利用CAD數(shù)據(jù)計(jì)算了實(shí)心圖案 移除區(qū)域8的面積，并且計(jì)算了特性阻抗劣化程度。結(jié)果，可以通過選擇傳輸具有高重要性 級別的信號等的布線圖案6，來從包括在大量布線圖案6中的具有高重要性級別的布線圖 案中識別具有大特性阻抗劣化程度的布線圖案6。具有高重要性級別的布線圖案6可以利 用布線圖案6的屬性(例如，信號名稱)來選擇。因此，可以不針對所有布線圖案6執(zhí)行計(jì) 算，因而可以減少處理量。另外，可以在考慮到非常小的實(shí)心圖案移除區(qū)域(圖案移除區(qū) 域)等的情況下計(jì)算特性阻抗劣化程度。因此，可以在考慮到非常小的圖案移除區(qū)域等的 情況下提取對信號特性具有很大影響的布線圖案，以用在制造印刷電路板之后執(zhí)行的實(shí)際 測量測試中。另外，通過對具有大特性阻抗劣化程度的布線圖案6提供通過絲網(wǎng)印刷形成的標(biāo) 記，可以在制造了印刷電路板5之后選擇性地對具有大特性阻抗劣化程度的布線圖案6執(zhí) 行實(shí)際測量測試。因此，可以肯定地對具有大特性阻抗劣化程度的布線圖案6執(zhí)行實(shí)際測 量測試，并且可以執(zhí)行輔助以使得可高效地執(zhí)行實(shí)際測量測試。注意，如下面所描述的，可以部分修改由上述實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助 設(shè)備執(zhí)行的處理/操作內(nèi)容。圖16A、16B圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中計(jì)算實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積的另一種方法。在以上描述中，存在于寬度方向上的范圍內(nèi)的實(shí)心圖案移除區(qū)域8從布線圖案6 的起點(diǎn)到終點(diǎn)被劃分為多個(gè)網(wǎng)格，并且針對每個(gè)單位區(qū)域(網(wǎng)格)獲得特性阻抗劣化程度。 然而，如圖16A所示，在被劃分為網(wǎng)格之前，布線圖案6可以被劃分為多個(gè)區(qū)間，每個(gè)區(qū)間具 有預(yù)定長度A。然后，在判定多個(gè)區(qū)間中的每個(gè)區(qū)間是否包括實(shí)心圖案移除區(qū)域8之后，可 以僅對實(shí)心圖案移除區(qū)域8所存在的區(qū)間(“Y”)執(zhí)行劃分為網(wǎng)格的操作，如圖16B所示， 并且可以針對每個(gè)單位區(qū)域(網(wǎng)格)計(jì)算特性阻抗劣化程度。另外，特性阻抗的劣化例如還表現(xiàn)為由TDR(時(shí)域反射儀)測得的波形(TDR波形) 的失真。然而，由TDR測得的波形包括從布線圖案6的起點(diǎn)到終點(diǎn)由所有因素引起的影響。 因此，無法提取并確定存在于某一位置處的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的影響。在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中，可以利用包括在CAD數(shù)據(jù)中的實(shí)心圖 案移除區(qū)域8的面積和位置來計(jì)算實(shí)心圖案移除區(qū)域8對TDR波形的影響。
圖17A和17B圖示了在實(shí)施例1的印刷電路板測試輔助設(shè)備中從測量點(diǎn)到實(shí)心圖 案移除區(qū)域8的信號傳播時(shí)間的計(jì)算方法。圖17A粗略地圖示了布線圖案6和實(shí)心圖案移 除區(qū)域8之間的關(guān)系。圖17B粗略地在TDR波形上圖示了圖17A中所示的起點(diǎn)和實(shí)心圖案 移除區(qū)域8之間的信號的往復(fù)傳播時(shí)間。注意，在圖17B中，為了說明的方便，在指示出TDR 波形的大小的坐標(biāo)軸上指示出了特性阻抗的值。如圖17A所示，Ll表示沿著布線圖案6從起點(diǎn)到第一實(shí)心圖案移除區(qū)域8的中心 的距離，并且L2表示沿著布線圖案6從起點(diǎn)到第二和第三實(shí)心圖案移除區(qū)域8的中間點(diǎn)的距離。假定在印刷電路板5的布線圖案6中，單位長度的信號傳播時(shí)間是τ。這樣，用 于通過TDR測量波形的起點(diǎn)和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的往復(fù)傳播時(shí)間可以由下式(3)表 達(dá)T = L/ τ Χ2. . . (3)這指示出信號的如下傳播時(shí)間從布線圖案上用于測量TDR波形的起點(diǎn)傳播經(jīng)過 布線圖案6、被實(shí)心圖案移除區(qū)域8反射、然后返回到起點(diǎn)。通過將距離Ll和L2代入公式(3)中，獲得了相應(yīng)的往復(fù)傳播時(shí)間Tl和Τ2 =Tl = Li/ τ X 2 (ns)，且 T2 = L2/ τ X 2 (ns)。往復(fù)傳播時(shí)間的計(jì)算可以由CPU 21利用CAD數(shù)據(jù)執(zhí)行，并且處理結(jié)果顯示部分 219可以將計(jì)算結(jié)果顯示在顯示器12的顯示屏12A上。如圖17B所示，在設(shè)計(jì)者根據(jù)顯示TDR波形的示波器獲得往復(fù)傳播時(shí)間Tl和T2 時(shí)，設(shè)計(jì)者可以理解由特定的實(shí)心圖案移除區(qū)域8引起的TDR波形的失真。因此，設(shè)計(jì)者在 制造了印刷電路板5之后執(zhí)行實(shí)際測量測試時(shí)可以很容易理解實(shí)心圖案移除區(qū)域8對TDR 波形的影響。[實(shí)施例2]在上述實(shí)施例1中，信號特性的劣化程度被計(jì)算為計(jì)算特性阻抗劣化程度的結(jié) 果。實(shí)施例2中的印刷電路板測試輔助設(shè)備與實(shí)施例1中的設(shè)備的不同之處在于當(dāng)計(jì)算信 號特性的劣化程度時(shí)，計(jì)算的是由串?dāng)_引起的信號特性的劣化程度。如用于描述實(shí)施例1的圖4中所示，在布線圖案6與實(shí)心圖案移除區(qū)域8A和8B靠近在一起的情況下，當(dāng)存在于電介質(zhì)層5e (它是形成有實(shí)心圖案移除區(qū)域8A和8B的電 介質(zhì)層5d下方的一層)上的布線圖案6接近實(shí)心圖案移除區(qū)域8A和8B時(shí)，在布線圖案之 間可能經(jīng)由實(shí)心圖案移除區(qū)域8A和8B發(fā)生串?dāng)_。串?dāng)_引起信號特性的劣化。圖18是圖示布線圖案6B和6C與實(shí)心圖案移除區(qū)域8A之間的位置關(guān)系的一個(gè)示 例的立體圖。布線圖案6B被形成在第三電介質(zhì)層5c上，實(shí)心圖案移除區(qū)域8A被形成為實(shí) 心圖案7中 的開口，實(shí)心圖案7被形成在第四電介質(zhì)層5d上，并且布線圖案6C被形成在第 五電介質(zhì)層5e上。然而，為了說明的方便，在圖18中省略了電介質(zhì)層5c至5e。另外，盡管實(shí)際上透過實(shí)心圖案移除區(qū)域8A形成有信號過孔或GND過孔，但是為 了說明的方便，在圖18中省略了這種信號過孔或GND過孔。圖19以平面圖方式圖示了圖18中所示的布線圖案6B、6C和實(shí)心圖案移除區(qū)域8A 之間的位置關(guān)系。在圖18中所示的位置關(guān)系的情況下，在如圖19所示的平面圖方式下，布 線圖案6C位于緊鄰實(shí)心圖案移除區(qū)域8A的下方。在實(shí)施例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中，計(jì)算串?dāng)_區(qū)域的面積，將計(jì)算出的面 積乘以一系數(shù)以獲得由串?dāng)_引起的噪聲，從而提取要用在實(shí)際測量測試中的布線圖案。串?dāng)_區(qū)域是指這樣的區(qū)域通過該區(qū)域，布線圖案6C在平面圖方式下與實(shí)心圖案 移除區(qū)域8A的區(qū)域8a重疊，該區(qū)域8a (填充有網(wǎng)點(diǎn))存在于布線圖案6B的寬度方向上的 范圍內(nèi)。即，串?dāng)_區(qū)域是指這樣的區(qū)域通過該區(qū)域，在布線圖案6B的寬度方向上的范圍 內(nèi)，實(shí)心圖案移除區(qū)域8B與布線圖案6C重疊。在圖19的情況下，布線圖案6C的一部分 (如圖19所示，透過實(shí)心圖案移除區(qū)域8A可以看見該部分)的區(qū)域是串?dāng)_區(qū)域。圖20是圖示實(shí)施例2中的印刷電路板測試輔助設(shè)備的功能的框圖。圖20的功能 塊是通過圖2中所示的CPU 21執(zhí)行存儲在HDD 24中的印刷電路板測試輔助程序來實(shí)現(xiàn) 的。由CPU 21實(shí)現(xiàn)的功能塊包括設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)讀取部分311、條件創(chuàng)建部分312、串?dāng)_區(qū)域 檢測部分313、面積計(jì)算部分314、劣化程度計(jì)算部分315、提取處理部分316、分級處理部分 317、過孔提取處理部分318、處理結(jié)果顯示部分319和管理部分320。下面，將主要描述實(shí) 施例2與實(shí)施例1的不同點(diǎn)。設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)讀取部分311執(zhí)行與實(shí)施例1中的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)讀取部分211所執(zhí)行的處理 相同的處理。條件創(chuàng)建部分312基于經(jīng)由鍵盤13或鼠標(biāo)14輸入的條件來創(chuàng)建用于計(jì)算由串?dāng)_ 引起的信號特性的劣化程度的條件(后面將描述)。作為這樣輸入的條件，可列舉的例如 有由布線圖案6傳輸?shù)男盘柕男盘栴愋?、用于?jì)算由串?dāng)_引起的信號特性的劣化程度的 寬度方向上的范圍、用于計(jì)算串?dāng)_區(qū)域的面積的網(wǎng)格邊長、用于提取布線圖案6的提取條 件(例如，指示出串?dāng)_強(qiáng)度的值)、為了分級而用于提取的串?dāng)_強(qiáng)度的閾值，等等。串?dāng)_區(qū)域檢測部分313基于圖5A中所示的布線圖案6的X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)以及圖 5B中所示的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的X坐標(biāo)和Y坐標(biāo)，對以平面圖方式相對于布線圖案6的 實(shí)心圖案移除區(qū)域8與以平面圖方式透過實(shí)心圖案移除區(qū)域8可見的另一布線圖案6之間 的位置關(guān)系進(jìn)行分類。面積計(jì)算部分314根據(jù)由條件創(chuàng)建部分312創(chuàng)建的經(jīng)布線圖案6傳輸?shù)男盘柕男?號類型(信號名稱)來提取對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案6，并計(jì)算存在于用于計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度的寬度方向上的范圍內(nèi)的串?dāng)_區(qū)域的面積。如上所述，串?dāng)_區(qū)域是指這樣的區(qū)域，通過該區(qū) 域，在布線圖案6的寬度方向上的范圍內(nèi)，實(shí)心圖案移除區(qū)域8和另一布線圖案6重疊在一 起。因此，利用實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積計(jì)算了實(shí)施例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中 的信號特性的劣化程度。劣化程度計(jì)算部分315利用由串?dāng)_區(qū)域檢測部分313分類的布線圖案6、實(shí)心圖案 移除區(qū)域8和其他布線圖案之間的位置關(guān)系以及由面積計(jì)算部分314計(jì)算的串?dāng)_區(qū)域的面 積，來計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度，作為對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案6中的信號特性的劣化程度。提取處理部分316從劣化程度計(jì)算部分315獲得了其串?dāng)_強(qiáng)度的多個(gè)布線圖案6 中提取串?dāng)_強(qiáng)度(串?dāng)_的強(qiáng)度)等于或大于預(yù)定強(qiáng)度的布線圖案6以用于實(shí)際測量測試。分級處理部分317根據(jù)串?dāng)_強(qiáng)度對由提取處理部分316提取的布線圖案6進(jìn)行分 級。過孔提取處理部分318提取連接到由分級處理部分317分級的布線圖案的信號過 孔9A和與信號過孔9A最近的GND過孔9B。通過這樣提取信號過孔9A和GND過孔9B，提 取了信號過孔9A的位置和GND過孔9B的位置。作為從圖5C所示的第四數(shù)據(jù)庫中提取具 有與布線圖案6相同的信號名稱的信號過孔9A的結(jié)果，識別出連接到由分級處理部分317 分級的布線圖案6的信號過孔9A。作為從圖5C所示的第四數(shù)據(jù)庫中提取與所提取的信號 過孔9A的位置最近的GND過孔9B的結(jié)果，識別出最近的GND過孔9B。處理結(jié)果顯示部分319在圖1所示的顯示器12的顯示屏12A上顯示由分級處理 部分317分級的布線圖案6的數(shù)目以及由過孔提取處理部分318提取的信號過孔9A和GND 過孔9B的位置。管理部分320管理HDD 24中數(shù)據(jù)的存儲。圖21是圖示在實(shí)施例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于計(jì)算串?dāng)_區(qū)域的每單 位面積的串?dāng)_強(qiáng)度的每單位面積的噪聲(“每單位面積噪聲(mV)”)的表格。圖21的圖示用于計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度的噪聲的表格被用于計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度，該串?dāng)_強(qiáng)度 是用于測量信號特性的劣化程度的指標(biāo)，并且該表格指示出每單位面積的噪聲(“每單位面 積噪聲(mV)”)，其用于計(jì)算相對于電介質(zhì)層的介電常數(shù)(“介電常數(shù)”)和厚度方向上布線 圖案之間的距離的、串?dāng)_區(qū)域的每單位面積的串?dāng)_強(qiáng)度。圖21中所示的表格和圖22中所 示的表格(后面將描述)是劣化程度信息的一個(gè)示例，該劣化程度信息指示出相對于布線 圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的位置關(guān)系以及實(shí)心圖案移除區(qū)域8的尺寸的、布線圖 案6中的信號特性的劣化程度，并且這兩個(gè)表格被存儲在HDD 24中作為第三數(shù)據(jù)庫。圖22圖示了在實(shí)施例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度的校正 系數(shù)的表格。如圖22所示，校正系數(shù)的特定值是根據(jù)布線圖案6之間的距離以及布線圖案 6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之間的距離(圖22中的“實(shí)心偏離(mm) ”)確定的。圖22中布線圖案6之間的距離是指平面圖方式下布線圖案6之間的距離，并且例 如是圖19中所示的布線圖案6B和6C之間的距離。布線圖案6和實(shí)心圖案移除區(qū)域8之 間的距離(“實(shí)心偏離”)例如是指在圖19中所示的布線圖案6B偏離(或者偏移)實(shí)心圖 案移除區(qū)域8A的情況下、布線圖案6B和實(shí)心圖案移除區(qū)域8A之間的距離(偏離量)。圖23圖示了在實(shí)施例2的印刷電路板測試輔助設(shè)備中用于計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度的串?dāng)_ 區(qū)域的面積的計(jì)算方法。
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面積計(jì)算部分314按以下方式計(jì)算串?dāng)_區(qū)域的面積從對其執(zhí)行信號特性的劣化 程度的計(jì)算的布線圖案6的起點(diǎn)到終點(diǎn)，將對其執(zhí)行計(jì)算的范圍劃分為各自具有預(yù)定面積 的多個(gè)方形網(wǎng)格，并且針對每個(gè)網(wǎng)格判定是否存在實(shí)心圖案移除區(qū)域8和布線圖案6。當(dāng)實(shí)心圖案移除區(qū)域8和布線圖案6同時(shí)存在于網(wǎng)格的至少一部分中時(shí)，該網(wǎng)格 被確定為具有串?dāng)_區(qū)域。即，被確定為不具有串?dāng)_區(qū)域的網(wǎng)格是其中并不同時(shí)存在實(shí)心圖 案移除區(qū)域8和布線圖案6的網(wǎng)格。網(wǎng)格的邊長例如按下式⑷確定(網(wǎng)格的邊長)=(上升時(shí)間)X(傳輸路徑中的傳播速度)/(任何劃分 數(shù))··· (4)假定網(wǎng)格的邊長是0.5mm。另外，(方形)網(wǎng)格的四個(gè)角的坐標(biāo)中數(shù)值最小的一個(gè) 被用作網(wǎng)格的坐標(biāo)。即，在圖23的示例中，左下頂點(diǎn)的坐標(biāo)值被用來標(biāo)識網(wǎng)格。在圖23的示例中，針對包括在X = 28. 5至31. 5且Y = 20. 0至22. 0的范圍中的 網(wǎng)格，判定它們是否具有串?dāng)_區(qū)域。注意，在圖23中，“Y”表示被確定為具有串?dāng)_區(qū)域的網(wǎng) 格，而“N”表示被確定為不具有串?dāng)_區(qū)域的網(wǎng)格。在圖23的示例中，如圖19所示，布線圖案6C的透過實(shí)心圖案移除區(qū)域8A可見的 那一部分是串?dāng)_區(qū)域。因此，作為計(jì)算結(jié)果，獲得了以下面積對于X = 28. 5至29. 0的區(qū)間 是0mm2，對于X = 29. 0至29. 5的區(qū)間是0. 25mm2，對于X = 29. 5至30. 0的區(qū)間是0. 25mm2, 對于X = 30. 0至30. 5的區(qū)間是0. 25mm2，對于X = 30. 5至31. 0的區(qū)間是0. 25mm2，對于X =31. 0至31. 5的區(qū)間是0mm2。圖24以表格形式圖示了提取布線圖案之間的距離的結(jié)果以及圖23的判定結(jié)果。 圖24中布線圖案6之間的距離是指平面圖方式下布線圖案6之間的距離，并且例如是圖19 中所示的布線圖案6B和6C之間的距離。如圖24所示，對于被確定為具有串?dāng)_區(qū)域的網(wǎng)格(“Y”)，賦予標(biāo)志“1”，而對于被 確定為不具有串?dāng)_區(qū)域的網(wǎng)格(“^)，賦予標(biāo)志“0”。該標(biāo)志被劣化程度計(jì)算部分315用 來計(jì)算串?dāng)_強(qiáng)度。劣化程度計(jì)算部分315利用CAD數(shù)據(jù)中包括的電介質(zhì)層的介電常數(shù)(對應(yīng)于圖21 中的“介電常數(shù)”)和厚度方向上布線圖案之間的距離(對應(yīng)于圖21中的“厚度方向上布 線圖案之間的距離(mm)”)來從圖21的表格中選擇每單位面積的噪聲量(“每單位面積噪 聲(mV) ”)，并且還利用CAD數(shù)據(jù)中包括的位置數(shù)據(jù)和圖24中所示的提取對其執(zhí)行計(jì)算的 布線圖案之間的距離的結(jié)果(對應(yīng)于圖22中的“布線圖案之間的距離(mm)”)來從圖22 的表格中選擇校正系數(shù)，并利用下式(5)計(jì)算每單位面積的串?dāng)_強(qiáng)度(串?dāng)_強(qiáng)度)=(每單位面積的噪聲量)X(校正系數(shù))···(5)上述電介質(zhì)層的介電常數(shù)(圖21的表格中所示的“介電常數(shù)”)是指印刷電路板 5中包括的存在于對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案之間的電介質(zhì)層的介電常數(shù)。厚度方向上布線 圖案之間的距離是指厚度方向上對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案之間的距離。厚度方向是垂直于 形成有布線圖案的電介質(zhì)層的表面的方向。在圖18的示例中，電介質(zhì)層的介電常數(shù)是存在 于對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案6B和6C之間的電介質(zhì)層5c和5d的介電常數(shù)。厚度方向上布 線圖案之間的距離是厚度方向上布線圖案6B和6C之間的距離。另外，在從圖22的表格中選擇校正系數(shù)時(shí)，使用例如包括諸如圖5A和5B中所示的數(shù)據(jù)的CAD數(shù)據(jù)的位置數(shù)據(jù)，并且利用該數(shù)據(jù)獲得圖22中所示的“實(shí)心偏離”。利用這樣 獲得的實(shí)心偏離，以及圖24中所示的對其執(zhí)行計(jì)算的布線圖案之間的所提取的距離，從圖 22的表格中提取校正系數(shù)。公式(5)是用于在考慮到第一因素和第二因素的情況下獲得串?dāng)_區(qū)域的每單位 面積的串?dāng)_強(qiáng)度的公式，第一因素與厚度方向上的位置關(guān)系有關(guān)，第二因素與以平面圖方 式獲得的位置關(guān)系有關(guān)。圖21的表格提供了在考慮到第一因素的情況下用于計(jì)算串?dāng)_區(qū) 域的每單位面積的串?dāng)_強(qiáng)度的每單位面積的噪聲。圖22的表格提供了用在公式(5)中的 校正系數(shù)，其用于根據(jù)第二因素校正在考慮到從圖21的表格中獲得的第一因素的情況下 獲得的每單位面積的噪聲，以獲得在考慮到第一因素和第二因素兩者的情況下串?dāng)_區(qū)域的 每單位面積的串?dāng)_強(qiáng)度。這樣利用公式(5)由劣化程度計(jì)算部分315獲得的每單位面積的串?dāng)_強(qiáng)度被從布 線圖案6的起點(diǎn)到終點(diǎn)進(jìn)行積分(以與實(shí)施例1中的特性阻抗相同的方式)，因而對于每個(gè) 布線圖案6計(jì)算了串?dāng)_強(qiáng)度。提取處理部分316判定每個(gè)布線圖案的串?dāng)_強(qiáng)度是否等于或大于預(yù)定強(qiáng)度，并提 取串?dāng)_強(qiáng)度等于或大于預(yù)定強(qiáng)度的布線圖案6以用在實(shí)際測量測試中。之后，以與實(shí)施例1中相同的方式，分級處理部分317對布線圖案6分級，過孔提 取處理部分318提取信號過孔9A和最近的GND過孔9B，并且處理結(jié)果顯示部分319顯示分 級結(jié)果和提取結(jié)果。因而，通過實(shí)施例2中的印刷電路板測試輔助設(shè)備，利用CAD數(shù)據(jù)計(jì)算了串?dāng)_區(qū) 域，并且計(jì)算了串?dāng)_強(qiáng)度。結(jié)果，可以通過選擇傳輸具有高重要性級別的信號等的布線圖案 6，來從大量的布線圖案6中包括的具有高重要性級別的布線圖案中識別具有大串?dāng)_量的 布線圖案6。具有高重要性級別的布線圖案6可以利用布線圖案6的屬性(例如，由布線圖 案6傳輸?shù)男盘柕男盘柮Q)來選擇。因此，可以不針對所有布線圖案6執(zhí)行計(jì)算，因而可 以減少處理量。另外，通過對具有大串?dāng)_強(qiáng)度的布線圖案6提供由絲網(wǎng)印刷形成的標(biāo)記，可以在 制造了印刷電路板5之后選擇性地對具有大串?dāng)_強(qiáng)度的布線圖案6執(zhí)行實(shí)際測量測試。因 此，可以肯定地對具有大串?dāng)_強(qiáng)度的布線圖案6執(zhí)行實(shí)際測量測試，并且可以執(zhí)行輔助以 使得可高效地執(zhí)行實(shí)際測量測試。另外，可以在考慮到非常小的實(shí)心圖案移除區(qū)域(圖案移除區(qū)域)等的情況下計(jì) 算串?dāng)_強(qiáng)度。因此，可以在考慮到非常小的圖案移除區(qū)域等的情況下提取對信號特性具有 很大影響的布線圖案，以用于在制造了使用高速(高數(shù)據(jù)傳輸速率)信號的印刷電路板之 后執(zhí)行的實(shí)際測量測試中。注意，可以將實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備和實(shí)施例2中的印刷電路板 測試輔助設(shè)備組合在一起。即，可以在考慮到特性阻抗劣化和串?dāng)_的影響兩者的情況下提 取要用在實(shí)際測量測試中的布線圖案6。[實(shí)施例3]根據(jù)上述實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備，劣化程度計(jì)算部分215獲得特 性阻抗的特定值。實(shí)施例3中的印刷電路板測試輔助設(shè)備與上述實(shí)施例1中的印刷電路板 測試輔助設(shè)備的不同之處在于劣化程度計(jì)算部分215利用存在于從布線圖案6的起點(diǎn)到
20終點(diǎn)的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積來確定信號特性的劣化程度。即，根據(jù)實(shí)施例3中的印刷 電路板測試輔助設(shè)備，實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積被用作表示特性阻抗劣化程度的值。實(shí) 施例3的其他配置與實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔助設(shè)備相同，并且對相同的部分/組 件賦予相同的標(biāo)號，且省略了其描述。另外，以上用于描述實(shí)施例1中的印刷電路板測試輔 助設(shè)備的功能的圖6也被用于描述實(shí)施例3中的印刷電路板測試輔助設(shè)備的功能。實(shí)施例3中的劣化程度計(jì)算部分215從布線圖案6的起點(diǎn)到終點(diǎn)對由面積計(jì)算部 分214計(jì)算的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積進(jìn)行積分，并因而獲得從布線圖案6的起點(diǎn)到終 點(diǎn)、存在于對其計(jì)算特性阻抗劣化程度的寬度方向上的范圍內(nèi)的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面 積。實(shí)施例3中的劣化程度計(jì)算部分215并不使用用在上述公式(2)中的圖8所示的“增 大系數(shù)”，并且公式(2)中的“該區(qū)間的實(shí)心圖案移除區(qū)域(mm2)”被從布線圖案6的起點(diǎn)到 終點(diǎn)進(jìn)行積分，并且利用從這樣對面積積分而獲得的值(下文中稱為積分面積值，或者實(shí) 心圖案移除區(qū)域的面積值)來確定特性阻抗劣化程度。實(shí)施例3中的提取處理部分216從劣化程度計(jì)算部分215已對其獲得了實(shí)心圖案 移除區(qū)域8的面積的多個(gè)布線圖案6中提取積分面積值等于或大于標(biāo)準(zhǔn)值的布線圖案。實(shí)施例3中的分級處理部分217根據(jù)這樣獲得的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積值對 布線圖案6分級，并創(chuàng)建數(shù)據(jù)，在該數(shù)據(jù)中根據(jù)實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積值按降序?qū)Σ季€ 圖案6分類。圖25A和25B圖示了由實(shí)施例3中的印刷電路板測試輔助設(shè)備獲得的分級結(jié)果和 提取結(jié)果。圖25A和25B中的分級結(jié)果和提取結(jié)果圖示了由分級處理部分217提供的分級 結(jié)果和由過孔提取處理部分218提供的提取結(jié)果。圖25A圖示了來自第一至第五等級的No. 10、15、25、64和52的布線圖案6的分級 結(jié)果，以及分別連接到布線圖案No. 10、15、25、64和52的信號過孔9A的提取結(jié)果。注意， 在圖25A的示例中，對實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積的判定標(biāo)準(zhǔn)被確定為2. 5mm2,并且在這種 情況下，實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積等于或大于判定標(biāo)準(zhǔn)的布線圖案是No. 10、15和25的 三個(gè)布線圖案6。圖25B圖示了與No. 10、15和25的三個(gè)布線圖案最近的GND過孔9B的提取結(jié)果。管理部分220將指示出圖25A和25B中所示的分級結(jié)果和提取結(jié)果的數(shù)據(jù)存儲在 HDD 24 中。這樣存儲在HDD 24中的分級結(jié)果可以用于向印刷電路板5提供通過絲網(wǎng)印刷形 成的標(biāo)記。從而，以與實(shí)施例1相同的方式，可以在制造了印刷電路板5之后執(zhí)行實(shí)際測量 測試時(shí)很容易選擇具有大的特性阻抗劣化程度的布線圖案6。因而，通過實(shí)施例3中的印刷電路板測試輔助設(shè)備，以與實(shí)施例1相同的方式，利 用CAD數(shù)據(jù)計(jì)算了實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積，并且基于實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積計(jì)算 了特性阻抗劣化程度。結(jié)果，可以通過選擇傳輸具有高重要性級別的信號等的布線圖案6， 來從大量的布線圖案6中包括的具有高重要性級別的布線圖案中識別具有大的信號特性 劣化程度的布線圖案6。具有高重要性級別的布線圖案6可以利用布線圖案6的屬性(例 如，信號名稱)來選擇。因此，可以不針對所有布線圖案6執(zhí)行計(jì)算，因而可以減少處理量。 另外，可以在考慮到非常小的實(shí)心圖案移除區(qū)域(圖案移除區(qū)域)等的情況下計(jì)算特性阻 抗劣化程度。因此，可以在考慮到非常小的圖案移除區(qū)域等的情況下提取對信號特性具有很大影響的布線圖案，以用在制造了印刷電路板之后執(zhí)行的實(shí)際測量測試中。另外，通過對具有大特性阻抗劣化程度的布線圖案6提供由絲網(wǎng)印刷形成的標(biāo) 記，可以在制造了印刷電路板5之后選擇性地對具有大特性阻抗劣化程度的布線圖案6執(zhí) 行實(shí)際測量測試。因此，可以肯定地對具有大特性阻抗劣化程度的布線圖案6執(zhí)行實(shí)際測 量測試，并且可以執(zhí)行輔助以使得可高效地執(zhí)行實(shí)際測量測試。注意，在實(shí)施例3中，與在實(shí)施例1中計(jì)算特性阻抗的偏移不同，獲得的是引起信 號特性的劣化的實(shí)心圖案移除區(qū)域的面積，從而提取要用在實(shí)際測量測試中的布線圖案。然而，這樣利用引起信號特性的劣化的區(qū)域面積來提取用于實(shí)際測量測試的布線 圖案的情況也可以應(yīng)用于實(shí)施例2。在應(yīng)用于實(shí)施例2的情況下，可以基于串?dāng)_區(qū)域的面積 的計(jì)算結(jié)果來提取要用于實(shí)際測量測試的布線圖案。因而，通過實(shí)施例3中的印刷電路板測試輔助設(shè)備，以與實(shí)施例1和2相同的方 式，利用CAD數(shù)據(jù)計(jì)算了引起信號特性的劣化的實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積或者串?dāng)_區(qū)域 的面積，并且基于實(shí)心圖案移除區(qū)域8的面積或者串?dāng)_區(qū)域的面積計(jì)算了信號特性的劣化 程度。結(jié)果，可以通過選擇傳輸具有高重要性級別的信號等的布線圖案6，來從大量布線圖 案6中包括的具有高重要性級別的布線圖案中識別具有大的信號特性劣化程度的布線圖 案6。具有高重要性級別的布線圖案6可以利用布線圖案6的屬性(例如，信號名稱)來選 擇。因此，可以不針對所有布線圖案6執(zhí)行計(jì)算，因而可以減少處理量。另外，可以在考慮 到非常小的實(shí)心圖案移除區(qū)域(圖案移除區(qū)域)等的情況下計(jì)算信號特性的劣化程度。因 此，可以在考慮到非常小的圖案移除區(qū)域等的情況下提取對信號特性具有很大影響的布線 圖案，以用在制造了印刷電路板之后執(zhí)行的實(shí)際測量測試中。另外，通過對具有大信號特性劣化程度的布線圖案6提供由絲網(wǎng)印刷形成的標(biāo) 記，可以在制造了印刷電路板5之后選擇性地對具有大信號特性劣化程度的布線圖案6執(zhí) 行實(shí)際測量測試。因此，可以肯定地對具有大信號特性劣化程度的布線圖案6執(zhí)行實(shí)際測 量測試，并且可以執(zhí)行輔助以使得可高效地執(zhí)行實(shí)際測量測試。因而，在本發(fā)明的實(shí)施例中，可以提供一種印刷電路板測試輔助設(shè)備、印刷電路板 測試輔助方法和計(jì)算機(jī)可讀信息記錄介質(zhì)，其用于高效地輔助將在制造了高密度安裝印刷 電路板之后執(zhí)行的實(shí)際測量測試。這里記載的所有示例和條件語言都用于教育目的，以幫助閱讀者理解本發(fā)明和發(fā) 明人對現(xiàn)有技術(shù)作出貢獻(xiàn)的概念，并且應(yīng)當(dāng)被解釋為不局限于這里具體記載的示例和條 件，并且說明書中這些示例的組織也并不涉及本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)或缺點(diǎn)的表示。盡管已詳細(xì)描 述了本發(fā)明的實(shí)施例，但是應(yīng)當(dāng)理解，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可進(jìn)行各種 改變、替換和變更。
權(quán)利要求
一種印刷電路板測試輔助設(shè)備，其輔助形成在印刷電路板上的布線圖案的測試，所述印刷電路板測試輔助設(shè)備包括第一數(shù)據(jù)庫，該第一數(shù)據(jù)庫以使得指示出所述布線圖案的屬性和位置的屬性信息和位置信息與所述布線圖案相關(guān)聯(lián)的方式，存儲所述屬性信息和所述位置信息；第二數(shù)據(jù)庫，該第二數(shù)據(jù)庫存儲位置信息和尺寸信息，該位置信息和尺寸信息指示出存在于設(shè)在所述印刷電路板中的實(shí)心圖案中的圖案移除區(qū)域的位置和尺寸；第三數(shù)據(jù)庫，該第三數(shù)據(jù)庫存儲劣化程度信息，該劣化程度信息指示出相對于所述布線圖案和所述圖案移除區(qū)域之間的位置關(guān)系以及所述圖案移除區(qū)域的尺寸的、所述布線圖案中的信號特性的劣化程度；輸入部分，該輸入部分被輸入布線圖案的屬性信息；劣化程度處理部分，該劣化程度處理部分基于與輸入到所述輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的所述布線圖案的位置信息、所述圖案移除區(qū)域的位置信息和尺寸信息、以及所述劣化程度信息，來獲得與輸入到所述輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的所述布線圖案中的信號特性的劣化程度；以及提取處理部分，該提取處理部分從劣化程度已被所述劣化程度處理部分獲得了的布線圖案中提取劣化程度等于或大于預(yù)定程度的布線圖案以用于實(shí)際測量測試。
2.如權(quán)利要求1所述的印刷電路板測試輔助設(shè)備，還包括第四數(shù)據(jù)庫，該第四數(shù)據(jù)庫存儲指示出連接到所述布線圖案的信號過孔在所述印刷電 路板的正面?zhèn)然蚍疵鎮(zhèn)壬系奈恢玫奈恢眯畔?；以及過孔提取部分，該過孔提取部分從所述第四數(shù)據(jù)庫中提取連接到由所述提取處理部分 提取的布線圖案的信號過孔的位置信息。
3.如權(quán)利要求1所述的印刷電路板測試輔助設(shè)備，其中所述劣化程度處理部分利用所述圖案移除區(qū)域的面積數(shù)據(jù)作為所述圖案移除區(qū)域的 尺寸信息來獲得所述布線圖案中的信號特性的劣化程度。
4.如權(quán)利要求3所述的印刷電路板測試輔助設(shè)備，其中所述劣化程度處理部分以平面圖方式利用相對于所述布線圖案位于寬度方向上的預(yù) 定范圍內(nèi)的圖案移除區(qū)域的面積數(shù)據(jù)來獲得所述布線圖案中的信號特性的劣化程度。
5.如權(quán)利要求3所述的印刷電路板測試輔助設(shè)備，其中所述劣化程度處理部分以預(yù)定面積單位劃分所述圖案移除區(qū)域，并且針對所述圖案移 除區(qū)域的每一預(yù)定面積單位獲得所述布線圖案中的信號特性的劣化程度。
6.如權(quán)利要求5所述的印刷電路板測試輔助設(shè)備，其中所述預(yù)定單位面積由側(cè)邊限定，該側(cè)邊是基于通過所述布線圖案傳輸?shù)男盘柕南陆禃r(shí) 間或上升時(shí)間以及所述布線圖案中信號的傳播速度確定的。
7.如權(quán)利要求1所述的印刷電路板測試輔助設(shè)備，還包括分級處理部分，該分級處理部分根據(jù)信號特性的劣化程度對所述布線圖案分級。
8.如權(quán)利要求1所述的印刷電路板測試輔助設(shè)備，其中所述布線圖案中的信號特性的劣化程度包括由所述布線圖案的特性阻抗的改變或者 所述布線圖案中發(fā)生的串?dāng)_引起的信號特性的劣化程度。
9.一種印刷電路板測試輔助方法，用于利用計(jì)算機(jī)輔助形成在印刷電路板上的布線圖案的測試，所述印刷電路板測試輔助方法包括使用第一數(shù)據(jù)庫、第二數(shù)據(jù)庫和第三數(shù)據(jù)庫，所述第一數(shù)據(jù)庫以使得指示出所述布線 圖案的屬性和位置的屬性信息和位置信息與所述布線圖案相關(guān)聯(lián)的方式，存儲所述屬性信 息和所述位置信息，所述第二數(shù)據(jù)庫存儲位置信息和尺寸信息，該位置信息和尺寸信息指 示出存在于設(shè)在所述印刷電路板中的實(shí)心圖案中的圖案移除區(qū)域的位置和尺寸，所述第三 數(shù)據(jù)庫存儲劣化程度信息，該劣化程度信息指示出相對于所述布線圖案和所述圖案移除區(qū) 域之間的位置關(guān)系以及所述圖案移除區(qū)域的尺寸的、所述布線圖案中的信號特性的劣化程 度；基于與輸入到輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的所述布線圖案的位置信息、所述圖案移除 區(qū)域的位置信息和尺寸信息、以及所述劣化程度信息，來獲得與輸入到所述輸入部分的屬 性信息相對應(yīng)的所述布線圖案中的信號特性的劣化程度；以及從劣化程度已被通過獲得步驟獲得了的布線圖案中提取劣化程度等于或大于預(yù)定程 度的布線圖案以用于實(shí)際測量測試。
10. 一種實(shí)現(xiàn)印刷電路板測試輔助程序的計(jì)算機(jī)可讀信息記錄介質(zhì)，所述印刷電路板 測試輔助程序在被計(jì)算機(jī)處理器執(zhí)行時(shí)執(zhí)行印刷電路板測試輔助方法，所述印刷電路板測 試輔助方法包括使用第一數(shù)據(jù)庫、第二數(shù)據(jù)庫和第三數(shù)據(jù)庫，所述第一數(shù)據(jù)庫以使得指示出所述布線 圖案的屬性和位置的屬性信息和位置信息與所述布線圖案相關(guān)聯(lián)的方式，存儲所述屬性信 息和所述位置信息，所述第二數(shù)據(jù)庫存儲位置信息和尺寸信息，該位置信息和尺寸信息指 示出存在于設(shè)在所述印刷電路板中的實(shí)心圖案中的圖案移除區(qū)域的位置和尺寸，所述第三 數(shù)據(jù)庫存儲劣化程度信息，該劣化程度信息指示出相對于所述布線圖案和所述圖案移除區(qū) 域之間的位置關(guān)系以及所述圖案移除區(qū)域的尺寸的、所述布線圖案中的信號特性的劣化程 度；基于與輸入到輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的所述布線圖案的位置信息、所述圖案移除 區(qū)域的位置信息和尺寸信息、以及所述劣化程度信息，來獲得與輸入到所述輸入部分的屬 性信息相對應(yīng)的所述布線圖案中的信號特性的劣化程度；以及從劣化程度已被通過獲得步驟獲得了的布線圖案中提取劣化程度等于或大于預(yù)定程 度的布線圖案以用于實(shí)際測量測試。
全文摘要
本發(fā)明公開了印刷電路板測試輔助設(shè)備和印刷電路板測試輔助方法。該印刷電路板測試輔助設(shè)備包括輸入部分，被輸入布線圖案的屬性信息；劣化程度處理部分，基于與輸入到輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的布線圖案的位置信息、圖案移除區(qū)域的位置信息和尺寸信息以及劣化程度信息，獲得與輸入到輸入部分的屬性信息相對應(yīng)的布線圖案的信號特性的劣化程度；以及提取處理部分，從劣化程度已被劣化程度處理部分獲得了劣化程度的布線圖案中提取劣化程度等于或大于預(yù)定程度的布線圖案以用于實(shí)際測量測試。
文檔編號G01R31/28GK101963651SQ20101023559
公開日2011年2月2日 申請日期2010年7月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月22日
發(fā)明者鍔本大太 申請人:富士通株式會社