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      鉆石身份特征鑒定方法及系統(tǒng)裝置的制作方法

      文檔序號(hào):5876154閱讀:166來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:鉆石身份特征鑒定方法及系統(tǒng)裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及珠寶領(lǐng)域的鉆石特征分析與身份鑒定,包括一種用空間頻譜來(lái)作為鉆石形態(tài)指紋特征分析的鑒定方法,以及基于該方法的鉆石特征分析鑒定系統(tǒng)裝置。
      背景技術(shù)
      鉆石以其稀少、珍貴、堅(jiān)硬的特質(zhì)以及源遠(yuǎn)流長(zhǎng)的鉆石文化,被譽(yù)為“寶石之王”。 目前國(guó)際國(guó)內(nèi)鉆石行業(yè)走私猖獗,假冒偽劣產(chǎn)品很多,鉆石盜竊案件也頻頻發(fā)生,如何有效打擊遏制這些違法犯罪,是一個(gè)迫切需要解決的問(wèn)題。目前,國(guó)內(nèi)外對(duì)鉆石進(jìn)行分析鑒定的技術(shù)研究分為三個(gè)層次。第一個(gè)層次相對(duì)比較簡(jiǎn)單,包括鉆石的觀察反射光和生長(zhǎng)點(diǎn)、硬度檢驗(yàn)、進(jìn)行導(dǎo)熱性試驗(yàn),以及進(jìn)行化學(xué)成分測(cè)驗(yàn)等,是最早使用的分析方法。第二個(gè)層次是相對(duì)比較可靠的鉆石鑒定識(shí)別技術(shù),包括測(cè)量特征光譜、折射率、雙折射特性等,今天還在廣泛采用這些方法。第三個(gè)層次是比較先進(jìn)的鉆石分析鑒定技術(shù),包括陰極發(fā)光技術(shù)、X射線衍射技術(shù)、拉曼光譜技術(shù)、中子活化分析技術(shù)等,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)鉆石物質(zhì)成份的精確鑒定,相關(guān)測(cè)量?jī)x器也比較昂貴。上面介紹的這些鉆石鑒定技術(shù)重點(diǎn)在分析鉆石的物質(zhì)特性,而對(duì)鉆石幾何結(jié)構(gòu)特征的分析非常少,可以這樣說(shuō),在幾十萬(wàn)顆五彩斑斕的鉆石中很難找出2顆鉆石的空間幾何結(jié)構(gòu)特征是完全一樣的。因此,鉆石空間幾何結(jié)構(gòu)特征可以作為鉆石身份鑒定的重要依據(jù)之一。目前國(guó)內(nèi)外對(duì)鉆石表面幾何外型結(jié)構(gòu)特征指紋的分析研究非常少。平行激光束垂直照射在鉆石臺(tái)面上,表面反射光的空間頻率譜與其表面幾何特征一一對(duì)應(yīng),具有良好的特異性與空間不變性。將鉆石的空間頻譜圖與其它信息(如擁有者、 產(chǎn)地、出產(chǎn)年份、重量等)一起,錄入專門(mén)的數(shù)據(jù)庫(kù),就可以作為鉆石身份特征信息。當(dāng)需要對(duì)鉆石身份進(jìn)行確認(rèn)時(shí),只要用檢測(cè)儀器獲得鉆石的空間特征頻譜,然后與數(shù)據(jù)庫(kù)中記錄的鉆石身份特征信息進(jìn)行對(duì)比,就可以對(duì)鉆石的身份進(jìn)行鑒定。因此,利用鉆石空間幾何結(jié)構(gòu)特征頻譜信息可以加強(qiáng)對(duì)鉆石進(jìn)出口的管理,有效打擊鉆石走私的不法行為。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明提供了一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析方法, 以及基于該方法的鉆石身份特征指紋檢測(cè)分析鑒定系統(tǒng)裝置。本發(fā)明的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析方法采用平行光束照明鉆石臺(tái)面,通過(guò)一個(gè)透鏡對(duì)鉆石切割面的反射光進(jìn)行光學(xué)傅立葉變換,在透鏡的后焦面得到鉆石切割面反射光的空間頻譜,然后通過(guò)一個(gè)CCD成像系統(tǒng)收集鉆石切割面反射光的空間頻譜強(qiáng)度信號(hào)圖像輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行存儲(chǔ)管理,最后由計(jì)算機(jī)進(jìn)行空間頻譜強(qiáng)度圖像比較,實(shí)現(xiàn)鉆石身份特征指紋檢測(cè)分析鑒定。為了實(shí)現(xiàn)鉆石身份特征指紋的空間頻譜分析鑒定,本發(fā)明構(gòu)建了一種鉆石身份特征指紋空間頻譜檢測(cè)分析系統(tǒng)裝置,包括光源照明系統(tǒng)、空間頻譜生成系統(tǒng)、空間頻譜圖像采集系統(tǒng)、分析鑒定軟件系統(tǒng)等四個(gè)部分;所述空間頻譜生成系統(tǒng)至少包括有一光源和一使所述光源變成平行光的透鏡;所述空間頻譜生成系統(tǒng)至少包括一透鏡或由多個(gè)透鏡聯(lián)合組成的透鏡組和一接收屏,接收屏位于透鏡或透鏡組的后焦平面上,鉆石表面的反射光經(jīng)透鏡或透鏡組會(huì)聚在接收屏上,形成空間頻譜圖像;所述空間頻譜圖像采集系統(tǒng)至少包括一 CCD探測(cè)器和一計(jì)算機(jī);所述分析鑒定軟件系統(tǒng)具有圖像存儲(chǔ)處理、圖像分析比較、數(shù)據(jù)庫(kù)信息管理等功能。在所述光源照明系統(tǒng)和所述空間頻譜生成系統(tǒng)中,可以共用一個(gè)透鏡或一個(gè)由多個(gè)透鏡聯(lián)合組成的透鏡組或鏡頭,實(shí)現(xiàn)將光源準(zhǔn)直成平行光,并將鉆石切割面不同方向的反射光會(huì)聚在接收屏上,形成空間頻譜圖像。在光源照明系統(tǒng)、空間頻譜生成系統(tǒng)、空間頻譜圖像采集系統(tǒng)之間,可以采用同軸光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和非同軸光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)兩種布局形式。本發(fā)明介紹的系統(tǒng)裝置實(shí)施示例包括 2種同軸光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)裝置結(jié)構(gòu)方案和1種非同軸光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)裝置結(jié)構(gòu)方案。本發(fā)明介紹的同軸光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)具有空間頻譜平移不變性和旋轉(zhuǎn)不變性,可以獲得良好的鉆石切割面反射光空間頻譜圖像,空間頻譜圖像不會(huì)出現(xiàn)畸變,有利于鉆石身份特征指紋檢測(cè)分析鑒定。非同軸或不完全同軸的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)獲得的鉆石切割面反射光空間頻譜圖像會(huì)出現(xiàn)一定的畸變,尤其是在邊緣高頻區(qū)域畸變較大,不利于鉆石身份特征指紋檢測(cè)分析鑒定。本發(fā)明介紹的非同軸光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)裝置結(jié)構(gòu)方案采用一種反射鏡增大視場(chǎng)角的方法來(lái)減少這種非同軸光學(xué)系統(tǒng)引起的邊緣畸變,并通過(guò)軟件校正進(jìn)一步降低邊緣畸變的影響,提高鉆石身份特征指紋檢測(cè)分析鑒定的準(zhǔn)確性。


      圖1為本發(fā)明設(shè)計(jì)的第一種同軸光學(xué)系統(tǒng)裝置結(jié)構(gòu)實(shí)施方法示意2為本發(fā)明設(shè)計(jì)的第二種同軸光學(xué)系統(tǒng)裝置結(jié)構(gòu)實(shí)施方法示意3為本發(fā)明設(shè)計(jì)的一種非同軸光學(xué)系統(tǒng)裝置結(jié)構(gòu)實(shí)施方法示意4為用本發(fā)明系統(tǒng)裝置獲得的代表鉆石身份特征的空間頻譜圖像示例
      具體實(shí)施例方式基于本發(fā)明提出的光學(xué)傅立葉變換鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法,本發(fā)明設(shè)計(jì)構(gòu)建了鉆石身份特征指紋空間頻譜檢測(cè)分析鑒定系統(tǒng)裝置,包括光源照明系統(tǒng)、 空間頻譜生成系統(tǒng)、空間頻譜圖像采集系統(tǒng)、分析鑒定軟件系統(tǒng)等四個(gè)部分。本發(fā)明提供了三種鉆石身份特征指紋空間頻譜檢測(cè)分析鑒定系統(tǒng)裝置結(jié)構(gòu)實(shí)施方案,具體如下方案一是一種分束鏡分光的同軸鉆石身份特征空間頻譜檢測(cè)分析鑒定系統(tǒng)裝置結(jié)構(gòu),如圖ι所示,小孔光闌14和接收屏17均置于透鏡12的后焦平面。光源13 (激光, LED,或其它單色、準(zhǔn)單色和多波長(zhǎng)復(fù)合光源)發(fā)出的光波經(jīng)過(guò)聚光鏡15會(huì)聚在小孔光闌14 上成為點(diǎn)光源,點(diǎn)光源發(fā)出的光透過(guò)分束鏡16后被透鏡12準(zhǔn)直成平行光,垂直鉆石11臺(tái)面正入射照明,從鉆石各切割面反射回來(lái)的光束被透鏡12聚集,經(jīng)過(guò)分束鏡16反射,在接收屏17上形成空間頻譜圖像。CXD探測(cè)器19通過(guò)一成像透鏡18對(duì)接收屏17上的空間頻譜圖進(jìn)行成像,并將圖像輸入計(jì)算機(jī)10。其中,光源照明系統(tǒng)由光源13、聚光鏡15、小孔光闌14和透鏡12組成,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)直照明光路功能;空間頻譜生成系統(tǒng)由透鏡12、分束鏡16和接收屏17組成,實(shí)現(xiàn)光學(xué)傅立葉變換功能;空間頻譜圖像采集系統(tǒng)由CCD探測(cè)器19和成像透鏡18組成,實(shí)現(xiàn)C⑶成像數(shù)字化圖像處理功能;分析鑒定軟件系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)10和安裝在計(jì)算機(jī)10上的分析應(yīng)用軟件,實(shí)現(xiàn)鉆石身份特征空間頻譜圖像存儲(chǔ)、圖像分析比較、數(shù)據(jù)庫(kù)信息管理、鉆石身份特征分析鑒定等功能。該方案的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)系統(tǒng)光路完全同軸, CCD采集到的鉆石切割面反射光空間頻譜圖像不會(huì)產(chǎn)生畸變。由于分束鏡存在一定的反射透射分光比,因此接收屏上的空間頻譜圖像信號(hào)會(huì)有所下降,本發(fā)明通過(guò)提高光源的強(qiáng)度來(lái)提高接收屏上的空間頻譜圖像信號(hào)。方案二是一種反射式分光的同軸鉆石身份特征空間頻譜檢測(cè)分析鑒定系統(tǒng)裝置結(jié)構(gòu),如圖2所示,小孔光闌沈和接收屏27均置于透鏡22的后焦平面。光源24 (激光, LED,或其它單色、準(zhǔn)單色和多波長(zhǎng)復(fù)合光源)發(fā)出的光波經(jīng)過(guò)聚光鏡25會(huì)聚在小孔光闌沈上成為點(diǎn)光源,點(diǎn)光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)反射鏡23后被透鏡22準(zhǔn)直成平行光,垂直鉆石21臺(tái)面正入射照明,從鉆石各切割面反射回來(lái)的光束被透鏡22聚集,透過(guò)反射鏡23,在接收屏 27上形成空間頻譜圖。CXD探測(cè)器四通過(guò)一成像透鏡觀對(duì)接收屏27上的空間頻譜圖進(jìn)行成像,并將圖像輸入計(jì)算機(jī)20。其中,光源照明系統(tǒng)由光源M、聚光鏡25、小孔光闌26、反射鏡23和透鏡22組成,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)直照明光路功能;空間頻譜生成系統(tǒng)由透鏡22和接收屏27 組成,實(shí)現(xiàn)光學(xué)傅立葉變換功能;空間頻譜圖像采集系統(tǒng)由CXD探測(cè)器四和成像透鏡觀組成,實(shí)現(xiàn)CCD成像數(shù)字化圖像處理功能;分析鑒定軟件系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)20和安裝在計(jì)算機(jī) 20上的分析應(yīng)用軟件,實(shí)現(xiàn)鉆石身份特征空間頻譜圖像存儲(chǔ)、圖像分析比較、數(shù)據(jù)庫(kù)信息管理、鉆石身份特征分析鑒定等功能。該方案的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)系統(tǒng)光路完全同軸,CCD采集到的鉆石切割面反射光空間頻譜圖像不會(huì)產(chǎn)生畸變,空間頻譜圖像直接從反射鏡23周?chē)渡湓诮邮掌?7上,空間頻譜圖像信號(hào)強(qiáng)度無(wú)損失。由于反射鏡23存在一定的大小,零級(jí)和低級(jí)空間頻譜圖像信號(hào)被遮擋,無(wú)法達(dá)到接收屏27上,部分空間頻譜信息有所損失。本發(fā)明通過(guò)優(yōu)化系統(tǒng)結(jié)構(gòu),盡可能縮小反射鏡23的結(jié)構(gòu)尺寸,使之僅僅遮擋鉆石切割面反射光的零級(jí)頻譜信號(hào),保證鉆石身份特征空間頻譜檢測(cè)分析鑒定的準(zhǔn)確性。方案三是一種非同軸鉆石身份特征空間頻譜檢測(cè)分析鑒定系統(tǒng)裝置結(jié)構(gòu),如圖3 所示,小孔光闌34和接收屏33均置于透鏡32的后焦平面。光源35 (激光,LED,或其它單色、準(zhǔn)單色和多波長(zhǎng)復(fù)合光源)發(fā)出的光波經(jīng)過(guò)小孔光闌34過(guò)濾成為點(diǎn)光源,點(diǎn)光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)透鏡32準(zhǔn)直成平行光,垂直鉆石31臺(tái)面正入射照明,從鉆石各切割面反射回來(lái)的光束被透鏡32聚集,投射在接收屏33上形成空間頻譜圖。CXD探測(cè)器38通過(guò)一成像透鏡 37和反射鏡36對(duì)接收屏33上的空間頻譜圖進(jìn)行成像,并將圖像輸入計(jì)算機(jī)30。其中,光源照明系統(tǒng)由光源35、小孔光闌34和透鏡32組成,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)直照明光路功能;空間頻譜生成系統(tǒng)由透鏡32和接收屏33組成,實(shí)現(xiàn)光學(xué)傅立葉變換功能;空間頻譜圖像采集系統(tǒng)由CXD探測(cè)器38、成像透鏡37和反射鏡36組成,實(shí)現(xiàn)CXD成像數(shù)字化圖像處理功能;分析鑒定軟件系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)30和安裝在計(jì)算機(jī)30上的分析應(yīng)用軟件,實(shí)現(xiàn)鉆石身份特征空間頻譜圖像存儲(chǔ)、圖像畸變校正、圖像分析比較、數(shù)據(jù)庫(kù)信息管理、鉆石身份特征分析鑒定等功能。該方案的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)系統(tǒng)沒(méi)有分光與遮擋,空間頻譜圖像直接投射在接收屏上,沒(méi)有信號(hào)強(qiáng)度和頻率成分的損失。但是,由于是一種非同軸光路結(jié)構(gòu),CCD采集到的鉆石切割面反射光空間頻譜圖像會(huì)產(chǎn)生一定的變形或畸變,尤其是邊緣高頻成分的畸變更明顯。本發(fā)明采用反射鏡36來(lái)改變和擴(kuò)大視場(chǎng)角,可以有效減少邊緣高頻成分的畸變,同時(shí)通過(guò)軟件對(duì)邊緣高頻成分的畸變進(jìn)行一定的校正,來(lái)保證鉆石身份特征空間頻譜檢測(cè)分析鑒定的準(zhǔn)確性。在方案一、方案二和方案三中,透鏡和聚光鏡可以是一個(gè)平凸透鏡或一個(gè)凹凸透鏡或一個(gè)凸透鏡或非球面鏡等,也可以是由多個(gè)透鏡片組合的透鏡組或鏡頭;反射鏡可以是平面反射鏡或凹面反射鏡;當(dāng)光源出光束很小(< =Imm)或是等效點(diǎn)光源時(shí),如激光或光纖光源,小孔光闌、聚光鏡等均可以省略不用;CCD探測(cè)器也可以是CMOS探測(cè)器或其他陣列光電轉(zhuǎn)換器件;聚光鏡還可以是凹面反射鏡;分束鏡也可以是分光鏡或棱鏡或二向色鏡等。方案二中反射鏡23也可以用一個(gè)分束鏡(類似圖1中分束鏡16)來(lái)替代,實(shí)現(xiàn)分束鏡反射光路照明,分束鏡透射光路生成空間頻譜圖像,分束鏡大小不限,可以是幾個(gè)毫米(空間頻譜生成光路部分分束)也可以到幾百毫米(空間頻譜生成光路全部分束)。本發(fā)明系統(tǒng)裝置獲得的代表鉆石身份特征的空間頻譜圖像示例如圖4所示,圖中亮點(diǎn)數(shù)量與鉆石切割面數(shù)量相等,亮度位置與切割面結(jié)構(gòu)特征一一對(duì)應(yīng),可以作為鉆石身份特征的指紋信息。本發(fā)明可以達(dá)到以下性能指標(biāo)1、系統(tǒng)檢測(cè)適應(yīng)鉆石等效直徑大小范圍為0. Imm 50mm。2、系統(tǒng)檢測(cè)空間頻譜范圍為0 1MHz。
      權(quán)利要求
      1.一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置, 其特征在于所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法采用照明光路、光學(xué)傅立葉變換光路與CCD成像光路完全同軸的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),平行光束正入射照明鉆石臺(tái)面,通過(guò)一個(gè)透鏡對(duì)鉆石切割面的反射光進(jìn)行光學(xué)傅立葉變換,在透鏡的后焦面得到鉆石各切割面反射光的空間頻譜,然后通過(guò)一個(gè)CCD成像光路收集鉆石切割面反射光的空間頻譜圖像,輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像存儲(chǔ)管理、圖像識(shí)別與鉆石身份特征分析鑒定;所述的系統(tǒng)裝置包括光源照明系統(tǒng)、空間頻譜生成系統(tǒng)、空間頻譜圖像采集系統(tǒng)、分析鑒定軟件系統(tǒng)等四個(gè)部分;所述的系統(tǒng)裝置中光源照明系統(tǒng)、空間頻譜生成系統(tǒng)、 空間頻譜圖像采集系統(tǒng)在光路結(jié)構(gòu)上是同軸的。
      2.如權(quán)利要求1所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于所述光源照明系統(tǒng)至少包括有一光源和一使所述光源變成平行光的透鏡。
      3.如權(quán)利要求1所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于所述空間頻譜生成系統(tǒng)至少包括一透鏡或由多個(gè)透鏡聯(lián)合組成的透鏡組和一接收屏,接收屏位于透鏡或透鏡組的后焦平面上,鉆石切割面的反射光經(jīng)透鏡或透鏡組會(huì)聚在接收屏上,形成空間頻譜圖。
      4.如權(quán)利要求1所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于所述空間頻譜圖像采集系統(tǒng)至少包括一 CCD探測(cè)器或 CMOS探測(cè)器、一成像透鏡或鏡頭。
      5.如權(quán)利要求1所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于所述分析鑒定軟件系統(tǒng)包括一計(jì)算機(jī)和分析應(yīng)用軟件, 實(shí)現(xiàn)圖像存儲(chǔ)處理、圖像分析比較、數(shù)據(jù)庫(kù)信息管理、鉆石身份特征分析鑒定等功能。
      6.如權(quán)利要求1,權(quán)利要求2和權(quán)利要求3所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于在所述光源照明系統(tǒng)和所述空間頻譜生成系統(tǒng)中,可以共用一個(gè)透鏡或一個(gè)由多個(gè)透鏡聯(lián)合組成的透鏡組或鏡頭,實(shí)現(xiàn)將光源準(zhǔn)直成平行光,并將鉆石切割面不同方向的反射光會(huì)聚在接收屏上,形成空間頻譜圖像。
      7.如權(quán)利要求1和權(quán)利要求2所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于在所述光源照明系統(tǒng)中,可以采用凹面反射鏡或透鏡聚光在一個(gè)小孔光闌上,獲得等效點(diǎn)光源,提高鉆石照明光束的平行準(zhǔn)直特性。
      8.一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置, 其特征在于所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法采用照明光路、傅立葉變換光路與CCD成像光路不完全同軸的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),平行光束正入射照明鉆石臺(tái)面,通過(guò)一個(gè)透鏡對(duì)鉆石切割面的反射光進(jìn)行光學(xué)傅立葉變換,在透鏡的后焦面得到鉆石各切割面反射光的空間頻譜,然后通過(guò)一個(gè)不同軸的CCD成像光路收集鉆石切割面反射光的空間頻譜圖像,輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像存儲(chǔ)處理、圖像畸變校正、圖像識(shí)別與鉆石身份特征分析鑒定。
      9.如權(quán)利要求8所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于所述的系統(tǒng)裝置包括光源照明系統(tǒng)、空間頻譜生成系統(tǒng)、空間頻譜圖像采集系統(tǒng)、分析鑒定軟件系統(tǒng)等四個(gè)部分,在所述的系統(tǒng)裝置中空間頻譜圖像采集系統(tǒng)在光路結(jié)構(gòu)上與光源照明系統(tǒng)和空間頻譜生成系統(tǒng)是不同軸的。
      10.如權(quán)利要求8和權(quán)利要求9所述的一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法與系統(tǒng)裝置,其特征在于所述的空間頻譜圖像采集系統(tǒng)通過(guò)一個(gè)反射鏡來(lái)改變擴(kuò)大圖像采集成像光路的視場(chǎng)角,減少邊緣高頻成分的畸變,提高鉆石身份特征頻譜分析鑒定的準(zhǔn)確性。
      全文摘要
      本發(fā)明提供了一種基于光學(xué)傅立葉變換的鉆石身份特征指紋空間頻譜分析鑒定方法,以及基于該方法的鉆石身份特征檢測(cè)分析鑒定系統(tǒng)裝置。采用平行光束照明鉆石臺(tái)面,通過(guò)一個(gè)透鏡對(duì)鉆石切割面的反射光進(jìn)行光學(xué)傅立葉變換,在透鏡的后焦面得到鉆石切割面的空間頻譜信息,然后通過(guò)一個(gè)CCD成像系統(tǒng)收集鉆石切割面的空間頻譜信號(hào)圖像輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行存儲(chǔ)管理,并與計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)的鉆石空間頻譜信號(hào)圖像進(jìn)行比較,實(shí)現(xiàn)對(duì)鉆石身份特征的檢測(cè)分析鑒定。利用本發(fā)明對(duì)鉆石身份特征信息進(jìn)行存儲(chǔ)管理可以有效打擊鉆石走私盜竊行為,加強(qiáng)對(duì)海關(guān)鉆石進(jìn)出口的管理。
      文檔編號(hào)G01N21/87GK102374992SQ201010247739
      公開(kāi)日2012年3月14日 申請(qǐng)日期2010年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月9日
      發(fā)明者張耀拓 申請(qǐng)人:張耀拓
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