專利名稱：一種阻抗測試件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及印刷電路板技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種阻抗測試件。
背景技術(shù)：
印刷電路板是指印制有電路圖的絕緣板。印制電路板的設(shè)計是以電路原理圖為根 據(jù)，實現(xiàn)電路設(shè)計者所需要的功能。印刷電路板的設(shè)計主要指版圖設(shè)計，需要考慮外部連接 的布局、內(nèi)部電子元件的優(yōu)化布局、金屬連線和通孔的優(yōu)化布局、電磁保護、熱耗散等各種因素。目前，絲網(wǎng)印刷已經(jīng)成為制造電路板的主要方法。所謂絲網(wǎng)印刷是通過刮板的擠 壓，使油墨通過圖文部分的網(wǎng)孔轉(zhuǎn)移到承載物。其采用自動絲網(wǎng)印刷機生產(chǎn)，具有工作效率 高、絲印質(zhì)量可靠的優(yōu)點。印刷電路板制作完成后，需要經(jīng)過測試儀測試印刷電路板是否符合用戶的要求。 若果對印刷電路板直接測試，會造成操作過程中對印刷電路板的損壞。因此，為了保證印刷 電路板不受損壞，同時又能夠測試印刷電路板是否符合用戶的要求，需要制作與印刷電路 板的電路布局相同的阻抗測試件，來代替印刷電路板，使用測試儀對該阻抗測試件進行測 試，即可解決上述問題。印刷電路板的阻抗有特性阻抗和差分阻抗兩種，但是現(xiàn)有的阻抗測試件只具有一 種阻抗，測試儀測試阻抗測試件時，只能測試一種阻抗，因此，若要完成對印刷電路板的特 性阻抗和差分阻抗的測試，需要分別制作兩塊與需要測試的印刷電路板的特性阻抗和差分 阻抗相對應(yīng)的阻抗測試件，即一塊阻抗測試件具有特性阻抗，另一塊阻抗測試件具有差分 阻抗。使用測試儀分別對兩塊阻抗測試件測試，即可完成與其相對應(yīng)的印刷電路板的特性 阻抗和差分阻抗的測試，進而判斷印刷電路板是否符合用戶的要求。綜上所述，由于現(xiàn)有的阻抗測試件只具有一種阻抗，因此，測試印刷電路板的阻抗 時，需要設(shè)計兩塊測試件才能完成測試印刷電路板的特性阻抗和差分阻抗，材料使用量增 大，增加制作成本。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種阻抗測試件，以實現(xiàn)在同一塊測試件上完 成對印刷電路板的特性阻抗和差分阻抗的測試，節(jié)約材料，降低制作成本。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的一種阻抗測試件的技術(shù)方案如下一種阻抗測試件，所述測試件劃分有特性阻抗線區(qū)和差分阻抗線區(qū)，所述特性阻 抗線區(qū)和所述差分阻抗線區(qū)分別設(shè)置有至少一組測試孔。優(yōu)選地，所述測試件的邊緣處設(shè)置有兩個定位孔。優(yōu)選地，所述特性阻抗線區(qū)和所述差分阻抗線區(qū)設(shè)置的測試孔的組數(shù)最多為10組。優(yōu)選地，所述測試孔盤的形狀為圓形和方形。
優(yōu)選地，所述測試孔的直徑為1. 0mm。優(yōu)選地，所述定位孔的直徑為3. 2mm。優(yōu)選地，所述測試件的長度為235mm，寬度為16mm。優(yōu)選地，所述兩個定位孔之間的距離為228mm。優(yōu)選地，所述特性阻抗線區(qū)和所述差分阻抗線區(qū)分別標記有層次、阻抗大小和公 差代號標識。優(yōu)選地，所述特性阻抗線區(qū)設(shè)置有替換孔。應(yīng)用上述技術(shù)方案，阻抗測試件劃分有特性阻抗線區(qū)和差分阻抗線區(qū)，可以使用 阻抗測試儀在上述兩個區(qū)內(nèi)相應(yīng)的完成對特性阻抗和差分阻抗的測試。與現(xiàn)有技術(shù)需要采 用兩個測試件完成測試的方案相比，節(jié)約材料，降低制作成本。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例，下面將對實施例中所需要使用的附圖做簡單的 介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人 員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明實施例提供的阻抗測試件的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實施例提供的阻抗測試件的另一種結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖2中C方框的放大圖。
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部實施例。基于本 發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下，所獲得的所有其他 實施例，都屬于本發(fā)明保護范圍。為了測試印刷電路板是否符合用戶的要求，同時又能夠保證印刷電路板不受損 壞，需要制作與印刷電路板的電路布局相同的阻抗測試件來代替印刷電路板，使用測試儀 對該阻抗測試件進行測試。申請人:經(jīng)研究發(fā)現(xiàn)，印刷電路板的阻抗有特性阻抗和差分阻抗兩種，但是現(xiàn)有的 阻抗測試板測試件只具有一種阻抗，測試儀測試阻抗測試件時，只能測試一種阻抗，即只能 測試印刷電路板的特性阻抗或者差分阻抗，因此，要完成對印刷電路板的阻抗測試需要設(shè) 計兩個阻抗測試件，每個阻抗測試件具有的阻抗與印刷電路板的一種阻抗相對應(yīng)，導(dǎo)致材 料使用量大，增加制作成本。為了解決上述問題，本發(fā)明實施例提供了一種阻抗測試件，該阻抗測試件與需要 進行測試的印刷電路板的規(guī)格相同，其結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示，其劃分為特性阻抗線區(qū)1 和差分阻抗線區(qū)2，如圖1中所示測試件的以圖中所畫虛線為界限，虛線上部分為特性阻抗 線區(qū)1，下部分為差分阻抗線區(qū)2。特性阻抗線區(qū)1具有特性阻抗，該特性阻抗與印刷電路 板的特性阻抗相對應(yīng)，特性阻抗線區(qū)1上設(shè)置有至少一組測試孔3，即兩個測試孔3，如圖1 中虛線框A所示。同樣，差分阻抗線區(qū)2具有與印刷電路板的相對應(yīng)的差分阻抗，其上也設(shè) 置有至少一組測試孔3，即四個測試孔3，如圖1中虛線框B所示。
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使用TDR(Time Domain Reflectometer，時域反射計)2000阻抗測試儀測試本發(fā)明 實施例提供的阻抗測試件時，需要將測試探頭插入測試孔3中。為了保證測試探針插入正 確，對測試孔3采用不同形狀進行標記，如圖1中虛線框A所示。測試孔3的形狀為圓形和 方形，圓形測試孔3為連接孔，而方形測試孔3為接地孔，。當(dāng)然，測試孔3還可以采用不同 的形狀來區(qū)分連接孔和接地孔，也可以將上述的形狀置換，即圓形測試孔3為接地孔，而方 形測試孔3為連接孔，對此本實施例不再加以闡述。TDR2000阻抗測試儀測試阻抗測試件時，將該阻抗測試件的正面朝上，放置在 TDR2000阻抗測試儀上，由于阻抗測試件中測試孔3的位置與測試儀測試儀上的測試探針 的位置相對應(yīng)，所以當(dāng)阻抗測試板放置在TDR2000測試儀上時，測試探頭即可插入與之相 對應(yīng)的測試孔3，即測試特性阻抗時，將測試探頭插入如圖1中虛線框A所示的測試孔3中， 并且要保證測試探頭插入連接孔和接地孔正確。同樣，測試差分阻抗時，將測試探頭插入如 圖1中虛線框B所示的測試孔3中，也要保證測試探頭插入連接孔和接地孔正確。利用本 阻抗測試儀測試特性阻抗和測試差分阻抗兩者可同時進行。為了將阻抗測試件固定在TDR2000阻抗測試儀上，阻抗測試件的邊緣處設(shè)置有兩 個定位孔4，如圖1所示。在測試印刷電路板時，將定位孔4套上TDR2000阻抗測試儀的定 位銷上，用定位銷來定位測試件。上述為TDR阻抗測試儀自動測試阻抗測試件，當(dāng)然還可以采用人工的方式，即操 作人員將測試探針逐一與測試孔3連接，以完成測試。圖1所示的阻抗測試件的特性阻抗線區(qū)和差分阻抗線區(qū)設(shè)置的測試孔的組數(shù)最 多分別為10組，即可以分別測試出10組特性阻抗值和10組差分阻抗值。測試孔3的直徑為1. 0mm，該直徑是根據(jù)測試探針的直徑設(shè)置的，因此，若測試探 針直徑改變，則需要改變測試孔3的直徑。如圖1所示，位于同一行的兩個相鄰測試孔的間 距為2. 4mm。定位孔4的直徑為3. 2mm，是由定位銷的直徑確定的。該阻抗測試件的長度為235mm，寬度為16mm。之所以長度設(shè)為235mm是因為按要 求特性阻抗線的最小測試長度不小于60mm，差分阻抗的最小測試長度不小于55mm，為盡量 節(jié)約材料而又可以保證測試效果，所以長度采用235mm。而寬度的設(shè)置是根據(jù)測試阻抗線的 組數(shù)來設(shè)置的，10組特性阻抗線和10組差分阻抗線最小寬度為16mm。根據(jù)測試件的長度、 特性阻抗線的最小測試長度和差分阻抗的最小測試長度，確定兩個定位孔4之間的距離， 本發(fā)明實施例中兩個定位孔4的距離為228mm。特性阻抗值和差分阻抗值各分為多個層次，為了區(qū)分測得的阻抗值為哪個層次， 特性阻抗線區(qū)1和差分阻抗線區(qū)2分別標記有層次、阻抗大小和公差代號標識5，如圖2所 示。圖2為本發(fā)明實施例提供的阻抗測試件的另一種結(jié)構(gòu)示意圖。圖2中其他的構(gòu)造與圖 1相同。圖3為圖2中C方框的放大圖，以更好的說明層次、阻抗大小和公差代號標識5的 用途。標識5共7位數(shù)字，其中前兩位表示層次號，中間四位代表有一位小數(shù)的阻抗值，單 位是歐姆，最后一位字母是公差代號，例如圖3中的010500A表示第一層阻抗線，其阻抗值 為50.0Ω，公差代號為Α。其公差可自行規(guī)定，例如，公差代號A =+/-10% ;Β =+/-15%; C = +/"5% ；T =特殊公差，表示非代號Α、B、C表示的常用公差，需要查詢工程制作指示來 獲取。當(dāng)印刷電路板上所標記的第一層阻抗線的阻抗值在公差代號A的范圍內(nèi)，則表示該
5印刷電路板的第一層阻抗線的阻抗值符合用戶的需求。采用標識6進行標識，避免操作人 員在測試多個阻抗值時混淆所測試的阻抗值，例如將所測試的第二層阻抗線的阻抗值誤 認為是第三層阻抗線的阻抗值。特性阻抗線區(qū)1從左向右第一列的四個孔為替換孔6，作為接地孔使用。由于人 工測試每層特性阻抗時，每次都需要將測試探頭重新連接一個連接孔和一個接地孔，為了 避免每測試一個特性阻抗時，都需要將測試探頭重新連接接地孔，因此，使用替換孔6來替 換接地孔，即方形測試孔3，所以測試每個層次的特性阻抗時，只需要將測試探頭與連接孔 重新連接即可，從而簡化操作。而差分阻抗線區(qū)2再測試差分阻抗時，需要同時連接兩個接 地孔，因此在差分阻抗線區(qū)未設(shè)置有替換孔6。應(yīng)用上述技術(shù)方案，阻抗測試件劃分有特性阻抗線區(qū)和差分阻抗線區(qū)，可以使用 阻抗測試儀在上述兩個區(qū)內(nèi)相應(yīng)的完成對特性阻抗和差分阻抗的測試。與現(xiàn)有技術(shù)需要采 用兩個測試件完成測試的方案相比，節(jié)約材料，降低制作成本。對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。 對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的 一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明 將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一 致的最寬的范圍。
權(quán)利要求
一種阻抗測試件，其特征在于，所述測試件劃分有特性阻抗線區(qū)和差分阻抗線區(qū)，所述特性阻抗線區(qū)和所述差分阻抗線區(qū)分別設(shè)置有至少一組測試孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗測試件，其特征在于，所述測試件的邊緣處設(shè)置有兩個 定位孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的阻抗測試件，其特征在于，所述特性阻抗線區(qū)和所述差分 阻抗線區(qū)設(shè)置的測試孔的組數(shù)最多為10組。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的阻抗測試件，其特征在于，所述測試孔盤的形狀為圓形和方形。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的阻抗測試件，其特征在于，所述測試孔的直徑為1.Omm0
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的阻抗測試件，其特征在于，所述定位孔的直徑為3.2mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的阻抗測試件，其特征在于，所述測試件的長度為235mm，寬度 為 16mm0
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的阻抗測試件，其特征在于，所述兩個定位孔之間的距離為 228mm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的阻抗測試件，其特征在于，所述特性阻抗線區(qū)和所述差分 阻抗線區(qū)分別標記有層次、阻抗大小和公差代號標識。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的阻抗測試件，其特征在于，所述特性阻抗線區(qū)設(shè)置有替換孔。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種阻抗測試件，所述測試件劃分有特性阻抗線區(qū)和差分阻抗線區(qū)，所述特性阻抗線區(qū)和所述差分阻抗線區(qū)分別設(shè)置有至少一組測試孔。應(yīng)用上述技術(shù)方案，阻抗測試件劃分有特性阻抗線區(qū)和差分阻抗線區(qū)，可以使用阻抗測試儀在上述兩個區(qū)內(nèi)相應(yīng)的完成對特性阻抗和差分阻抗的測試。與現(xiàn)有技術(shù)需要采用兩個測試件完成測試的方案相比，節(jié)約材料，降低制作成本。
文檔編號G01R27/02GK101949978SQ20101026599
公開日2011年1月19日 申請日期2010年8月26日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月26日
發(fā)明者劉田, 王琢 申請人:深南電路有限公司