專利名稱：芯片的usb功能的測試方法、測試主機(jī)和測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)，特別是涉及芯片的USB功能的測試方法、測試主機(jī)和測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
芯片的BIST (Built-in Self Test，內(nèi)建自測)技術(shù)，是芯片設(shè)計(jì)時(shí)在電路中植入相關(guān)功能的自我測試電路，以此降低器件測試對ATE(自動(dòng)測試設(shè)備，Auto Test Equipment)的依賴程度。因此，具有USB (Universal Serial Bus，通用串行總線)接口的芯片，其USB功能一般都是由自測電路完成的，在ATE測試整個(gè)芯片時(shí)，一般不對芯片中具有自測電路的USB功能進(jìn)行驗(yàn)證，而是由其自測電路完成測試。芯片在ATE上進(jìn)行量產(chǎn)測試時(shí)，在USB phy(USB接口網(wǎng)卡)內(nèi)建自測通過后，USB 應(yīng)該是都能正常使用的，但事實(shí)上有些例外情況，USB phy內(nèi)建自測通過后，USB設(shè)備仍不能被識別。因此，為了更好更準(zhǔn)確的測試芯片的USB功能，需要開發(fā)一個(gè)能夠準(zhǔn)確測試USB設(shè)備的測試系統(tǒng)，確保USB設(shè)備能夠使用。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種芯片的USB功能的測試方法、測試主機(jī)和測試系統(tǒng)，本發(fā)明使待測芯片不再需要具有USB phy自建測試模塊，能減少芯片設(shè)計(jì)者的工作和負(fù)擔(dān)，并能更好更準(zhǔn)確的測試芯片的USB功能。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，一方面，提供了一種芯片的USB功能的測試方法，包括如下步驟步驟一，通過測試主機(jī)上的GPIO引腳獲取測試開始信號以及被測芯片所連接的所述測試主機(jī)上的USB測試端口的端口號，并啟動(dòng)所述測試主機(jī)上的測試功能模塊；步驟二，所述測試主機(jī)打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端□；步驟三，所述測試功能模塊通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；步驟四，獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的USB端口的電流信息；步驟五，所述測試功能模塊根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。優(yōu)選地，上述的方法中，還包括步驟六，所述測試功能模塊通過所述GPIO引腳獲取測試結(jié)束信號，通過串口將所述測試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦，清除所述測試結(jié)果和所述測試結(jié)束信號，關(guān)閉所述繼電器，等待下一次測試。優(yōu)選地，上述的方法中，在所述步驟三之前，還包括所述測試功能模塊通過枚舉的方式，通過所述USB測試端口連接所述被測芯片。
優(yōu)選地，上述的方法中，所述測試開始信號來自于自動(dòng)測試設(shè)備，所述被測芯片為所述自動(dòng)測試設(shè)備所測試的芯片。優(yōu)選地，上述的方法中，所述測試開始信號來自于手動(dòng)輸入，所述被測芯片為具有 USB端口的設(shè)備。本發(fā)明還提供了一種芯片的USB功能的測試主機(jī)，包括USB測試端口，用于連接被測芯片；繼電器，用于開啟或關(guān)閉所述USB測試端口 ；GPIO引腳，用于獲取測試開始信號以及所述被測芯片所連接的所述USB測試端口的端口號；測試功能模塊，用于打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端口，通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的USB端口的電流信息；根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。優(yōu)選地，上述的測試主機(jī)中，還包括串口，用于將所述測試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦。優(yōu)選地，上述的測試主機(jī)中，所述測試功能模塊還用于通過枚舉測試的方式，通過所述USB測試端口連接所述被測芯片。優(yōu)選地，上述的測試主機(jī)中，所述測試主機(jī)包括OTG功能的子板和嵌入式系統(tǒng)裝置；所述USB測試端口、所述繼電器，所述GPIO引腳和所述串口位于所述OTG功能的子板；所述測試功能模塊位于所述嵌入式系統(tǒng)裝置。本發(fā)明還提供一種芯片的USB功能的測試系統(tǒng)，包括自動(dòng)測試設(shè)備、被測芯片和測試主機(jī)；所述測試主機(jī)包括USB測試端口，用于連接所述被測芯片；繼電器，用于開啟或關(guān)閉所述USB測試端口 ；GPIO引腳，用于連接所述自動(dòng)測試設(shè)備，獲取測試開始信號以及所述被測芯片所連接的所述USB測試端口的端口號；測試功能模塊，用于打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端口，通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的USB端口的電流信息；根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。本發(fā)明至少存在以下技術(shù)效果1)本發(fā)明通過測試主機(jī)來完成待測芯片的USB功能測試，待測芯片不再需要具有 USB phy自建測試模塊，減少芯片設(shè)計(jì)者的工作和負(fù)擔(dān)，并且，測試主機(jī)獨(dú)立于ATE，ATE無需增加測試USB的功能。2)本發(fā)明方法方便調(diào)試，可以跟蹤芯片的測試狀態(tài)，知道芯片測試過程中每一步的狀態(tài)；本發(fā)明方法測試者容易查看錯(cuò)誤信息，通過PC打印，方便查看測試狀態(tài)和測試結(jié)果，提高測試效率。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的方法的步驟流程圖；圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的在ATE環(huán)境下的測試執(zhí)行過程的流程圖；圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的測試主機(jī)的結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對具體實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的方法的步驟流程圖，如圖所示，芯片的USB功能的測試方法，包括如下步驟步驟101，通過測試主機(jī)上的GPIO(General-Purpose IO ports，通用輸入輸出端口 )引腳獲取測試開始信號以及被測芯片所連接的所述測試主機(jī)上的USB測試端口的端口號，并啟動(dòng)所述測試主機(jī)上的測試功能模塊；步驟102，所述測試主機(jī)打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試
端□；步驟103，所述測試功能模塊通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；步驟104，獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的USB端口的電流信息；步驟105，所述測試功能模塊根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果?？梢?，本發(fā)明方法通過測試主機(jī)來完成待測芯片的USB功能測試，待測芯片不再需要具有USB phy自建測試模塊，減少芯片設(shè)計(jì)者的工作和負(fù)擔(dān)，并且，測試主機(jī)獨(dú)立于 ATE, ATE無需增加測試USB的功能。其中，在所述步驟103之前，還可以包括所述測試功能模塊通過枚舉的方式，通過所述USB測試端口連接所述被測芯片。在所述步驟105之后，還可以包括所述測試功能模塊通過所述GPIO引腳獲取測試結(jié)束信號，通過串口將所述測試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦，清除所述測試結(jié)果和所述測試結(jié)束信號，關(guān)閉所述繼電器，等待下一次測試。圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖，如圖2所示，本發(fā)明測試系統(tǒng)由測試主機(jī)201，個(gè)人電腦(PC) 202組成，測試主機(jī)201可以通過ATE203上的具有USB端口的待測芯片，也可以直接測試具有USB端口的設(shè)備204。本發(fā)明系統(tǒng)以測試主機(jī)201為中心， 通過和其他設(shè)備交互，來測試芯片的USB suspend(中斷)電流。測試時(shí)，測試主機(jī)201的 USB host應(yīng)用程序可以通過串口和PC交互，打印出一些系統(tǒng)的狀態(tài)信息，方便查看測試的狀況。在量產(chǎn)測試時(shí)，測試主機(jī)201與ATE203連接，所述測試開始信號來自于ATE，USB host應(yīng)用程序和ATE交互，測試待測芯片在USB suspend狀態(tài)下的電流。在調(diào)試測試時(shí)，測試主機(jī)201與具有USB端口的設(shè)備204連接，所述測試開始信號來自于手動(dòng)輸入，可以通過手動(dòng)給出一些信號，使USB host應(yīng)用程序的測試完成。圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的在ATE環(huán)境下的測試執(zhí)行過程的流程圖，如圖3所示， 包括
步驟301，ATE給出GPIO 口測試信號，測試主機(jī)的應(yīng)用程序檢測GPIO 口狀態(tài)，即檢測ATE給出的具體測試信號和USB測試端口，確定GPIO 口狀態(tài)是否要進(jìn)入中斷(suspend) 狀態(tài)，并得出具體哪個(gè)USB測試端口要進(jìn)入中斷狀態(tài)；步驟302，每個(gè)USB測試端口對應(yīng)一組繼電器，開始枚舉測試之前要把對應(yīng)的繼電器打開，以選擇對應(yīng)的USB測試端口。步驟303，應(yīng)用程序枚舉具有USB端口的待測芯片；步驟304，判斷枚舉是否成功，是則進(jìn)入步驟305，否則進(jìn)入到步驟308 ；步驟305，應(yīng)用程序使待測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；步驟306，應(yīng)用程序給出GPIO 口測試結(jié)果信號，然后給出測試結(jié)束信號，ATE得知是否進(jìn)入中斷狀態(tài)；步驟307，ATE測量電流，并告訴測試主機(jī)應(yīng)用程序測試結(jié)束。步驟308，應(yīng)用程序通過串口從PC機(jī)打印出測試結(jié)果信號和測試結(jié)束信號信息， 若測試失敗，可打印出失敗的具體信息，讓測試者明確失敗的原因，方便測試者下一步的調(diào)試工作。步驟309，應(yīng)用程序清除測試結(jié)果信號和測試結(jié)束信號；并關(guān)閉繼電器，等待下一次測試。圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的測試主機(jī)的結(jié)構(gòu)圖，如圖4所示，芯片的USB功能的測試主機(jī)400，包括USB測試端口 411，用于連接被測芯片；繼電器412，用于開啟或關(guān)閉所述USB測試端口 ；GPIO引腳413，用于獲取測試開始信號以及所述被測芯片所連接的所述USB測試端口的端口號；測試功能模塊421，用于打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端口，通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的USB端口的電流信息；根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。其中還可以包括串口 414，用于將所述測試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦。所述測試功能模塊421還用于通過枚舉測試的方式，通過所述USB測試端口連接所述被測芯片。此外，所述測試主機(jī)400包括OTG (On The Go)功能的子板410和嵌入式系統(tǒng)裝置 420 ；所述USB測試端口 411、所述繼電器412，所述GPIO引腳413和所述串口 414位于所述 OTG功能的子板410 ；所述測試功能模塊421位于所述嵌入式系統(tǒng)裝置420。其中嵌入式系統(tǒng)裝置420可以由S3C44B0X(—款基于ARM7TDMI內(nèi)核技術(shù)的16/32 位RISC處理器)，Sdram(同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲器)，Norf Iash (非易失閃存)，Nandflash (# 易失閃存)組成。其中Norflash用來存儲bootloader (引導(dǎo)程序)；Nandflash用來存儲應(yīng)用程序；Sdram為應(yīng)用程序空間。OTG功能的子板410，提供Jtag(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動(dòng)小組) 接口，串行接口，一些GPIO引腳，一組繼電器和USB測試接口。jtag接口方便程序調(diào)試；串行接口用于和pc主機(jī)通訊；GPIO引腳提供測試開始結(jié)束信號和測試狀態(tài)信號；繼電器用于控制USB接口的通斷。
如圖2所示，本發(fā)明提供的芯片的USB功能的測試系統(tǒng)，除了包括測試主機(jī)201和個(gè)人電腦202外，還包括ATE 203或具有USB端口的設(shè)備204，其中ATE 203，為測試芯片的裝置?？梢院蜏y試主機(jī)201連接，用于測試芯片過程中交
互fe息。具有USB端口的設(shè)備204，該設(shè)備是帶有測試芯片的子板，子板可以連接傳感器， 用于捕獲圖象；子板提供USB接口，可以和測試主機(jī)201連接來測試芯片。個(gè)人電腦(PC) 202，其串行接口用于接受測試主機(jī)201的一些信息，方便測試者查看芯片測試的狀態(tài)。利用該系統(tǒng)的芯片測試的宏觀步驟如下第一步，將應(yīng)用程序通過嵌入式開發(fā)系統(tǒng)中的bootloader放到Nandflash中。第二步，應(yīng)用程序啟動(dòng)和初始化。PC通過串口的一些接收工具如超級終端等接收信息，打出命令行提示符；初始化測試主機(jī)201中OTG子板上的GPIO端口 ；進(jìn)入測試過程。第三步，應(yīng)用程序執(zhí)行(該步驟具體流程見圖4)。由上可知，本發(fā)明實(shí)施例具有以下優(yōu)勢1)本發(fā)明通過測試主機(jī)來完成待測芯片的USB功能測試，待測芯片不再需要具有 USB phy自建測試模塊，減少芯片設(shè)計(jì)者的工作和負(fù)擔(dān)，并且，測試主機(jī)獨(dú)立于ATE，ATE無需增加測試USB的功能。2)本發(fā)明方法方便調(diào)試，可以跟蹤芯片的測試狀態(tài)，知道芯片測試過程中每一步的狀態(tài)；本發(fā)明方法測試者容易查看錯(cuò)誤信息，通過PC打印，方便查看測試狀態(tài)和測試結(jié)果，提高測試效率。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種芯片的USB功能的測試方法，其特征在于，包括如下步驟步驟一，通過測試主機(jī)上的GPIO引腳獲取測試開始信號以及被測芯片所連接的所述測試主機(jī)上的USB測試端口的端口號，并啟動(dòng)所述測試主機(jī)上的測試功能模塊；步驟二，所述測試主機(jī)打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端口 ； 步驟三，所述測試功能模塊通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)； 步驟四，獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的USB端口的電流信息； 步驟五，所述測試功能模塊根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括步驟六，所述測試功能模塊通過所述GPIO引腳獲取測試結(jié)束信號，通過串口將所述測試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦，清除所述測試結(jié)果和所述測試結(jié)束信號，關(guān)閉所述繼電器，等待下一次測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，在所述步驟三之前，還包括所述測試功能模塊通過枚舉的方式，通過所述USB測試端口連接所述被測芯片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的測試方法，其特征在于，所述測試開始信號來自于自動(dòng)測試設(shè)備，所述被測芯片為所述自動(dòng)測試設(shè)備所測試的芯片。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的測試方法，其特征在于，所述測試開始信號來自于手動(dòng)輸入，所述被測芯片為具有USB端口的設(shè)備。
6.一種芯片的USB功能的測試主機(jī)，其特征在于，包括 USB測試端口，用于連接被測芯片；繼電器，用于開啟或關(guān)閉所述USB測試端口 ；GPIO引腳，用于獲取測試開始信號以及所述被測芯片所連接的所述USB測試端口的端口號；測試功能模塊，用于打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端口，通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的 USB端口的電流信息；根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試主機(jī)，其特征在于，還包括 串口，用于將所述測試結(jié)果發(fā)送給個(gè)人電腦。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試主機(jī)，其特征在于，所述測試功能模塊還用于通過枚舉測試的方式，通過所述USB測試端口連接所述被測芯片。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試主機(jī)，其特征在于，所述測試主機(jī)包括OTG功能的子板和嵌入式系統(tǒng)裝置；所述USB測試端口、所述繼電器，所述GPIO引腳和所述串口位于所述OTG功能的子板； 所述測試功能模塊位于所述嵌入式系統(tǒng)裝置。
10.一種芯片的USB功能的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括自動(dòng)測試設(shè)備、被測芯片和測試主機(jī)；所述測試主機(jī)包括USB測試端口，用于連接所述被測芯片；繼電器，用于開啟或關(guān)閉所述USB測試端口 ；GPIO引腳，用于連接所述自動(dòng)測試設(shè)備，獲取測試開始信號以及所述被測芯片所連接的所述USB測試端口的端口號；測試功能模塊，用于打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端口，通過所述USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的 USB端口的電流信息；根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明提供一種芯片的USB功能的測試方法、測試主機(jī)和測試系統(tǒng)，測試方法包括步驟一，通過測試主機(jī)上的GPIO引腳獲取測試開始信號以及被測芯片所連接的所述測試主機(jī)上的USB測試端口的端口號，并啟動(dòng)測試主機(jī)上的測試功能模塊；步驟二，測試主機(jī)打開與所述端口號對應(yīng)的繼電器，從而接通所述USB測試端口；步驟三，測試功能模塊通過USB測試端口使所述被測芯片進(jìn)入中斷狀態(tài)；步驟四，獲取在中斷狀態(tài)下所述被測芯片的USB端口的電流信息；步驟五，測試功能模塊根據(jù)所述電流信息生成測試結(jié)果。本發(fā)明使待測芯片不再需要具有USB phy自建測試模塊，能減少芯片設(shè)計(jì)者的工作和負(fù)擔(dān)，并能更好更準(zhǔn)確的測試芯片的USB功能。
文檔編號G01R31/3183GK102401879SQ201010288229
公開日2012年4月4日 申請日期2010年9月19日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月19日
發(fā)明者朱立英, 艾國 申請人:北京中星微電子有限公司