專利名稱：粒子分析儀的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種通過對粒子圖像進行圖像解析以獲取粒子大小和形狀的相關信 息的粒子分析儀。
背景技術：
人們已經(jīng)知道以前有一種粒子分析儀將粒子懸濁液流入鞘流池，拍攝在該鞘流池 流動的粒子懸濁液中的粒子，解析所攝粒子圖像，并顯示解析結果(參照特開平8-136439 號和特開平10-318904號)。特開平8-136439號上記述的粒子分析儀根據(jù)表示粒子特征的 二個參數(shù)(等效圓直徑和圓形度)顯示二維散點圖。特開平10-318904號上記述的粒子分 析儀根據(jù)表示粒子特征的三個參數(shù)(等效圓直徑、圓形度和縱橫比)顯示三維散點圖。等 效圓直徑是關于粒度的參數(shù)，圓形度和縱橫比是關于粒子形狀的參數(shù)。
在粒子分析當中，通過比較關于粒度的三個以上參數(shù)往往能得到有用的信息。比 如當比較關于粒度的二個參數(shù)判斷二個粒子大小基本相同時，在此基礎上再加上關于粒度 的第三個參數(shù)，則有可能發(fā)現(xiàn)二個粒子的大小和形狀有顯著差別。因此，要更確切地進行粒 子分析，最好能夠就粒度比較三個以上參數(shù)。這一點在粒子形狀的參數(shù)上也同樣。
然而，特開平8-136439號和特開平10-318904號關于粒度或粒子形狀都沒有比較 三個以上參數(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的范圍只由后附權利要求書所規(guī)定，在任何程度上都不受這一節(jié)
發(fā)明內(nèi)容
的陳述所限。
本發(fā)明的粒子分析儀包括以下形態(tài)
(1) 一種粒子分析儀，包括
流動池，能讓含有作為拍攝目標的多個粒子的試樣流過；
成像器件，用于拍攝通過所述流動池的所述試樣中的粒子；
圖像處理部件，根據(jù)所述成像器件拍攝的粒子圖像獲取關于粒度的第一參數(shù)的第 一特征值、關于粒度的第二參數(shù)的第二特征值和關于粒度的第三參數(shù)的第三特征值；
控制部件，用于生成并輸出同時顯示所述第一至第三特征值的界面。
本形態(tài)涉及的粒子分析儀在同一界面上顯示關于粒度的三個參數(shù)的特征值，因 此，可以就所攝粒子獲得有用的信息。
(2)上述⑴所述粒子分析儀，其中
所述第一參數(shù)是等效圓直徑，所述第二參數(shù)是長軸徑，所述第三參數(shù)是短軸徑。
以此結構，除容易掌握粒子的大小外，還容易掌握粒子外形。
(3) 一種粒子分析儀，包括
流動池，能讓含有作為拍攝目標的多個粒子的試樣流過；
成像器件，用于拍攝通過所述流動池的所述試樣中的粒子；
圖像處理部件，根據(jù)所述成像器件拍攝的粒子圖像獲取關于粒子形狀的第一參數(shù) 的第一特征值、關于粒子形狀的第二參數(shù)的第二特征值和關于粒子形狀的第三參數(shù)的第三 特征值；
控制部件，用于生成并輸出同時顯示所述第一至第三特征值的界面。
本形態(tài)涉及的粒子分析儀在同一界面上顯示關于粒子形狀的三個參數(shù)的特征值， 因此，可以就所攝粒子獲得有用的信息。
(4)上述(3)所述粒子分析儀，其中
所述第一參數(shù)是圓形度，所述第二參數(shù)是縱橫比，所述第三參數(shù)是包絡度。
(5)上述(1)到(4)其中任意一項所述粒子分析儀，其特征在于
所述界面包含雷達圖表、折線圖、或直線圖。
以此結構，更易于直觀地掌握粒子的特征。
(6)上述⑴到(4)其中任意一項所述粒子分析儀，其中
所述成像器件拍攝多個粒子，獲得多個粒子圖像，
所述圖像處理部件根據(jù)所得的多個粒子圖像獲取所述第一至第三特征值。
以此結構，可以根據(jù)從多個粒子圖像獲得的特征值，以數(shù)據(jù)形式掌握試樣的特征。
(7)上述(6)所述粒子分析儀，其中
所述圖像處理部件就所述多個粒子圖像分別獲取所述第一至第三參數(shù)的特征值， 并分別求出獲取的所述第一至第三參數(shù)的特征值的平均值，將其作為所述第一至第三特征 值。
(8)上述⑴到(4)其中任意一項所述粒子分析儀，其中
所述成像器件拍攝多個粒子，獲得多個粒子圖像，
所述圖像處理部件根據(jù)所得各個粒子圖像獲取所述第一至第三特征值。
以此結構，可以比較各個粒子的特征值。
(9)上述⑶所述粒子分析儀，其中
所述控制部件針對從顯示有所述多個粒子的一覽表中選擇的所述粒子，輸出所述界面。
以此結構，可以有比較性地顯示操作者所指定的粒子的特征。
(10)上述⑴到(4)其中任意一項所述粒子分析儀，其中
所述界面同時顯示就第一試樣獲取的第一至第三特征值和就第二試樣獲取的第 一至第三特征值。
以此結構可以同時比較二個試樣的特征。
(11)上述⑴到(4)其中任意一項所述粒子分析儀，其中
所述控制部件還有一個輸入接受部件，所述輸入接受部件用于接受輸入以設定所述第一至第三參數(shù)。
以此結構，可以根據(jù)要比較的參數(shù)顯示比較界面。
圖1為實施方式涉及的粒子分析儀的結構圖2為實施方式涉及的信息處理裝置顯示器上顯示的記錄一覽表界面的例示圖；4
圖3為實施方式涉及的信息處理裝置顯示器上顯示的解析結果界面的例示圖4為實施方式涉及的信息處理裝置顯示器上顯示的解析結果界面的例示圖5為實施方式涉及的信息處理裝置顯示器上顯示的顯示參數(shù)設定界面的例示 圖6A為實施方式涉及的試樣名和參數(shù)值的顯示圖6B為實施方式涉及的試樣名和參數(shù)值的顯示圖6C為實施方式涉及的試樣名和參數(shù)值的顯示圖7A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖7B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖8A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖8B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖9A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖9B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖9C為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖IOA為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖IOB為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖IOC為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖IlA為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖IlB為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖IlC為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖IlD為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖12為實施方式涉及的信息處理裝置顯示器上顯示的粒子圖像一覽界面的例示 圖13為實施方式涉及的信息處理裝置顯示器上顯示的個別粒子顯示界面的例示 圖14A為實施方式涉及的粒子名和參數(shù)值的顯示圖14B為實施方式涉及的粒子名和參數(shù)值的顯示圖15A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖15B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖15C為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖16A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖16B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖16C為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖17A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖17B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖17C為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖18A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖18B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖18C為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖19A為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖19B為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖19C為實施方式涉及的雷達圖表的例示圖20為實施方式涉及的信息處理裝置的結構圖21A為實施方式涉及的粒子圖像處理的流程圖21B為實施方式涉及的解析結果1的顯示處理的流程圖22A為實施方式涉及的解析結果2的顯示處理的流程圖22B為實施方式涉及的個別粒子的解析顯示處理的流程圖23A為實施方式涉及的雷達圖表的變更例顯示圖2 為實施方式涉及的雷達圖表的變更例顯示圖。
具體實施例方式
本發(fā)明的效果及意義通過以下所示實施方式的說明將會更加明晰。但是，以下所 示實施方式歸根到底只是將本發(fā)明具體實施時的一例，本發(fā)明絕不受以下實施方式的任何 限制。
下面參照附圖，就本實施方式涉及的粒子分析儀進行說明。
圖1為本實施方式涉及的粒子分析儀的結構圖。粒子分析儀有測定裝置1和信息 處理裝置2。測定裝置1使試樣流過流動池，拍攝流到流動池中的試樣中的粒子，信息處理 裝置2解析所攝粒子圖像，顯示解析結果。
首先，試樣由隔膜泵等吸移系統(tǒng)(無圖示)從吸移管11吸移，經(jīng)試樣過濾器12導 入流動池15上面的進樣通道13。試樣通過試樣過濾器12后，試樣中的粗大粒子和垃圾被 除去。以此避免流路狹窄的流動池15堵塞。試樣過濾器12還有揉開粗大凝塊的作用。
導入進樣通道13的試樣通過鞘液注射器14被導入流動池15。導入流動池15的 試樣被從樣嘴15a下端一點一點地擠出。與此同時，鞘液從鞘液罐16經(jīng)過鞘液倉17送入 流動池15。導入流動池15的試樣在鞘液的包圍下形成扁平的樣流。通過流動池15后的試 樣和鞘液被排到廢液室21中。
閃光燈18以60分之一秒的間隔向如此形成的扁平樣流照射脈沖光，照相機20通 過物鏡19約每2μ秒拍攝一張試樣所含粒子的靜止圖像。照相機20輸出的圖像信號輸入 到信息處理裝置2。
信息處理裝置2在接受圖像信號的同時，根據(jù)輸入的圖像信號獲取各個粒子圖 像。信息處理裝置2根據(jù)獲取的各個粒子圖像，獲取表示粒子特征的參數(shù)值，將試樣的解析 結果顯示到顯示器。關于信息處理裝置2將隨后參照圖20進行說明。
在此，就信息處理裝置2根據(jù)粒子圖像獲取的表示粒子特征的參數(shù)進行說明。
信息處理裝置2獲取的表示粒子特征的參數(shù)分為定量粒度的參數(shù)和定量粒子形 狀的參數(shù)。定量粒度的參數(shù)包括等效圓直徑、長徑、長徑垂直徑、長軸徑、短軸徑、費雷特徑 (Feret徑)(水平)、費雷特徑(Feret徑)(垂直)、等周長圓的直徑、粒子周長、粒子面積、 包絡周長、包絡面積和等面積圓直徑。定量粒子形狀的參數(shù)包括圓形度、縱橫比、水平外接 矩形縱橫比、平均亮度值、亮度分散值、包絡度(周長)、包絡度(面積)、圓形度(面積)。 各參數(shù)表示的內(nèi)容如下
[表 1]
〈粒度〉
權利要求
1.一種粒子分析儀，包括流動池，能讓含有作為拍攝目標的多個粒子的試樣流過； 成像器件，用于拍攝通過所述流動池的所述試樣中的粒子；圖像處理部件，根據(jù)所述成像器件拍攝的粒子圖像獲取關于粒度的第一參數(shù)的第一特 征值、關于粒度的第二參數(shù)的第二特征值和關于粒度的第三參數(shù)的第三特征值； 控制部件，用于生成并輸出同時顯示所述第一至第三特征值的界面。
2.根據(jù)權利要求1所述的粒子分析儀，其特征在于所述第一參數(shù)是等效圓直徑，所述第二參數(shù)是長軸徑，所述第三參數(shù)是短軸徑。
3.一種粒子分析儀，包括流動池，能讓含有作為拍攝目標的多個粒子的試樣流過； 成像器件，用于拍攝通過所述流動池的所述試樣中的粒子；圖像處理部件，根據(jù)所述成像器件拍攝的粒子圖像獲取關于粒子形狀的第一參數(shù)的第 一特征值、關于粒子形狀的第二參數(shù)的第二特征值和關于粒子形狀的第三參數(shù)的第三特征 值；控制部件，用于生成并輸出同時顯示所述第一至第三特征值的界面。
4.根據(jù)權利要求3所述的粒子分析儀，其特征在于所述第一參數(shù)是圓形度，所述第二參數(shù)是縱橫比，所述第三參數(shù)是包絡度。
5.根據(jù)權利要求1 4中任意一項所述的粒子分析儀，其特征在于 所述界面包含雷達圖表、折線圖、或直線圖。
6.根據(jù)權利要求1 4中任意一項所述的粒子分析儀，其特征在于 所述成像器件拍攝多個粒子，獲得多個粒子圖像，所述圖像處理部件根據(jù)所得的多個粒子圖像獲取所述第一至第三特征值。
7.根據(jù)權利要求6所述的粒子分析儀，其特征在于所述圖像處理部件就所述多個粒子圖像分別獲取所述第一至第三參數(shù)的特征值，并分 別求出獲取的所述第一至第三參數(shù)的特征值的平均值，將其作為所述第一至第三特征值。
8.根據(jù)權利要求1 4中任意一項所述的粒子分析儀，其特征在于 所述成像器件拍攝多個粒子，獲得多個粒子圖像，所述圖像處理部件根據(jù)所得各個粒子圖像獲取所述第一至第三特征值。
9.根據(jù)權利要求8所述的粒子分析儀，其特征在于所述控制部件針對從顯示有所述多個粒子的一覽表中選擇的所述粒子，輸出所述界
10.根據(jù)權利要求1 4中任意一項所述的粒子分析儀，其特征在于所述界面同時顯示就第一試樣獲取的第一至第三特征值和就第二試樣獲取的第一至 第三特征值。
11.根據(jù)權利要求1 4中任意一項所述的粒子分析儀，其特征在于所述控制部件還有一個輸入接受部件，所述輸入接受部件用于接受輸入以設定所述第一至第三參數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明公開一種粒子分析儀，其包括以下部分流動池，讓含有拍攝目標一多個粒子的試樣流過；成像器件，拍攝通過所述流動池的所述試樣中的粒子；圖像處理部件，根據(jù)所述成像器件拍攝的粒子圖像獲取關于粒度的第一參數(shù)的第一特征值、關于粒度的第二參數(shù)的第二特征值、關于粒度的第三參數(shù)的第三特征值；控制部件，生成并輸出同時顯示所述第一至第三特征值的界面。
文檔編號G01N15/02GK102033031SQ20101029594
公開日2011年4月27日 申請日期2010年9月29日 優(yōu)先權日2009年9月29日
發(fā)明者井塚宗久 申請人:希森美康株式會社