專(zhuān)利名稱(chēng)：手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試工具，特別涉及一種手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)。
背景技術(shù)：
可視信息日趨重要，隨著多媒體系統(tǒng)的發(fā)展，圖像傳感器成為人們關(guān)注的焦點(diǎn)，圖像傳感器的發(fā)展取決于國(guó)內(nèi)芯片制造技術(shù)的進(jìn)步。芯片在生產(chǎn)過(guò)程中需要經(jīng)過(guò)多項(xiàng)測(cè)試以保證其質(zhì)量，例如影像測(cè)試、功能測(cè)試，目前此類(lèi)測(cè)試由于受測(cè)試環(huán)境的影響，容易造成測(cè)試的結(jié)果差異較大，測(cè)試效率低等狀況。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服上述缺陷，本發(fā)明提供一種手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，該測(cè)試臺(tái)可以有效的進(jìn)行上下料、影像測(cè)試、功能測(cè)試的項(xiàng)目的實(shí)施，方便快捷，符合人機(jī)工程學(xué)的要求。本發(fā)明為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，測(cè)試臺(tái)其包括光箱、底座、測(cè)試槽及光源，所述光箱可拆卸固定于底座上，所述測(cè)試槽和光源設(shè)于底座和光箱之間，所述底座上設(shè)有導(dǎo)軌，測(cè)試槽活動(dòng)定位于導(dǎo)軌之上能夠沿導(dǎo)軌自由移動(dòng)， 光箱位于導(dǎo)軌的一側(cè)設(shè)有供測(cè)試槽出入的開(kāi)口，測(cè)試槽通過(guò)導(dǎo)軌移進(jìn)或移出至光箱內(nèi)，底座上同時(shí)固設(shè)有一與底座相交的上下導(dǎo)軌，光源的一端活動(dòng)定位設(shè)于上下導(dǎo)軌之上且能夠沿上下導(dǎo)軌自由移動(dòng)，光源通過(guò)沿上下導(dǎo)軌移動(dòng)進(jìn)行光照高度的調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同類(lèi)別的測(cè)試。作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述導(dǎo)軌的兩端向上分別設(shè)有凸塊，且凸塊靠向測(cè)試槽的一側(cè)均設(shè)有用于穩(wěn)固測(cè)試槽的吸附裝置，導(dǎo)軌的凸塊保證了測(cè)試槽不會(huì)滑出導(dǎo)軌，吸附裝置保證了測(cè)試槽在進(jìn)入或移出光箱后的穩(wěn)固。作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述底座上固定設(shè)有若干光箱定位塊。加重效果，保證光箱在合并時(shí)位置的穩(wěn)固。作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述測(cè)試臺(tái)整體表面均噴黑色亞光漆處理。本發(fā)明的有益效果是測(cè)試光箱的設(shè)計(jì)，保證芯片在進(jìn)行影像測(cè)試時(shí)，光線(xiàn)未受外界環(huán)境的影響，保證測(cè)試芯片表面接收到測(cè)試光源所照出來(lái)的均勻的光線(xiàn)，確保測(cè)試光線(xiàn)的一致性；測(cè)試治具推拉式操作，使整個(gè)光箱縮小到僅僅只需要有放置測(cè)試治具的空間即可，在工作桌面上作業(yè)成為可能，占有空間小、操作方便，生產(chǎn)操作可使用性較強(qiáng)；光源高度的可調(diào)性設(shè)計(jì)，此結(jié)構(gòu)采用上下可升降的設(shè)計(jì)，符合各種類(lèi)型的芯片和不同高度要求的設(shè)計(jì)，使此設(shè)備能夠滿(mǎn)足各類(lèi)不同類(lèi)別的測(cè)試，使其可適用性更強(qiáng)；測(cè)試臺(tái)整體結(jié)構(gòu) 光發(fā)黑處理，避免由于光箱的反光或折射光，導(dǎo)致不同類(lèi)芯片測(cè)試時(shí)的結(jié)果差異。


圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明使用狀態(tài)示意圖。
具體實(shí)施例方式實(shí)施例一種手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，測(cè)試臺(tái)其包括光箱1、底座2、測(cè)試槽3及光源4，所述光箱1可拆卸固定于底座2上，所述測(cè)試槽3和光源4設(shè)于底座2和光箱1之間，所述底座2上設(shè)有導(dǎo)軌5，本例呈水平，測(cè)試槽3活動(dòng)定位于導(dǎo)軌5之上能夠沿導(dǎo)軌5自由移動(dòng)，光箱1位于導(dǎo)軌5的一側(cè)設(shè)有供測(cè)試槽3出入的開(kāi)口，測(cè)試槽3通過(guò)導(dǎo)軌5移進(jìn)或移出至光箱1內(nèi)，底座2上同時(shí)固設(shè)有一與底座相交的(最好呈垂直)上下導(dǎo)軌6，本例呈豎直，光源4的一端活動(dòng)定位設(shè)于上下導(dǎo)軌6之上且能夠沿上下導(dǎo)軌6自由移動(dòng)，光源4通過(guò)沿上下導(dǎo)軌6移動(dòng)進(jìn)行光照高度的調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同類(lèi)別的測(cè)試。所述導(dǎo)軌5的兩端向上分別設(shè)有凸塊，且凸塊靠向測(cè)試槽3的一側(cè)均設(shè)有用于穩(wěn)固測(cè)試槽3的吸附裝置7，導(dǎo)軌5的凸塊保證了測(cè)試槽3不會(huì)滑出導(dǎo)軌5，吸附裝置保證了測(cè)試槽3在進(jìn)入或移出光箱1后的穩(wěn)固。所述底座2上固定設(shè)有若干光箱定位塊8，加重效果，保證光箱在合并時(shí)位置的穩(wěn)固。所述測(cè)試臺(tái)整體表面均噴黑色亞光漆處理。本例操作過(guò)程如下將測(cè)試槽3從光箱1中拉出，在測(cè)試槽3上放置測(cè)試治具后再插上待測(cè)芯片的頭板，并在頭板中放置待測(cè)芯片，安置好后，把測(cè)試治具推置光箱1中，打開(kāi)測(cè)試軟件，進(jìn)行功能測(cè)試。完成測(cè)試后，再把測(cè)試槽3拉出進(jìn)行下次測(cè)試，極其簡(jiǎn)單方便。
權(quán)利要求
1.一種手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，其特征在于測(cè)試臺(tái)其包括光箱(1)、底座O)、測(cè)試槽(3)及光源G)，所述光箱(1)可拆卸固定于底座(2)上，所述測(cè)試槽(3)和光源(4)均設(shè)于底座 ⑵和光箱⑴之間，所述底座(2)上設(shè)有導(dǎo)軌(5)，測(cè)試槽(3)活動(dòng)定位于導(dǎo)軌(5)之上能夠沿導(dǎo)軌(5)自由移動(dòng)，光箱(1)位于導(dǎo)軌(5)的一側(cè)設(shè)有供測(cè)試槽(3)出入的開(kāi)口，光源的一端活動(dòng)定位設(shè)于上下導(dǎo)軌(6)之上且能夠沿上下導(dǎo)軌(6)自由移動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，其特征在于所述導(dǎo)軌(5)的兩端向上分別設(shè)有凸塊，且凸塊靠向測(cè)試槽⑶的一側(cè)均設(shè)有用于穩(wěn)固測(cè)試槽⑶的吸附裝置(7)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，其特征在于所述底座( 上固定設(shè)有若干光箱定位塊(8)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，其特征在于所述測(cè)試臺(tái)整體表面均噴有黑色亞光漆。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種手動(dòng)影像測(cè)試臺(tái)，測(cè)試臺(tái)其包括光箱、底座、測(cè)試槽及光源，所述光箱可拆卸固定于底座上，所述測(cè)試槽和光源設(shè)于底座和光箱之間，所述底座上設(shè)有導(dǎo)軌，測(cè)試槽活動(dòng)定位于導(dǎo)軌之上能夠沿導(dǎo)軌自由移動(dòng)，光箱位于導(dǎo)軌的一側(cè)設(shè)有供測(cè)試槽出入的開(kāi)口，測(cè)試槽通過(guò)導(dǎo)軌移進(jìn)或移出至光箱內(nèi)，底座上同時(shí)固設(shè)有一與底座相交的上下導(dǎo)軌，光源的一端活動(dòng)定位設(shè)于上下導(dǎo)軌之上且能夠沿上下導(dǎo)軌自由移動(dòng)，光源通過(guò)沿上下導(dǎo)軌移動(dòng)進(jìn)行光照高度的調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同類(lèi)別的測(cè)試，該測(cè)試臺(tái)可以有效的進(jìn)行上下料、影像測(cè)試、功能測(cè)試的項(xiàng)目的實(shí)施，方便快捷，符合人機(jī)工程學(xué)的要求。
文檔編號(hào)G01M11/04GK102435423SQ201010297469
公開(kāi)日2012年5月2日 申請(qǐng)日期2010年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月29日
發(fā)明者陳俠然 申請(qǐng)人:昆山西鈦微電子科技有限公司