專利名稱：液晶盒厚測量方法、液晶顯示裝置及其制造方法
技術領域：
本發(fā)明涉及液晶顯示裝置制造技術，特別涉及一種液晶盒厚測量方法、液晶顯示裝置及其制造方法。
背景技術：
液晶顯示裝置因其體積小、功耗低等優(yōu)點，在當前的平板顯示器市場占據(jù)主導地位。該液晶顯示裝置由陣列基板和彩膜基板對盒形成，其間填充液晶，通過電場控制液晶偏轉(zhuǎn)以控制光線的強弱，配合彩膜基板的功能顯示出所要表達的圖像。其中，陣列基板和彩膜基板之間的距離即液晶盒厚，其對液晶顯示效果具有重要影響，因此，通常在液晶顯示裝置的對盒制作過程中需要準確控制液晶盒厚?，F(xiàn)有技術中，通常采用液晶盒厚測量設備，根據(jù)光線通過陣列基板和彩膜基板之間的液晶時的光學折射等原理進行液晶盒厚的測量，例如通過測量陣列基板和彩膜基板之間的縱向尺寸的方式即是根據(jù)光學原理進行的測量。在實際生產(chǎn)中，液晶的材料類型可能發(fā)生變更，使得液晶折射率等參數(shù)變化，從而影響光線的作用原理，但是，通常在不同的狀態(tài)下均使用同一光學測量設備，導致液晶盒厚的最終測量結(jié)果會有一定的偏差，影響液晶顯示裝置的顯示效果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種液晶盒厚測量方法、液晶顯示裝置及其制造方法，解決液晶盒厚測量不準確的問題，實現(xiàn)準確測量和控制液晶盒厚。本發(fā)明提供一種液晶盒厚測量方法，包括在液晶顯示裝置的陣列基板和彩膜基板對盒后，測量用于密封所述陣列基板和彩膜基板的封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸，所述多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸；獲取發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的形變物質(zhì)最小初始尺寸，以及未發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的原狀物質(zhì)最大初始尺寸，所述液晶盒厚的數(shù)值則確定為位于所述形變物質(zhì)最小初始尺寸和原狀物質(zhì)最大初始尺寸之間。本發(fā)明提供一種液晶顯示裝置，包括對盒的陣列基板和彩膜基板，所述陣列基板和彩膜基板之間通過封框膠進行密封；所述封框膠中設置有多個盒厚測量物質(zhì)，所述盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸。本發(fā)明提供一種液晶顯示裝置的制造方法，包括制作陣列基板和彩膜基板；利用封框膠對所述陣列基板和彩膜基板進行密封，并在所述封框膠中設置多個盒厚測量物質(zhì)，所述多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸；將所述陣列基板和彩膜基板進行對盒。本發(fā)明的液晶盒厚測量方法、液晶顯示裝置及其制造方法，通過量盒厚測量物質(zhì)
4的尺寸變化而反應出液晶盒厚，解決了液晶材料變更影響液晶盒厚測量效果的問題，避免了液晶材料的變更對于液晶盒厚測量效果的影響，實現(xiàn)了準確測量和控制液晶盒厚。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明液晶盒厚測量方法實施例的流程示意圖；圖2為本發(fā)明液晶盒厚測量方法實施例中的盒厚測量物質(zhì)未發(fā)生形變狀態(tài)示意圖；圖3為本發(fā)明液晶盒厚測量方法實施例中的盒厚測量物質(zhì)發(fā)生形變狀態(tài)示意圖；圖4為本發(fā)明液晶顯示裝置實施例的結(jié)構示意圖；圖5為本發(fā)明液晶顯示裝置的制造方法實施例的流程示意圖。附圖標記說明11-陣列基板； 12-彩膜基板；13-封框膠；14-盒厚測量物質(zhì)；15-液晶。
具體實施例方式為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。本發(fā)明的主要技術方案為，在液晶顯示裝置的封框膠中設置多個盒厚測量物質(zhì)， 該多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸；在對盒陣列基板和彩膜基板后，測量上述的盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸相對于初始尺寸是否發(fā)生變化，并選取發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的形變物質(zhì)最小初始尺寸，以及未發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的原狀物質(zhì)最大初始尺寸，則液晶盒厚的數(shù)值則確定為位于所述形變物質(zhì)最小初始尺寸和原狀物質(zhì)最大初始尺寸之間。該液晶盒厚測量方法可以使得盒厚測量時不受液晶材料變更的影響，準確控制液晶盒厚。下面通過附圖和具體實施例，對本發(fā)明的技術方案做進一步的詳細描述。實施例一圖1為本發(fā)明液晶盒厚測量方法實施例的流程示意圖，如圖1所示，本實施例的液晶盒厚測量方法可以包括以下步驟步驟101、向封框膠中噴灑多個盒厚測量物質(zhì)；可參見圖2，圖2為本發(fā)明液晶盒厚測量方法實施例中的盒厚測量物質(zhì)未發(fā)生形變狀態(tài)示意圖。在陣列基板11和彩膜基板12的對盒過程中，首先在顯示區(qū)域周邊位置設置封框膠13以密封該陣列基板11和彩膜基板12。本實施例中，在封框膠13中設置有多個盒厚測量物質(zhì)14，該盒厚測量物質(zhì)14在陣
5列基板11和彩膜基板12對盒完成之前均具有一初始尺寸，該初始尺寸可以根據(jù)測量方便的需要進行選取，即為盒厚測量物質(zhì)14在對盒完成前未發(fā)生形變時的尺寸。例如，盒厚測量物質(zhì)14可以為球狀，則其初始尺寸可以為盒厚測量物質(zhì)14的直徑或者半徑。此外，該盒厚測量物質(zhì)14可以為樹脂類物質(zhì)，以使得其能夠在陣列基板11和彩膜基板12對盒時發(fā)生變形。例如，其可以為與隔墊物相同材料的物質(zhì)。該盒厚測量物質(zhì)14 的尺寸范圍可以分布在2 5微米，此外還可以以公差為0. 01 0. 2微米之間任一值的等差數(shù)列來均布盒厚測量物質(zhì)14的尺寸，采用上述的尺寸范圍以及分布規(guī)律，可以使得盒厚的測量結(jié)果更加精確。該多個盒厚測量物質(zhì)14具有不同的初始尺寸，可以通過不同的顏色對不同初始尺寸的盒厚測量物質(zhì)14進行區(qū)分。例如，半徑R為3. 2um的測量物質(zhì)盒厚測量物質(zhì)14設置為藍色，半徑R為3. 4um的測量物質(zhì)盒厚測量物質(zhì)14設置為紅色，半徑R為3. 6um的測量物質(zhì)盒厚測量物質(zhì)14設置為黃色等。本實施例中，多個盒厚測量物質(zhì)14可以是通過噴灑的方式設置在封框膠13中的。 例如，可以利用彩膜工藝中的噴灑設備，將若干個初始尺寸為a的盒厚測量物質(zhì)14、若干個初始尺寸為b的盒厚測量物質(zhì)14、以及若干個初始尺寸為c的盒厚測量物質(zhì)14等，均放置在上述的噴灑設備中，再混合后統(tǒng)一噴灑出來。具有不同初始尺寸大小的多個盒厚測量物質(zhì)14將基本均勻的分布在顯示區(qū)域周邊的封框膠13中，被限制在封框膠13中而不會產(chǎn)生大范圍的移動。其中，多個盒厚測量物質(zhì)14可以設置在封框膠13中的某一區(qū)域，而不必要在全部的封框膠13中均噴灑該多個盒厚測量物質(zhì)14。例如，上述的多個盒厚測量物質(zhì)可以噴灑在封框膠中的對應于陣列基板的未設置金屬線圖形的區(qū)域，在該位置處噴灑，由于沒有金屬走線的影響，可以使得盒厚的測量值更加精確。步驟102、在陣列基板和彩膜基板對盒后，測量封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸，所述多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸；在步驟101中向封框膠13噴灑多個盒厚測量物質(zhì)14后，進行陣列基板11和彩膜基板12的對盒。在對盒結(jié)束之后，陣列基板11和彩膜基板12相互之間會產(chǎn)生擠壓效應。 此時，如果假設液晶盒厚為a，那么徑向尺寸(即上下表面之間的尺寸)小于a的盒厚測量物質(zhì)14不會產(chǎn)生形變，其對盒尺寸(即對盒完成后的尺寸)相對于初始尺寸保持不變；而徑向尺寸大于a的盒厚測量物質(zhì)14就會產(chǎn)生形變，其對盒尺寸相對于初始尺寸發(fā)生變化?？蓞⒁妶D3，圖3為本發(fā)明液晶盒厚測量方法實施例中的盒厚測量物質(zhì)發(fā)生形變狀態(tài)示意圖。此時，測量封框膠13中的多個盒厚測量物質(zhì)14的對盒尺寸，可以通過光學線寬測量設備測量。例如，盒厚測量物質(zhì)14的形狀為半徑為R的球狀時，其徑向尺寸為2R大于盒厚，因此，在對盒完成后，該盒厚測量物質(zhì)14被壓變形，通過光學線寬測量設備測量其對盒尺寸即為圖3中所示的B的2倍即2B，該B可以稱為橫向尺寸，其大于未形變時的半徑 R0該光學線寬測量設備可以通過測量圖形的灰度變化來判斷圖形的邊界，本實施例中，該設備可以通過測量盒厚測量物質(zhì)14的灰度變化得到盒厚測量物質(zhì)14的直徑2B。步驟103、獲取發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的形變物質(zhì)最小初始尺寸，以及未發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的原狀物質(zhì)最大初始尺寸，所述液晶盒厚的數(shù)值則確定為位于所述形變物質(zhì)最小初始尺寸和原狀物質(zhì)最大初始尺寸之間。
通過步驟102中的測量步驟，并將測量的盒厚測量物質(zhì)14的對盒尺寸與其初始尺寸比較，可以得到多個發(fā)生形變的盒厚測量物質(zhì)14，以及多個未發(fā)生形變的盒厚測量物質(zhì)14。例如，初始尺寸R分別為4um和3. 6um的盒厚測量物質(zhì)14均被壓變形，其橫向尺寸 B相對于初始尺寸R發(fā)生了變化，而初始尺寸為3. 4um和3. 2um的盒厚測量物質(zhì)14均保持原狀，尺寸未發(fā)生任何變化。則此時可以得到，在發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)14中的形變物質(zhì)最小初始尺寸為3. 6um，未發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)14中的原狀物質(zhì)最大初始尺寸為3. 4um ；液晶盒厚的數(shù)值則確定為3. 4um和3. 6um之間，即確定了液晶盒厚的數(shù)值范圍。如果多個盒厚測量物質(zhì)14的尺寸分布等差數(shù)列所取的公差愈小，如0. Olum，則得到的液晶盒厚值越精確。與傳統(tǒng)的例如根據(jù)光學折反射機理通過測量縱向尺寸測量液晶盒厚的方法相比， 本實施例的方法通過測量盒厚測量物質(zhì)的橫向直徑的變化，使得液晶盒厚測量結(jié)果不再受液晶材料折射率等參數(shù)變化的影響，徹底避免了液晶材料的變更影響到液晶盒厚測量的效果；并且，該測量方法簡單易行，提高了測試效率；此外，相對于現(xiàn)有技術中采用的昂貴的光學測量設備，本實施例的方法采用較為通用且價格便宜的光學線寬測量設備，從而大大節(jié)省了設備投資。本實施例的液晶盒厚測量方法，通過測量盒厚測量物質(zhì)的尺寸變化而反應出液晶盒厚，解決了液晶材料變更影響液晶盒厚測量效果的問題，避免了液晶材料的變更對于液晶盒厚測量效果的影響，實現(xiàn)了準確測量和控制液晶盒厚。實施例二圖4為本發(fā)明液晶顯示裝置實施例的結(jié)構示意圖，如圖4所示，本實施例的液晶顯示裝置可以包括對盒的陣列基板11和彩膜基板12，該陣列基板11和彩膜基板12之間填充有液晶15，顯示區(qū)域的周邊通過封框膠13進行密封。本實施例中，在封框膠13中設置有多個盒厚測量物質(zhì)14，該多個盒厚測量物質(zhì)14 的設置結(jié)構和方式可以結(jié)合參見實施例一所述。盒厚測量物質(zhì)14可以采用容易變形的樹脂類物質(zhì)，其具有不同的初始尺寸。可以只在封框膠13的部分區(qū)域中設置上述的盒厚測量物質(zhì)14。該盒厚測量物質(zhì)14的尺寸范圍可以分布在2 5微米，此外還可以以公差為 0. Ol 0. 2微米之間任一值的等差數(shù)列來均布盒厚測量物質(zhì)14的尺寸，采用上述的尺寸范圍以及分布規(guī)律，可以使得盒厚的測量結(jié)果更加精確。如果多個盒厚測量物質(zhì)14的尺寸分布等差數(shù)列所取的公差愈小，如0. Olum，則得到的液晶盒厚值越精確。其中，可以通過不同的顏色對不同初始尺寸的多個盒厚測量物質(zhì)14進行區(qū)分。例如，該盒厚測量物質(zhì)14的形狀可以為球狀，其初始尺寸可以為其直徑或者半徑。半徑R為 3. 6um的測量物質(zhì)盒厚測量物質(zhì)14設置為藍色，半徑R為3. 4um的測量物質(zhì)盒厚測量物質(zhì) 14設置為紅色等。此外，上述的多個盒厚測量物質(zhì)可以噴灑在封框膠中的對應于陣列基板的未設置金屬線圖形的區(qū)域，在該位置處噴灑，由于沒有金屬走線的影響，可以使得盒厚的測量值更加精確。本實施例的液晶顯示裝置，通過在封框膠中設置多個盒厚測量物質(zhì)，使得該液晶顯示裝置的液晶盒厚可以精確控制，實現(xiàn)較好的顯示效果。
實施例三圖5為本發(fā)明液晶顯示裝置的制造方法實施例的流程示意圖，如圖5所示，本實施例的液晶顯示裝置的制造方法可以包括步驟201、制作陣列基板和彩膜基板；步驟202、利用封框膠對所述陣列基板和彩膜基板進行密封，并在所述封框膠中設置多個盒厚測量物質(zhì)，所述多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸；可以利用噴灑設備向封框膠中噴灑多個盒厚測量物質(zhì)。此外，可以在噴灑之前對具有不同初始尺寸的盒厚測量物質(zhì)用不同的顏色進行區(qū)分，將不同顏色的多個盒厚測量物質(zhì)統(tǒng)一混合再入上述的噴灑設備中，再統(tǒng)一噴灑進封框膠中?？梢灾辉诜饪蚰z的部分區(qū)域設置該多個盒厚測量物質(zhì)。具體的設置方式可以結(jié)合參見實施例一所述。步驟203、將所述陣列基板和彩膜基板進行對盒。本實施例的液晶顯示裝置的制造方法，通過在封框膠中設置多個盒厚測量物質(zhì)， 使得該液晶顯示裝置的液晶盒厚可以精確控制，實現(xiàn)較好的顯示效果。最后應說明的是以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術方案的精神和范圍。
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權利要求
1.一種液晶盒厚測量方法，其特征在于，包括在液晶顯示裝置的陣列基板和彩膜基板對盒后，測量用于密封所述陣列基板和彩膜基板的封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸，所述多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸；獲取發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的形變物質(zhì)最小初始尺寸，以及未發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的原狀物質(zhì)最大初始尺寸，所述液晶盒厚的數(shù)值則確定為位于所述形變物質(zhì)最小初始尺寸和原狀物質(zhì)最大初始尺寸之間。
2.根據(jù)權利要求1所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，所述測量用于密封所述陣列基板和彩膜基板的封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸，具體為測量用于密封所述陣列基板和彩膜基板的封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的橫向尺寸。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，在所述測量用于密封所述陣列基板和彩膜基板的封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸之前，還包括向所述封框膠中噴灑多個所述盒厚測量物質(zhì)。
4.根據(jù)權利要求3所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，所述向所述封框膠中噴灑多個所述盒厚測量物質(zhì)，具體為向所述封框膠中的對應于陣列基板的未設置金屬線圖形的區(qū)域噴灑多個所述盒厚測量物質(zhì)。
5.根據(jù)權利要求3所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，所述向所述封框膠中噴灑多個所述盒厚測量物質(zhì)，之前還包括將具有不同的初始尺寸的所述多個盒厚測量物質(zhì)以不同的顏色作為標記。
6.根據(jù)權利要求1或2所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，所述測量用于密封所述陣列基板和彩膜基板的封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸，具體為通過光學線寬測量設備測量所述封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸。
7.根據(jù)權利要求1或2所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，所述盒厚測量物質(zhì)的形狀為球狀，所述初始尺寸為所述盒厚測量物質(zhì)的直徑或者半徑。
8.根據(jù)權利要求7所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，所述盒厚測量物質(zhì)的初始尺寸為2 5微米。
9.根據(jù)權利要求8所述的液晶盒厚測量方法，其特征在于，多個所述盒厚測量物質(zhì)的初始尺寸組成公差為0. 01 0. 2微米的等差數(shù)列。
10.一種液晶顯示裝置，包括對盒的陣列基板和彩膜基板，所述陣列基板和彩膜基板之間通過封框膠進行密封；其特征在于，所述封框膠中設置有多個盒厚測量物質(zhì)，所述盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸。
11.根據(jù)權利要求10所述的液晶顯示裝置，其特征在于，具有不同的初始尺寸的多個所述盒厚測量物質(zhì)具有不同的顏色。
12.根據(jù)權利要求10或11所述的液晶顯示裝置，其特征在于，所述盒厚測量物質(zhì)的形狀為球狀，所述初始尺寸為所述盒厚測量物質(zhì)的直徑或者半徑。
13.根據(jù)權利要求12所述的液晶顯示裝置，其特征在于，所述盒厚測量物質(zhì)的初始尺寸為2 5微米。
14.根據(jù)權利要求13所述的液晶顯示裝置，其特征在于，多個所述盒厚測量物質(zhì)的初始尺寸組成公差為0. 01 0. 2微米的等差數(shù)列。
15.一種液晶顯示裝置的制造方法，其特征在于，包括 制作陣列基板和彩膜基板；利用封框膠對所述陣列基板和彩膜基板進行密封，并在所述封框膠中設置多個盒厚測量物質(zhì)，所述多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸； 將所述陣列基板和彩膜基板進行對盒。
16.根據(jù)權利要求15所述的液晶顯示裝置的制造方法，其特征在于，所述在所述封框膠中設置多個盒厚測量物質(zhì)，具體為利用噴灑設備向所述封框膠中噴灑多個所述盒厚測量物質(zhì)。
17.根據(jù)權利要求16所述的液晶顯示裝置的制造方法，其特征在于，所述利用噴灑設備向所述封框膠中噴灑多個所述盒厚測量物質(zhì)，具體為利用噴灑設備向所述封框膠中的對應于陣列基板的未設置金屬線圖形的區(qū)域噴灑多個所述盒厚測量物質(zhì)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種液晶盒厚測量方法、液晶顯示裝置及其制造方法，其中，液晶盒厚測量方法包括在陣列基板和彩膜基板對盒后，測量封框膠中的多個盒厚測量物質(zhì)的對盒尺寸，所述多個盒厚測量物質(zhì)具有不同的初始尺寸；獲取發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的形變物質(zhì)最小初始尺寸，以及未發(fā)生形變的多個盒厚測量物質(zhì)中的原狀物質(zhì)最大初始尺寸，所述液晶盒厚的數(shù)值則確定為位于所述形變物質(zhì)最小初始尺寸和原狀物質(zhì)最大初始尺寸之間。本實施例的液晶盒厚測量方法，通過測量盒厚測量物質(zhì)的尺寸變化而反應出液晶盒厚，解決了液晶材料變更影響液晶盒厚測量效果的問題，避免了液晶材料的變更對于液晶盒厚測量效果的影響，實現(xiàn)了準確測量和控制液晶盒厚。
文檔編號G01B21/08GK102466475SQ201010544670
公開日2012年5月23日 申請日期2010年11月12日 優(yōu)先權日2010年11月12日
發(fā)明者周偉峰, 明星, 肖光輝, 郭建 申請人:北京京東方光電科技有限公司