專利名稱：全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電子器件的測試機(jī)，特別是涉及一種對SMD型石英晶體振蕩 器的性能進(jìn)行自動檢測的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，即CI測試機(jī)，其改進(jìn)之處是將已 有的半自動CI測試機(jī)改為全自動CI測試機(jī)。
背景技術(shù)：
目前，通行的CI測試機(jī)多為半自動的CI測試機(jī)。使用這種CI測試機(jī)進(jìn)行檢測 時(shí)，需要先將承放待測晶體振蕩器或諧振器的托盤由人工安放在工作臺的固定架上；再啟 動CI測試機(jī)，通過檢測探針逐一進(jìn)行檢測；檢測完畢后，再由人工將托盤取下，并人工向檢 測完畢的托盤中補(bǔ)充經(jīng)檢測合格的產(chǎn)品，以填補(bǔ)托盤中因剔除不合格品而產(chǎn)生的空位。在已有的半自動CI測試機(jī)的工作過程中，檢測供料托盤必須由人工安裝，托盤安 裝速度慢，無法長時(shí)間供料；并且，必須由人工補(bǔ)充因剔除不良品而產(chǎn)生的空位，不但補(bǔ)充 合格產(chǎn)品的速度慢，而且容易因人工填補(bǔ)時(shí)接觸不當(dāng)導(dǎo)致產(chǎn)品受損。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種能夠自動運(yùn)行檢測SMD型石英晶體諧振蕩器性能 的測試機(jī)，即全自動CI測試機(jī)，以克服現(xiàn)有CI測試機(jī)工作速度慢、人工補(bǔ)充空位、且易導(dǎo)致 產(chǎn)品受損的技術(shù)問題。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是該全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)包括供給部、搬送部、 測試部和工業(yè)控制計(jì)算機(jī)，其供給部由待測物品供給臺、置于供給臺之上用于承放待測物 品的可移動容器、容器移動裝置組成，其搬送部由大體上相互垂直的X向機(jī)械臂裝置和Y向 機(jī)械臂裝置構(gòu)成。其中，所述可移動容器由一個提籃狀容器及置于提籃狀容器之中不同槽位內(nèi)且可 從提籃狀容器的槽中推出的托盤組成，該托盤可為在提籃狀容器內(nèi)壁的多個槽位中分別疊 放的多層托盤，所述容器移動裝置由2個氣缸、無桿氣缸、電動缸組成。所述Y向機(jī)械臂裝置由第一交流電機(jī)、Y向機(jī)械臂、搬送臺、前端固定位導(dǎo)向桿氣 缸和后端固定位導(dǎo)向氣缸組成，X向機(jī)械臂裝置由第二交流電機(jī)、X向機(jī)械臂、待測物品攝 取裝置組成；其測試部由不合格品收納裝置、測試臺、測試裝置、氣動滑臺、與測試臺通過氣 路連接的兩個真空壓力開關(guān)組成。Y向機(jī)械臂裝置的第一交流電機(jī)與Y向機(jī)械臂連接，搬送 臺裝載在Y向機(jī)械臂上，前端固定位導(dǎo)向桿氣缸和后端固定位導(dǎo)向氣缸分別裝載于搬送臺 上的前端固定位和后端固定位內(nèi)，用于壓緊托盤；所述X向機(jī)械臂裝置的第二交流電機(jī)與X 向機(jī)械臂連接，待測物品攝取裝置裝載于X向機(jī)械臂上。所述待測物品攝取裝置為氣動吸取組。氣動吸取組可由氣動吸取組架臺、真空壓 力開關(guān)、4個氣動吸取裝置、4個微型氣缸組成，并且，4個氣動吸取裝置分別與4個微型氣 缸連接，4個微型氣缸裝載在氣動吸取組架臺上，真空壓力開關(guān)通過氣路與氣動吸取裝置連 接。[0009]所述不合格品收納裝置為2個不合格品丟棄盒。所述測試裝置由測試卡安裝臺及4個探針組成，并且，4個探針每兩個一組安裝在 測試卡安裝臺上，其位置對應(yīng)測試臺上的測試位置；測試卡安裝臺裝載于氣動滑臺上，工作 時(shí)氣動滑臺使測試卡安裝臺移向測試臺，前端探針能夠刺向測試臺上的產(chǎn)品。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是被檢測產(chǎn)品一次供給量大，可長時(shí)間自動運(yùn)行，并可以在測 試被測產(chǎn)品是否合格的同時(shí)方便地自動排除不良品，并從其他托盤中取出合格產(chǎn)品填補(bǔ)空 位，直至全部測試完；收料供料方便簡單，只需將提籃提出或輕放在供給臺，無固定裝置，節(jié) 省了人工裝卡、卸卡操作的時(shí)間；減少了設(shè)備停機(jī)的次數(shù)，從而加快效率，循環(huán)時(shí)間僅0. 75 秒；操作安全可靠，可有效地防止人工操作可能對被測產(chǎn)品造成的損壞，保證了被測產(chǎn)品的 質(zhì)量。

圖1是CI測試機(jī)的俯視圖；圖2是CI測試機(jī)的主視圖；圖3是CI測試機(jī)氣動吸取組部件方案二的右視圖；圖4是CI測試機(jī)俯視圖；圖5是CI測試機(jī)提籃狀容器部件剖面圖；圖6是CI測試機(jī)右試圖；圖7是CI測試機(jī)氣動吸取組部件方案一的右視圖；其中，1.第一氣缸，2.供給臺，3.提籃狀容器，4提籃狀容器.Y向機(jī)械臂，6.第一 交流電機(jī)，7.搬送臺后端固定位，8. X向機(jī)械臂，9.第二交流電機(jī)，10.第二氣缸，11.測試 卡安裝臺，12.探針，13.測試臺，14.搬送臺前端固定位，15.氣動吸取組，16.無桿氣缸， 17.電紅，18.導(dǎo)向桿氣缸，19.氣動滑臺，20.不良品收納容器，21.工業(yè)控制計(jì)算機(jī)，22.氣 動吸取單元，23.微型氣缸，24.導(dǎo)軌，25.檢測部基座，26供給部，27搬送部，28.測試部， 29.導(dǎo)向桿氣缸，30.提籃固定位，31.提籃固定位，32.托盤。
具體實(shí)施方式
如圖1、圖2所示，本實(shí)用新型所述CI測試機(jī)包括以下具體實(shí)施方式
實(shí)施方式一本實(shí)用新型所述CI測試機(jī)的供給部包括供給臺2，電動缸17，無桿氣缸16，兩個 提籃狀容器3、4，氣缸1、10。其中，電動缸17與無桿氣缸16連接，供給臺2裝載在無桿氣 缸16之上，兩個提籃狀容器3、4放置于位于供給臺2上的兩個提籃固定位30、31內(nèi)，兩個 氣缸1、10分列在供給臺2兩側(cè)。工作時(shí)，無桿氣缸16運(yùn)動，將兩個提籃狀容器3分別送到 指定工作位置；電動缸17上升或下降用來選擇提籃狀容器3內(nèi)的不同托盤；氣缸1伸出，依 次從兩個提籃狀容器3的槽中推出，氣缸10用于推回托盤。其搬送部包括交流電機(jī)6，交流電機(jī)9，X向機(jī)械臂8，Y向機(jī)械臂5，搬送臺14，前 端固定位導(dǎo)向桿氣缸18，后端固定位導(dǎo)向桿氣缸19，氣動吸取組15。其中，交流電機(jī)6與Y 向機(jī)械臂5連接，搬送臺14裝載在Y向機(jī)械臂5上，2個導(dǎo)向桿氣缸18、29分別裝載于搬 送臺上前端和后端的兩個不同托盤固定位內(nèi)，用于壓緊托盤；交流電機(jī)9與X向機(jī)械臂8連接，氣動吸取組15裝載于X向機(jī)械臂8上；氣動吸取組15由氣動吸取組架臺、4個氣動吸 取裝置、4個微型氣缸組成，且4個氣動吸取裝置分別與4個微型氣缸連接，4個微型氣缸裝 載于氣動吸取組架臺上。其測試部包括測試臺13，測試卡安裝臺11，19氣動滑臺，4個探 針12，2個不良品收納容器20。其中，4個探針每兩個一組安裝在測試卡安裝臺11上，其位 置對應(yīng)測試臺13上的測試位置；測試卡安裝臺11裝載于氣動滑臺19上，工作時(shí)氣動滑臺 19使測試卡安裝臺11移向測試臺13，前端探針12刺向測試臺上的產(chǎn)品；氣動滑臺19、不 良品收納容器20。此外，還包括1臺工業(yè)控制計(jì)算機(jī)21，用于操作整個設(shè)備的運(yùn)行。實(shí)施方式二 本實(shí)用新型所述CI測試機(jī)的供給部包括供給臺2，電動缸17，無桿氣缸16，兩個 提籃狀容器3、4，兩個氣缸1、10。其中，電動缸17與無桿氣缸16連接，供給臺2裝載在無桿 氣缸16之上，兩個提籃狀容器3、4放置于位于供給臺2上的兩個提籃固定位內(nèi)30、31內(nèi)， 兩個氣缸1、10分列在供給臺2兩側(cè)。工作時(shí)，無桿氣缸16運(yùn)動，將兩個提籃狀容器3、4分 別送到指定工作位置；電動缸17上升或下降用來選擇提籃狀容器3內(nèi)的不同托盤33 ；氣缸 1伸出，分別從兩個提籃狀容器3的槽中推出或推進(jìn)托盤。其搬送部包括交流電機(jī)6，交流電機(jī)9，X向機(jī)械臂8，Y向機(jī)械臂5，搬送臺14，前 端固定位導(dǎo)向桿氣缸，后端固定位導(dǎo)向桿氣缸18、29，氣動吸取組15。其中，交流電機(jī)6與 Y向機(jī)械臂5連接，搬送臺19裝載在Y向機(jī)械臂5上，2個導(dǎo)向桿氣缸18、29分別裝載于搬 送臺上前端和后端的兩個不同托盤固定位內(nèi)，用于壓緊托盤；交流電機(jī)9與X向機(jī)械臂8連 接，氣動吸取組15裝載于X向機(jī)械臂8上；氣動吸取組由氣動吸取組架臺、4個氣動吸取裝 置、4個微型氣缸、4個導(dǎo)軌組成，且4個氣動吸取裝置分別與4個導(dǎo)軌平行連接，4個微型氣 缸分別與4個氣動吸取裝置連接，4個微型氣缸和4個導(dǎo)軌裝載在氣動吸取組架臺上。其測 試部包括測試臺13，測試卡安裝臺11，氣動滑臺19，4個探針12，2個不良品收納容器20。 其中，4個探針每兩個一組安裝在測試卡安裝臺11上，其位置對應(yīng)測試臺13上的測試位置； 測試卡安裝臺11裝載于氣動滑臺19上，工作時(shí)氣動滑臺19使測試卡安裝臺11移向測試 臺13，前端探針12刺向測試臺上的產(chǎn)品；氣動滑臺19、不良品收納容器20。此外，還包括1臺工業(yè)控制計(jì)算機(jī)21，用于操作整個設(shè)備的運(yùn)行。利用本實(shí)用新型所述CI測試機(jī)進(jìn)行產(chǎn)品測試時(shí)，只需將兩個盛滿待測產(chǎn)品的提 籃狀容器放置在供給臺上的指定位置后，啟動設(shè)備，便可進(jìn)行自動檢測。設(shè)備啟動時(shí)，交流 電動機(jī)6驅(qū)動機(jī)械臂5移動搬送臺使其與供給臺上的提籃狀容器位置相對應(yīng)，氣缸1將供 給臺2上提籃狀容器3內(nèi)的最下面一層托盤推出，托盤位于提籃狀容器內(nèi)不同的槽位內(nèi)，彼 此不受影響。推到晶片搬送臺14上的后端固定位7，后端固定位導(dǎo)向桿氣缸29將其固定， 底層托盤被推出后，位于無桿氣缸16下的電動缸17下降將提籃狀容器位置高度下降以便 氣缸1將已被推出托盤的上一層承放有待測物品的托盤推送到搬送臺14，氣缸1將這一層 的托盤推送到搬送臺的前端固定位14，并由前方固定位導(dǎo)向桿氣缸18將其固定。交流電動 機(jī)9驅(qū)動機(jī)械臂8移動氣動吸取組15到指定位置，氣動吸取組內(nèi)兩個氣動吸取單元下降從 位于后端的托盤內(nèi)吸取兩個產(chǎn)品，送到測試臺13上，測試卡搬送臺11被其下方的氣缸帶動 移向測試臺，使得位于測試卡搬送臺上的探針12能夠刺到產(chǎn)品。在產(chǎn)品測試過程中氣動吸 取組將回到供給臺2將新產(chǎn)品送到測試臺13檢測，空閑的兩個氣動吸取單元將測試完畢后的產(chǎn)品吸取，另兩個氣動吸取單元吸取新的待測產(chǎn)品放置于測試臺后氣動吸取組，再回到 搬送臺放回測完品，吸取新的待測品，四個氣動吸取單元中兩個吸取新產(chǎn)品，兩個吸取已測 試產(chǎn)品的狀態(tài)，如此循環(huán)直至整個托盤的產(chǎn)品都被測完后，在測試過程中若發(fā)現(xiàn)有不良品， 由工業(yè)控制計(jì)算機(jī)21控制氣動吸取組將不良品排到不良品收納容器20內(nèi)，若該托盤位于 搬送臺后端的固定位，系統(tǒng)將繼續(xù)檢測位于搬送臺前端的托盤，若該托盤位于搬送臺前端， 系統(tǒng)則記錄下來的不良品所產(chǎn)生的空位，在測完一個托盤后，由氣動吸取組從位于搬送臺 后端固定位的托盤內(nèi)取合格品填補(bǔ)到前端固定位的托盤內(nèi)，隨后將搬送臺前端固定位內(nèi)的 托盤退回到提籃內(nèi)，搬送臺后端固定位內(nèi)的托盤則在全部取空后由氣缸10推回提籃狀容 器內(nèi)，在后端托盤測試完后，仍停留在后端不動，直至其承載的合格產(chǎn)品全部用于填補(bǔ)空位 后，由氣缸10推回到提籃狀容器內(nèi)。上述過程自動進(jìn)行，周而復(fù)始，直至兩個提籃狀容器內(nèi) 的托盤所承載的待測物品全部檢測完畢。
權(quán)利要求一種全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，包括供給部、搬送部、測試部、工業(yè)控制計(jì)算機(jī)，其特征在于所述供給部由供給臺、置于供給臺之上用于承放待測物品的可移動容器、容器移動裝置組成，所述搬送部由相互垂直的X向機(jī)械臂裝置和Y向機(jī)械臂裝置構(gòu)成。
2.如權(quán)利要求1所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述用于承放待 測物品的容器由兩個提籃狀容器及置于提籃狀容器的不同槽位內(nèi)且可從提籃狀容器的槽 中推出的托盤組成。
3.如權(quán)利要求2所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述托盤可為在 提籃狀容器內(nèi)壁的多個槽位中分別疊放的多層托盤。
4.如權(quán)利要求1所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述容器移動裝 置由2個氣缸、1個無桿氣缸、1個電動缸組成。
5.如權(quán)利要求1所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述Y向機(jī)械臂 裝置由交流電機(jī)、Y向機(jī)械臂、搬送臺、前端固定位導(dǎo)向桿氣缸和后端固定位導(dǎo)向氣缸組成， X向機(jī)械臂裝置由交流電機(jī)、X向機(jī)械臂、待測物品攝取裝置組成。
6.如權(quán)利要求5所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述Y向機(jī)械臂 裝置的交流電機(jī)與Y向機(jī)械臂連接，搬送臺裝載在Y向機(jī)械臂上，前端固定位導(dǎo)向桿氣缸和 后端固定位導(dǎo)向氣缸分別裝載于搬送臺上的前端固定位和后端固定位內(nèi)，用于壓緊托盤； 所述X向機(jī)械臂裝置的交流電機(jī)桿與X向機(jī)械臂連接，待測物品攝取裝置裝載于X向機(jī)械 臂上。
7.如權(quán)利要求5所述全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述待測物品攝取 裝置為氣動吸取組。
8.如權(quán)利要求8所述全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述氣動吸取組由 氣動吸取組架臺、4個氣動吸取裝置、4個微型氣缸組成。
9.如權(quán)利要求9所述全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述氣動吸取組的4 個氣動吸取裝置分別與4個微型氣缸連接，4個微型氣缸裝載在氣動吸取組架臺上。
10.如權(quán)利要求8所述全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述氣動吸取組由 氣動吸取組架臺、4個氣動吸取裝置、4個微型氣缸、4個導(dǎo)軌組成。
11.如權(quán)利要求11所述全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述氣動吸取組 的4個氣動吸取裝置分別與4個導(dǎo)軌平行連接，4個微型氣缸分別與4個氣動吸取裝置連 接，4個微型氣缸和4個導(dǎo)軌裝載在氣動吸取組架臺上。
12.如權(quán)利要求1所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述測試部由不 良品收納裝置、測試臺、測試裝置、氣動滑臺組成。
13.如權(quán)利要求13所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述不良品收 納裝置為2個不良品收納容器。
14.如權(quán)利要求13所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述測試裝置 由4個探針、1個測試卡安裝臺組成。
15.如權(quán)利要求15所述的全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，其特征在于所述測試裝置 的4個探針每兩個一組安裝在測試卡安裝臺上，位置對應(yīng)測試臺上的測試位置；測試卡安 裝臺裝載于氣動滑臺上，工作時(shí)氣動滑臺使測試卡安裝臺移向測試臺，前端探針刺向測試 臺上的產(chǎn)品。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種電子器件的測試機(jī)，特別是一種全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)，即CI測試機(jī)。該全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)包括供給部、搬運(yùn)部、測試部和工業(yè)控制計(jì)算機(jī)，其供給部由供給臺、置于供給臺之上用于承放待測物品的可移動容器、容器移動裝置組成。其搬運(yùn)部由大體上相互垂直的X向機(jī)械臂裝置和Y向機(jī)械臂裝置構(gòu)成。該全自動石英晶體振蕩器測試機(jī)能夠?qū)MD型石英晶體振蕩器的性能進(jìn)行自動檢測，能有效克服現(xiàn)有CI測試機(jī)工作速度慢、人工補(bǔ)充空位、且易造成產(chǎn)品受損的技術(shù)問題。
文檔編號G01R31/28GK201622312SQ20102011054
公開日2010年11月3日 申請日期2010年2月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月9日
發(fā)明者劉衛(wèi)華, 閆光忻, 陳 峰 申請人:北京盈和工控技術(shù)有限公司