專利名稱：光纖檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種光纖檢測裝置。
技術(shù)背景目前，對于具有凹陷特性的材料一般使用光纖檢測裝置進(jìn)行檢測，光纖檢測裝置 根據(jù)材料本身具有凹陷的特性，通過光纖反射光亮值的大小來實(shí)現(xiàn)檢測，檢查材料是否有 凹陷以及其凹陷深度。見圖1所示，現(xiàn)有的光纖檢測裝置一般包括有基座11、發(fā)射光纖12和接收光纖 13，發(fā)射光纖12和接收光纖13靠在一起由下至上穿過基座11，發(fā)射光纖12和接收光纖13 的端面與基座11的上端面平齊。材料3放在基座11的上端面上并將發(fā)射光纖12和接收光 纖13的端面遮住就可以進(jìn)行檢測，發(fā)射光纖12向材料3發(fā)射光線，接收光纖13根據(jù)接收 到的光亮值大小判斷材料3是否有凹陷以及其凹陷深度。因?yàn)椴牧?底色的影響，反射光 亮值是從無材料3時低、到有不良材料3時高、再到良品材料3時低的情況，但是這種光纖 檢測裝置的發(fā)射光纖12、接收光纖13的光纖頭直接與檢測物接觸，發(fā)射光纖12與接收光纖 13會發(fā)生相互干涉作用，影響檢測結(jié)果，無法根據(jù)光亮值準(zhǔn)確做出判斷，不利于光纖控制器 的信號的控制，從而不利于信號的輸出，檢測效果較差。比如，在實(shí)際使用過程中，材料3為 良品時，即材料3的檢測端面為平面，射光纖和接收光纖13的端面與材料3的檢測端面之 間會有一定的空隙，所以此時反射光值量會最大，容易誤檢測成不良材料
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供一種可以有效去除發(fā)射光纖 與接收光纖的干涉、穩(wěn)定準(zhǔn)確地檢測出不良產(chǎn)品、檢測效果好的光纖檢測裝置。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案光纖檢測裝置，它包括有基座、發(fā)射光纖和接收光纖，基座的底部開設(shè)有兩個安裝 孔，發(fā)射光纖和接收光纖各伸入一個安裝孔中，每個安裝孔的頂部開設(shè)有貫通基座頂部的 臺階小孔形成臺階通孔結(jié)構(gòu)，臺階小孔的直徑小于安裝孔的直徑。所述兩個安裝孔之間設(shè)有間距。所述兩個安裝孔相互平行且垂直于基座的上端面。所述臺階小孔與相應(yīng)的安裝孔同軸心。本實(shí)用新型有益效果為本實(shí)用新型包括有基座、發(fā)射光纖和接收光纖，基座的底 部開設(shè)有兩個安裝孔，發(fā)射光纖和接收光纖各伸入一個安裝孔中，每個安裝孔頂部的中心 處開設(shè)有貫通基座頂部的臺階小孔形成臺階孔，臺階小孔的直徑小于安裝孔的直徑，發(fā)射 光纖和接收光纖分別通過臺階小孔發(fā)射光線或接收光亮值，通過臺階小孔使得發(fā)射光纖、 接收光纖的光纖頭與檢測物有一定距離，不會接觸到檢測物，避免發(fā)射光纖與接收光纖的 干涉，因而可以有效去除發(fā)射光纖與接收光纖之間的干涉，不會產(chǎn)生因底色而產(chǎn)生各種不 利于檢測的情況，可穩(wěn)定、準(zhǔn)確地檢測出不良產(chǎn)品，檢測效果好。
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圖1是現(xiàn)有技術(shù)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型檢測無凹陷面材料的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本實(shí)用新型檢測有凹陷面材料的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說明，見圖2 4，一種光纖檢測裝置，它 包括有基座21、發(fā)射光纖22和接收光纖23，基座21的頂部端面為檢測端面，基座21的底 部開設(shè)有兩個一定深度的安裝孔24，兩個安裝孔24相互平行且垂直于基座21的上端面。 安裝孔24的頂部與基座21的頂部端面之間有一定的距離，發(fā)射光纖22和接收光纖23各 伸入并安裝在一個安裝孔24中，每個安裝孔24頂部的中心處開設(shè)有貫通基座21頂部的臺 階小孔25形成臺階通孔結(jié)構(gòu)，臺階小孔25與相應(yīng)的安裝孔24同軸心。臺階小孔25有一 定的長度，臺階小孔25的直徑小于安裝孔24的直徑，兩個安裝孔24之間設(shè)有間距，發(fā)射光 纖22和接收光纖23的端部分別頂在臺階孔的臺階處進(jìn)行定位，使得發(fā)射光纖22和接收光 纖23的光纖端面與基座21的頂部端面之間有一定距離。檢測時，見圖2所示，當(dāng)基座21的上端面上無材料3時，發(fā)射光纖22對空，無法反 射，接收光纖23無法接收光亮值；見圖3所示，當(dāng)放在臺階小孔25上的材料3的檢測面為 光滑平面時，發(fā)射光纖22發(fā)射的光線被遮住，無法反射，接收光纖23無法接收光亮值；見圖 4所示，當(dāng)放在臺階小孔25上的材料3的檢測面有凹陷時，發(fā)射光纖22發(fā)射的光線可以反 射，接收光纖23可以接收到一定的光亮值。即材料3的檢測面為有凹陷時才能接收到光亮 值，光亮值越大，凹陷越深，可方便檢查材料3是否有凹陷以及其凹陷深度，可準(zhǔn)確地檢測 出不良產(chǎn)品。本實(shí)用新型的發(fā)射光纖22和接收光纖23分別通過臺階小孔25發(fā)射光線或接收 光亮值，通過臺階小孔25使得發(fā)射光纖22、接收光纖23的光纖頭與檢測物之間有一定距 離，不會接觸到檢測物，避免發(fā)射光纖22與接收光纖23的干涉，因而可以有效去除發(fā)射光 纖22與接收光纖23的干涉，不會產(chǎn)生因底色而產(chǎn)生各種不利于檢測的情況，可穩(wěn)定、準(zhǔn)確 地檢測出不良產(chǎn)品，檢測效果好。以上所述僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，故凡依本實(shí)用新型專利申請范圍所述的 構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包括于本實(shí)用新型專利申請范圍內(nèi)。
權(quán)利要求光纖檢測裝置，它包括有基座(21)、發(fā)射光纖(22)和接收光纖(23)，其特征在于所述基座(21)的底部開設(shè)有兩個安裝孔(24)，發(fā)射光纖(22)和接收光纖(23)各伸入一個安裝孔(24)中，每個安裝孔(24)的頂部開設(shè)有貫通基座(21)頂部的臺階小孔(25)形成臺階通孔結(jié)構(gòu)，臺階小孔(25)的直徑小于安裝孔(24)的直徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖檢測裝置，其特征在于所述兩個安裝孔(24)之間設(shè)有 間距。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖檢測裝置，其特征在于所述兩個安裝孔(24)相互平行 且垂直于基座(21)的上端面。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的光纖檢測裝置，其特征在于所述臺階小孔(25) 與相應(yīng)的安裝孔(24)同軸心。
專利摘要本實(shí)用新型涉及檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及光纖檢測裝置，其包括有基座、發(fā)射光纖和接收光纖，基座的底部開設(shè)有兩個安裝孔，發(fā)射光纖和接收光纖各伸入一個安裝孔中，每個安裝孔頂部的中心處開設(shè)有貫通基座頂部的臺階小孔形成臺階孔，臺階小孔的直徑小于安裝孔的直徑，發(fā)射光纖和接收光纖分別通過臺階小孔發(fā)射光線或接收光亮值，通過臺階小孔可以有效去除發(fā)射光纖與接收光纖的干涉，不會產(chǎn)生因底色而產(chǎn)生各種不利于檢測的情況，可穩(wěn)定、準(zhǔn)確地檢測出不良產(chǎn)品，檢測效果好。
文檔編號G01B11/22GK201653919SQ20102014715
公開日2010年11月24日 申請日期2010年3月24日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月24日
發(fā)明者李志勇 申請人:李志勇