專利名稱：多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，特別是一種對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行高壓介質(zhì)損耗測(cè)量的 測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
為了檢驗(yàn)電力設(shè)備的運(yùn)行狀況和安裝質(zhì)量，保證電力設(shè)備安全正常地運(yùn)行，在工 程的交接試驗(yàn)、預(yù)防性試驗(yàn)以及檢修過程中都要進(jìn)行高壓介質(zhì)損耗的測(cè)量，因此高壓介質(zhì) 損耗試驗(yàn)是一種保證電力設(shè)備運(yùn)輸、安裝、檢修質(zhì)量及安全運(yùn)行的重要措施。高壓介損測(cè)試由于等效性和缺陷檢測(cè)靈敏度都優(yōu)于常規(guī)IOkV介損，能較真實(shí)地 反映電力設(shè)備在運(yùn)行條件下的絕緣狀況，因而越來越受到各個(gè)單位的重視。然而高壓介損 在現(xiàn)場(chǎng)開展卻比較困難，特別是預(yù)試工作現(xiàn)場(chǎng)，主要是由于現(xiàn)有高壓介損設(shè)備笨重、抗干擾 差不方便現(xiàn)場(chǎng)使用，因此目前高壓介損主要用于試驗(yàn)室及部分交接試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)，無法滿足需 要。因此，有必要發(fā)明一種新的用于測(cè)試高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置，以克服上述缺陷。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種輕便、抗干擾好方便現(xiàn)場(chǎng)使用的多通道測(cè)量高壓介 質(zhì)損耗的測(cè)試裝置。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是一種多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè) 試裝置，它包括一內(nèi)置電橋的電源；一與所述內(nèi)置電橋的電源連接的勵(lì)磁變壓器；一與 所述勵(lì)磁變壓器串聯(lián)的電抗器；一與所述內(nèi)置電橋的電源連接并同時(shí)與所述勵(lì)磁變壓器及 電抗器并聯(lián)的高壓標(biāo)準(zhǔn)電容；所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容與串聯(lián)的所述勵(lì)磁變壓器及電抗器并聯(lián)后 同時(shí)串接到被測(cè)試品，所述多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置還分別設(shè)有連接內(nèi)置電橋 的電源與被測(cè)試品的第一通道(1)、第二通道(2)，所述第一通道(1)連接到被測(cè)試品后與 所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)所述勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品的電路形成測(cè)試 被測(cè)試品的第一測(cè)試通道(1)，所述第二通道(2)連接到被測(cè)試品后與所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容 并聯(lián)所述勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品的電路形成測(cè)試被測(cè)試品的第二測(cè) 試通道(2)。其中所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容內(nèi)置采樣電阻。其中所述電源為頻率連續(xù)可調(diào)的正弦波輸出電源，電源的頻率調(diào)節(jié)細(xì)度為0. 1Hz。其中所述多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置輸出電壓不大于170kV。其中所述多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置的容量為5kVA。由于采用上述結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型之多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置具有以下 有益效果1.本實(shí)用新型之多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置由于具有兩個(gè)測(cè)試通道，能 實(shí)現(xiàn)多通道幾個(gè)試品同時(shí)測(cè)量，提高測(cè)試速度。[0013]2.本實(shí)用新型之多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置由高壓標(biāo)準(zhǔn)電容為內(nèi)置采 樣電阻，因此接線方式靈活，能實(shí)現(xiàn)高壓介損試驗(yàn)反接線的測(cè)試方式，滿足現(xiàn)場(chǎng)需要。3.本實(shí)用新型之多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置具有手動(dòng)和自動(dòng)升壓測(cè)量 功能，采用自動(dòng)升壓時(shí)在試驗(yàn)電壓范圍內(nèi)，可設(shè)定多種設(shè)備的試驗(yàn)電壓點(diǎn)組合方案；每種 方案一次升壓電橋即可自動(dòng)找諧振點(diǎn)、自動(dòng)升、降壓完成所有設(shè)定試驗(yàn)電壓點(diǎn)的測(cè)試，并打 印輸出或保存各點(diǎn)測(cè)量值，并能繪制電壓_介損變化曲線。4.本實(shí)用新型之多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置的電源頻率連續(xù)可調(diào)，可任 意頻率諧振(非傳統(tǒng)45/55Hz、47. 5/52. 5Hz固定頻率下的變頻測(cè)量)。5.本實(shí)用新型之多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置用于170kV及以下電壓等 級(jí)電氣設(shè)備的高壓介損及電容量的測(cè)量，裝置中單元件重量不超過40kg，便于組裝連接。6.本實(shí)用新型之多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置具有可靠的過載及放電保 護(hù)功能。

圖1是本實(shí)用新型多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置的測(cè)試系統(tǒng)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置作進(jìn) 一步的說明。請(qǐng)參照?qǐng)D1所示，本實(shí)用新型多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置包括一內(nèi)置 電橋的電源；一與所述內(nèi)置電橋的電源連接的勵(lì)磁變壓器；一與所述勵(lì)磁變壓器串聯(lián)的電 抗器；一與所述內(nèi)置電橋的電源連接并同時(shí)與所述勵(lì)磁變壓器及電抗器并聯(lián)的高壓標(biāo)準(zhǔn)電 容。所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容與串聯(lián)的所述勵(lì)磁變壓器及電抗器并聯(lián)后同時(shí)串接到被測(cè)試品，所 述多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置還分別設(shè)有連接內(nèi)置電橋的電源與被測(cè)試品的第 一通道1、第二通道2，所述第一通道1連接到被測(cè)試品1后與所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)所述 勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品1的電路形成測(cè)試被測(cè)試品1的第一測(cè)試通道 1或者稱為測(cè)試通道1，所述第二通道2連接到被測(cè)試品2后與所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)所述 勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品2的電路形成測(cè)試被測(cè)試品2的第二測(cè)試通道 2或者稱為測(cè)試通道2，如圖所示。所述電源為頻率連續(xù)可調(diào)的正弦波輸出電源，電源的頻率調(diào)節(jié)細(xì)度為0. 1Hz，可實(shí) 現(xiàn)任意頻率諧振(非傳統(tǒng)45/55Hz、47. 5/52. 5Hz固定頻率下的變頻測(cè)量)，多通道測(cè)量高壓 介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置輸出電壓不大于170kV，這樣多數(shù)試品可進(jìn)行額定電壓下介損試驗(yàn)，阿 海砝電容也可滿足50%以上額定電壓的要求。按170kV，試品容量6000pF計(jì)算，采用串諧 方式電源容量?jī)H需2kVA即可滿足要求?？紤]余量，選擇5kVA。電源采用橋體內(nèi)置方式，這 種方式既可手動(dòng)升壓，又能通過設(shè)定測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)升壓測(cè)量，測(cè)試方式靈活；采樣頻率由電源 直接傳遞，無需另外附加頻率跟蹤功能，減少了誤差；減少了整套裝置的件數(shù)，裝置使用更 加簡(jiǎn)便，保護(hù)更容易。所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容為內(nèi)置采樣電阻的特殊高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器。高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器既作 為標(biāo)準(zhǔn)臂，又可取樣測(cè)量試驗(yàn)電壓，消除了容聲效應(yīng)的影響，測(cè)量電壓準(zhǔn)確；附加一采樣電阻，并通過光纖將信號(hào)傳遞至儀器，能實(shí)現(xiàn)反接線測(cè)試的方式，現(xiàn)場(chǎng)接線方式更加靈活。反 接線時(shí)，高壓標(biāo)準(zhǔn)電容側(cè)高壓端經(jīng)過一采樣電阻接至試品，采樣電阻采得信號(hào)經(jīng)過光纖傳 遞，由高壓標(biāo)準(zhǔn)電容底部引出接線端接至電橋，通過這種方式，我們便可實(shí)現(xiàn)反接線高壓介 損測(cè)試。同時(shí)設(shè)有第一測(cè)試通道1、第二測(cè)試通道2多通道測(cè)量，既增大了試品容量，減小電 感量，又可同時(shí)測(cè)量2個(gè)以上試品，測(cè)試速度快。
權(quán)利要求一種多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置，其特征在于，它包括一內(nèi)置電橋的電源；一與所述內(nèi)置電橋的電源連接的勵(lì)磁變壓器；一與所述勵(lì)磁變壓器串聯(lián)的電抗器；一與所述內(nèi)置電橋的電源連接并同時(shí)與所述勵(lì)磁變壓器及電抗器并聯(lián)的高壓標(biāo)準(zhǔn)電容；所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容與串聯(lián)的所述勵(lì)磁變壓器及電抗器并聯(lián)后同時(shí)串接到被測(cè)試品，所述多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置還分別設(shè)有連接內(nèi)置電橋的電源與被測(cè)試品的第一通道(1)、第二通道(2)，所述第一通道(1)連接到被測(cè)試品后與所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)所述勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品的電路形成測(cè)試被測(cè)試品的第一測(cè)試通道(1)，所述第二通道(2)連接到被測(cè)試品后與所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)所述勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品的電路形成測(cè)試被測(cè)試品的第二測(cè)試通道(2)。
2.如權(quán)利要求1所述的多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置，其特征在于所述高壓 標(biāo)準(zhǔn)電容內(nèi)置采樣電阻。
3.如權(quán)利要求1所述的多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置，其特征在于所述電源 為頻率連續(xù)可調(diào)的正弦波輸出電源，電源的頻率調(diào)節(jié)細(xì)度為0. 1Hz。
4.如權(quán)利要求1所述的多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置，其特征在于所述多通 道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置輸出電壓不大于170kV。
5.如權(quán)利要求1所述的多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置，其特征在于所述多通 道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置的容量為5kVA。
專利摘要多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置涉及一種測(cè)試裝置，其包內(nèi)置電橋的電源；與內(nèi)置電橋的電源連接的勵(lì)磁變壓器；與勵(lì)磁變壓器串聯(lián)的電抗器；與內(nèi)置電橋的電源連接并同時(shí)與勵(lì)磁變壓器及電抗器并聯(lián)的高壓標(biāo)準(zhǔn)電容；高壓標(biāo)準(zhǔn)電容與串聯(lián)的勵(lì)磁變壓器及電抗器并聯(lián)后同時(shí)串接到被測(cè)試品，多通道測(cè)量高壓介質(zhì)損耗的測(cè)試裝置還分別設(shè)有連接內(nèi)置電橋的電源與被測(cè)試品的第一通道(1)、第二通道(2)，第一通道(1)連接到被測(cè)試品后與所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)所述勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品的電路形成測(cè)試被測(cè)試品的第一測(cè)試通道(1)，第二通道(2)連接到被測(cè)試品后與所述高壓標(biāo)準(zhǔn)電容并聯(lián)所述勵(lì)磁變壓器及電抗器后同時(shí)串接到被測(cè)試品的電路形成測(cè)試被測(cè)試品的第二測(cè)試通道(2)。本裝置能實(shí)現(xiàn)多通道幾個(gè)試品同時(shí)測(cè)量，提高測(cè)試速度，接線方式靈活。
文檔編號(hào)G01R27/26GK201681124SQ20102015267
公開日2010年12月22日 申請(qǐng)日期2010年4月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月7日
發(fā)明者朱斌, 李炯, 趙全新, 顧志強(qiáng), 高貴生 申請(qǐng)人:上海思創(chuàng)電器設(shè)備有限公司;山東電力集團(tuán)公司聊城供電公司